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文档简介
1、数字逻辑电路-10-第一部分:门电路参数测试实验一 TTL门电路参数测试实验一、实验目的1 .掌握TTL集成与非门的主要性能参数及测试方法。2 .掌握TTL器件的使用规则。3 .熟悉数字电路测试中常用电子仪器的使用方法。二、实验原理本实验采用二输入四与非门74LS00 (它的顶视图见附录),即一块集成块 内含有四个相互独立的与非门,每个与非门有两个输入端。其逻辑框图如下:图1-1 74LS00的逻辑图TTL集成与非门的主要参数有输出高电平%、输出低电平 心、扇出系数 瓦、电压传输特性和平均传输延迟时间tpd等。(1) TTL门电路的输出高电平0飞Vok是与非门有一个或多个输入端接地或接低电平时
2、的输出电压值,此时 与非工作管处于截止状态。空载时,L的典型值为3.43.6V,接有拉电 流负载时,V。“下降。(2) TTL门电路的输出低电平VolV°l是与非门所有输入端都接高电平时的输出电压值,此时与非工作管处 于饱和导通状态。空载时,它的典型值约为0.2V,接有灌电流负载时, Va将上升。(3) TTL门电路的输入短路电流Iis它是指当被测输入端接地,其余端悬空,输出端空载时,由被测输入端输出的电流值,测试电路图如图1-2。(4) TTL门电路的扇出系数,扇出系数N。指门电路能驱动同类门的个数,它是衡量门电路负教能力 的一个参数,TTL集成与非门有两种不同性质的负载,即灌电流
3、负载和拉 电流负教。因此,它有两种扇出系数,即低电平扇出系数Ng和高电平扇出 系数Noh。通常有IiXLl,则NQNm,故常以Nol作为门的扇出系数。Nol的测试电路如图1-3所示,门的输入端全部悬空,输出端接灌电流 负载Rl,调节Rl使L增大,Vol随之增高,当心达到V四(手册中规定低电 平规范值为0.4V)时的L就是允许灌入的最大负载电流,则Nocff,通常 NQ8(5) TTL门电路的电压传输特性门的输出电压V。随输入电压而变化的曲线V0=f (%)称为门的电压传输 特性,通过它可读得门电路的一些重要参数,如输出高电平%、输出低电平 Vol,关门电平丫阳、开门电平心等值。测试电路如图1-
4、4所示,采用逐点测试 法,即调节上,逐点测得X及V。,然后绘成曲线。图1-3扇出系数测试电路图1-4电压传输特性测试电路(6) TTL门电路的平均传输延迟时间tpdtpd是衡量门电路开关速度的参数,它意味着门电路在输入脉冲波形的作用 下,其输出波形相对于输入波形延迟了多少时间。具体的说,是指输出波形边 沿的0.5Uin至输入波形对应边沿0.5Uin点的时间间隔,如图1-5所示。由于传 输延迟时间很短,一般为ns数量级。图1-5 (b) tpd的测试电路图1-5 (a)传输延迟特性图1-5 (a)中的t血为导通延迟时间,t加为延迟截止时间,平均传输时间 为:tp(i- (tpdi+tpdii)
5、/2。的测试电路如图1-5 (b)所示,由于门电路的延迟时间较小,直接测 量时对信号发生器和示波器的性能要求较高,故实验采用测量有奇数个与非门 组成的环形振荡器的振荡周期T来求得。其工作原理是:假设电路在接通电源 后某一瞬间,电路中的A点为逻辑“1”,经过三级门的延时后,使A点由原来 的逻辑“1”变为逻辑“0”;再经过三级门的延时后,A点重新回到逻辑“1”。 电路的其它各点电平也随着变化。说明使A点发生一个周期的振荡,必须经过 6级门的延迟时间。因此平均传输延迟时间为:J=T/6 三、实验设备与器件1、数字逻辑电路实验箱。2、数字逻辑电路实验箱扩展板。3、芯片 74LS00。4、5. 1K,
6、100 Q, 200。,500。,1K 电阻;IK, 10K 可调电阻。5、数字万用表。四、实验预习要求1 .复习TTL门电路的工作原理。2 .熟悉实验所用集成门电路引脚功能。3 .画出实验内容中的测试电路与数据记录表格。数字逻辑电路五、实验内容及实验步骤1、将数字逻辑电路实验箱扩展板插在实验箱相应位置,并固定好,找一 个14PIN的插座插上芯片,并在14PIX插座的第7脚接上实验箱的地 (GND),第14脚接上电源(VCC)o其它脚的连线参考具体的线路图, 实验所需要的电阻和可调使用实验箱主电路板中的元件库。2、按照实验原理第一、二部分用万用表测出TTL门电路的输出高电平V%, 输出低电平V
