手机最新可靠性测试标准

1、正气 进取 专业文件名称 文件编号 发布日期 意见同意同意同意同意同意同意同意文件说明质量中心-综合测试部可靠性实验室负责实施。版本号V1.0增加高频振动、沙尘、滚筒跌落、酒精摩擦、铅笔硬度、胶触摸屏划线次数由100000次（反复一个来回记为一次）改为1.需测RF 参数的测试项取消，综测仪设备不要2.中试阶段测试，由工程部提出申请改为由中试部提出申请增加触感键寿命测试项目第 1 页 共 58 页 1. 增加高低温运行中、恒温恒湿，跌落、高频振动、温度冲击、软压、滚筒跌落、重复跌落、扭曲测试前后进行RF 参数测试；4. 环境测试（与温度及湿度相关的测试）后，手机在常温下 统一放置12小时后进行外

2、观、结构、功能的检验；5.增加7不良等级分类细则；第 2 页 共 58 页高低温储存：时间由24h，改为16h冲击：条件改为加速度25g，脉冲6ms，每个轴的冲击次数改为1000次冲击/恒温恒湿/温度冲击/自由跌落的测试 样机数目：改为8pcs自由跌落：高度统一为1.2m，跌落面为混凝土板面盐雾的试验条件变更为：共三个喷雾周期，每次喷雾2h，每次喷雾后有一个为期22h 的湿热储存周期。储存条件为(40±2,相对湿度为9095翻盖标准：由5W 次更新为8W 次滑盖标准：由5W 次更新为8W 次按键寿命：由10W 次改为20W 次微动开关（hold键）寿命：由1W 次改为2W 次充电器插

3、拔测试条件改为：3合一的充电器，充电器插拔2000次，数据线和耳机各1500次，共5000次电池盖拆装：由1000次改为500次SIM 卡拆装：由1000次改为500次触摸屏点击测试：测试速率由2次/S，改为1次/S五向键寿命：由3W 次改为5W 次重复跌落：跌落高度统一为8cm，跌落次数由20000次改为10000次摩擦测试：棱摩擦标准由150圈改为100圈；橡胶漆测试标准由140圈改为70圈百格：胶带的粘贴次数由2次改为3次铅笔硬度：载荷由1Kg 改为0.5Kg滚筒：测试次数由1000次改为500次软压：测试标准由3000次改为2000次扭曲：测试标准由1000次改为500次增加人工汗液测

4、试项第 3 页 共 58 页1. 增加包装重量和跌落高度的对应关系表2. 增加包装跌落测试手法,包括跌落棱/角/面的规定盐雾实验的样机测试后干燥条件改为:用吹风机吹干表面残留液体后放置与通风干燥处干燥48H修正笔误：4.1温度冲击测试（P10）: 一处写12cycles，一处写循环4次，前后不一致4.2滑盖寿命测试（P15）： 以4045次/分的速率滑盖5万次 > 应该是8万次笔误4.4 冲击测试（P7）：脉冲持续时间18ms> 应该是6ms X,Y,Z六个轴向> 应该是X,Y,Z 三个轴向4.5 人工汗测试（P14）：PH值=8.5> 应该是PH 值=10.8电池/电

5、池盖拆装：由500次改为2000次增加低频振动测试：位移参数量：5mm取消5.4其它测试（电池充放电测试和电池内阻测试）第 4 页 共 58 页1.自由跌落测试增加四个角的定向跌落2.挂绳孔拉力测试中增加对拉断挂绳孔的要求3.增加USB 推力测试4.增加USB 外部逆插要求5.增加按键拉拔力测试6.增加高低温充电测试7.SIM 卡寿命测试由500增加到20008.存储卡寿命测试由500增加到20009.重复跌落测试中增加侧面和顶部、底部的测试11.手写笔插拔测试增加对伸缩性手写笔的要求12.增加Mic 和Receiver 的寿命测试13.增加天线插拔测试14.增加天线弯折测试15.增加手写笔（

6、天线）的拉力测试16.增加加严测试项序列（可选测试项）17.增加整机智能机测试项序列18.增加完整可靠性测试项目归类第 5 页 共 58 页目 录1、目的.92、适用范围.93、定义.94、职责.95、 可靠性试验测试方法和判定标准.95.1 环境试验.95.2寿命试验. 195.3机械测试. 286、 特殊加严测试序列（可选测试项，建议亚热带区域产品必做）. 396.1 长周期湿热存储.396.2翻/滑盖（湿热环境）. 406.3 软压（湿热环境）.406.4 Speaker寿命（高温环境）. 417.整机智能机测试序列.417.1 振动摩擦.417.2 硬压.417.3 LCM挤压. 42

