UTASME超音波检测程序

1、UT ASME超音波检测程序、系统校准1）基本校准规块基本校准规块应经正常化或淬火回火之热处理， 其表 面粗度与检测工件表面相同或相似者。 检测时工件表 面与基本校准规块表面的温度差必须在 14 C之内。2）必须使用基本校准规块建立仪器的基本参考位准，并制作一距离振幅曲线。3）基本校准规块之材质必须与检测试件同材质或同-P编号群。4）对于铁管件之銲道检测，其基本校准规块必须与被检 物材料具相同公称尺寸、 制程、热处理、材料规范或 同一 p编号管子之一部份。5）为确保基本校准规块质量，必须以直束探头检测， 在反射路径上，不得有超过底面回波高度之反射波。6）基本校准规块之厚度、 孔径、凹槽、位置及

2、适用范围 如图1及图2所示者。7）工件尺寸外径大于 20吋检测工件外径大于20吋，具有曲率之构件或平板， 皆必须以图1之基本校准规块校准。8）工件尺寸外径小于 20吋（含）检测工件外径小于 20吋（含）必须以图2之基本校准规块校准。工件外径需在 基本校准规块外径之 0.91.5倍之内，基本校准规块 之表面及内表面需有纵向与周向之凹槽。9）其他校准规块其他型式的校准规块，经验证具相同功能者且经甲方 审查合格后，可用以替代上述者。、探头之校准1）斜束法校准下列的校准和量测必须依照ASME法规第五卷第四条款（Art.4）附录B。a）入射点校准b）折射角校准c）扫描范围校准d）距离振幅曲线校准。e）位

3、置校准。f）从基本校准规块凹槽表面产生的回波振幅的量 测。2）直束法校准下列的校准必须依照ASME法规第五卷第四条款（Art.4）附录 Coa）扫描范围校准。b）距离振幅曲线校准三、扫描范围设定。IIW STB-A1标准规块或 AWS距离校准规块，可用于迟 延归零和扫描范围之校准。1）直束法（以基本校准规块作扫描范围之设定）扫描范围之设定必须调整水平全尺度涵盖母材厚度 范围。a）移动探头找出标准规块中 1/4T侧钻孔回波最高点，调整使其在水平全尺度刻划2之位置。b）移动探头找出标准规块中 3/4T侧钻孔回波最高点，调整使其在水平全尺度刻划6之位置。c）重覆扫描调整，直到 1/4T和3/4T侧钻

4、孔回波位 于2及6之水平全尺度位置。2）斜束法（以基本校准规块作扫描范围之设定）扫描范围之设定必须调整水平全尺度涵盖音波束射 路径至少1跨距之厚度范围。a）移动探头找出标准规块中1/4T侧钻孔回波最高点，调整使其在水平全尺度刻划2之位置。b）移动探头找出标准规块中3/4T侧钻孔回波最高点，调整使其在水平全尺度刻划6之位置。c）重覆扫描调整，直到 1/4T和3/4T侧钻孔回波位于2及6之水平全尺度位置。d）移动探头找出标准规块中背面凹槽回波最高点，此回波约在水平全尺度刻划8之位置出现。e）两个水平全尺度刻划之扫描范围为1/4T。四、銲道之距离振幅曲线灵敏度基本参考位准制作6O1）直束法（依图6.

5、4.1）图 a）移动探头找出图 标准规块中人工瑕疵回波 最高者。b）将回波最高者，利用增益控制钮调至 80芳之垂 直全尺度，并将波峰标记在荧幕崁板上。c）不改变仪器任何控制钮，找出另一人工瑕疵之最 高回波。d）将波峰标记在荧幕崁板上。e）不改变仪器任何控制钮，找出第三个人工瑕疵之最高回波，将波峰标记在荧幕崁板上。f）将三点标记以平滑曲线相连即为侧钻孔之距离 振幅曲线。2）斜束法（依图642）a）移动探头找出图标准规块中人工瑕疵回波最 高者。b）将回波最高者，利用增益控制钮调至80芳之垂直全尺度，并将波峰标记在荧幕崁板上。c）不改变仪器任何控制钮，找出另一人工瑕疵之最高回波。d）将波峰标记在荧幕

6、崁板上。e）不改变仪器任何控制钮，找出第三个人工瑕疵之 最高回波，将波峰标记在荧幕崁板上。f）不改变仪器任何控制钮，往后移动探头至适当位置找出第三个人工瑕疵（3/4T）之最高回波，并将波 峰标记在5/4T荧幕崁板上。g）将荧幕崁板上之标记以平滑曲线相连即为侧钻孔 之距离振幅曲线。五、校准及校准查核时机校准查核必须验证扫描范围、DAC曲线之设定、工件表面与基本校准规块表面的温度差必须在4C之内。1）仪器、探头、同轴缆线、耦合剂、检测者或电源供应器的任何改变，均必须对系统做校准的再确认。2）执行每一检测或一系列相同检测前、中、后（检测期间至少每隔四小时）、更换检测人员时及被怀疑功能 故障时，应执行

7、至少一次在基本校准规块或参考规块上侧钻孔或凹槽之校准确认。3）假如在任何校正确认中，判定该装备功能不正常，则 自上一次有效的校准以后， 所有经检测的成品均必须 以修正的校准重新检测。4）在DAC曲线上，任一反射孔的位置已经偏离扫描水平时基的5%或水平读数之10%（视何者较大），必须 重新校准水平时基，并将此校正记于检测记录。 若有 瑕疵反射波被记录在检测纪录上则该纪录作废，并从上一次有效校准或校准查核后所纪录的所有显示，均应按改正后的校准重新检测，并在检测纪录上将其值 更正过来。5）在DAC曲线上，任一反射回波高度，降低超过原来校准之基本参考位准的 20%或2dB时，则从上次校 准或校准查核后

8、之检测纪录应注明无效，必须重新校准并做成纪录，且无效数据所涵盖之区域必须重新检 测。如果DAC曲线上任一反射回波高度，增加原来校准之 基本参考位准的20%或2dB时，自从上次有效校准或校 准查核后所有记录之显示，均应按改正后的校准重新检 测，并将改变值记录在检测记录上。六、銲道检测1）直束扫描a）当銲道需要直束扫描时，銲道和母材必须以直束 探头尽可能扫描到所能达到的范围。b）銲道邻边母材必须以直束探头检测可能影响斜束 检测判读之瑕疵。而该直束检测不做为判定合格或 不合格的标准，这些瑕疵的位置和范围必须记录起 来。2）斜束扫描（参考图7.2）3）瑕疵平行于銲道之斜束扫描斜束检测必须尽可能以两个方向扫描，其方向大约垂直于銲道中心轴线。探头必须移动使音束穿透銲道及 邻边母材内的实体区域。 扫描时必须以基本参考位准 之灵敏度加6dB作为扫描灵敏度。评估时必须以基 本参考位准之灵敏度评估。4）瑕疵垂直于銲道之斜束扫描a）斜束探头必须偏向约平行于銲道中心轴线扫瞄。探头必须移动使音束穿透銲道及邻边母材内实体 区域。扫描时必须以基本参考位准之灵敏度加6dB作为扫描灵敏度。评估时必须以基本参考位准之 灵敏度评估。b）探头必须移动使音束平行于銲道中心轴线及以约1015度斜平行扫描，使音束穿透銲道及邻边母材 内实体区域。c）扫瞄范围之设定至少大于 N个跨距，先决定探头f中心至銲道中心之距离，并