UT设备与器材练习题

1、UT中级设备与器材知识练习题一是非题1. A型脉冲反射式超声波探伤仪是以判断回波位置. 回波高度和回波形状来评价缺陷的。(O)2. B型显示能展现工件中缺陷的埋藏深度。(O)3. C显示能展现工件中缺陷的投影形状，不能展现深度。(O)4. 探头的近场区就是探头的盲区。（X）5. 单晶直探头始脉冲宽，盲区大。双晶直探头盲区小。(O)6. 硬保护膜适用于表面较光洁的工件检测，但较软保护膜带来更大的始波宽度，分辨力变差，灵敏度降低。(O)7. 阻尼块的作用是使探头晶片振动时间缩短，但同时也吸收了探头产生的杂波(O)8. 毛面探伤时，用软保护膜探头灵敏度比硬保护膜低（X）9. 双晶直探头相当于一个粗糙

2、的聚焦探头，探头中两个晶片的倾角越大则探测深度越大（X）10. 聚焦探头的主要优点是声束细，指向性好，能量集中，定位精度高，扫查范围大。（X）11. 由于水中只能传播纵波，所以水浸探伤只能进行纵波探伤。（X）12. 使用耦合剂的主要目的是去除探头与工件间的空气间隙，使超声波能够传入工件。(O)13. 手工探伤，为使探头与工件良好接触，用力越大越好。（X）14. 斜探头前部磨损较大，则K值将会增加。（X）15. 调节衰减器不会影响仪器的垂直线性，而改变增益和抑止旋钮则会影响仪器的垂直线性（X）16. 增大仪器的发射强度，则仪器灵敏度会进一步提高，同时对缺陷的分辨率也会减小(O)二选择题1. A型

3、扫描显示中，从荧光屏上直接可获得的信息是：（ C ）A. 缺陷的性质和大小B. 缺陷的形状和取向C. 缺陷回波的大小和超声传播的时间D. 以上都是2. A型扫描显示中，荧光屏上垂直显示波高的大小表示：（ A ）A. 超声回波的幅度大小B. 缺陷的位置C. 被探材料的厚度D. 超声传播时间3. 影响仪器灵敏度的旋纽有：（ D ）A. 发射强度和增益旋纽B. 衰减器和抑制 C. 深度补偿 D. 以上都是4. 仪器的垂直线性好坏会影响（ A ）A. 缺陷的当量比较B. AVG曲线面板的使用 C. 缺陷的定位 D. 以上都对5. 调节仪器面板上的“抑制”旋钮会影响探伤仪的（ D ）A. 垂直线性B.

4、动态范围C. 灵敏度D. 以上全部6. 单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为（ C ）A. 近场干扰B. 材质衰减C. 存在盲区D. 折射7. 表示探伤仪与探头组合性能的指标有：（ B ）A. 水平线性. 垂直线性. 衰减器精度B. 灵敏度余量. 盲区. 远场分辨力C. 动态范围. 频带宽度. 探测深度D. 垂直极限. 水平极限. 重复频率8. 目前工业超声波探伤使用较多的压电材料是（ C ）A. 石英B. 钛酸钡C. 锆钛酸铅D. 硫酸锂9. 以下哪一条，不属于双晶探头的优点（ A ）A. 探测范围大 B. 盲区小 C. 工件中近场长度小D. 杂波少1

5、0. 对超声波试块材质的基本要求是（ D ）A. 其声速与被探工件声速基本一致B. 材料中没有超过2mm平底孔当量的缺陷C. 材料衰减小且均匀D. 以上都是11. 超声探伤系统区别相邻两缺陷的能力称为：( D )A. 检测灵敏度B. 时基线性C. 垂直线性D. 分辨力12. 下面关于横波斜探头的说法哪一句是错误的（ C ）A. 横波斜探头是由直探头加透声斜楔组成B. 斜楔前面开槽的目的是减少反射杂波C. 超声波在斜楔中的纵波声速应大于工件中的横波声速D. 横波是在斜楔与工件的交界面上产生13. 探测粗糙表面的工件时，为提高声能传递，应选用（ C ）A. 声阻抗小且粘度大的耦合剂B. 声阻抗小且粘度小的耦合剂C. 声阻抗大且粘度大的耦合剂D. 以上都不是14. 关于耦合剂选用的说法错误的是（ D ）A. 表