7、7.4 结露测试.427.5 触摸屏点击（电容屏）.437.6 触摸屏划线（电容屏）.437.7 盐雾测试（电容屏）.447.8 高温高湿（电容屏）.447.9铅笔硬度（电容屏）. 447.10 Lens耐摩（电容屏）. 457.11 水雾干扰测试(电容屏.457.12 低温运行（电容屏）.458、可靠性测试实施计划.469、不良等级分类细则：.5410、相关/支持性文件.5811、质量记录.581、目的为保证龙旗控股份设计、委托制造的手机及相关产品品质符合国家、行业、企业可靠性标准要求，特制定此文件；2、适用范围本文件适用于龙旗控股设计、委托制造、采购的手机及相关产品（零部件）在研发、中试、

8、量产阶段的可靠性试验，由综合测试部负责实施；3、定义无4、职责4.1 可靠性测试工程师4.2可靠性测试技术员5、 可靠性试验测试方法和判定标准5.1 环境试验在做温度冲击、跌落、恒温恒湿、低温运行、高温运行、高频振动、软压、滚筒跌落、重复跌落、冲击和扭曲测试前的手机先进行常温下的RF 参数测试；a. 存入5个电话，5条短信息，设置手机时钟为当前日期时间；手机里存放MP3，MPEG4；b. 一半手机带满电电池，不插卡，设置为关机状态；一半手机不放电池，放入高低温箱内，手机间的间距大于等于10cm，调节温度控制器到-40；c. 持续16个小时之后，在常温下放置12小时，然后进行外观、结构、功能检查

9、；d. 测试时间以试验箱达到所需温度条件时开始计算；e. 对于翻盖手机，应将一半样品闭合为初始状态，一半样品打开到使用状态；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置；a. 功能检查：拨打电话，显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；b. 结构检查：装饰件，logo，LENS等无开胶以及其它与测试前状态不一致的现象；c. 外观检查：壳体表面无裂纹以及其它与测试前状态不一致的现象；d. 样品内存，时钟无异常（内存无丢失；时钟无混乱，复位，超前，滞后等）；a. 功能测试：拨打电话，显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音

10、，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能及不同信道、不同功率等级下的射频参数；b. 结构测试：壳体配合，结构件配合，天线，Lens，显示屏，装饰件以及其它未描述到的结构；c. 外观检测：喷漆，印刷，电镀等以及未描述到的外观；a. 存入5个电话，5条短信息，设置手机时钟为当前日期时间；手机里存放MP3，MPEG4；b. 手机带满电电池并插卡（测试RF 参数时取下SIM Card），设置为开机状态后，放入高低温箱内，手机间的距离大于等于10cm，调节温度控制器到-20，并将所测样机同CMU200/CMD55和电源连接好；c. 持续1小时后，使用稳压电源给待测手机供电，用延

11、长射频线与CMU200/CMD55连接并进行通话，在电压设置为3.6V 和4.2V 的情况下进行RF 参数测试；并保存测试数据（测试方法：参照第一事业部整机射频指标测试规范）；d. 持续4个小时之后，在常温下放置12小时，然后进行外观、结构、功能检查；e. 测试时间以试验箱达到所需温度条件时开始计算；f. 对于翻盖手机，应将一半样品闭合为初始状态，一半样品打开到使用状态；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置；a. 功能检查：拨打电话，显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；b. 结构检查：结构无异常（壳体无变形、配

12、合缝隙无变大；转轴无松动或变紧，无异常手感等）以及其它与测试前状态不一致的现象；c. 外观检查：样品外观无异常（表面喷漆、电镀无裂纹等）以及其它与测试前状态不一致的现象； d. 样品内存，时钟无异常（内存无丢失；时钟无混乱，复位，超前，滞后等）；e. RF参数符合规格要求（参考整机射频指标测试规范（TDMA制式）；a. 存入5个电话，5条短信息，设置手机时钟为当前日期时间；手机里存放MP3，MPEG4；b. 将手机装上带满电电池，插上测试卡，设置为开机状态后，固定在振动台上夹紧；参数设置：加速度25 g，脉冲持续时间 6 ms ；波形: ½ 正弦波；启动振动系统，X、Y、Z六个轴向各

