电气性能报告模板tes10t96测试报告

1、项目名称 Norflash 测试报告密级：B密级：B项目名称Nor_flash 测试报告<这里用一句话说明一下这个文档的目的>评审者字体使用时删除1）文档提交评审时需要给评审者预留足够的评审时间。需要哪些人评审依据项目的范围由项目团队界定。2）在本文档的撰写过程中，需要与相关利益人交流（清勿到开始评审与的相关利益人进行交流，这样效率低，而且评审效果也比较差），请将撰写过程列在附件里面。流修订第 118 页福建星网锐捷本公司同意，严禁以页 共拷贝日期修订版本修改者修改描述部门/专业组评审者评审日期主送对象抄送对象项目名称 Norflash 测试报告密级：B目录目录21.2.测试汇总表

2、3测试环境和条件32.1 测性质32.22.32.4试样（DUT）3仪器和辅助3测试、时间和地点33.4.测试依据和参考标准3测试模型及配置44.1 DUT 配置44.2 实验仪器配置45. CPU 端电平测试45.1 测试结果45.2 测试步骤55.3 检测点和判据65.4 测试. 66.Nor_flash 端电平测试76.1 测试结果76.2 测试步骤86.36.4检测点和判据9测试97.Nor_flash 读操作时序测试117.1 测试结果117.2 测试步骤117.3 检测点和7.4 测试判据12. 128.Nor_flash 写操作时序测试148.1 测试结果148.2 测试步骤14

3、8.3 检测点和判据158.4 测试159. 测试. 1810. 测试发现的和分析18第 2 页 共 18 页福建星网锐捷本公司同意，严禁以拷贝项目名称 Norflash测试报告密级：B1. 测试汇总表2. 测试环境和条件2.1 测性质如：样机例试、bug回归等2.2试样（DUT）2.3仪器和辅助2.4测试、时间和地点3. 测试依据和参考标准第 3 页 共 18 页福建星网锐捷本公司同意，严禁以拷贝测试项执行人开始时间结束时间环境温度环境湿度测试地点Cpu 端电平测试Nor_flash 端电平测试Nor_flash 读时序测试Nor_flash 写时序测试名称型号规格说明数量示波器探头万用表型

4、号硬件版本版本（boot、CTL、Main）测试程序版本生产序列号测试项目结果（Pass/Fail）测试审核Cpu 端电平测试Nor_flash 端电平测试Nor_flash 读时序测试Nor_flash 写时序测试项目名称 Norflash 测试报告密级：B4. 测试模型及配置4.1 DUT 配置硬件配置为：M7606-CM IIIV1.0样机配置为：Boot：10.2.45514Ctrl: RGNOS 10.3.00(3),Main：无Hardware_test：31117Release(50932)4.2实验仪器配置5. CPU 端电平测试5.1 测试结果第 4 页 共 18 页福建星网

5、锐捷本公司同意，严禁以拷贝测试项目规格结果Pass / FailCPU 端信号电平FLASH 发出信号的FLASH 发出信号的 DC 电测试项目示波器测试模板万用表Cpu 端电平测试电阻档-在试样上电之前测试示波器地和试样地之间的电阻值； AC 电压档-在试样上电之后测试示波器地和试样地之间的 AC 电压值。Nor_flash 端电平测试电阻档-在试样上电之前测试示波器地和试样地之间的电阻值； AC 电压档-在试样上电之后测试示波器地和试样地之间的 AC 电压值。Nor_flash 读时序测试电阻档-在试样上电之前测试示波器地和试样地之间的电阻值； AC 电压档-在试样上电之后测试示波器地和试

6、样地之间的 AC 电压值。Nor_flash 写时序测试电阻档-在试样上电之前测试示波器地和试样地之间的电阻值； AC 电压档-在试样上电之后测试示波器地和试样地之间的 AC 电压值。项目名称 Norflash 测试报告密级：B5.2 测试步骤1)按照测试准备.doc文档进试前的准备：测试准备.doc2）将 PP007SDA6050 的通道 1，将 PP007SDA6050 的通道 2，将 PP005 插入 SDA6050 的通道 3，通道 3 的探头对应数据信号，通道 1 和 2 和信号的对应没有要求；3）打开 SDA6050 示波器，并调用测试模板：Cpu_Nor_flash_dianpi

