第4章电子电路故障

1、第第4章章 微机系统测试算法微机系统测试算法概述概述微机系统测试的基本特点及测试方法概述微机系统测试的基本特点及测试方法概述第第4.1节节 存储器测试算法存储器测试算法uRAM测试测试uROM测试测试第第4.2节节 微机系统测试微机系统测试u基本概念基本概念uCPU算法测试算法测试uCPU功能测试功能测试u利用应用程序测试利用应用程序测试电子科大电子科大CATCAT室室第第4章章 微机系统测试算法微机系统测试算法微机系统的结构微机系统的结构CPUROMRAMI/O总线总线微机系统组成：微机系统组成：CPU,RAM,ROM,I/O特点：特点：u微机系统是一个结构和功能都十分复杂的系统；微机系统是

2、一个结构和功能都十分复杂的系统；u内部结构一般不可知；内部结构一般不可知；测试：测试：u不能作结构性测试；不能作结构性测试；u只能作运行性测试只能作运行性测试-非完备性测试；非完备性测试；u分功能块（分功能块（CPU,RAM,ROM,I/O）测试；）测试；CPUROMRAMI/O内部总线内部总线电子科大电子科大CATCAT室室第第4.1节节 存储器测试算法存储器测试算法 1.在硬件系统出厂前要进行产品测试；在嵌入式系统在硬件系统出厂前要进行产品测试；在嵌入式系统工作之前，一般也要进行自检，工作之前，一般也要进行自检， 其中其中ROM和和 RAM检测必不可少检测必不可少. 2.在出厂和使用前应该

3、校验这两种芯片的好坏。测在出厂和使用前应该校验这两种芯片的好坏。测试试RAM的方法是写读各个内存单元，检查是否能的方法是写读各个内存单元，检查是否能够正确写入测试够正确写入测试ROM的方法是累加各存储单元数的方法是累加各存储单元数值并与校验和比较。值并与校验和比较。 电子科大电子科大CATCAT室室第第4.1节节 存储器测试算法存储器测试算法RAM随机存取存储器：读随机存取存储器：读/写存储器功能测试写存储器功能测试存储器存储器ROM只读存储器：读功能测试只读存储器：读功能测试存储器结构：存储器结构：存储单元存储单元阵列阵列读写检测读写检测放大器放大器列地址译码列地址译码及缓存及缓存行地址行地

4、址译码及译码及缓存缓存I/O地址线地址线地址线地址线读读/写线写线电子科大电子科大CATCAT室室第第4.1.1节节 RAM测试测试RAM 生产可能出现的问题：生产可能出现的问题：（1）生产工艺不过关，过孔打歪了，）生产工艺不过关，过孔打歪了， 与临近信号线距离不满足线规甚至打在了线上。与临近信号线距离不满足线规甚至打在了线上。（2）由于搭锡引起的信号线粘连。）由于搭锡引起的信号线粘连。（3）虚焊）虚焊/漏焊引起的接触不良漏焊引起的接触不良（4）不按规程操作，把手印儿印在了高频线上。）不按规程操作，把手印儿印在了高频线上。（5）板子脏了也不吹，覆盖了一层灰尘）板子脏了也不吹，覆盖了一层灰尘(内

5、含金属微粒内含金属微粒)。电子科大电子科大CATCAT室室第第4.1.1节节 RAM测试测试RAM 生产可能出现的现象：生产可能出现的现象：（1）地址线）地址线A0和和A1粘连。读出粘连。读出XXX00、XXX01、XXX10三个字节的数据三个字节的数据完全一样。完全一样。 （2）数据线）数据线D0和和D1粘连。粘连。D0和和D1只要有一个为只要有一个为0，那么两条线都为，那么两条线都为0。 （3）接触不良。时好时坏。）接触不良。时好时坏。 （4）器件表面处理不干净，有助焊剂残留。低速访问正常，大负荷高速）器件表面处理不干净，有助焊剂残留。低速访问正常，大负荷高速访问频繁死机。访问频繁死机。电

6、子科大电子科大CATCAT室室第第4.1.1节节 RAM测试测试1.RAM 故障类型：故障类型： （1）寻址故障）寻址故障地址引线折断；地址引线折断；地址译码器坏；地址译码器坏；I/O晶体管击穿；晶体管击穿； （2）存储单元损坏）存储单元损坏存储单元存储单元s-a-0/s-a-1故障；故障； （3）响应时间变漫（电容性负载变大，开关响应变慢）响应时间变漫（电容性负载变大，开关响应变慢）重写：同一数据重复写入二个或三个存储单元；重写：同一数据重复写入二个或三个存储单元；重读：读一个存储单元胡内容时，重复读出二或三次；重读：读一个存储单元胡内容时，重复读出二或三次； （4）存储单元间胡寄生耦合）存