13、冲击1000次，每个轴向冲击后都要对手机进行外观、结构、功能检查；c. 所有检查完成后，使用稳压电源给待测手机供电，用射频线与CMU/CMD连接并进行通话，在电压设置为3.8V 的情况下进行RF 参数测试（测试方法：参照第一事业部整机射频指标测试规范）；a. 功能检查：拨打电话，显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；b. 结构检查：无零件松动、脱落，晃动无异常以及其它与测试前状态不一致的现象；c. 外观检查：外观无异常；d. 内存检查：样品内存，时钟无异常（内存无丢失；时钟无混乱，复位，超前，滞后等）；e. RF参数

14、符合规格要求（参考整机射频指标测试规范（TDMA制式）；a. 存入5个电话，5条短信息，设置手机时钟为当前日期时间；手机里存放MP3，MPEG4；b. 将手机装上带满电电池，插上测试卡，设置为开机状态后，固定在振动台上夹紧。将振动参数设置为520Hz；c. 启动振动系统，X、Y、Z三个轴向分别进行1小时测试，每个轴向振动后都要对手机进行外观、结构、功能检查；a. 功能检查：拨打电话，显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；b. 结构检查：无零件松动、脱落，晃动无异常以及其它与测试前状态不一致的现象；c. 外观检查：外观

15、无异常；d. 样品内存，时钟无异常（内存无丢失；时钟无混乱，复位，超前，滞后等）；a. 存入5个电话，5条短信息，设置手机时钟为当前日期时间；手机里存放MP3，MPEG4；b. 一半手机带满电电池，不插卡，设置为关机状态；一半手机不放电池，放入高低温箱内，手机间的距离大于等于10cm，调节温度控制器到+70；c. 持续16个小时之后，在常温下放置12小时，然后进行外观、结构和功能检查；d. 测试时间以试验箱达到所需温度条件时开始计算；e. 对于翻盖手机，应将一半样品闭合为初始状态，一半样品打开到使用状态；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置；a. 功能检查：拨打电话，显示，铃声，振动，按键

16、，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；b. 结构检查：装饰件，logo，LENS等无开胶以及其它与测试前状态不一致的现象；c. 外观检查：壳体表面无裂纹以及其它与测试前状态不一致的现象；d. 样品内存，时钟无异常（内存无丢失；时钟无混乱，复位，超前，滞后等）；a. 功能测试：拨打电话，显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能及不同信道、不同功率等级下的射频参数；b. 结构测试：壳体配合，结构件配合，天线，Lens，显示屏，装饰件以及其它未描述到的结构；c. 外观检测：喷

17、漆，印刷，电镀等以及未描述到的外观；a. 存入5个电话，5条短信息，设置手机时钟为当前日期时间；手机里存放MP3，MPEG4；b. 手机带满电电池并插卡，设置为开机状态后，放入高低温箱内，手机间的距离大于等于10cm，调节温度控制器到+55，持续1 小时后，使用稳压电源给待测手机供电，用延长射频线与CMU 连接并进行通话，在电压设置为3.6V 和4.2V 的情况下进行RF 参数测试（测试方法：参照第一事业部整机射频指标测试规范）；c. 持续4个小时之后，在常温下放置12小时，然后进行功能、结构、外观检查；d. 测试时间以试验箱达到所需温度条件时开始计算；e. 对于翻盖手机，应将一半样品闭合为初

18、始状态，一半样品打开到使用状态；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置；a. 功能检查：拨打电话，显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；b. 结构检查：结构无异常（壳体无变形、配合缝隙无变大；转轴无松动或变紧，无异常手感等）以及其它与测试前状态不一致的现象；c. 外观检查：样品外观无异常（表面喷漆、电镀无裂纹等）以及其它与测试前状态不一致的现象； d. 样品内存，时钟无异常（内存无丢失；时钟无混乱，复位，超前，滞后等）；e. RF参数符合要求（参考整机射频指标测试规范（TDMA制式）；a. 存入5个电话，5条短信息

19、，设置手机时钟为当前日期时间；手机里存放MP3，MPEG4；b. 一半手机装上带满电电池，不插测试卡，设置为关机状态；一半手机不放电池，放入恒温恒湿箱内，手机间的距离大于等于10cm，调节温度控制器到+40，湿度控制为95%RH；c. 持续48个小时之后，取出手机，在常温下放置12小时，然后进行外观、结构、功能检查，并使用稳压电源给待测手机供电，用延长射频线与CMU/CMD连接并进行通话，在电压设置为3.8V 的情况下进行RF 参数测试（测试方法：参照第一事业部整机射频指标测试规范）；d. 测试时间以试验箱达到所需温度条件时开始计算；e. 对于翻盖手机，应将一半样品闭合为初始状态，一半样品打开