7、ol。3、按图1-2所示连线,测出TTL门电路的输入短路电流I”。4、按图1-3所示连线,测出求得扇出系数N。5、按图厂4所示连线,调节电位器区,使区从0V向高电平变化,逐点测 量和V。,将结果记入下表中。00.20.40.60.81. 01.52.02.53.03.54.0 Vo6、按图1-5所示连线,测得tM。六、实验报告要求1、记录整理实验结果,并对结果进行分析。2、画出实测的电压传输特性曲线,并从中读出各有关参数值。3、思考:TTL门电路的无用输入端是否能悬空或接高电平?为什么?七、TTL门电路的使用规则1、接插集成块时,要认清定位标记,不能插反。2、对电源要求比较严格,只允许在5吐1
8、0%的范围内工作,电源极性不可 接错。3、普通TTL与非门不能并联使用(集电极开路门与三态输出门电路除外), 否则不仅会使电路逻辑功能混乱,并会导致器件损坏。4、须正确处理闲置输入端。闲置输入端处理方法:i . 悬空,相当于正逻辑“1”,对于一般小规模集成电路的数据输入端, 实验时允许悬空处理。但易受外界干扰,导致电路的逻辑功能不正常。 因此,对于接有长线的输入端,中规模以上的集成电路和使用集成电 路较多的复杂电路,所有的控制输入端必须按逻辑要求接入电路,不 允许悬空。ii .直接接电源电压Vcc (也可申入一只l、10K的固定电阻)或接至某一固定电压(+2.4VV4.5V)的电源上,或与输入
9、端为接地的多余与非门 的输出端相接。iii .若前级驱动能力允许,可以与使用的输入端并联。5、负教个数不能超过允许值。6、输出端不允许直接接地或直接接+ 5V电源,否则会损坏器件。有时为 了使后极电路获得较高的输出电平,允许输出端通过电阻接至V<x, 一 般取电阻值为35. 1K。-15-实验二CMOS门电路参数测试一、实验目的1 .掌握CMOS集成门电路的使用规则。2 .学会CMOS集成门电路主要参数的测试方法。二、实验原理1、CMOS集成电路是将N沟道MOS晶体管和P沟道MOS晶体管同时用于一 个集成电路中,成为组合两种沟道MOS管性能的更优良的集成电路。 CMOS管集成电路的主要优
10、点是:(1)功耗低,其静态工作电流在10 数量级,是所有数字集成电路中最低的,而TTL器件的功耗则大得多。(2)高输入阻抗,通常大于IO】。,远高于TTL器件的输入阻抗。(3) 接近理想的传输特性,输出高电平可达电源电压的99. 9%以上,低电 平可达电源电压的0.1%以下,因此输出逻辑电平的摆幅很大,噪声容 限很高。(4)电源电压范围广,可在+3V+18V范围内正常运行。(5) 由于有很高的输入阻抗,要求驱动电流很小,约0. luA,输出电流在+5V 电源下约为500uA,远小于TTL电路,如以次电流来驱动同类门电路, 其扇出系数将非常大。在一般低频率时,无需考虑扇出系数,但在高 频时,后级
11、门的输入将成为主要负载,使其扇出能力下降,所以在较 高频率工作时,CMOS电路的扇出系数一般取1020。2、CMOS集成与非门的电路原理图为:图2-1 CMOS与非门的电路原理图三、实验设备与器件1、数字逻辑电路实验箱。2、数字逻辑电路实验箱扩展板。3、数字万用表和双踪示波器。4、芯片 CD4011。5、5. 1K, 100。,200。,500。,1K 电阻,IK, 10K 可调电阻四、实验内容及实验步骤1、将数字逻辑电路实验箱扩展板插在实验箱相应位置,并固定好,找一 个14PIN的插座插上芯片,并在14PIN插座的第7脚接上实验箱的地 (GND),第14脚接上电源(VCC)o其它脚的连线参考
12、个具体的线路图, 实验所需要的电阻和可调使用实验箱主电路板中的元件库。2、CM0S与非门CD40U参数测试(具体的测量与接线方法和TTL电路相同)。3、观察与非门对脉冲的控制作用:选用与非门按下图连线,将一个输入端接连续脉冲源(频率为20KHz),用 示波器观察并记录两种电路的输出波形。vccYCCGNBGND图2-2与非门对脉冲的控制作用五、实验预习要求1、复习CMOS门电路的工作原理。2、熟悉实验所用集成门电路引脚功能。3、画出实验内容的测试电路与数据记录表格。六、实验报告要求1、整理实验结果,用坐标画出传输特性曲线。2、思考:CMOS门电路闲置输入端如何处理?3、比较一下TTL与非门与CMOS与非门的异同点。七、CMOS门电路的使用规则1、%。接电源正极,Vss接电源负极(通常接地),不得接反。CC4000系列的 电源允许电压在+3V+18V范围内选择,实验中一般选用+5V+15V。2、所有输入端一律不准悬空,闲置输入端的处理方法:a)按照逻辑要求,直接接V”(与非门)或Vss (或非门);b)在工作频率不高的电路中,允许输入端并联使用。3、输出端不准直接与Vg或丫0
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