现代材料分析方法复习

1、一、填空及选择1、（ ）是X射线衍射分析等方法的技术基础；非相干散射在一般情况下则给衍射分析带来不利影响.2、扫描电镜二次电子像的衬度包括磁衬度、成分衬度、（ ）和形貌衬度。3、X射线检索手册按检索方法可分为两类，一类为字母索引，另一类为（ ）索引。4、X射线衍射波具有两个基本特征衍射方向和衍射（ ），二者与晶体内原子分布规律密切相关。5、多晶体衍射仪计数测量方法分为连续扫描和步进(阶梯)扫描两种，_一般用于对样品的定量分析。8、DSC曲线是描述试样与参比物之间的_与温度关系的一种热分析方法。9、X射线检索手册，按检索方法可分为两类，一类为_，另一类为字母索引。10、扫描电镜通过检测器检测到具

2、有不同能量的信号电子，最常用的信号电子有背散射电子和（ ）。13、微商热重法是在程序控制温度下，测量物质_与温度关系的一种技术。14、电子探针仪使用的x射线谱仪有波谱仪和（ ）两类。15、人射电子照射固体时将与固体中的电子、原子核等作用而发生散射，电子散射有弹性和非弹性散射之分，非弹性散射产生各种激发现象，称为_。16、电子探针分析有3种基本工作方式，一是_；二是线扫描分析；三是面扫描分析。19、进行微商热重分析的基本仪器为（ ）。A、热天平； B、新型热天平； C、差示热电偶20、扫描电镜背散射电子像的衬度包括_、形貌衬度、成分衬度。21、简单斜方点阵阵胞内阵点数为1，其阵点坐标为_。22、

3、差热分析曲线受多种因素影响，大体可分为仪器因素和操作因素，仪器因素主要包括：_、坩埚材料与形状、热电偶性能等。23、透射电镜间接样品的制作涉及复型，按制备方法，复型主要分为一级复型、二级复型和（ ）复型 24、入射X射线可使样品产生产生很多现象，其中_是X射线衍射分析方法的技术基础。25、影响衍射强度的其他因素可以引入相应的修正因子，包括多重性因子、吸收因子、_等。26、晶胞衍射强度Ib= |F|2Ie， | F |称为（ ）。27、目前X射线物相定量分析的仪器主要采用衍射仪，其定量分析方法包括（ ）。28、原子散射强度Ia = f2 Ie，f为（ ）。29、多晶体x射线衍射方法包括照相法与（

4、 ）。30、利用投影到荧光屏上的选区衍射谱进行透射电镜成像操作中，包括明场成像、暗场成像和_。31、透射电镜像衬度从根本上可分为振幅衬度和相位衬度，振幅衬度分为两个基本类型：_和衍射衬度。32、影响X射线衍射强度的因素中，_是等同晶面个数对衍射强度的影响因子。33、多晶体衍射仪计数测量方法分为连续扫描和步进(阶梯)扫描两种，步进(阶梯)扫描精度高，并受_和步进时间影响。34、X射线检索手册，按检索方法可分为数值索引和字母索引，字母索引的第一项内容为_。35、电子探针仪使用的x射线谱仪有_和能谱仪两类。36、透射电镜样品的制作非常复杂，可分为间接样品和（ ）样品制备。37、扫描电镜二次电子像的衬

5、度包括形貌衬度、成分衬度、电压衬度和（ ）。38、X射线物相定量分析方法中的内标法，包括K值法、内标曲线法、（ ）等。A、直接法； B、任意内标法； C、外标法。39、热重曲线与微商热重曲线的对应关系中包括微商热重曲线上的（ ）与热重曲线的台阶数相等。A、峰数； B、峰顶点； C、峰面积。40、X射线光电子谱用于元素定量分析有( )、灵敏度因子法、标样法等各种方法A、微分谱法； B、理论模型法； C、内标法。41、晶胞散射强度Ib= |F|2Ie，F称为（ ）。A、极化因子； B、原子散射因子； C、结构因子。42、透射电镜样品的制作涉及复型，按制备方法，复型主要分为一级复型、（ ）和萃取复型

