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文档简介

1、董印志此类ADC可以直接计算出待测量物理量与ADC测量数值的对应公式。适应于以下类型的物理量测量：电压测量电流测量芯片提供的测量下页会举例说明下最简单的电压值测量的计算，电流值可以通过固定的电阻转换为电压值测量。芯片的专用ADC许多会提供ADC的步进值代表的物理量含义如上图所示：假设MCU的ADC是12-bit，MCU的ADC的参考基准加压Vref=3.3V待测电压Vd的范围是03.3V。ADC每一bit代表的电压数值为3.3V/212= 3.3V/4096=0.8mv，假设MCU测得的AD数值是adc，那么我们实际的测量数值Vd = adc*0.8mv此类物理量无法或者很难直接推导出校准式，

2、例如:接受光功率，温度，发射光功率。我们可以通过测量点拟合拟合的方法来得到我们需要的计算公式。通过记录温度计的测量温度与MCU的AD采样数值得到了上表，记录到excel中ADC测量数值(Dec）温度（）10-2515-1820-1025-43053512.540214527.550355542.560506560706875738083以AD采样数值为横轴，温度测量数值为纵轴，得到上面的曲线。使用excel表自带的添加趋势线去拟合，类型使用线性得到了上图的公式y = 1.5407x - 41.299y = 1.5407x - 41.299系列1线性 (系列1)l校准之后的曲线一般会保存在NVS介质(Flash/EEPROM)l对于一次曲线 ，需要保存k和b到NVS，保存在一个约定的位置l保存方法l浮点数方式l 浮点数占用4个字节，需要依据IEEE-754的标准计算出其内存表示，再存储NVS，例如1.25的内存表示是3FA00000l整数方式l 将浮点数放大整数倍（128或256），四舍五入存储整数值l 在MCU代码使用时再把这个倍数扣除bkxYl初始化 在上电复位后的初始化代码里面，加载存储在NVS里面的参数 如果使用浮点

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