7、储单元间胡寄生耦合数据窜漏；数据窜漏；对数据花样敏感；对数据花样敏感； （5）刷新故障）刷新故障动态动态RAM保持时间变短，数据丢失；保持时间变短，数据丢失；电子科大电子科大CATCAT室室第第4.1.1节节 RAM测试测试2.测试的基本原则测试的基本原则 （1）寻址的唯一性）寻址的唯一性-测试地址译码器工作是否正常测试地址译码器工作是否正常存储单元的存在性存储单元的存在性存储单元的可区分性存储单元的可区分性 （2）可读）可读/写性写性-测试读测试读/写功能是否正常写功能是否正常可靠写数据可靠写数据可靠读数据可靠读数据 （3）存储单元相互之间的干扰性）存储单元相互之间的干扰性-测试数据花样的敏

8、感性测试数据花样的敏感性相邻行列干扰相邻行列干扰全部行列干扰全部行列干扰 （4）数据的保持性）数据的保持性-存储单元对数据的保持能力存储单元对数据的保持能力数据写入后正确的读出能力数据写入后正确的读出能力动态刷新能力动态刷新能力电子科大电子科大CATCAT室室第第4.1.1节节 RAM测试测试3.测试方法测试方法 关键：关键：读读/写测试写测试测试图形样式测试图形样式（1）行进法（）行进法（Marching）先写入全先写入全0读出第一个存储单元，应为读出第一个存储单元，应为0写入写入1读出应为读出应为1重复上述步骤，直到全部单元测试完，重复上述步骤，直到全部单元测试完，此时存储单元应全为此时存

9、储单元应全为1读出第一单元，应为读出第一单元，应为1依次写依次写0，读，读0全部单元测试完成，应全为全部单元测试完成，应全为000000010000000000001111111111111111111110000电子科大电子科大CATCAT室室0,) 1 (,ijijjiijRCCWRC10,)0(,) 1 (,)0(ijijijijijijijRCCWRCRCCWRCCWijijij第第4.1.1节节 RAM测试测试上述测试可用公式表示：上述测试可用公式表示：式中：式中：Cij 第第i行第行第j列存储单元列存储单元 RCij读出存储单元读出存储单元 W(1)Cij将将1写入写入Cij 单元

10、单元 W(0)Cij将将0写入写入Cij 单元单元全部全部 Cij 的集合的集合在在 集合内的总和集合内的总和 “,” 各有序操作之间的分隔符各有序操作之间的分隔符 “0”或或”1”下标，背景为下标，背景为1或或0ijijijijijijijijijijijijijRCCWRCRCCWRCCW10,)0(,) 1 (,)0(测试复杂度测试复杂度 测试过程的繁琐程度测试过程的繁琐程度-读读/写操作次数。如果存储器的单元数为写操作次数。如果存储器的单元数为N， 则复杂度为：则复杂度为：N+3N+3N=7N 如如N=4K 个单元，每次读或写操作周期为个单元，每次读或写操作周期为 500 ns 测试时

11、间测试时间T=7 X 4K X 500 ns=14 ms电子科大电子科大CATCAT室室第第4.1.1节节 RAM测试测试改进：写入后，读改进：写入后，读1和读和读0放到下一循环中读，即有：放到下一循环中读，即有：ijijijijijijijijCWRCCWRCCW10)0(,) 1 (,)0(复杂度变为：复杂度变为：N+2N+2N=5N行进法可测试的特性有：行进法可测试的特性有：地址唯一性地址唯一性单元干扰和邻近干扰单元干扰和邻近干扰数据敏感性数据敏感性电子科大电子科大CATCAT室室第第4.1.1节节 RAM测试测试（2）走步法（）走步法（Walking)在全在全0的背景下，对一个单元写入