6、。 A、间接； B、二级复型； C、萃取43、入射X射线可使样品产生产生很多现象，其中_产生光电子，是x射线光电子能谱分析方法的技术基础。44、影响衍射强度的其他因素可以引入相应的修正因子，包括多重性因子、_、温度因子等。45、透射电镜的成像系统可以由衍射状态变换到成像状态，这种变换是通过改变中间镜的_实现的。46、多晶体x射线衍射仪的核心部件是（ ）。47、电子探针分析有3种基本工作方式一是定点分析；二是线扫描分析；三是（ ）。48、透射电镜的成像系统可以由衍射状态变换到成像状态，这种变换是通过改变（ ）的激磁强度实现的。 A、中间镜； B、物镜； C、目镜。49、多晶体x射线衍射仪中的辐射

7、测量电路是保证（ ）能有最佳状态的输出电信号。 A、测角仪； B、辐射探测器； C、定标器。50、扫描电镜的分辨率是通过测量_上两亮点之间的最小暗间隙宽度，然后除以总放大倍数得到的。51、人射电子散射有弹性和非弹性散射之分，_的能量损失可以忽略不计。52、电子探针分析有3种基本工作方式，其中_是一种成像方式。53、原子散射强度Ia= f2Ie，f称为（ ）。A、极化因子； B、原子散射因子； C、结构因子。54、目前X射线物相定量分析的仪器主要采用衍射仪，其试样有整体样品和粉末状样品之分。对于定量分析方法中的（ ），只适用于采用粉末状样品。A、摄谱法； B、内标法； C、直接对比法。55、电子

8、探针分析有3种基本工作方式一是定点分析；二是线扫描分析；三是（ ）。56、人射电子照射固体时将与固体中的电子、原子核等作用而发生散射， 与辐射的散射一样，电子散射同样有弹性和（ ）散射之分。57、扫描电镜信号检测放大系统的作用是收集产生的各种物理信号并放大，（ ）是最常用的一种信号检测器。58、透射电镜的成像系统可以由衍射状态变换到成像状态，这种变换是通过改变中间镜的（ ）实现的。A、激磁强度； B、参比强度； C、入射强度。59、扫描电镜二次电子像的衬度包括形貌衬度、成分衬度、（ ）和电压衬度。A、电压衬度； B、磁衬度（第一类）； C、磁衬度（第二类）。60、利用投影到荧光屏上的选区衍射谱

9、可以进行透射电镜成像操作，其中选散射电子形成的像称为（ ）。A、明场像； B、暗场像； C、衍射像。61、电子探针的构造与扫描电子显微镜大体相似，它有三种工作方式，其中（ ）是电子束在样品表面沿选定的直线轨迹进行扫描。A、定点分析； B、线扫描分析； C、面扫描分析。62、利用投影到荧光屏上的选区衍射谱可以进行透射电镜成像操作，其中选直射电子形成的像称为（ ）。A、明场像； B、暗场像； C、衍射像。63、电子探针的构造与扫描电子显微镜大体相似，只是增加了接收记录（ ）的谱仪。64、透射电镜像衬度从根本上可分为振幅衬度和（ ），振幅衬度分为两个基本类型：质厚衬度和衍射衬度。65、透射电镜样品的

10、制作非常复杂，可分为（ ）样品和直接样品制备。66、扫描电镜二次电子像的衬度包括磁衬度、成分衬度、电压衬度和（ ）。67、X射线物相定量分析方法包括K值法、直接对笔法、（ ）等。70、X射线物相定量分析方法中的内标法，包括（ ）、任意内标法、内标曲线法等。A、直接法； B、基体冲洗法； C、外标法。71、电子探针的构造与扫描电子显微镜大体相似，它有三种工作方式，其中（ ）是电子束在样品表面进行光栅式扫描。 A、定点分析； B、线扫描分析； C、面扫描分析。72、X射线检索手册按检索方法可分为两类，一类为（ ）索引，另一类为数值索引。73、利用投影到荧光屏上的选区衍射谱进行透射电镜成像操作中，包

11、括明场成像、（ ）和中心暗场成像。74、微商热重曲线与热重曲线的对应关系中包括微商曲线上的峰顶点与热重曲线的（ ）相对应。A、台阶； B、拐点； C、面积。75、多晶体x射线衍射仪的核心部分是（ ）。A、测角仪； B、辐射探测器； C、定标器。76、扫描电镜通过检测器检测到具有不同能量的信号电子，最常用的信号电子有二次电子和（ ）。77、扫描电镜二次电子像的衬度包括形貌衬度、成分衬度、磁衬度和（ ）。78、相干散射是X射线衍射分析等方法的技术基础；_散射在一般情况下则给衍射分析带来不利影响.79、光电子发射过程由光电子的_、输运和逸出3步组成。80、X射线检索手册按检索方法可分为两类，一类为_