7、ng_test.lss； 4）安装 Hardware_test 测试程序，并进入 Hardware_test 测试程序界面； 5）按照预先选择的测试点，进行信号测试；6）在 Hardware_test 下，用 nor_rd 0x00150000 0x0015ffff 0x5a5a5a5a 0xa5a5a5a5 100 发起对 Nor_flash 的读操作，并确认读操作7） 点击示波器的 clear 按钮将示波器清屏；8） DC 电平测试：由于 Local_bus 地址线和数据线复用，不能使用统计的方式，必须采用逐个抓取的方式，将地址信号和数据信号区 来，CE#和 OE#都为低电平区域为 CPU

8、 的输入数据信号，用 TOP 和 base 值计算 DC 电平值。9） 保存 DC 电平测试波形；10） 点击示波器的 clear 按钮将示波器清屏；11） 过冲测试：Local_bus 地址线和数据线，用数据信号触发出过冲尽量严重的信号， 用游标卡出数据信号在 3.465V 处的时间宽度，保存波形；如果过冲没有超过 3.465V， 那么将光标放在 3.465V 处，保存波形；CE#和 OE#都为低电平区域为 CPU 的输入数据信号。12） 点击示波器的 clear 按钮将示波器清屏；13） 下冲测试：Local_bus 地址线和数据线，用数据信号触发出下冲尽量严重的信号， 用游标卡出数据信号

9、在-0.3V 处的时间宽度，保存波形；如果下冲没有低于-0.3V， 那么将光标放在-0.3V 处，保存波形；CE#和 OE#都为低电平区域为 CPU 的输入数据信号。14） 按照步骤7）到 13）完成所有信号测试；15）拍摄 1 张体现如下信息：(命名为：（被测信号名）.jpg；如 LAD1.jpg)第 5 页 共 18 页福建星网锐捷本公司同意，严禁以拷贝测试DC 电平需要满足MPC8313 的输入指标要求平满足 MPC8313 的输入指标要求FLASH 发出信号的上 下 冲 需 要 满 足MPC8313 的输入指标要求FLASH 发出信号的上下冲满足 MPC8313 的输入指标要求变更说明

10、变更无无结论和说明： 无项目名称 Norflash 测试报告密级：B 数据信号对应探头的点触位置靠近 CPU 端，CE#和 OE#对应探头的点触位置靠近 Nor_flash 端； 大致体现出示波器上的显示波形;测试完成！5.3 检测点和判据5.4 测试5.4.1 测试指标指标参见测试表5.4.2 测试表格数据线按照 1：2 的比例进试。 1.8.1.1 DC 测试_表格表（1.8.1.1）DC 测试_表格Note(1):Vih 和 Vil 这两个参数都达标，则填入：PASS；否则填入：FAIL。第 6 页 共 18 页福建星网锐捷本公司同意，严禁以拷贝数 据信号测 试点参考信号参 考信 号测

11、试点Vih 指标(V)Vil 指标(V)Vih 测试值(V)Vil 测试值 (V)PASS/FAIL（1）LAD1CE#/OE#2.1，3.6-0.3,0.8LAD4CE#/OE#同上同上LAD6CE#/OE#同上同上LAD7CE#/OE#同上同上检验点判据是否（Y/N）备注防静电是否已经带上静电环？接地试样地和示波器地是否接触充分？数据信号测试点测试点是否靠近 CPU 端？抓取的波形抓取的波形是否是对Nor_flash 读操作的波形？信号质量差的信号（过冲大，有台阶）信号质量差的信号是否已经加入到 flash 读操作的时序测试中？电平测试指标当前被测 CPU，电平指标是否已经更新？项目名称

12、Norflash 测试报告密级：B 1.8.1.2 过冲/下冲测试_表格表（1.8.1.2）过冲下冲测试_表格Note(1):过冲和下冲这两个参数都达标，则填入：PASS；否则填入：FAIL。5.4.3波形6. Nor_flash 端电平测试6.1 测试结果第 7 页 共 18 页福建星网锐捷本公司同意，严禁以拷贝测试项目规格结果Pass / FailNor_flash 端电平测试CPU 发出信号的 DC 电 平 需 要 满 足FLASH 的输入指标要求CPU 发出信号的DC 电平满足 FLASH 的输入指标要求CPU 发出信号的上下冲需要满足 FLASH 的输入指标要求CPU 发出信号的上下