20、到使用状态；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置；a. 功能检查：拨打电话，显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；b. 结构检查：装饰件，logo，LENS等无开胶以及其它与测试前状态不一致的现象；c. 外观检查：壳体、lens表面无明显掉漆，无裂纹，破损，冲击痕以及其它与测试前状态不一致的现象；d. 样品内存，时钟无异常（内存无丢失；时钟无混乱，复位，超前，滞后等）；e. RF参数符合要求（参考整机射频指标测试规范（TDMA制式）；a. 存入5个电话，5条短信息，设置手机时钟为当前日期时间；手机里存放MP3，M

21、PEG4;b. 一半手机带满电电池，不插卡，设置为关机状态；一半手机不放电池，放入低温箱内；手机间的距离大于等于10cm;c. 样机置于-40低温箱内持续1小时后，在5min 内迅速移入+80高温箱并持续1小时后，再在5min 内迅速回到低温箱。此为一个循环（一个循环用时2小时），共循环12次；d. 试验结束后将样机从高温箱中取出，在常温下放置12小时，然后进行外观、结构、功能检查； e. 所有检查完成后，使用稳压电源给待测手机供电，用延长射频线与CMU200/CMD55连接并进行通话，在电压设置为3.8V 的情况下进行RF 参数测试（测试方法：参照第一事业部整机射频指标测试规范）；f. 对于

22、翻盖手机，应将一半样品闭合为初始状态，一半样品打开到使用状态；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置；a. 功能检查：拨打电话，显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；b. 结构检查：结构无异常。转轴无异响，弹性正常，开合角度无变化，无松动或变紧；壳体无变形，配合缝隙无变大；壳体无裂纹、断裂；按键无翘起、脱出、脱落；lens无翘起、脱落；装饰件无翘起、脱落以及其它与测试前状态不一致的现象；c. 外观检查：样机外观无异常。表面喷涂、丝印、电镀无气泡、褶皱、裂纹、起皮、脱落以及其它与测试前状态不一致的现象；d. 样品内存

23、，时钟无异常（内存无丢失；时钟无混乱，复位，超前，滞后等）；e. RF参数符合要求（参考整机射频指标测试规范（TDMA制式）；a. 将手机装上带满电电池，插上测试卡，设置为开机状态后，进行背面、正面、左侧面、右侧面、底面、顶面（天线面）6个面以及4个角相应跌落高度的自由跌落试验（对于翻盖和滑盖手机还需加跌打开正面、打开反面，共进行8个面的自由跌落试；对于翻盖和滑盖手机不需要打开翻滑盖进行4个角的跌落时），每个面的跌落次数为1次；b. 每个面跌落后都要对手机进行外观、结构、功能检查；c. 跌落地面为20mm 混凝土板；d. 所有检查完成后，使用稳压电源给待测手机供电，用延长射频线与CMU 连接并

24、进行通话，在电压设置为3.8V 的情况下进行RF 参数测试（测试方法：参照第一事业部整机射频指标测试规范）；a. 功能检查：拨打电话，显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；RF性能指标合格；b. 结构检查：装饰件，logo及cover 等无脱落；壳体无卡钩脱出，断裂；LCD无破裂；天线无脱出，脱落；转轴无松动、错位、脱出或断裂；滑盖无松动、脱出、断裂；晃动无异响，LENS无破裂，脱落以及其它与测试前状态不一致的现象；c. 外观检查：壳体、lens表面无明显掉漆，无裂纹，破损，冲击后以及其它与测试前状态不一致的现象；d

25、. 备注：电池/电池盖脱落、关机及掉卡等，如重启无异常，不记录为问题；当跌落过程中出现的问题点超过跌落总次数的50%以上时，才判为问题点；对于显示屏可见面积不小于机壳正面表面积40%或者25cm的手持式MS 跌落时，允许液晶屏裂，但通话功能应正常）；e. RF参数符合要求（参考整机射频指标测试规范（TDMA制式）；a. 将手机装上带满电电池，插上测试卡，设置为开机状态后，放置在静电测试台的绝缘垫上，并且用充电器加电使手机处于充电状态（样机于绝缘垫边缘距离至少5cm；两个样机之间的距离也是至少5cm）；b. 打开静电枪，拨打112，调节放电方式，选择+/-5kv（接触放电），对手机外露金属部分进

