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文档简介

1、精选优质文档-倾情为你奉上规章、制度系统文件文件类别程序文件文件名称统计制程控制程序版 次2.0核 准审 核制 作持有单位发行章制 定 、 修 订 记 录发布日期发行版次发行页次修订版次修订页次修 订 内 容 重 点专心-专注-专业1、 目的规定有关统计过程控制及过程能力分析的方法。2、 使用范围本规定适用于设备能力、初始过程能力和长期过程能力的研究。3、 术语3.1 变差:也称波动,指同一过程输出个体间的差异。3.2 初始过程能力:是过程总变差的总范围(6s)。3.3 过程能力:某一稳定过程固有变差的总范围(6R/d2)。3.4 初始过程能力指数:不考虑过程有无偏移,定义为容差宽度除以过程能

2、力,用以评价生产过程准备情况。3.5 过程能力指数:不考虑过程有无偏移,定义为容差宽度除以过程能力,用以评价某一稳定过程的输出同规范要求(顾客要求)的关系。3.6 Cmk(设备能力指数):衡量所使用的设备是否满足零件加工精度的要求的定量化指标。3.7 统计过程控制:适用诸如控制图等统计技术来分析过程或其输出,以便采取适当的措施来达到并保持统计控制状态,从而提高过程能力。3.8 控制图:用来表示一个过程特性的图像,图上标有根据那个特性收集到的一些统计数据,一条中心线,一条或两条控制限。它能减少类或类错误的净经济损失。它有两个基本的用途:一是用来判定一个过程是否一直受统计控制;二是用来监控过程保持

3、受控状态。控制图可分为计量型和计数型两大类。计量型的过程表现为得到的质量特性为可度量的数值(如直径、长度等),计数型表现为只有两个数值(如合格/不合格,成功/失败),但他们可以被计数从而用来记录和分析。4、职责4.1 新产品试制阶段,由产品质量先期策划小组依据产品/过程特殊特性,制定设备能力、初始过程能力研究计划,并组织实施。4.2 批量生产阶段,由技术部技术人员负责制定计划(或依特殊情况),收集数据及计算,并正确评价。4.3 若统计过程不受控,相关职能部门应制定过程纠正预防措施并实施。4.4 技术部监督并验证过程纠正预防措施的实施。4.5 正常生产过程中,确保每半年对关键、重要特性(可收集计

4、量型数据的)进行一次Cpk值研究。当顾客有特殊要求时,执行顾客要求。5、工作内容及控制方法5.1 设备能力的测算5.1.1 确定所研究的对象分析和加工零件的待测特性及规范公差,测量方法和测量工具。5.1.2 样本数:最小样本为50件。5.1.3 研究时机:新零件、新设备/模具、公差带压缩、设备大修、设备更新、机器搬迁、长期停产等。5.1.4 采集样本的时机在做完测量系统分析并合格后,按规定的样本数连续采集数据并记录。5.1.5 计算公式 X =Xi/n S= (Xi-X)2 (n-1) Cm=(USL-LSL)/6SCmk=min(USL-X)/3S,(X-LSL)/3S S过程变差的平方根n

5、采集的样本数Xi样本的测量值X样本的平均值USL公差的上限LSL公差的下限5.1.6 设备能力的评价 Cmk1.67,设备有满足质量指标的加工能力,可使用于指定生产; Cmk1.67,设备能力不足,应对该设备加工的所有零件进行100%检验,并对设备进行检修,检修后重新进行Cmk研究。5.1.7 保存设备能力测算表由生产部负责保存,期限长期。5.2 过程性能及过程能力研究5.2.1 制定“Ppk、Cpk计划”5.2.2 绘制分析用控制图(X-R图为例)5.2.2.1收集数据并记录在控制图上,同时与控制图下面记录过程相关事件。5.2.2.2 计算每一子组的均值和极差,并记录在控制图上。X=Xi/n

6、 , R=Xmax-Xmin n:子组中样品数量Xi:子组中每一样品测量值Xmax:子组中最大样品测量值Xmin:子组中最小样品测量值5.2.3 选定控制图的刻度5.2.4 按平均值和极差值在控制图上描出对应点。5.2.5 计算极差均值和过程均值X,并按均值在控制图上画出中心线。kX = Xi /KR = Ri/Kk i=1i=1 式中:k:子组数 Ri:每一个子组的极差 Xi:每一个子组的均值5.2.6 计算控制限 UCLr= D4R LCLr=D3 R UCLx=X + A2 R LCLx= X -A2 R 式中A2,D3,D4根据子组容量表查得出5.2.7 按计算结果在均值图和极差图中画

7、出控制限。5.2.8 分析控制图是否随即分布:a. 点:出现超出控制线的点;b. 链:产生连续七点上升/下降/在平均值的一侧的点;c. 明显的非随机图形:显著多于(或少于)2/3的点落在离均值很近之处。若有上述非随机分布现象,则:去除非随机点,重新计算控制界限,再次分析控制图;如需采取纠正措施,改进过程,则应在纠正措施实施有效后重新收集数据,制作控制图并重新进行分析。5.2.9 计算初始过程能力指数:(试生产阶段进行或过程改变) Pp=(USL-LSL)/6s 式中:USL:规范的公差上限 LSL:规范的公差下限 s:总体样本标准差在过程有偏移的情况下 (Xi- X)2/ ( n 1 ) Pp

8、k=min(USL-X)/3s s , (X-LSL)/3s s ns=I=15.2.10 评价初始过程能力指数 Ppk1.67:满足要求,可以进入批量生产阶段。 Ppk1.67:初始能力需改进减少特殊原因引起的变差,将过程均值调整到接近目标值。减少特殊原因引起的变差,减少单个过程特性值的变差。改变规范使之与过程能力一致。5.2.11 生产现场品检人员制作控制用控制图:5.2.11.1 将初始过程满足质量要求所到的控制中心线与上、下控制限画在控制图上。5.2.11.2 按初始过程能力研究确定的子组大小收集样本,记录过程事件。5.2.11.3 计算每组样本的均制和极差,并在控制图上描点。5.2.

9、11.4 分析控制图上的点是否随机分布(方法同5.1.8)5.2.12 计算过程能力指数 Cp=(USL-LSL)/ 6R/d2 Cpk=min(USL-X)/ 3R/d2 ,(X-LSL)/ 3R/d2其中R/d2= R /d2 ,式中d2根据子组容量查表得出Cpk过程等级评价处理原则1.67特级理想1.可以考虑放宽对特性波动的控制2.收缩标准范围,提高质量要求1.33Cpk1.67一级正常1.关键特性不变,非关键特性可降低对波动的限制;2.简化检验,换全检为抽检或减少抽检频次。1.00Cpk1.33二级略显不足1.当为1.33时,处于正常状态;2.当接近1时,应加强管理;3.一般不能简化检验。0.67Cpk1.00三级不足1.分析产生不足的原因,采取措施加以改进;2.加强检验,实行全数检验或考虑放宽标准范围。Cpk0.67四级严重不足1.停止加工,立即追查原因;2.采取措

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