tes10g52网络产品接口测试指南

1、密级：受控网络TCAM 接口测试指南版本V1.00状态正式生效日期2010-03-15更改版本：V1.00第 2 页 共 9 页版本号更改人审核人批准人生效日期更改内容1.00林健2010-03-15初次制定目录. 2更改目录31.2.3.4.5.6.目的4适用范围4名词解释4职责分工4测试目的5测试方法56.1.6.2.测试环境搭建方法5详细参数测试方法66.2.1.6.2.2.时钟测试6数据、功能信号测试77.8.9.测试步骤8测试报告9解释权限及生效日期9版本：V1.00第 3 页 共 9 页1.目的保证电路测试方法的一致及准确，提路测试的效率。在电路调试测试阶段发现电路设计隐患。测试指

2、南的模块化。以各器件为基础，不同器件制定测试指南，便于各项目测试时直接调用；便于增加新器件时对指南进行升级和维护。模块测试方法标准化。各器件的特点，统一测试方法，测试指标。便于各项目间同类器件的测试结果比较及专业组审核。在保证测试的完整性，可靠性的情况下，尽量减少测试的测试时间，提高工作效率2.适用范围适用于网络TCAM 接口测试工作。3.名词解释4.职责分工版本：V1.00第 4 页 共9 页职责名词英文全称解释5.测试目的测试板上互连间 TCAM 接口的信号，确认接口信号完整性和时序满足设计指标要求。6.测试方法6.1. 测试环境搭建方法一个典型的 QDR TCAM 接口如下图所示，箭头表

3、示信号的传输方向。TCAM 接口是典型的点到点连接接口，测试时只需将示波器的探头点触到靠近信号接收端引脚处即可。如果探头无法点触到接收端的引脚，则应该在尽量靠近接收端的信号线上寻找测试点进试，确认接口上传输的信号满足的接收指标要求。需要注意的是 QDR 接口 ADDR, DATA 线为 DDR 模式，即在时钟的上升、下降沿均进行数据采样，而在 CTRL 为上升沿采样。对于 信号和地址信号, 需要在 TCAM 颗粒端测试; 对于数据信号, 写操作时在 TCAM 颗粒端测试, 读操作时在 MAC 端测试.TCAM 的输出为时钟、信号同沿传输，因此读操作时, mac 端的建立、保持时间指标是负值，而

4、示波器并不能分辨负的建立、保持时间。因此测试时需要根据接口指标对示波器的始终/数据通道预先设置适当的时间偏差，使得示波器测试无效数据的宽度, 在测试报告中如实。一个典型的 LA-1 TCAM 接口如下图所示，箭头表示信号的传输方向。TCAM 接口是典型的点到点连接接口，测试时只需将示波器的探头点触到靠近信号接收端引脚处即可。如果探头无法点触到接收端的引脚，则应该在尽量靠近接收端的信号线上寻找测试点进试，确认接口上传输的信号满足的接收指标要求。需要注意的是 TCAM 接口所有信号线均为 SDR 模式，即在时钟的上升沿采样。对于 IBUS, 需要在 TCAM 颗粒端测试; 对于 DBUS, 写操作

5、时在 TCAM 颗粒端测试, 读操作时在 MAC 端测试; 对于 RBUS 以及相关的反馈信号,需要在 MAC 端测试TCAM 的输出为时钟、信号同沿传输，因此读操作时, mac 端的建立、保持时间指标是负值，而示波器并不能分辨负的建立、保持时间。因此测试时需要根据接口指标对示波器的始终/数据通道预先设置适当的时间偏差，使得示波器测试无效数据的宽度,在测试报告中如实。版本：V1.00第 5 页 共 9 页为评估板上其他处信号运行对接口的影响，被测设备的端口应该工作在端口支持的最高模式Link up，同时速转发报文的状态。注意: 该接口的测试只能使用 SDA6000 完成6.2. 详细参数测试方

6、法6.2.1. 时钟测试QDR 接口的 TCAM 接口时钟信号包含 CLpn , KLpn , CQpn 三对差分信号CLpn 和 KLpn 是 MACCQpn 传输方向为 TCAM给 TCAM 接收，因此需要在靠近 TCAM引脚处进试；而给 MAC 接收，因此需要在靠近 MAC引脚处进试。LA-1 接口的 TCAM 接口时钟信号包含 CLK_O 和 CLK_I 单端信号CLK_O 是 MAC传输方向为 TCAM给 TCAM 接收，因此需要在靠近 TCAM引脚处进给 MAC 接收，因此需要在靠近 MAC引脚处进试；而 CLK_I试。TCAM 接口时钟一般要进行时钟频率、占空比、信号平、信号低电