26、行接触放电；选择+/-10kv（空气放电），对手机各缝隙处进行空气放电（如系统接口插口处, Receiver/Speaker/Microphone处,键盘处, 大小LCD 屏四周,天线处,前后盖缝隙处，电池板与后盖缝隙处，内外转轴处，侧键处，耳机孔处等缝隙处进行放电，每一个测试点放电15次，放电时间间隔为1s，15次放电后对地进行放电操作，并记录结果；d. 观察手机在测试过程中有无死机，通信链路中断，LCD显示异常，自动关机及其它异常现象；a. 性能要求：放电过程中，不允许有屏闪，屏抖，黑线，横纹，竖纹，屏无显示，变暗，变黑，手机重启，关机，通信链路断等任何异常现象发生；b. 功能检查：拨打电

27、话，显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；c. 外观检查：外观无与测试前不一致；a. 打开电源和气阀，盐水喷雾机温度设定为：35 ，压力桶温度：47，压力控制在1kg/cm2，盐水浓度：5% （PH值：6.5-7.2）, 共三个喷雾周期，每次喷雾2h，每次喷雾后有一个为期22h 的湿热储存周期。储存条件为(40±2,相对湿度为9095 试验时间：72 小时；b. 将手机以用绳悬挂入盐水喷雾机中，手机带电池，并且处于关机状态（手机零件测试:应将零件放入不锈钢篮子中或放在纱布上）；c. 样机摆放应一台样机天线侧

28、朝上，一台样机天线侧朝下；d. 依次打开电源、操作、喷雾、计时；e. 试验时间结束后关闭电源和气阀，取出手机；f.用吹风机将手机内外表面残留液体吹干，并在常温下放置48小时以上（手机零件测试：现将零件在自来水中清洗后吹干）；48小时后对手机进行全面外观和功能检测；a. 功能检查：拨打电话，显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；b. 结构检查：lens，天线，装饰件，标牌，电池，Connector，螺钉等无腐蚀以及与测试前不一致的现象；c. 外观检查：表面喷涂，丝印，电镀无脱落，起泡，腐蚀以及与测试前不一致的外观；a.

29、 将手机设置为关机状态；b. 手机放在测试仪支撑件上，选取不同位置的按键，对准metal dome测试仪按压头，右手逆时针转动旋钮压被测键；c. 读取测试仪上显示数据；a. 正常弹性：180+/-20 g；手感：40%；行程：=0.20mm；b. 打击寿命：100万次，打击后衰减率20%；c. 盐雾后衰减率20%；a. 存入5个电话，5条短信息，设置手机时钟为当前日期时间；手机里存放MP3，MPEG4；b. 将手机装上带满电电池，插上测试卡，设置为开机状态后，固定在振动台上夹紧；c. 设备参数按以下调整：频率范围5-20Hz ，功率频谱密度0.96m2/s3 ；频率范围20-500Hz，功率频

30、谱密度-3dB/oct；d. 启动振动系统，X、Y、Z三个轴向分别进行1小时测试，每个轴向振动后都要对手机进行外观、结构、功能检查；e. 检查完成后，使用稳压电源给待测手机供电，用延长射频线与CMU 连接并进行通话，在电压设置为3.8V 的情况下进行RF 参数测试（测试方法：参照第一事业部整机射频指标测试规范）；a. 功能检查：拨打电话，显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；b. 结构检查：无零件松动、脱落，晃动无异常以及其它与测试前状态不一致的现象；c. 外观检查：外观无异常；d. 样品内存，时钟无异常（内存无丢失

31、；时钟无混乱，复位，超前，滞后等）；RF性能指标合格；e. RF参数符合规格要求（参考整机射频指标测试规范（TDMA制式）；a. 功能测试：拨打电话，显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能；b. 结构测试：按键弹性；转轴灵活性；其它可活动部件灵活性；c. 外观检测：显示区域；壳体表面喷涂；a. 将手机装上带满电电池，不插卡，设置为关机状态后，放置到沙尘试验箱里支架上；b. 一个正面摆放，一个反面摆放；不靠近试验箱内壁；c. 测试时间持续8h；d. 将样品从试验箱中取出，用无尘布和刷子对其清洁后，进行检查；e. 砂尘流量：2