12、索引，另一类为数值索引。81、X射线衍射波具有两个基本特征衍射_和衍射强度，二者与晶体内原子分布规律密切相关。82、利用投影到荧光屏上的选区衍射谱进行透射电镜成像操作中，包括明场成像、暗场成像和_。83、电子探针分析有3种基本工作方式一是定点分析；二是_；三是面扫描分析。84、电子探针仪使用的x射线谱仪有_和能谱仪两类。85、透射电镜样品的制作涉及复型，综合塑料复型和碳复型的某些优点，较为常用的是（ ）。 A、 间接复型； B、塑料碳二级复型； C、萃取复型。86、依据差热分析曲线特征，可定性分析物质的物理或化学变化过程，还可依据（ ）半定量地测定反应热。 A、峰面积； B、峰形； C、出峰位

13、置。87、透射电镜的成像系统可以由衍射状态变换到成像状态，这种变换是通过改变中间镜的（ ）实现的。A、参比强度； B、激磁强度； C、相对强度。88、X射线物相定量分析方法包括（ ）。89、透射电镜间接样品的制作涉及复型，按复型的制备方法，复型主要分为一级复型、二级复型和（ ）复型 90、扫描电镜通过检测器检测到具有不同能量的信号电子，最常用的信号电子有背散射电子和（ ）。91、扫描电镜背散射电子像的衬度包括形貌衬度、成分衬度和（ ）。92、电子探针分析有3种基本工作方式一是定点分析；二是（ ）；三是面扫描分析。A、线扫描分析； B、体扫描分析； C、微观分析。二、判断题1、X射线管产生的辐射

14、按射线谱特征分为连续X射线和特征X射线两类，都可以用作X射线信号源，产生的衍射花样一致。2、同样放大倍数下，扫描电镜的景深比光学显微镜的景深大一至两个数量级，特别适用于光滑表面的观察和分析。5、透射电子显微镜的直接样品制备相对于间接样品来说，目前技术已日益成熟，因此间接样品已经不采用。6、x射线在观察断口形貌方面，它可直接观察断口，也可在很宽的倍率范围内进行连续观察。7、X射线衍射分析所用的样品必须很薄，一般约小于200nm，但制备起来比较容易。8、x射线与电子波的波长近似，其他方面也近似，二者几乎没有区别。 9、组成物质的各种相尽管都具有各自特定的晶体结构，但其具有的x射线衍射花样特征有完全

15、相同的。10、透射电子显微镜的样品必须很薄，一般约小于200nm，因此制备起来非常困难。11、X射线可进行微区分析，所激发的体积大小约为10m3左右，是目前较为理想的一种微区化学成分分析手段。12、X射线的波长与电子波的波长相近，因此，均可用于显微分析，即X射线可以发挥与电子波一样的电子显微分析作用。13、扫描电子显微镜的样品必须很薄，一般约小于200nm，因此制备起来很难。14、可见光与电子波的波长近似，其他方面也近似，二者几乎没有区别。 15、热分析中的参比物又称基准物，是在测量温度范围内不发生任何热效应的物质。16、X射线管产生的辐射，按射线谱特征分为连续X射线和特征X射线两类，其中连续

16、X射线是覆盖很大波长范围且连续变化的电磁波。17、x射线照射晶体时，也可使原子中的质子受迫振动从而产生质子散射，但质子散射与电子散射相比，可忽略不计。18、同样放大倍数下，扫描电镜的景深比光学显微镜的景深大一至两个数量级，特别适用于粗糙表面的观察和分析。19、电子探针作微区分析时所激发的体积大小约为10m3左右，是目前较为理想的一种微区化学成分分析手段。20、同样放大倍数下，扫描电镜与光学显微镜没有区别，观察结果也差不多。21、组成物质的各种相，都具有各自特定的晶体结构，x射线衍射花样特征也完全不同，即各种相的衍射花样不叠加。22、电子探针作为目前较为理想的一种微区化学成分分析手段，可以分析所

17、有元素。23、透射电子显微镜与扫描电镜都可以采用复型样品，因而二者的样品制备是完全一样的。24、X射线管产生的辐射按射线谱特征分为连续X射线和特征X射线两类25、组成物质的各种相，都具有各自特定的晶体结构，其所具有的x射线衍射花样特征各有特点，且多相物质中的各种相的衍射花样不可以叠加。26、物质的x射线衍射花样特征就是分析物质相组成的“指纹脚印” 。27、多晶体x射线衍射方法包括照相法与衍射仪法。28、X射线管产生的辐射，按射线谱特征分为连续X射线和特征X射线两类，其中特征X射线是覆盖很大波长范围且连续变化的电磁波。29、透射电子显微镜与电子探针都属于电子显微分析仪器，因此，都必须采用复型样品