12、一个的背景下，对一个单元写入一个1；读出全部单元内容，其结果除写入读出全部单元内容，其结果除写入1的单元外均为的单元外均为0；将将0写入该单元，即又为全写入该单元，即又为全0；再对另一单元重复上述过程，到全部单元走完为止；再对另一单元重复上述过程，到全部单元走完为止；000000000000000000000000000000001走走1全读全读1全读全读11111111111111110走走0全读全读公式：公式：ijijijijijijijijijijCWRCWCWRCWCW10) 1 (),(,)0()0(),(,) 1 ()0(电子科大电子科大CATCAT室室第第4.1.1节节 RAM测

13、试测试改进：写入后，读改进：写入后，读1和读和读0放到下一循环中读，即有：放到下一循环中读，即有：ijijijijijijijijCWRCCWRCCW10)0(,) 1 (,)0(复杂度变为：复杂度变为：N+2N+2N=5N行进法可测试的特性有：行进法可测试的特性有：地址唯一性地址唯一性单元干扰和邻近干扰单元干扰和邻近干扰数据敏感性数据敏感性电子科大电子科大CATCAT室室第第4.1.1节节 RAM测试测试（2）走步法（）走步法（Walking)在全在全0的背景下，对一个单元写入一个的背景下，对一个单元写入一个1；读出全部单元内容，其结果除写入读出全部单元内容，其结果除写入1的单元外均为的单元

14、外均为0；将将0写入该单元，即又为全写入该单元，即又为全0；再对另一单元重复上述过程，到全部单元走完为止；再对另一单元重复上述过程，到全部单元走完为止；000000000000000000000000000000001走走1全读全读1全读全读11111111111111110走走0全读全读电子科大电子科大CATCAT室室第第4.1.1节节 RAM测试测试01(0)(1), (),(0)(1)(0), (),(1)ijijijijijijijijijijijijWCWCRWCWCWCRWC公式：公式：复杂度：复杂度：2（1+N+1)N+2N=2N2+6N走步法的变形：走步法的变形：0 0 0 0

15、0 0 0 00 0 0 00 0 0 00 0 0 00 0 0 00 0 0 00 0 0 00 0 0 00 0 0 00 0 0 00 0 0 00 0 0 00 0 0 00 0 0 00 0 0 01 1 1 1走列走列1 1 0 0走补列走补列1 1 1 11 1 1 1走双列走双列1 1 1 1走对角线走对角线电子科大电子科大CATCAT室室第第4.1.1节节 RAM测试测试（3）奔跳法）奔跳法跳列跳列跳对角线跳对角线乒乓法乒乓法恢复奔跳法恢复奔跳法 （4）棋盘法）棋盘法 （5）移动倒转法）移动倒转法0 0 0 00 0 0 00 0 0 00 0 0 0Cij0 1 0 11

16、 0 1 00 1 0 11 0 1 01 0 0 00 0 0 00 0 0 00 0 0 00 1 1 11 1 1 11 1 1 11 1 1 1各种方法（测试图形）各种方法（测试图形）各有优点，可以根据需各有优点，可以根据需要选择！要选择！电子科大电子科大CATCAT室室第第4.1.2节节 ROM测试测试测试测试ROM的真正目的是保证程序完整性的真正目的是保证程序完整性: 嵌入式软件和启动代码存放在嵌入式软件和启动代码存放在ROM里，不能保证长期稳定可靠，因里，不能保证长期稳定可靠，因为硬件注定是不可靠的。以为硬件注定是不可靠的。以FLASH ROM为例，它会由于以下两种主为例，它会由

17、于以下两种主要原因导致程序挥发：要原因导致程序挥发：1.受到辐射。本身工作在辐射环境里受到辐射。本身工作在辐射环境里/运输过程中受到辐射（如过海运输过程中受到辐射（如过海 关时被关时被X光机检查）。光机检查）。 2.长时间存放导致存储失效，某些长时间存放导致存储失效，某些0、1位自行翻转。位自行翻转。电子科大电子科大CATCAT室室第第4.1.2节节 ROM测试测试ROM只读存储器只读存储器-只读，存放程序或固定数组等只读，存放程序或固定数组等测试方法：测试方法：校验和校验和-Check sum 求全部求全部ROM代码的校验和，再与正常工作时存代码的校验和，再与正常工作时存 入的校验和比较。如

18、二者一致则入的校验和比较。如二者一致则ROM无故障，无故障， 否则，就有故障。否则，就有故障。实施：实施：ROM相邻存储单元内容逐项半加；相邻存储单元内容逐项半加；再计算机或带微机的仪器中，再计算机或带微机的仪器中，在开机自检时都必须对在开机自检时都必须对RAM和和ROM进行测试！进行测试！sum比较电子科大电子科大CATCAT室室第第4.1.2节节 ROM测试测试电子科大电子科大CATCAT室室ROM只读存储器只读存储器-只读，存放程序或固定数组等：只读，存放程序或固定数组等：0 x88, 0 x82, 0 xf0, 0 x00, 0 x85, 0 x90, 0 x20, 0 xe5, 0