7、平、信号最大值、信号最小值、信号输入幅值以及上升时间和下降时间的测试，根据不同的指标要求不同，测试项可能有增减。对于没有指标要求的项目可不予测试，测试报告中对应项测试结果，并在备注栏写明“无指标要求”。时钟频率要求采用示波器的 Freqlevel 自动测试功能测试，Level 值设置为接口电压的 50%。测试报告示波器统计的平均值。占空比要求调用示波器的 Dutylevel 函数来进行自动测试。Level 值设置为接口电压的 50%。示波器统计的最大、最小值，以方方括号表示。如45%，55%表示最小 45%，最大 55%。测试报告信号信号平采用示波器的 Top 自动测试功能测试，测试报告平采用

8、示波器的 Base 自动测试功能测试，测试报告示波器统计的最大和最小值。示波器统计的最大和最小值。信号最大值采用示波器的um 自动测试功能测试，测试报告示波器统计的最大值。示波器统计的最小值。信号最小值采用示波器的 Minimum 自动测试功能测试，测试报告信号输入幅值的最大值使用示波器的 PKPK使用游标卡尺卡出眼图眼高的最小值自动测试;最小值使用眼图余辉叠加的方法测试,版本：V1.00第 6 页 共 9 页上升时间要求采用示波器的 Riselevel 自动测试功能测试， Level 值设置为接口指标要求的平最小值和低电平最大值。测试报告示波器统计的最大、最小值，以方方括号表示。如8ns，1

9、0ns表示最小 8ns，最大 10ns。下降时间要求采用示波器的 Falllevel 自动测试功能测试， Level 值设置为接口指标要求的平最小值和低电平最大值。测试报告示波器统计的最大、最小值，以方方括号表示。如8ns，10ns表示最小 8ns，最大 10ns。6.2.2. 数据、功能信号测试TCAM 接口的数据、功能信号指除时钟外的其他信号，一般需进行信号本身的信号平、信号低电平、信号最大值、信号最小值测试以及参照该接口方向的时钟（KL,CQ 或 CLK_O,CLK_I）的建立时间和保持时间，根据不同的指标要求不同，测试项可能有增减。对于没有指标要求的项目可不予测试，测试报告中对应项测试

10、结果，并在备注栏写明“无指标要求”。信号平、信号低电平、信号最大值、信号最小值测试的测试方法同时钟信号。建立时间要求采用示波器的 Setup 自动测试功能测试，且需要调用两个 Setup 分别测试平和低电平的建立时间。Source1 为时钟信号对应的探头通道，Source2 为数据、功能信号对应的探头通道。对于 QDR 接口:时钟设置在测试不同信号线下有所不同，在测试线时的 slope 选 Pos 上升沿采样；在测试地址线和数据线时则slope 选择Both 上升/下降沿同时采样。Level 值都设置为接口电源电压的 50%电平值。数据设置其中一个（测试平的建立时间）slope 选 Pos，l

11、evel 选择 Level 值设置为芯片接口指标要求的平最小值，另一个（测试低电平的建立时间）slope 选 Neg，level 选择 Level值设置为接口指标要求的低电平最大值。测试报告示波器统计两个 Setup 测试函数的最小值中较小者。对于 LA-1 接口:时钟设置 slope 选 Pos 上升沿采样。Level 值都设置为接口电源电压的 50%电平值。数据设置其中一个（测试平的建立时间）slope 选 Pos，level 选择 Level 值设置为接口指标要求的平最小值，另一个（测试低电平的建立时间）slope 选 Neg，level 选择 Level 值设置为接口指标要求的低电平最

12、大值。测试报告示波器统计两个 Setup 测试函数的最小值中较小者。保持时间要求采用示波器的 Hold 自动测试功能测试，且需要调用两个 Hold 分别测试平和低电平的保持时间。Source1 为时钟信号对应的探头通道，Source2 为数据、功能信号对应的探头通道。对于 QDR 接口:时钟设置同 QDR 测试建立时间时的设置。数据设置其中一个（测试平的保持时间）slope选 Pos，level 选择 Level 值设置为接口指标要求的平最小值，另一个（测试低电平的保持时间）slope 选 Neg，level 选择 Level 值设置为接口指标要求的低电平最大值。测试报告记录示波器统计两个 H