32、m/s；砂尘材料：滑石粉250目（46m）；湿度30%；f. 对于翻盖手机，打开到使用状态；对于滑盖手机，滑开到上限位置；a. 功能检查：无异常；b. 结构检查：按键弹性正常；转轴转动正常，无异音；所有可活动部件活动正常；c. 外观检查：显示区域无明显砂尘；壳体表面喷涂无退化现象；a. 打开恒温恒湿机的电源，温度设定为：40 ，湿度设置为：95%R.H，试验时间：24 小时；b. 用纱布浸占人工汗液，纱布湿透即可，然后用纱布裹紧测试样机（确保纱布和样机紧密接触）；每台测试样机分为上下两个区域，分别用浸有酸性和碱性汗液的纱布包裹；c. 样机摆放应一台样机A 面朝上，一台样机A 面朝下，间隔5cm

33、 以上；d. 运行恒温恒湿箱；e. 试验时间结束后关闭电源，取出手机；f. 解开纱布，室温条件下放置2小时后对样机进行全面的外观和功能检查；a. 外观检查：表面喷涂，丝印，电镀无脱落，起泡，腐蚀；喷漆表面无变色、起皮、脱落、褪色等异常以及与测试前不一致的外观；5.2寿命试验a. 将手机不包装，开机固定在测试设备上；b. 调节好气压、前杆和后杆的翻转角度，以4045次/分的速率翻盖8万次，在2万次、3万次、4万次和5万次、6万次、7万次、8万次时检查LCD 能否正常显示，手机外观、结构和功能是否正常；c. 关闭电源，取下手机；a. 功能检查：拨打电话，显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音

34、，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；b. 结构检查：翻盖可以平稳的开合，无异响；翻盖转轴功能无松动，变紧等以及其它与测试前状态不一致的结构问题；c. 外观检查：按键，镜片等无明显磨损痕迹，壳体配合缝隙无变大，轴连接区域无裂纹或断裂等异常；表面喷漆无破裂及显示磨损等以及无其它与测试前状态不一致的外观问题；a. 打开电源和气阀；b. 将手机不包装，开机固定在测试设备上；c. 以4045次/分的速率滑盖8万次，在2万次、3万次、4万次和5万次、6万次、7万次、8万次时检查LCD 能否正常显示，手机外观、结构和功能是否正常；d. 关闭电源，取下手机；e. 将FPC

35、拆下,每个PIN 在将FPC 拱起做3个方向挤压的情况下做电阻量测,(如付图,每PIN 的电阻值和测试前一样；a. 当拿住上滑盖和下滑盖，样品不能因为自身的重量而打开。（如果样品初始设计便容许因自身重量使样品打开，则不进行此项判断）；b. 功能检查：拨打电话，显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；c. 结构检查：滑盖可以平稳的开合，滑轨无明显松动、变紧，滑动时无异音等以及其它与测试前状态不一致的结构问题；d. 外观检查：按键，镜片等无明显磨损痕迹，壳体配合缝隙无变大，轴连接区域无裂纹或断裂等异常；表面喷漆无破裂及显示

36、磨损等以及无其它与测试前状态不一致的外观问题；a. 将手机不包装不开机固定在测试设备上；b. 以200g 力按任意选定键盘上的按键，按压的速度为60次/分，按压20万次，在3万次，6万次， 8万次，9万次和10万次、13万次、16万次、19万次、20万次时分别检查手机外观和功能是否正常；侧键每隔1万次，进行手机外观和功能检查；c. 人造手指与样机按键的距离为2mm；d. 每台样机按键选择尽量不重复，尽可能多；a. 功能检查：拨打电话，显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；b. 结构检查：按键弹性，壳体配合，结构件配合

37、，以及与测试前不一致的现象； c. 备注：实验中被测试样机的按键选择应根据不同机型进行确定，并参考工程师的建议；d. 外观无异常；手机为开机状态，用手来回拨动微动开关，来回一个回合算一次，共做20000次，速度为60次/分，检查手机外观和功能是否正常；a. 功能检查：拨打电话，显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；b. 结构检查：微动开关滑动正常，壳体配合，结构件配合，以及与测试前不一致的现象；a. 手机为开机状态；b. 耳机插入样机的耳机孔时不会松动（耳机可以承受得住样机本身的重量）；c. 插入耳机手机显示耳机图标