19、x20, 0 x5b, 0 x60, 0 xf8, 0 x09, 0 xb9, 0 x04, 0 xe3,0 xeb, 0 x23, 0 xfb, 0 x08, 0 xb8, 0 x07, 0 xda, 0 x79, 0 x00, 0 x90, 0 x06, 0 x60, 0 xe9, 0 x93, 0 x90, 0 x00,0 x01, 0 xf0, 0 x85, 0 x90, 0 x20, 0 x30, 0 x01, 0 xfa, 0 x09, 0 xb9, 0 x10, 0 xed, 0 x75, 0 x10, 0 x40, 0 x75,0 x11, 0 x40, 0 x75, 0 x1

20、2, 0 x40, 0 x75, 0 x13, 0 x40, 0 x75, 0 x14, 0 x40, 0 x75, 0 x15, 0 x40, 0 x7d, 0 x00,0 x79, 0 x40, 0 x77, 0 x0a, 0 xe9, 0 x24, 0 x10, 0 xf9, 0 x0d, 0 xbd, 0 x0b, 0 xf6, 0 x78, 0 x40, 0 x79, 0 x40,0 x7a, 0 x00, 0 x7c, 0 x00, 0 x7f, 0 x00, 0 x75, 0 xd0, 0 x00, 0 x75, 0 x26, 0 x00, 0 x75, 0 x22, 0 x00

21、, 0 x75,第第4.1.2节节 ROM测试测试电子科大电子科大CATCAT室室应用于桌面的应用于桌面的PXI混合信号测试系统混合信号测试系统 第第4.2节节 CPU测试测试CPU测试的复杂性测试的复杂性 新的故障模型：新的故障模型：S-a-0/s-a-1Bit j=0/1时，时，bit i s-a-0/1Bit j=0/1时，时，bit i 不能从不能从0 1/1 0Bit j 与与bit i 作用相互颠倒，出现错乱作用相互颠倒，出现错乱对指令花样的敏感性，对不同指令的组合有不同的执行时间对指令花样的敏感性，对不同指令的组合有不同的执行时间等等！等等！ CPU内部各功能块之间故障的相互影响

22、内部各功能块之间故障的相互影响 CPU与外部与外部ROM,RAM及及I/O之间的相互影响之间的相互影响电子科大电子科大CATCAT室室第第4.2.1节节 CPU算法产生测试算法产生测试基本步骤：基本步骤：将将CPU功能分块功能分块利用指令集分别对各功能块进行测试利用指令集分别对各功能块进行测试由小到大策略，程序计数器由小到大策略，程序计数器 寄存器寄存器 其它功能块其它功能块根据上述测试过程整理出测试算法，生成测试图形（矢量）根据上述测试过程整理出测试算法，生成测试图形（矢量）以以Intel 8080为例为例 指令指令 可测试的功能块可测试的功能块MOV,MVI 寄存器组寄存器组RLC,RRC

23、,DAA AADD,ADI,CMP ALUINX,DAD BC,DECALLn,JMP PC,SPPUSH,POP SPNOP PC指令指令寄存器寄存器Z指令指令译码器译码器Y累加器累加器A计算单元计算单元ALU内部总线内部总线BC,DE,HLSPPC控制控制定时定时寄存器组寄存器组电子科大电子科大CATCAT室室第第4.2.1节节 CPU算法产生测试算法产生测试测试流程测试流程：初始化初始化测测PC测寄存测寄存器器测测SP测测ALU测测A完成完成所用指令所用指令开机复位，开机复位，0 PCNOPMOV r1,r2PUSH,POPADDRLC,ADD电子科大电子科大CATCAT室室第第4.2.

