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文档简介

1、能量色散X射线荧光分析仪最近开发一款能量色散X射线荧光分析仪，整机结构设计合理，光程短，具有重现性好，测量速度快，灵敏度高等特点。分析样品可以是固体、粉末、液体等可以作到产品无损检测。能分析S(16)U(92)之间所有元素，适用于环保、石化、炼钢、有色金属、玻璃、考古、食品、药品和化妆品等诸多行业，特别适用于电子、玩具等产品的RoHS检测。 硬件配置l 探测器采用Si-PIN高分辨率半导体X射线探测器，由美国Amptek公司生产。l 高压发生器采用50W高压电源，美国Spellman公司生产。l 薄铍窗X射线管，最高功率达50W，国内专业厂商生产。l 配置八种初级滤光片，根据设定自动转换，满足

2、不同行业的分析要求。l 配置六种准直器，根据设定自动转换，满足形状、大小不同的样品分析要求。l 精心设计光路结构，使得光程很短，提高了探测效率。l 超大样品室设计，使得大样品无需拆分即可直接测量。l 可移动平台高清晰度摄像头设计，在测量样品的不同部位时，根据摄像准确找到测量点。l 仪器接线简单，一个电源线，接220V电源；一个USB通讯线，接上位机（普通电脑）。分析软件：l 日常操作简单在仪器稳定运行后，选择要使用的工作模型，此时仪器自动调整到仪器设定的状态（高压、管流、滤波片和准直器）；点高压关按钮，则高压指示灯灭，此时放入待测样品；点高压开按钮，则高压指示灯亮，此时点测量按钮即可进行测量，同步显示谱图，测量结束后显示分析结果，操作相当简单。l 先进的谱处理方法精细的背景扣除方法，多元素拟合寻峰方法，在软件设定条件下自动完成背景扣除、平滑，特征元素寻峰等过程，使得任何人操作都能有效获得了待测元素谱的净强度。l 多种基体效应校正方法由基本参数法和经验系数法共同组成的基体效应校正方法，确保了各类样品定量分析的准确性。基于基本参数法，可进行无标样定量分析。l 软件控制的移动平台由软件控制移动平台的上下左右移动，方便测量大样品的不同部位。配合高清摄像头，保存样品的图片信息。该能谱仪已经研发成功，寻求合作伙伴，共同将仪

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