13、冲满足 FLASH 的输入指标要求变更说明变更备注：波形数 据信号测试点参考信号参考信号测试点过冲指标下冲指标过冲 测试值下冲测试值PASS/FAIL（1）LAD1CE#/OE #过冲：-,3.96V下冲:-0.7,-V3.465V 处的过冲宽度:-, 3 ns-0.3V 处的下冲宽度: -, 3 nsLAD4CE#/OE #同上同上同上同上LAD6CE#/OE #同上同上同上同上LAD7CE#/OE #同上同上同上同上项目名称 Norflash 测试报告密级：B6.2 测试步骤1）按照测试准备.doc文档进试前的准备：测试准备.doc2）将 PP009SDA6050 的通道 1，将 PP00

14、7SDA6050 的通道 2，将 PP005 插入 SDA6050 的通道 3，通道 3 的探头对应数据信号，通道 1 和 2 和信号的对应没有要求；3）打开 SDA6050 示波器，并调用测试模板：Nor_flash_cpu_dianping_6050.lss； 4）安装 Hardware_test 测试程序，并进入 Hardware_test 测试程序界面； 5）按照预先选择的测试点，进行信号测试；6） 在 Hardware_test 下，用 nor_wr 0x00150000 0x0015ffff 0x5a5a5a5a 0xa5a5a5a5 100 发起对 Nor_flash 的写操作,

15、测试除 OE#外的所有信号；7） 点击示波器的 clear 按钮将示波器清屏；8） DC 电平测试：Flash 端数据测试：由于 Local_bus 地址线和数据线复用，不能使用统计的方式，必须采用逐个抓取的方式，将地址信号和数据信号区信号均为低电平区域，为写操作数据；来，在 CE 信号和 laleFlash 端地址测试：在 CE 信号为低电平，从 lale 信号为高电平开始，为发给flash 的地址；Flash 端信号测试：在 CE 信号为低电平区域，为发给 flash 的信号；9） 保存 DC 电平测试波形；10） 点击示波器的 clear 按钮将示波器清屏；11）上冲测试：用数据/地址/

16、信号触发出过冲尽量严重的信号；如果过冲超过 5.3V，用游标卡出数据信号在 5.3V 处的时间宽度，保存波形；如果过冲小于 5.3V，但是上冲较大，保存的波形需要清晰地体现出过冲的宽度（超过 3.6V 的宽度）和上冲的最大值；12）点击示波器的 clear 按钮将示波器清屏；13）下冲测试：用数据/地址/信号触发出下冲尽量严重的信号；如果下冲小于-2V，用游标卡出信号在-2V 处的时间宽度，保存波形；如果下冲大于-2V，但是下冲比较大，保存的波形需要清晰地体现出下冲的宽度（超过-0.5V 的宽度）和下冲的最小值；14） 按照步骤7）到 13）完成除 OE#外的所有待测信号测试；15） 在 Ha

17、rdware_test 下，用 nor_rd 0x00150000 0x0015ffff 0x5a5a5a5a 0xa5a5a5a5 100发起对 Nor_flash 的读操作；16） 按照步骤7）到 13）测试 OE#信号电平和过冲；17）拍摄 1 张体现如下信息：(命名为：（被测信号名）.jpg；如 LAD1.jpg)需要体现出：被测信号和参考信号对应的探头，点触位置靠近 flash 端；第 8 页 共 18 页福建星网锐捷本公司同意，严禁以拷贝无无结论和说明： 无项目名称 Norflash测试报告密级：B 需要大致体现出示波器上的显示波形测试完成！6.3 检测点和判据6.4 测试6.4.

18、1 测试指标指标参见测试表6.4.2 测试表格数据线按照 1：2 的比例进信号全测。试；地址线按照 1：2 的比例进试， 2.8.1.1 DC 测试_表格表（2.8.1.1）DC 测试_表格第 9 页 共 18 页福建星网锐捷本公司同意，严禁以拷贝数据信号测试点参考信号参考信号测试点Vih 指标(V)Vil 指标(V)Vih 测试值(V)（1）Vil 测试值(V)（2）PASS/FAIL（3）Q1CE# 和LALE2.31 ，3.6-0.5,0.8Q3同上同上同上Q5同上同上同上Q7同上同上同上A1CE#同上同上A2CE#同上同上A7CE#同上同上A8CE#同上同上A10CE#同上同上A11C

19、E#同上同上A13CE#同上同上检验点判据是否（Y/N）备注防静电是否已经带上静电环？接地试样地和示波器地是否接触充分？数据信号测试点测试点是否靠近 FLASH 端？信号质量差的信号（过冲大，有台阶）信号质量差的信号是否已经加入到 flash 读操作的时序测试中？电平测试指标当前被测 FLASH，电平指标是否已经更新？项目名称 Norflash 测试报告密级：BNote:（1） ：此参数情况，则（2） ：此参数Top 函数值，Top 函数可能会统计到类似 max=3.438V，min=0.079V为-,3.438V；Base 函数值；（3）：Vih 和 Vil 这两个参数都达标，则填入：PAS