24、2节节 CPU功能测试算法功能测试算法基本步骤：基本步骤：1.CPU通用模型通用模型2.故障模型故障模型3.通用化测试算法通用化测试算法1.CPU通用模型通用模型指令指令寄存器寄存器Z指令指令译码器译码器Y累加器累加器A计算单元计算单元ALU内部总线内部总线BC,DE,HLSPPC控制控制定时定时寄存器组寄存器组CPU通用模型通用模型电子科大电子科大CATCAT室室第第4.2.2节节 CPU功能测试算法功能测试算法2.2.故障模型故障模型 没有选到数据源（没有选到数据源（F1F1）数据源地址故障数据源地址故障 选错了数据源（选错了数据源（F2F2） 选到多个数据源（选到多个数据源（F3F3）数

25、据数据数据传输故障数据传输故障 数据目的地址故障数据目的地址故障 没选到目的地址（没选到目的地址（F4F4）处理处理 选到错误地址或多个地址（选到错误地址或多个地址（F5F5）故障故障数据总线故障数据总线故障 数据线有数据线有s-a-0/s-a-1s-a-0/s-a-1故障（故障（F6F6） 多条数据线构成与多条数据线构成与/ /或关系（或关系（F7F7）呆滞型故障呆滞型故障 s-a-0/s-a-1(F8)s-a-0/s-a-1(F8)数据寄存器故障数据寄存器故障 写入数据后写入数据后 不能不能0 1/1 00 1/1 0（F9F9）单元间的耦合（单元间的耦合（F10F10）ALUALU故障：

26、故障：等，运算操作：,ORANDRRRkjki直接由计算结果判断电子科大电子科大CATCAT室室第第4.2.2节节 CPU功能测试算法功能测试算法控制故障控制故障译码错误，原指令变成另外指令（译码错误，原指令变成另外指令（F11）未能实现应有指令（未能实现应有指令（F12）指令呆滞（总是执行同一条指令）（指令呆滞（总是执行同一条指令）（13）同时产生多条指令（同时产生多条指令（F14）产生错误的状态信息（条件转移，条件调用）产生错误的状态信息（条件转移，条件调用）(F15）控制控制故障故障电子科大电子科大CATCAT室室未实现应有命令未选到目的地址如（）（124)1()1(FFDRRDMiiA

27、NDORFRRMFDRDRijji/145),)1()1()1()1(同时产生多条命令如多个目的地址同时有（第第4.2.2节节 CPU功能测试算法功能测试算法3.测试算法测试算法 基本方法：基本方法：产生各种测试图形（数据和命令），以检测产生各种测试图形（数据和命令），以检测CPU各硬件部分和各种各硬件部分和各种 指令的工作情况，从而得出测试结果。指令的工作情况，从而得出测试结果。例例1：传送指令：传送指令多个操作命令多个目的地址，多个源地址，且如：例算符同时产生多条命令操作如多个目的地址且如（未实现应有命令未选到目的地址或如）（14532145)(,)124)()1 ()1 ()1 ()1

28、()1 ()1 ()1 ()1 ()1 ()1 ()1 ()1 ()1 ()1 (FFFRRRRRRRRFRRMFDRDRFFDRRDMshkgkjkikkiijjiii将各种情况都编入测试程序中，即可完成将各种情况都编入测试程序中，即可完成CPU的全面测试。的全面测试。 计算机开机自检程序！计算机开机自检程序！电子科大电子科大CATCAT室室第第4.2.3节节 利用被测系统的应用程序进行测试利用被测系统的应用程序进行测试基本思想：基本思想：利用敏化概念，用被测系统的应用程序作测试程序，是一种算法型测试。利用敏化概念，用被测系统的应用程序作测试程序，是一种算法型测试。1.基本方法基本方法 测试

29、时对测试时对CPU进行访问，对进行访问，对CPU给予命令（输入数据），并观察给予命令（输入数据），并观察CPU的输出的输出（响应），从而判断（响应），从而判断CPU的故障。的故障。 敏化：敏化：输入输入-可命令可命令-用指令通过数据总线可向用指令通过数据总线可向CPU输入（写）数据；输入（写）数据；输出输出-可观察可观察-用指令可读出用指令可读出CPU的数据；的数据；CPU命令命令输入输入输出输出响应响应地址线地址线数据线数据线地址线地址线数据线数据线敏化敏化电子科大电子科大CATCAT室室第第4.2.3节节 利用被测系统的应用程序进行测试利用被测系统的应用程序进行测试2.应用程序的模型化应用

