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文档简介
1、场效应器件物理教学大纲课程编号:mi3221011 课程名称:场效应器件物理 英文名称:physics of field-effect devices学时: 46 学分:3课程类型:限选 课程性质:专业课适用专业:微电子学 先修课程:半导体物理学,半导体器件电子学集成电路设计与集成系统 半导体物理导论开课学期:6 开课院系:微电子学院一、课程的教学目标与任务目标:场效应器件是电压型控制器件,输入阻抗高,驱动功率小,是半导体器件和集成电路发展的重点。本课程的目标是掌握场效应器件相关理论与技术,为场效应器件及其集成电路研究、设计及应用奠定理论基础。任务:掌握常规和现代场效应器件基本类型、结构,掌握
2、场效应器件基本物理特性、电学特性、电学参数表征,掌握场效应器件相关物理效应,了解场效应器件模型,熟悉高性能场效应器件物理,熟悉场效应器件设计及集成场效应器件结构。二、本课程与其它课程的联系和分工本课程的先修课程是半导体物理、半导体物理导论、半导体器件电子学,需具备pn结、金-半结、mis结构和异质结物理的基本知识,同时本课程是数字集成电路和数字集成电路设计课程的基础。 三、课程内容及基本要求(一) jfet和mesfet基础 (2学时) 具体内容:p型/n型沟道、增强型/耗尽型jfet(结型场效应晶体管)和mesfet(金属-半导体场效应晶体管)的基本结构、基本工作原理,夹断电压、横向压降等基
3、本概念,转移特性和输出特性分析。1.基本要求(1)掌握jfet和mesfet的基本结构及类型。(2)掌握jfet和mesfet的基本工作原理及机理。(3)掌握jfet和mesfet的转移特性、输出特性。2.重点、难点重点:jfet和mesfet的基本结构、工作原理及机理,转移特性和输出特性机理及分析。难点:器件工作机理,转移特性和输出特性机理。3.说明:jfet和mesfet输入端结构不同,工作原理及机理基本相同。(二)jfet和mesfet直流特性 ( 4学时) 具体内容:直流特性物理模型,i-v特性方程的建立,输出电流饱和机理与饱和电压,饱和区i-v方程,亚阈特性。1.基本要求(1)掌握j
4、fet和mesfet直流特性物理模型。(2)掌握建立jfet和mesfet i-v特性方程的数理过程。(3)掌握jfet和mesfet输出电流饱和机理。(4)熟悉jfet和mesfet的亚阈特性及相关效应对i-v特性的影响。2.重点、难点重点:直流特性物理模型,i-v方程建立的数理过程,输出电流饱和机理,亚阈特性。难点:电流饱和机理,亚阈特性。3.说明:jfet和mesfet工作原理基本相同,以mesfet为例讨论它们的直流特性。(三) jfet和mesfet直流和交流小信号参数( 3学时)具体内容:jfet和mesfet的直流特性参数、交流小信号跨导和漏导、高场迁移率、温度对电学参数影响、寄
5、生参数对电参数影响、功率特性、噪声特性。1.基本要求(1)掌握jfet和mesfet的直流和交流小信号参数特性及其物理意义。(2)掌握jfet和mesfet的功率特性和噪声特性。(2)掌握jfet和mesfet的高场迁移率及温度等特性。(3)熟悉寄生参数对jfet和mesfet电参数的影响。2.重点、难点重点:jfet和mesfet的交流小信号参数,功率特性,噪声特性,高场迁移率特性,温度等特性,寄生参数对电参数影响及机理。难点:噪声特性及其表征,高场迁移率特性,寄生参数影响电参数的机理。3.说明:跨导是表征jfet和mesfet性能的重要电学参数。(四) jfet和mesfet模型和频率特性
6、( 4学时)具体内容:jfet和mesfet小信号等效电路模型,大信号等效电路模型,等效电路模型参数,特征频率(截止频率)和最高振荡频率及其表征。1.基本要求(1)掌握jfet和mesfet等效电路模型。(2)掌握jfet和mesfet等效电路模型参数。(3)掌握jfet和mesfet频率特性参数及其表征。(4)熟悉寄生参数对jfet和mesfet频率特性的影响。2.重点、难点重点:等效电路模型、等效电路模型参数及其物理意义,频率特性参数及其表征。难点:等效电路模型,等效电路模型参数表征。3.说明:特征频率(截止频率)和最高振荡频率是表征jfet和mesfet的重要电学参数。(五)jfet和m
7、esfet短沟道效应( 5学时)具体内容:肖克莱模型局限性,jfet和mesfet短沟道效应,沟道载流子速度饱和及其机理。1.基本要求(1)熟悉jfet和mesfet短沟道效应。(2)掌握jfet和mesfet短沟道效应物理模型。(3)掌握jfet和mesfet沟道载流子速度饱和及其机理。(4)了解jfet和mesfet短沟道判据。2.重点、难点重点:短沟道效应,短沟道效应物理模型,载流子速度饱和及其机理。难点:短沟道效应物理模型。3.说明:短沟道效应及其物理模型是当前颇受重视的研究领域。 (六) mosfet基本工作原理(2学时) 具体内容:p型/n型沟道、增强型/耗尽型mosfet(金属-