20、S；否则填入：FAIL。2.8.1.2 过冲/下冲测试_表格表（2.8.1.2）过冲下冲测试_表格Note(1):上冲下冲指标都达标，则填入：PASS；否则填入：FAIL。6.4.3波形第 10页 共 18 页福建星网锐捷本公司同意，严禁以拷贝备注：数 据信号测试点参考信号参考信号测试点过冲指标下冲指标过冲测试值下冲测试值PASS/FAIL（1）Q1CE#和LALE5.3V 处的过 冲 宽度 :-, 20ns-2V 处的下冲宽度: -, 20nsQ3同上同上同上Q5同上同上同上Q7同上同上同上A1CE#同上同上A2CE#同上同上A7CE#同上同上A8CE#同上同上A10CE#同上同上A11CE

21、#同上同上A13CE#同上同上A14CE#同上同上A15CE#同上同上A17CE#同上同上OE#CE#同上同上WE#CE#同上同上CE#/同上同上A14CE#同上同上A15CE#同上同上A17CE#同上同上OE#CE#同上同上WE#CE#同上同上CE#/同上同上项目名称 Norflash测试报告密级：B7. Nor_flash 读操作时序测试7.1 测试结果7.2 测试步骤1）按照测试准备.doc文档进试前的准备：测试准备.doc2）将 PP009SDA6050 的通道 1，将 PP007SDA6050 的通道 2，将 PP005 插没有要求；入 SDA6050 的通道 3，通道和被测信号的对

22、应3）打开 SDA6050 示波器，并调用测试模板：Nor_flash_read_timing_6050.lss； 4）安装 Hardware_test 测试程序，并进入 Hardware_test 测试程序界面； 5）按照预先选择的测试点，进行信号测试；6） 在 Hardware_test 下，用 nor_rd 0x00150000 0x0015ffff 0x5a5a5a5a 0xa5a5a5a5 100 发起对 Nor_flash 的读操作；7） 点击示波器的 clear 按钮将示波器清屏；8）按照 Nor_flash 测试指标中的说明，进试，时序值用游标卡出；9）保存时序测试波形，波形需

23、要能清楚的体现时序；10）拍摄 1 张体现如下信息：(命名为：（被测信号名）.jpg；如 LAD1.jpg)需要体现出：数据信号对应探头的点触位置靠近 CPU 端，CE#和 OE#对应探头的点触位置靠近 Nor_flash 端； 需要大致体现出示波器上的显示波形。测试完成！第 11 页 共 18 页福建星网锐捷本公司同意，严禁以拷贝测试项目规格结果Pass / FailNor_flash 读操作时序测试Nor_flash 输出的时序需要满足 CPU 的输入时序要求Nor_flash 输出的时序满足CPU 的输入时序要求变更说明变更无无结论和说明： 无波形项目名称 Norflash 测试报告密级

24、：B7.3 检测点和判据7.4 测试7.4.1 测试参数说明读操作测试参数说明如下：表（3.8.1）测试参数说明表（3.8.1）测试参数说明第 12 页 共 18 页福建星网锐捷本公司同意，严禁以拷贝参数测试说明Value1测试值 Value1 为读操作时，地址信号有效到地址信号无效的时间间隔，这是 Nor_flash 读操作的输入指标要求。对于地址和数据复用的 CPU（如 8313，8548 等），TRC 是 LALE两次有效的时间间隔；对于地址和数据不复用的CPU（8241，8248 等），则需通过测试发送给flash 地址信号得出 TRC 参数值。Value2输入给 CPU 的数据信号有

25、效，到 LCLK 的上升沿的时间间隔，其中这个 LCLK 的上升沿为：最靠近OE#上升沿的LCLK 上升沿。Value3LCLK 的上升沿到输入给CPU 的数据信号无效的时间间隔，其中这个 LCLK 的上升沿为：最靠近OE#上升沿的LCLK 上升沿。Value4复位信号跳变为高电平，到读操作之间的时间间隔。Value5复位信号有效的宽度。图（8.3）复位时序描述指标说明tRCValue1nsSetup timeValue2nsHold timeValue3nstRHValue4ustRPValue5ns检验点判据是否（Y/N）防静电是否已经带上静电环？接地试样地和示波器地是否接触充分？数据信号