38、到拔出耳机手机显示耳机图标消失为一个循环，重复2000个循环； d. 手工插拔2000次，每一次都要观察手机显示状况，插拔完成后对样机及耳机进行结构、功能、外观检查；e. 插拔速率：20次/分钟；a. 功能检查：拨打电话，使用耳机通话时，耳机的受话器及MIC 功能正常，无断音、杂音（通话过程中转动耳机插头，确保耳机在不同角度下使用功能正常）；拔下耳机后通话，样机的受话器及MIC 功能正常，无断音、杂音；显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；b. 结构检查：样机结构无异常；耳机插头无焊接故障、裂纹；耳机卡钩无破损、断裂

39、；耳机孔无破裂、变形、焊盘无脱落；耳机压头无脱落。耳机接头卡钩无失效，耳机插入手机耳机孔时不会松动（可以承受得住手机本身的重量）；耳机插孔及耳机插头无异常手感以及其它与测试前状态不一致的现象；c. 外观检查：样机外观无异常，耳机孔无磨损以及其它与测试前状态不一致的外观问题；a. 手写笔外观；b. 样机笔插孔；c. 手写笔与手机之间的配合（松动，插拔不顺畅等）；a. 手机为关机状态；b. 手写笔完全插入手机笔插孔内，然后完全拔出，计为1次，共重复30000次；伸缩性手写笔伸出缩进为1次，共重复10000次；c. 分别在10000次，20000，30000次，（伸缩笔在2000次、5000次、10

40、000次）进行检查，测试中应及时对样机和笔进行清洁；d. 插拔速率：50 次/min；a. 手机笔插孔无明显磨损及掉漆；b. 手写笔无变形，断裂，表面无异常；c. 手机与手写笔配合无松动（手机笔插孔内卡钩或rubber 功能无异常），手写笔能顺畅的插入、拔出（用手握住手写笔，手写笔应能承受手机自身重量）；d. 笔头与笔尾不能出现松动、脱落a. 将样机设置为为开机状态；b. 插上手机显示有“插入功能”到拔出手机显示 “插入功能”消失为一个循环，重复2000/1500个循环；c. 单功能充电器连接器：进行2000次的手工插拔，每一次都要观察手机显示状况；插拔完成后对样机进行结构、功能、显示、外观检

41、查；d. 2合1充电器连接器：进行充电器2000次的手工插拔，耳机（或数据线）各1500次；每一次都要观察手机显示状况；插拔完成后对样机进行结构、功能、显示、外观检查；e. 3合1充电器连接器：进行充电器2000次、耳机和数据线各1500次的手工插拔，每一次都要观察手机显示状况；插拔完成后对样机进行结构、功能、显示、外观检查；f. 插拔速率：20±10次/分钟；a. 功能检查：充电功能正常；拨打电话，显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；b. 结构检查：样机结构无异常。充电器插头无磨损、焊接故障、裂纹；I/

42、O接口无磨损、破裂、变形；焊盘无脱落；充电器插头弹性正常、无脱落。充电器接头卡钩无失效、破损、断裂，充电器插入样机插孔时不会松动（可以承受得住样机本身的重量）；I/O接口及充电器插头无异常手感以及其它与测试前状态不一致的现象；c. 外观检查：样机外观无异常，无与测试前状态不一致的现象；a. 功能测试：开关机是否正常；b. 结构测试：拆装是否顺畅（电池卡扣，电池触片、连接器等）；a. 将电池/电池盖拆下，再装上为1 次，反复拆装2000次；b. 进行到1000次， 查样品各功能及结构是否正常；c. 如果样品是内置电池的形式，对于电池和电池盖都要做测试；d. 拆装速率：20±10次/分；

43、a. 可正常开关机；b. 电池拆装顺畅。电池卡扣功能正常，无变形，无磨损，有弹力。电池触片、电池连接器应无下陷、变形、磨损以及其它与测试前状态不一致的现象；a. 功能测试：样机正常开机，正常读取SIM 卡信息；b. 结构测试：SIM卡锁，卡座，SIM卡弹片等正常；a. 样机关机状态，进行SIM 卡拆装测试，反复拆装2000次（插上SIM 卡，取下SIM 卡，记录为1次）； b. 测试前SIM 卡必须是标准的测试用SIM 卡。SIM卡在不借助任何工具情况下是否容易拆装；c. 插拔进行到500、1000、1500、2000次对样机进行功能、结构检查；d. 拆装速率：20±10次/分；a.

