X射线吸收精细结构XAFSppt课件

1、第四章：X射线吸收精细构造XAFS 1.XAFS，EXAFS和XANES l历史： 上世纪二十年代，发现凝聚态物质对X射线的吸收系数，在吸收边附近存在量级为10-2的震荡，这一震荡称为X射线吸收精细构造XAFSl七十年代，Stern，Sayers，Lytle从实际、实验二方面胜利地解释了产生振动的机制，推导了EXAFS的根本公式，提出了处置实验数据的方法和计算机程序，并将它们用于凝聚态物质的构造分析。l随着同步辐射的开展，XAFS已成为研讨凝聚态物质，特别是长程无序,短程有序的非晶态、液态、熔态物质的原子、电子构造的有力工具。XAFS可分为两部分：EXAFS扩展X射线吸收精细构造吸收边高能侧3

2、0-50eV至1000eV的吸收系数 的震荡，称为EXAFS。它含有吸收原子的近邻原子构造信息近邻原子种类、配位数、配位间隔等。XANESX射线吸收近边构造吸收边至高能侧30-50eV的吸收系数 的震荡，称为XANES。它含有吸收原子的电子构造和近邻原子构造信息。( )E( )E2. EXAFS产活力制，根本公式 2中给出原子吸收X射线光子的几率，终态 ,初态 ， 在X射线光电吸收中普通为原子内壳层的1s，2s，2p态，与入射光子能量无关。222()4fsfehPMEm wfsMfP s sfsl孤立原子，单原子气体: 光电子处于出射态，远离吸收原子传播出去，即终态 为自在电子态，它不随入射光

3、子能量震荡。l双原子气体，凝聚态物质：吸收原子有近邻原子，出射光电子将受近邻原子的背散射，出射电子波与背散射光电子波叠加，干涉相长使吸收添加，干涉相消使吸收下降；由于光电子波长随入射光子能量变化，从而使吸收曲线出现震荡，即产生EXAFS。ff图22 从吸收原子(黑色)激发出的光电子波函数的径向分布。定义EXAFS函数 4-1 k为光电子波矢， 4-2 式中 为 的平滑变化部分，在物理上相当于孤立原子的吸收系数， 为扣除背底后吸收边高能侧的吸收系数， 为电子在原子内的束缚能。用量子力学实际可以推导出EXAFS的根本公式： 00( ) ( )( )/( )kkkk1/2012 ()xkm EE0(

4、 )k( )k( )k0E4-3阐明， 将与以下要素有关： 与吸收原子周围的第j层近邻层中同种原子数目 、间隔 及电子背散射振幅 有关， 如不同种原子处于同一近邻原子层中，可将这一近邻原子层看作几个不同的近邻原子层。与散射光电子的位相改动有关。位相改动包含两部分，光程差引起的位相差，及出射处势场和背散处势场引起的相移， 。第j层原子的漫散分布程度有关，它包含热振动和原子无序分布的影响，假设原子分布为高斯型，设 为 的均方根偏离，可表Debye-Waller温度型项exp(-2k2j2)。与光电子的非弹性散射有关， ， 为光电子的平均自在程。 ( )kjNjR(2 )jfk(2 )jjjNfkR

5、sin22( )jjkRkjjR2/jlRel222/2( )(2 )sin22( )4jjlkRjjjjjjNmkfk eekRkkR23.XAFS实验丈量方法1)透射法在同步辐射实验室， ， 都用离子室ion chamber ， 丈量 4-4 样品的厚度通常取 。I0I0D1D0()()ln()xxxIEdEI E12.5d图23 透射法的原理图1)透射法在同步辐射实验室， ， 都用离子室ion chamber ， 丈量 4-4 样品的厚度通常取 。I0I0D1D0()()ln()xxxIEdEI E12.5d2)荧光法 用离子室 丈量，荧光用固体探测器高纯Si，Ge探测器丈量。荧光法适用

6、于薄膜样品和浓度小于5%的厚样品。这时，待测元素A的吸收系数与荧光强度成正比。0I0D图24 荧光法原理图( )fHIECI4. EXAFS数据处置EXAFS数据处置步骤如下：实验测得数据： 透射法， 荧光法背底扣除与归一化由吸收边低能侧实验数据拟合 扣除其它壳层的吸收；用三次样条函数法拟合 ； ， ，得出归一化的 ， ， 。0()()ln()xxxIEdEI E( )fHIECI3400()d cD0( )dExEk00( ) ( )( )/kkk( )E( )k( )nkk7.0 7.2 7.4 7.6EX1keVdm(Ex)7.0 7.2 7.4 7.6EX1keVtm(Ex)(Ex)

7、(Ex)100 200 300 400E1eVC0l3+D0l4(C1l3+D1l4)d0 (Ex)(E)(E)图26 (Ex)的归一化过程(a)实验测得(Ex);(b) (Ex) 和0 (Ex)t曲线；()归一化的(Ex)(a) (b) (c)图图27 扣除平滑背景得到的扣除平滑背景得到的(k),并已将光子能量换算并已将光子能量换算为光电子波矢为光电子波矢k，函数，函数(k)乘以乘以kn得到得到kn(k)051015205101520k (A-1)k2 (k)3)Fourier变换将 进展Fourier变换，得径向分布函数( )(1,2,3)nk knorGe7000600500040010

8、0300200246810R ()FT值值图图28. Fourier变换的结果，变换的结果，虚线为滤出第一配位壳层的窗函数虚线为滤出第一配位壳层的窗函数4)用窗函数滤出第一配位层，做反Fourier变换，得出第一壳层的 ( )(1,2,3)nk knor0 10 20k (-1)k2(k)图图29 Fourier变换乘以窗函数，然后反傅里叶变换变换乘以窗函数，然后反傅里叶变换 5)由标样或由实际计算得出 ， ，将 ， ， 作拟合参数，对曲线 进展拟合，得出吸收原子的近邻原子信息 ， ， 。同步辐射XAFS站通常都有相应的数据处置程序 (2 )jfk( )jkjRjNj3( )kkjRjNj222/2( )(2 )sin22( )4jjlkRjjjjjjNmkfk eekRkkR25.EXAFS的特点l样品广泛lEXAFS取决于短程