材料研究与测试方法试卷

1、*武汉理工大学考试试题纸（ B 卷）课程名称 材料研究与测试方法 专业班级 材科060203题号一二三四五六七八九十总分题分2030102020100备注: 学生不得在试题纸上答题(含填空题、选择题等客观题)一、填空（20分）1、电磁透镜的分辨本领主要取决于电子波的 和由焦距与后焦面上光阑孔直径确定的 角大小。2、在选区成像时，中间镜的物平面在物镜 面上，即 光阑平面上；拍摄电子衍射花样时，通过降低 镜的 ，使中间镜的物平面处在 镜的 面上，即 光阑平面上。3、多晶体电子衍射花样为 ，单晶衍射花样为 组成。4、暗场成像是指让 通过物镜光阑，而把 遮挡掉得到图像衬度的方法。5、在物相定性分析中，

2、检索ASTM卡片时，有两种索引，分别是 和 。6、在X-ray衍射仪中，纪录衍射强度的计数器通常有三种，分别是 、 、 。7、像差分成几何像差和色差，几何像差主要是指 和 。二、简答题（30分）1、简述X-ray反射（衍射）与可见光反射的区别。2、透射电镜中有哪些主要光阑? 分别安装在什么位置? 其作用如何?3、简述单晶电子衍射花样的分析步骤（相机常数未知）。三、以CoK（0.15405nm）线照射某黄铜试样的（400）面：当0时，2150.4；当45时，2150.9，试计算试样表面的宏观应力。（已知：a0.3695nm，E8.83104MPa，=0.35）（10分）四、作图说明衍衬成像原理，

3、并说明什么是明场像、暗场像和中心暗场像。（20分）五、画出fcc晶体011晶带的标准电子衍射花样，取Nh2k2l212的斑点。（20分）武汉理工大学教务处试题标准答案及评分标准用纸课程名称 材料研究与测试方法 （ B 卷）一、每空1分，共20分1、波长、孔径角；2、像平面、选区光阑、中间镜、激磁电流、物镜、焦平面、物镜光阑；3、一系列不同半径的同心圆、排列整齐的斑点；4、衍射电子、透射电子；5、数字索引、字母索引；6、正比计数器、盖革计数器、闪烁计数器；7、球差、像散。二、30分1、10分答：a、X-ray衍射中，只有一定数目的入射角能产生反射。 3分b、X-ray衍射中，不仅是晶体表面，内层

4、原子也参与。 3分c、强度不同，X-ray衍射强度微弱。 2分d、本质不同，X-ray衍射是由于相干散射而产生的。 2分2、10分答：主要有三种光阑：A聚光镜光阑。在双聚光镜系统中，该光阑装在第二聚光镜下方。作用:限制照明孔径角。（3分）；B物镜光阑。安装在物镜后焦面。作用：提高像衬度；减小孔径角，从而减小像差；进行暗场成像。（4分）；C选区光阑:放在物镜的像平面位置。作用：对样品进行微区衍射分析。（3分）3、10分答：a、选择靠近中心且不在一直线上的几个斑点，测量其R，利用R2比值规律确定点阵类型和斑点所属h k l； 3分b、进一步确定（h k l）.先假定其中一个斑点指数h1 k1 l1

5、 ,而第二个斑点的指数h2 k2 l2。根据夹角公式确定。 3分c、 其余斑点指数通过矢量运算得到。 2分d、任取不在一条直线上的两个斑点，确定晶带轴指数u v w。 2分 三、10分答： 2分2dsin sin/2d0.17903（20.0924）0.968875.6 2分 2分 2分 MPa/() 2分四、20分答：设薄膜有A、B两晶粒。B内的某(hkl)晶面严格满足Bragg条件，或B晶粒内满足“双光束条件”，则通过(hkl)衍射使入射强度I0分解为Ihkl和IO-Ihkl两部分。A晶粒内所有晶面与Bragg角相差较大，不能产生衍射。在物镜背焦面上的物镜光阑，将衍射束挡掉，只让透射束通过

6、光阑孔进行成像（明场），此时，像平面上A和B晶粒的光强度或亮度不同，分别为：IA I0 IB I0 - IhklB晶粒相对A晶粒的像衬度为：明场成像： 只让中心透射束穿过物镜光栏形成的衍衬像称为明场镜。 暗场成像：只让某一衍射束通过物镜光栏形成的衍衬像称为暗场像。中心暗场像：入射电子束相对衍射晶面倾斜角，此时衍射斑将移到透镜的中心位置，该衍射束通过物镜光栏形成的衍衬像称为中心暗场成像。 明场像 5分 暗场像 5分 中心暗场像 5分五、20分答：由晶带定律：h任意，且kl 2分由消光条件：全奇全偶时有斑点 2分则可以分析出可能存在的斑点指数：h0、2时，k、l为偶数。包括：（02）、（02）、（200）、（00）、（22）、（22）、（2）、（2）h1、3时，k、l为奇数