18、，且样品制备方法是完全一样的。30、俄歇电子法可以观察断口形貌，它可直接观察断口，也可在很宽的频率范围内进行连续观察，进而打出相应的能谱。31、x射线光电子能谱是一种绝对灵敏度高的痕量分析方法。32、X射线衍射分析所用的样品必须很薄，一般约小于200nm，但制备起来比较容易。33、透射电子显微镜的样品与扫描电镜的样品厚度是一样的。34、俄歇能谱分析方法不论在理论和技术方面或实际应用方面还在不断发展，目前，提高定量分析的准确性和增强横向分辨能力是主要的努力方向。35、x射线光电子能谱是一种无损分析方法，还是一种超微量分析技术。22、扫描电子显微镜在观察断口形貌方面，它可直接观察断口，也可在很宽的

19、倍率范围内进行连续观察。36、散射基元是物质中与入射的辐射即入射线相互作用而致其散射的基本单元，因此，散射基元只能是分子、原子以及电子。39、凡物质受热时发生质量变化的物理或化学变化过程，均可用热重法分析、研究。40、透射电子显微镜与扫描电镜都是电子显微分析仪器，因此，都必须采用复型样品，且样品制备方法是完全一样的。41、电子探针是目前较为理想的一种微区化学成分分析手段。42、x射线光电子能谱法是一种无损分析方法(样品不被x射线分解)。43、光电子能谱图中表征样品电子结合能的一系列光电子谱峰称为化学峰。44、组成物质的各种相都具有各自特定的晶体结构，因而具有各自的x射线衍射花样特征。45、点阵

20、常数是通过x射线衍射线的位置的测定而获得的。46、X射线衍射仪可以观察断口形貌，它可直接观察断口，也可在很宽的频率范围内进行连续观察，进而打出相应的衍射图谱。47、透射电子显微镜的样品必须很薄，一般约小于200nm。48、在利用投影到荧光屏上的选区衍射谱进行透射电镜成像操作中，中心暗场成像比暗场成像佳。49、同样放大倍数下，扫描电镜的景深比光学显微镜的景深大一至两个数量级，特别适用于粗糙表面的观察和分析。51、俄歇电子能谱法是材料科学研究和材料分析的有力工具，可分析所有已知元素。三、名词解释：（每题5分，共20分）1、辐射强度与参比强度3、倒易矢量与反射球4、明场像与质厚衬度5、倒易球与倒易矢

21、量6、辐射强度与物理位移7、散射角与结构消光8、干涉指数与倒易球9、明场像与衍射衬度10、散射角与点阵消光11、差热分析(DTA)与热重法（TG）12、基态与激发态13、物相定性分析和定量分析5、中心暗场成像与衍射衬度14、参比强度与化学位移15、辐射的发射与发射光谱16、倒易点阵与反射球17、散射基元与结构消光18、差示扫描量热法（DSC）与热重法（TG）19、中心暗场成像与质厚衬度20、辐射的吸收与吸收光谱21、相干散射与非相干散射四、简答题：（每题7.5分，共30分）1、简述电子探针分析的三种基本工作方式。2、某样品为双相（与），其x射线衍射花样如下图所示，试作物相定性分析；假设两相化学

22、成分接近，如何采用直接对比法进行物相定量分析。3、下图为典型的DSC曲线，描述此曲线并简述DSC的应用。4、简述扫描电镜二次电子像的衬度种类及其主要内容。5、简述透射电镜直接样品制备的过程。6、说明原子散射因子f，结构因子F、结构振幅|F|各自的物理意义。7、某样品为单相，其x射线衍射花样如下图所示，（1）简述衍射花样的纵横坐标；（2）对其做物相定性分析。2、下图为俄歇电子能谱分析曲线，描述此曲线并简述其应用。8、某样品为双相（与），其x射线衍射花样如下图所示，（1）描述衍射花样；（2）对其做物相定量直接对比法分析。9、简述扫描电镜二次电子像的衬度和背散射电子像的衬度种类及其主要内容。10、某样品为多相，其x射线衍射花样如下图所示，试作物相定性分析；如采用任意内标