44、 功能检查：样机开机正常，读取SIM 卡信息无异常；可以拨打112；b. 结构检查：SIM卡锁无破损、磨损、变形，SIM卡弹片无破损、凹陷、变形等；a. 功能测试：样机正常开机，正常读取存储卡信息；b. 结构测试：存储卡锁，卡座，存储卡弹片等正常；a. 样机不能用设备自动测试时，手工插拔2000次对样机功能、结构进行检查；手机能开机，能用设备进行存储卡拆装测试时，用设备插拔2000次（插上存储卡，取下存储卡，记录为1次）；b. 测试前存储卡必须是标准的测试用存储卡。存储卡在不借助任何工具情况下是否容易拆装； c. 插拔进行到500、1000、1500、2000次时对样机功能、结构进行检查；d.

45、 拆装速率：2060次/分；a. 功能检查：样机开机正常，读取存储卡信息无异常；b. 结构检查：存储卡锁无破损、磨损、变形，存储卡弹片无破损、凹陷、变形等；a. 用直流电源给手机供电，直流电源电压设定为3.9V（3.6V4.2V均可以）；b. 播放铃声和mp3时音量设置到最大；c. 让手机一直处于响铃和播放mp3状态，保持96小时，中间不能有停顿现象；a. 手机装上电池，并插上充电器充电；b. 让手机一直处于振动状态，保持96小时，中间不能有停顿现象；a. 将手机设置为开机状态；b. 旋转摄像头（最小可旋转角度>最大可旋转角度），反复进行30000次，分别在10000次、20000次、2

46、5000次和30000次检查手机摄像功能是否正常；a. 确认LCD 未被设置成常开状态；b. 手机插入网卡（如移动或联通卡），将手机充电至手机充电完成时拔下充电器；c. 将手机处于开机待机状态，同时记录起始时间；d. 直到手机自动关机，此时记录关机时间；a. 在被测样机处于关机状态下，长按开关机键，使手机开机进入待机画面；在待机画面长安开关机键，使手机关机为开关机1次；b. 先进行200次的手工开关机测试，再进行设备开关机测试，连续重复开关机动作2000次；c. 在连续开关机到500次、1000次、1500次和2000次检查一下手机功能、显示、开关机键是否正常；a. 功能测试：触摸屏功能，显示

47、功能；b. 结构测试：触摸屏，显示屏损伤，破裂；手写笔笔头变形，损伤等；c. 外观检测：触摸屏表面异常痕迹；a. 将样品设置成关机状态，固定在测试夹具上；b. 点击触摸屏250000次；c. 点击力度：250g；点击速度：1次/s；使用标准的手写笔（R0.8）进行点击；a. 功能检查：触摸屏使用功能无异常，显示屏显示正常以及无其它与测试前状态不一致的功能问题； b. 结构检查：触摸屏，显示屏无损伤，破裂；手写笔头部无变形，扭曲，损伤以及无其它与测试前状态不一致的结构问题；c. 外观检查：触摸屏表面无异常痕迹以及无其它与测试前状态不一致的外观问题；a. 功能测试：触摸屏功能；b. 结构测试：触摸

48、屏，显示屏损伤，破裂；手写笔头部变形，损伤等；c. 外观检测：触摸屏表面无异常；a. 将样品设置成关机状态，固定在测试夹具上；b. 使标准手写笔（R0.8）沿触摸屏的对角线进行划线测试（手写笔与触摸屏垂直）；c. 划线压力：250g；d. 测试次数：100000次（反复一个来回记为2次）；e. 测试完成后，对触摸屏进行功能，结构与外观检查，并对触摸屏表面进行清洁；f. 测试距离：不小于触摸屏对角线距离的2/3；g. 划线速度：60mm/s；a. 功能检查：触摸屏使用功能无异常，显示屏显示无异常；b. 结构检查：触摸屏，显示屏无损伤，破裂；手写笔头部无变形，扭曲，损伤；c. 外观检查：触摸屏表面无划痕；a. 样品插上充电器充电；b. 在软件支持下使EL 背光持续点亮48小时；c. 每隔12小时检查EL 背光是否正常；a. 样品插上充电器充电；b. 在软件支持下使LED 指示灯持续点亮120小时；c.在30、60、90、120小时检查LED 指示灯是否正常；a. 左、右、前、后、中间拨五向键各50000次；b. 15000次，20000次、25000次和30000次、40000次、50000次时检查