实验四变容二极管调频器

1、实验四变容二极管调频器1、本实验系统接通电源前请确保电源插座接地良好。、本实验系统接通电源前请确保电源插座接地良好。2、各实验模块上的双刀双掷开关、拨码开关、复位开关、各实验模块上的双刀双掷开关、拨码开关、复位开关、自锁开关、手调电位器和旋转编码器均为磨损件，请不要自锁开关、手调电位器和旋转编码器均为磨损件，请不要频繁按动或旋转。频繁按动或旋转。3、在关闭各模块电源之后，方可进行连线。连线时在保证、在关闭各模块电源之后，方可进行连线。连线时在保证接触良好的前提下应尽量轻插轻放，检查无误后方可通电接触良好的前提下应尽量轻插轻放，检查无误后方可通电实验。拆线时若遇到连线与孔连接过紧的情况，应用手捏

2、实验。拆线时若遇到连线与孔连接过紧的情况，应用手捏住线端的金属外壳轻轻摇晃，直至连线与孔松脱，切勿旋住线端的金属外壳轻轻摇晃，直至连线与孔松脱，切勿旋转及用蛮力强行拔出。转及用蛮力强行拔出。4、按动开关或转动电位器时，切勿用力过猛，以免造成元、按动开关或转动电位器时，切勿用力过猛，以免造成元件损坏。件损坏。5、未要求调整的电路元件严禁调整。、未要求调整的电路元件严禁调整。 实验目的实验目的 实验内容实验内容 实验原理实验原理 实验步骤实验步骤1.掌握变容二极管调频电路的原理。2.了解调频调制特性及测量方法。3.观察寄生调幅现象，了解其产生及消除的方法。 1.测试变容二极管的静态调制特性。 2.

3、观察调频波波形。 3.观察调制信号振幅时对频偏的影响。 4.观察寄生调幅现象。0246810121420406080 U / VCj / pFV(a)(b)变容二极管的压控特性曲线和电路符号 (a)电路符号；(b)压控特性曲线变容二极管压控特性曲线变容二极管压控特性曲线+12J1J2R310KR710KR83.3KR410KR22KR101KR118.2KC5104C21104C1047pC927pC310pC15102C14104L222uHQ33DG6Q23DG6RA1100KC1104C20470pCRY14.19MCC15-25pC4104R122K+12VPOWER1+12C810p

4、TH1TH2D1BB149LED1LEDE110UF/16VC22104+12TP2TP3TP6TP7TP1TP4TP5W120KW25kR110KR610KQ13DG6C7104R55101243S11243S2C13100pD2BB149R910KL122uHC23102C2104C6560pT1R133.3KR14510C11104三点式振荡器三点式振荡器缓冲与放大器缓冲与放大器 调频即为载波的瞬时频率受调制信号的控制。其频率的变化量与调制信号成线性关系。常用变容二极管实现调频。 设回路电感为L，回路的电容是变容二极管的电容C（暂时不考虑杂散电容及其它与变容二极管相串联或并联电容的影响）

5、，则振荡频率为 LCf21 将电路接成LC压控振荡器（按电路板右上角提示连接），TH2端不接音频信号，将频率计接于TH1处，调节电位器W1，从TP2测量并记下变容二极管D1、D2两端电压和对应输出频率，并记于下表中。 根据数据画出V-f变化曲线VD1(V) 22.5 345671011F0(MHz) 1）将电位器W1置于某一中值位置，将DDS输出的1VPP频率1KHZ的音频信号通过TH2输入，将示波器接于TH1端，可以看到调频信号。由于载波很高，频偏很小，因此看不到明显的频率变化的调频波。 2）为了清楚观察FM波，可以将上一步的信号峰峰值改为5V。将S2的“1”拨上，S1的“1”或“2”拨。在

6、TH1用示波器观察，改变W1来改变调制度，可观察到较明显的频偏变化和寄生调幅现象。 实验报告要求实验报告要求 1、在坐标纸上画出静态V-f调制特性曲线，并根据测量数据求出该电路的调制灵敏度（？KHz/V）。说明曲线斜率受哪些因素的影响。 2、画出实际观察到的FM波形，并说明频偏变化与调制信号振幅的关系。 3、分析寄生调幅产生的原因，思考并回答消除寄生调幅的方法 实验目的实验目的 实验内容实验内容 实验原理实验原理 实验步骤实验步骤一、实验目的一、实验目的1、了解集成混频器的工作原理；2、了解混频器中的寄生干扰。1、研究平衡混频器的频率变换过程；2、研究平衡混频器输出中频电压Vi与输入本振电压的

7、关系；3、研究平衡混频器输出中频电压Vi与输入信号电压的关系；4、研究镜象干扰。二、实验内容二、实验内容三、实验原理三、实验原理+12-12J7J8J9C12104C11104C7104C15104C8104R101KR11200R12820R13820R71KR14100R153.3KR163.3KR216.8KR20510R171kF24.5MD28.2VC16104TH6TH7TH8TH9TP5SIG+1GNADJ2GNADJ3SIG-4BIAS5OUT+6NC7CAR+8NC9CAR-10NC11OUT-12NC13VEE14U1MC1496 上页图为模拟乘法器混频电路，该电路由集成模

8、拟乘法器MC1496完成。本实验中输入信号频率为fS5.5MHz(由DDS信号发生器输出)，实验箱自己提供的信号源作为本振信号，其频率fL10MHz。 为了实现混频功能，混频器件必须工作在非线性状态，而作用在混频器上的除了输入信号电压VS和本振电压VL外，不可避免地还存在干扰和噪声。它们之间任意两者都有可能产生组合频率，这些组合信号频率如果等于或接近中频，将与输入信号一起通过中频放大器、解调器，对输出级产生干涉，影响输入信号的接收。 干扰影响最大的是中频干扰和镜象干扰。1、输入本振信号：用实验箱的信号源做本振信号，将频率fL=10MHz（幅度VLP-P600mV左右）的本振信号从J8处输入(TH7处测试)， 输入射频信号：由DDS提供频率，fS=5.5MHz（幅度VSP-P300mV左右，TH6处测试 ）的射频信号从相乘混频器的输入端J7输入，按框图（见上页）所示搭建好测试电路；四、实验步骤四、实验步骤(1)(1)2、用示波器观察TH8和TH9处波形；四、实验步骤四、实验步骤(2)(2)3、用频率计测量混频前后波形的频率(即对比输入输出频率，