电路板维修相关技术资料

1、主題:電路板維修傳統維修方式的障礙u沒 有 線 路 圖 , 無 從 修 起u電 路 板 太 複 雜 , 維 修 困 難u維 修 經 驗 及 技 術 不 足u無法維修的死板,廢棄可惜u送電中作動態維修,危險性極高傳統維修方式的障礙u備份板太多,積壓資金u送國外維修費用高,維修時間長u對老化零件無從查起無法預先更換u維修速度及效率無法提升,造成公司負擔,客戶埋怨u投資大量維修設備,操作複雜,績效不彰類類比比性性故故障障7 75 5% %接接點點不不良良1 10 0% %動動能能故故障障5 5% %元元件件功功能能異異常常5 5% %其其他他5 5% %元件故障分佈統計圖u類比性故障：開路、短路、操

2、作不當導致故障,明顯破壞元件的VI特性u接點不良：焊點裂化,介面接觸不良,介面接點氧化u動態故障：熱效應,時序問題,系統不穩定u元件功能異常:元件老化,元件劣化,偏離工作點u其它：雜訊抑制能力差,高頻電路阻抗未匹配,電路設計不良接點不良動態故障元件功能異常其它類比性故障維修市場的需求u突破示波器,邏輯分析儀等操作困難之問題u沒有經驗的新手亦能輕鬆做好維修工作u需具備功能強大但操作簡單之特點u不需拆零件、不需電路圖、不需送電也能進行維修電路板維修測試技術u示波器示波器/電表電表u邏輯分析儀邏輯分析儀uCPU/ROM模擬器模擬器uBOARD FUNCTIONAL TESTERSuIN-CIRCUI

3、T MEASUREMENT (VI)uIN-CIRCUIT FUNCTIONAL TESTERSASA 靜態測試 類比信號分析法,可以適用在所有種類的電路板,目前市場的維修主流ICT 動態測試 電路板內IC功能測試,可以解決ASA無法探索的IC內部問題類比信號分析法 (ASA)u產生 SINE WAVE 電壓信號u取回測試端電流信號u測試端顯示 VI 阻抗特性曲線類比信號分析法 (ASA)u不同元件具有不同的VI特性阻抗u好的元件與故障元件VI特性阻抗不同u利用比較方式找出故障元件u沒有線路圖也能維修u維修速度快可靠性佳u不需供給電源,靜態下測試非常安全,不會造成電路板二次破壞u由於操作簡單所

4、以可以彌補維修若在經驗及技術上之不足u亦可搭配治具在製程中做品管測試類比信號分析法 (ASA)u可測試任何型式之電子元件u操作簡單,非專業人員也會操作,也可成為維修專家u不須加電源至故障電路板,相當安全u投資費用低,回收成本高u任何特別元件均可檢查u不須延伸板u維修率達85%電阻(RESISTORS)電容和電感(CAPALITORS AND INDUCTORS)電晶體 (TRANSISTORS)基極基極-射極之圖形射極之圖形與齊納二極體相似與齊納二極體相似NPN TRANSISTORBASE-EMITTER基極基極-射極之圖形與射極之圖形與傳統的二極體圖形相似傳統的二極體圖形相似NPN TRA

5、NSISTORBASE-COLLECTOR電晶體 (TRANSISTORS)基極基極-射極之圖形類似二射極之圖形類似二極體再串聯一齊納二極體極體再串聯一齊納二極體NPN TRANSISTOREMITTER-COLLECTOR電晶體 (TRANSISTORS)二極體二極體SIGNAL DIODE齊納二極體8.2V齊納二極體齊納二極體8.2V ZENER DIODE齊納二極體鐵蕊變壓器一次測鐵蕊變壓器一次測FERRITE TRANSFORMERPRIMARY WINDING鐵蕊變壓器一次測鐵蕊變壓器一次測操作者可選擇範圍檔中的LOW, MED等頻率檔作為適當的測試頻率。在電容器中,測過的電流愈高,

6、流過的電流愈多,使得產生的圖形垂直部分較大;在電感器中,頻率愈低,流過電流愈多,使得產生的圖形水平部分較大。電阻二極體串聯電路中二極體短路之故障IV洩漏電容IV BUS SHORT(JUNCTION RANGE)IVIC匯流排短路A0A7製程中LED接反IV開集極電容故障IVMDA Faults提升電阻故障IVR當連接在電路時,此外部電路(電阻)提升此接腳至VCC0Vcc電路例題:電源供給電路此圖是電源供應器電路的圖形,當其測試變壓器二次側線圈所得圖形如下圖,其使用LOW和LOW頻率檔,圖形有迴圈的部份最主要乃由電容(C1)所造成。而橢圓形傾斜的斜率乃由電路二橿體的電阻所引起,而橢圓兩端的膝部

7、形狀(KNEES)乃由橋式整流中二極體所造成。COMCHANNEL AT1D4D3D1D2C1電源供給電路電源供給電路二次側好的圖形IV二次側D3短路時之圖形IV串聯電路電阻電容二極體電容並聯電路REF227nFDUT2K2ASA測試器測試器ASA測試器測試器並聯電路DUTREFDUTREFDUTREFJunction rangedev 38%圖2cLogic rangedev 20%圖2bLow range dev 4%圖2a配合測試治具及電腦存檔能力發揮 最 大 功 效o不需準備好的電路板o儲存好的電路板之所設定參數及資料檔案o可附加輔助說明o儲存ASA及ICT之測試結果之信號o可建立測試

8、結果及報告Board-Learning的優點M建立備品板資料庫M解決原廠電路板更新版本所造成的困擾M以備品板資料庫與待測電路板做比較,因此能大幅提高維修率M大幅降低準備備品板所需成本電路板內元件功能測試法(In-Circuit-Functional-Tester)2In-Circuit-Functional-Tester2輸入端輸入預設的信號或波形2判斷輸出端的輸出信號是否正確2不需電路圖也可維修2不需好的電路板也可維修2動態測試,可測出 IC內部是否正常BACKDRIVIN.當送一TEST PATTERN，給待測 IC 的輸入端，強迫至所要的邏輯狀態，且蓋過此 IC 原有的靜態邏輯狀態,此種

9、技術稱為BACKDRIVING強迫強迫 LOW TO HIGH I sink 電流在Low to High時,有一大電流流經地線I sink 驅動驅動 LOW TO HIGHQ3Q2VccQ1強迫HIGH TO LOW6 I source 電流流經Q2集極負載,限制了電流流過驅動HIGH TO LOWQ3Q2VccQ1熱I source數位IC測試標準INT DEF STAN 00-53/1Section One GeneralSection Two guide to In-Circuit TestingSection Three Backdriving Limits目的：1.避免node forcing techniques錯誤使用造成數位元件損壞2.提醒一些潛在問題，提供解決方法GUARD技術Z測試 U1時，可對 U2， U3，U4 做 Guarding 動作，使U2， U3， U4不動作，而不會影響