产品硬件测试..

1、目的尽量实现产品的零缺陷-验证设计可行性阶段立项研发测试住产销售idonqs动常见硬件平台结构硬件测试的内容功能测试信号完整性测试 电源测试散热测试 可靠性测试 认证bdonqsczi1功能测试定义：功能测试是根据硬件详细设计规格书中提及的功能 规格进行测试，验证设订是否满足要求。严酷度：功能测试是系统功能实现的基本，是需要严格保 证测试通过率的。bdonqsczi内部LDO输出1.8V。 工业标准增强型2T 80510 PLL 12MHz最大12倍频。25代产品举例:电源：内核：时钟：接口功能：SPI, 12C. SPI, UVC, CSI, GPIO等。（关于测试的方法和标准问题，我们可以

2、参照相关文档）bdonqfi 动2信号完整性测试（SI）定义：信号能够安全完整的到达目的地，它包含两个信息 ,一是独立的信号质量，另一个就是时序正确。适用范丽：主要是针对数字电路，频率越高，SI出现问题 的可能性就越大。bdonqfi 动-理想逻m.波形信号质量的区别, 造成”0”T错误。抖动太大的话有可能i曲nqfi动数据采样及时疗:例了T1CommonClockData atDrivervaiXNIVKX)DalalData atRsceivftrP*IT < DtaiT2V_Da:a2Data2-数据需要准时到达逻辑门，且在接收端期间开始锁存前必 须确定数据的逻辑状态。数据的延迟或

3、失真都会导致数据 传输失败（无法识别数据或数据错误）Oi曲nqfi动1）信号的质量参数振幅振幅，高电平，低电平，均方根值，单个周期的均方根值 ,最大值，最小值，峰峰值，平均值，单个周期平均值， 正过冲，负过冲，正欠冲，负欠冲等。-时间上升时间，下降时间，正占空比，负占空比，高电平宽度, 低电平宽度，周期，频率，延迟等。-眼图眼高，眼宽，眼图最高点，眼图最低点，交叉点等。bd»nq9czi振幅-振幅：高电平与低电平的差值，单位V或mV O-高/低电平；高电平是指信号逻辑MT0''所在位置的幅度 ，单位 /或111/<,-均方根值：整个捕捉波形上所有点幅度的均方根值

4、，单位 V 或 mV。-平均值：整个捕捉波形上所有点幅度的平均值，单位V或 mVo-正/负过冲：指高电平/低电平处的过冲值，单位V或mV。-正/负欠冲：指高电平/低电平处的过冲值，单位V或mV。bd»nq9czi欠冲波形Chi PosMon-StCAkKvr M-i«» I *, r卜 4J二讥71*4 X t M P x”。卜4 卜4,卜+'$ * i卜卜f.卜叫，卜 ij* ' I 斗+ ,«( 卜彳°MCM ScaJw 11JJV J*bd»nqBcZi ”,时间上升/下降时间：逻辑“07”跳变到逻辑“1”广0”

5、的时间 -延迟时间指两个相关信号间的相位差。r- *VCC尸屮pz、二、r”， Ha,bd»nqBcZi眼图-眼图的高/低电平值: 值r眼图高/低电平累积部分最低/高点的so24 I10D50X135i-dnnqficD眼图的最大/小值：眼图高/低电平处最高/低点的值。O。404 n o 20.4:g 63 -O-S-眼图的交叉点：差分信号的上升沿和下降沿交叉点Oi-dnnqficD2）信号的时序建立时间-保持时间传输延迟相位偏移波形的质量影响到信号的建立时间和保持时间；传输的延 迟和相位的偏移影响到信号是否按时到达逻辑器件。-建立时间：指数据在被采样时钟釆样前已建立起的时间。ICur»l Pm IJ 播* J1/, L 、, I 2Cur>S Pm ¥ 込；Jbd