13、old 测试函数的最小值中较小者。对于测试 data 线在器端的读操作的时序采用以下方法:器(即 mac 端)给出的指标为有效数据宽度的最小值, 或者是无效数据宽度的最大值. 选择使用示波器 HOLD 函数测试无效数据的最大宽度. 具体方法如下:例如,指标要求为-450ps,450ps,将时钟前移450ps,则指标变更为0, 900ps, 设置版本：V1.00第 7 页 共 9 页HOLD 函数, 需要调用两个 Hold 分别测试平和低电平的保持时间, 时钟设置同测试建立时间时的设置, 数据设置其中一个（测试平无效数据的宽度）slope 选 Neg，level 选择 Level 值设置为接口指

14、标要求的低电平最大值，另一个（测试低电平无效数据的宽度）slope 选 Pos，level选择 Level 值设置为接口指标要求的平最小值。测试报告示波器统计两个 Hold 测试函数的最小值中较小者。对于 LA-1 接口:时钟设置同 LA-1 测试建立时间时的设置。数据设置其中一个（测试平的保持时间）slope选 Pos，level 选择 Level 值设置为接口指标要求的平最小值，另一个（测试低电平的保持时间）slope 选 Neg，level 选择 Level 值设置为接口指标要求的低电平最大值。测试报告记录示波器统计两个 Hold 测试函数的最小值中较小者。对于测试 DBUS, RBUS

15、 以及信号反馈线在器端的读操作的时序采用以下方法:器(即 mac 端)给出的指标为有效数据宽度的最小值, 或者是无效数据宽度的最大值. 选择使用示波器 HOLD 函数测试无效数据的最大宽度. 具体方法如下:例如,HOLD 函数,指标要求为-450ps, 450ps, 将时钟前移 450ps, 则指标变更为0, 900ps, 设置需要调用两个 Hold 分别测试平和低电平的保持时间, 时钟设置同测试建立时间时的设置, 数据设置其中一个（测试平无效数据的宽度）slope 选 Neg，level 选择 Level 值设置为接口指标要求的低电平最大值，另一个（测试低电平无效数据的宽度）slope 选

16、Pos，level选择 Level 值设置为接口指标要求的平最大值。测试报告示波器统计两个 Hold 测试函数的最小值中较小者。7.测试步骤1）2）事先确定好 TCAM 接口测试的测试点，需要刮开绿油或过孔的测试点需事先处理。被测设备上电，所有电端口配置成完全自动协商状态（协商所有功能），通过短网线两两互连；所有光口SFP 模块，通过光纤跳线两两互连。Combo 端口切换到电口模式，从被测设备的某个端口引入广播包使设备工作速转发广播包的满负载状态；3）校准示波器两个测试通道的偏差，将两个探头解除在同一个时钟信号上，观察示波器显示波形。适当调整示波器通道的延迟，使得两个通道显示的对于 QDR 接

17、口:全重合。4）示波器探头点触在CL,KL 靠近TCAM 端的测试点，调用示波器对应的函数，测试TCAM端 CL,KL 信号的各项参数。结果并保存波形。5）示波器探头点触在 CQ 靠近 MAC 端的测试点，调用示波器对应的函数，测试 MAC 端CQ 信号的各项参数。结果并保存波形。6）示波器两个探头分别点触在 KL 和 ADDR/CNTL/DATA 信号靠近 TCAM 端的测试点，调用示波器对应的函数，测试 TCAM 端 ADDR/CNTL/DATA 信号的各项电平参数和时序参数，测试结果并保存波形。7）8）参照重复 6）步，依次完成 ADDR, CNTL, DATA 信号的参数测试。示波器两

18、个探头分别点触在 CQ 和DATA 信号靠近 MAC 端的测试点，调用示波器对应的函数，测试 MAC 端 DATA 信号的各项电平参数和时序参数， 形。参照重复 8）步，依次完成 DATA 信号的读参数测试。测试结果并保存波9）10）如果板上有多个 TCAM 接口，则重复 3）-9）步，完成所有 TCAM 接口的测试。对于 LA-1 接口:版本：V1.00第 8 页 共 9 页11）示波器探头点触在 CLK_O 靠近 TCAM 端的测试点，调用示波器对应的函数，测试TCAM 端 CLK_O 信号的各项参数。结果并保存波形。12）示波器探头点触在 CLK_I 靠近 MAC 端的测试点，调用示波器对应的函数，测试 MAC端 CLK_I 信号的各项参数。结果并保存波形。13）示波器两个探头分别点触在 CLK_O 和 IBUS/DBUS 信号靠近 TCAM 端的测试点，调用示波器对应的函数，测试 IBUS/DBUS 信号的各项电平参数和时序参数， 并保存波形。参照重复 13）步，依次完成