8、二氧化硅-半导体场效应晶体管)的基本结构、基本工作原理、阈值电压、转移特性和输出特性分析。1.基本要求(1)掌握mosfet基本结构及类型。(2)掌握mosfet基本工作原理及机理。(3)掌握mosfet阈值电压等基本概念。(4)掌握mosfet转移特性、输出特性。2.重点、难点重点:mosfet基本结构及类型,工作原理及机理,阈值电压,转移特性和输出特性机理及分析。难点:阈值电压,转移特性和输出特性机理。3.说明:mosfet是金属-绝缘栅-半导体场效应晶体管(misfet)中绝缘栅采用sio2的器件,misfet 与mosfet的结构、类型、工作原理及机理基本相同。(七) mosfet直流
9、特性( 4学时) 具体内容:mosfet直流特性物理模型,i-v特性方程的建立,输出电流饱和机理与饱和电压,饱和区i-v方程,亚阈特性,衬底偏置效应,沟道长度调制效应。1.基本要求(1)掌握mosfet直流特性物理模型。(2)掌握建立mosfet i-v特性方程的数理过程。(3)掌握mosfet输出电流饱和机理。(5)熟悉mosfet亚阈特性。(6)熟悉mosfet衬底偏置效应和沟道长度调制效应。2.重点、难点重点:直流特性物理模型,建立i-v方程的数理过程,电流饱和特性分析,亚阈特性。难点:电流饱和机理,亚阈特性。3.说明:直流特性的讨论基于mosfet的长沟道模型,对于它的局限性,将在本课
10、程的后续内容中进行分析。(八) mosfet直流和交流小信号参数 (3学时) 具体内容:mosfet直流特性参数,交流小信号参数,跨导和漏导,寄生参数对电参数影响,功率特性,噪声特性,温度特性。1.基本要求(1)掌握mosfet直流和交流小信号参数特性及其物理意义。(2)掌握mosfet的功率特性、噪声特性和温度特性。(3)熟悉寄生参数对mosfet电学参数影响。2.重点、难点重点:mosfet直流特性参数,交流小信号参数及其物理意义,功率特性,噪声特性,温度等特性,寄生参数对电参数影响及机理。难点:噪声特性及其表征。3.说明:跨导是表征mosfet性能的重要电学参数。(九) mosfet模型
11、和频率特性( 4学时)具体内容:mosfet小信号等效电路模型,大信号等效电路模型,等效电路模型参数,跨导截止频率,特征频率(截止频率)和最高振荡频率及其表征,开关特性,功率-延迟积。1.基本要求(1)掌握mosfet等效电路模型。(2)掌握mosfet等效电路模型参数。(3)掌握mosfet频率特性及其表征。(4)熟悉mosfet频率特性与器件结构参数关系。2.重点、难点重点:等效电路模型及其物理意义,频率特性及其表征,频率特性与器件结构参数关系。难点:等效电路模型,频率特性与器件结构参数关系。3.说明:特征频率(截止频率)和最高振荡频率是表征mosfet性能的重要电学参数。(十) mosf
12、et短沟道效应( 6学时)具体内容:mosfet感应电荷效应,漏感应势垒下降效应,迁移率调制效应,热载流子效应,短沟道特性分析。1.基本要求(1)熟悉短沟道mosfet电学特性。(2)掌握mosfet短沟道效应物理模型。(3)掌握mosfet热载流子效应及其机理。(4)了解mosfet短沟道判据。2.重点、难点重点:短沟道mosfet电学特性,短沟道效应物理模型,热载流子效应及其机理。难点:短沟道效应物理模型。3.说明:短沟道效应、热载流子效应是当前颇受重视的研究领域。(十一) 现代场效应晶体管( 5学时)具体内容:ldmosfet与vdmosfet的基本结构、原理、特性;soi mosfet
13、的基本结构、类型、原理、特性;二维载流子气,modfet(hemt)基本结构、原理、特性;mos栅器件。1.基本要求(1)熟悉现代场效应晶体管基本类型、结构。(2)掌握现代场效应晶体管基本工作原理及特性。(3)掌握现代场效应晶体管物理基础。2.重点、难点重点:现代场效应晶体管基本类型、结构、性能、优点、器件物理基础。难点:现代场效应晶体管器件物理。3.说明:现代场效应晶体管具有频率特性、功率特性等方面的优势。本内容的教学将结合最新研究成果。(十二)场效应晶体管设计( 4学时)具体内容:jfet、mesfet、mosfet纵横向几何结构参数、材料物理参数与电参数关系分析及设计,器件设计举例。 1
14、.基本要求(1)掌握场效应晶体管纵横向几何结构参数、材料物理参数与电参数关系。(2)掌握场效应晶体管设计原则。(3)通过具体器件设计,熟悉场效应晶体管设计过程、方法、步骤。2.重点、难点重点:场效应晶体管设计原则,场效应晶体管纵横向几何结构参数、材料物理参数与电学参数关系分析。难点:场效应晶体管纵横向几何结构参数、材料物理参数与电学参数关系。3.说明:场效应晶体管的性能主要取决于器件结构的设计与优化。四、教学安排及方式总学时 46 学时,讲课 40 学时,多种教学形式 6 学时 教学环节教学时数课程内容讲 课实 验习 题 课讨 论 课上 机参观或看录像小 计jfet和mesfet基础22jfet和mesfet直流特性44jfet和mesfet直流和交流小信号参数33jfet和mesfet模型和频率特性44jfet和mesfet短沟道效应3115mosfet基本工作原理22mosfet直流特性44mosfet直流和交流小信号参数33mosfet模型和频率特性44mosfet短沟道效应4116现代场效应晶体管55场效应晶体管设计224五、考核方式笔试(闭卷)。各教学环节占总分的比例:平时测验及作业:20%,期末考试:80%六、推荐教材与参考资料推荐教材:donald a. neamen著,赵毅强等译,半导体物理与器件,北京:电子工
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