26、测试点测试点是否靠近 CPU 端？抓取的波形是否对 Nor_flash 的读操作波形时序指标当前被测 CPU，时序指标是否已经更新？项目名称 Norflash 测试报告密级：B表（3.8.1）测试说明7.4.2 测试表格数据线按照 1：2 的比例进试；测试前请确认 local_bus 的工作时钟，并填写：Tlclk 的值。第 13 页 共 18 页福建星网锐捷本公司同意，严禁以拷贝测 试指标被测信号测试点参考信号参考信号测试点要求值实测值Pass/failTrcLale/建 立时间LAD1LAD4LAD5LAD6保 持时间LAD1LAD4LAD5LAD6tRHRESET#tRPRESET#参数

27、参数值Tlclk30nsTRC 测试对于地址和数据复用的CPU（如 8313，8548 等），这个参数值是 LALE 两次有效的时间间隔；对于地址和数据不复用的 CPU（8241，8248 等），则需通过测试给flash地址信号得出TRC 参数值；读操作时序测试当 CE 信号和OE 信号为低电平，此时数据线的信号为 CPU 的输入信号，测试相对于 OE信号无效前一个时钟的数据线建立保持时间。如果测试值大于一个操作时钟，则按一个操作时钟进行；复位相关测试按照图（3.8.1）复位时序进试；测试电平输入给 flash 信号的高电平点为：2.1V，低电平点为：0.8V。项目名称 Norflash测试报

28、告密级：B7.4.3波形8. Nor_flash 写操作时序测试8.1 测试结果8.2 测试步骤1）按照测试准备.doc文档进试前的准备：测试准备.doc2）将 PP009SDA6050 的通道 1，将 PP007SDA6050 的通道 2，将 PP005 插没有要求；入 SDA6050 的通道 3，通道和被测信号的对应3）打开 SDA6050 示波器，并调用测试模板：Nor_flash_write_timing_6050.lss； 4）安装 Hardware_test 测试程序，并进入 Hardware_test 测试程序界面； 5）按照预先选择的测试点，进行信号测试；6） 在 Hardwa

29、re_test 下，用 nor_wr 0x00150000 0x0015ffff 0x5a5a5a5a 0xa5a5a5a5 100 发起对 Nor_flash 的写操作7） 点击示波器的 clear 按钮将示波器清屏；第 14 页 共 18 页福建星网锐捷本公司同意，严禁以拷贝测试项目规格结果Pass / FailNor_flash 写操作时序测试Cpu 发出的写操作时序 需 要 满 足Nor_flash 的输入时序要求Cpu 发出的写操作时序满足 Nor_flash 的输入时序要求变更说明变更无无结论和说明： 无备注波形项目名称 Norflash 测试报告密级：B8）按照 Nor_flas

30、h 测试指标中的说明，进试，时序值用游标卡出；9）保存时序测试波形，波形需要能清楚的体现时序；10）拍摄 1 张体现如下信息：(命名为：时序名称.jpg，比如：Tas.jpg)需要体现出：被测信号和参考信号对应的探头，点触位置靠近 flash 端； 需要大致体现出示波器上的显示波形。测试完成！8.3 检测点和判据8.4 测试8.4.1 测试参数说明表(8.4.1)Nor_flash 写操作时序表（8.4.1）S29AL016D70 写操作参数第 15页 共 18 页福建星网锐捷本公司同意，严禁以拷贝描述实测值tWCValue1nsS29AL016D70 写操作时序（WE# controlled

31、）检验点判据是否（Y/N）防静电是否已经带上静电环？接地试样地和示波器地是否接触充分？数据信号测试点测试点是否靠近 CPU 端抓取的波形需要是对 Nor_flash 的读操作波形项目名称 Norflash 测试报告密级：B表（8.4.1）测试参数说明表（8.4.1）测试说明8.4.2 测试表格数据线按照 1：4 的比例进信号全测试；地址线按照 1：8 的比例进试，第 16 页 共 18 页福建星网锐捷本公司同意，严禁以拷贝测试指标测试信号测 试点参考信号参考信号测试点指标实测值PASS/FAILtWCLaletCS（WE# control）WE#tCH（WE# control）WE#tWP（WE# control）WE#对于内存和 flash 不共用地址线和数据线和信号的被测（如 8313、8533、8548、8572 等）TWCLALE 两次有效的时间间隔测试数据信号需要的参考信号为：CE#和 lale，在 CE#信号和 lale 信号均为低电平区域，为写操作数据；测试地址信号需要的参考信号为：CE#，在 CE#信号为低电平，为发给 fla