30、程序的模型化 为了系统的组织测试，首先应对应用程序作模型化处理。为了系统的组织测试，首先应对应用程序作模型化处理。 模型化模型化-一种直接用于测试（敏化）的表现方式来表达被测系统的应用程序。为此一种直接用于测试（敏化）的表现方式来表达被测系统的应用程序。为此 引入三个概念：引入三个概念： （1）命令点与观察点）命令点与观察点 命令点：命令点：应用程序中能输入所选命令（数据）之处；应用程序中能输入所选命令（数据）之处； 例，输入指令（例，输入指令（IN），存储器读出指令（从），存储器读出指令（从ROM中读出的命令）中读出的命令） 观察点：观察点：输出结果有测试价值之处；输出结果有测试价值之处；

31、例，输出指令（例，输出指令（OUT），存储器写入指令（写入存储器的数据可观察），存储器写入指令（写入存储器的数据可观察） （2）程序段：对敏化有意义的一段最短的指令序列。构成程序段的原则是：）程序段：对敏化有意义的一段最短的指令序列。构成程序段的原则是：程序段的第一指令必须是一个命令点，或最末一条指令必须是观察点；程序段的第一指令必须是一个命令点，或最末一条指令必须是观察点；对于分支程序或转移程序，只能从程序的首一指令进入该程序段，且只能从该段的末一指令退出；对于分支程序或转移程序，只能从程序的首一指令进入该程序段，且只能从该段的末一指令退出； 例例:因此，有因此，有JMP指令的指令的情况下，

32、情况下，JMP应是程应是程序段的末条指令；而序段的末条指令；而JMP转向的指令应是转向的指令应是程序段的起始指令。程序段的起始指令。电子科大电子科大CATCAT室室第第4.2.3节节 利用被测系统的应用程序进行测试利用被测系统的应用程序进行测试例：例：以以Z80程序为例程序为例(数据块传送程序）数据块传送程序）LD A,(ADOC1) 可命令点（存储器读出指令）可命令点（存储器读出指令） RRC AAND n1OR n2LD H,ALD A,(ADOC2)可命令点（存储器读出指令）可命令点（存储器读出指令）AND n3LD B,ALD A,(ADOC3)命令点命令点AND n4OR BRRC

33、ALD L,ALD (ADAT),HL可观察点（存储器写入指令）可观察点（存储器写入指令）LD IX,(ADAT)可命令点可命令点LD A,(ADOC2)可命令点可命令点AND n5IR NZ,PMTB转出（段末）转出（段末）LD IY,DBMBA可命令点可命令点JP PRANT转出（段末）转出（段末）PMTB:LD IY,DABMB转入（段始），可命令点转入（段始），可命令点LD A,n6LD （AMMT）,A可观察点可观察点PRANT:LD A,(IY+a)转入（段始）转入（段始）AND n7JR NZ,PRANT转出（段末）转出（段末）12345678S1S2S3AMADOC1控制图控制

34、图12345678S1S2S3电子科大电子科大CATCAT室室第第4.2.3节节 利用被测系统的应用程序进行测试利用被测系统的应用程序进行测试3.关系图关系图将程序母型化后，必须研究变量在程序段中的传播情况，为此，引入关系图的概念。将程序母型化后，必须研究变量在程序段中的传播情况，为此，引入关系图的概念。（1）单条指令关系图）单条指令关系图数据传送类数据传送类数据处理类数据处理类转移类转移类 只改变程序执行顺序，而无实质性操作；只改变程序执行顺序，而无实质性操作；例：例：IP：JR NZ，PMTBr1r2MEMrnirnrMEMiMEMMEM r2rnr RMEMi RMEMr1 r2r1r1

35、 MEMr1r1 ir1r1 r2PC,SPPC,SPr1 iAPMTBPC+1（A）=0（A） 0电子科大电子科大CATCAT室室第第4.2.3节节 利用被测系统的应用程序进行测试利用被测系统的应用程序进行测试（2）程序段的关系图）程序段的关系图 程序段的关系图由指令关系图连接而成。为了敏化需要，提出变量的概念：程序段的关系图由指令关系图连接而成。为了敏化需要，提出变量的概念：输入变量：该程序段执行之初所需的变量；输入变量：该程序段执行之初所需的变量；输出变量：该程序段执行的结果；输出变量：该程序段执行的结果；工作变量：该程序段执行过程中的一切变量；工作变量：该程序段执行过程中的一切变量；仍

36、以上例有：仍以上例有：11（ ADCO1） 输入变量输入变量 A A n1工作变量工作变量 A n2 A H输出变量输出变量电子科大电子科大CATCAT室室第第4.2.3节节 利用被测系统的应用程序进行测试利用被测系统的应用程序进行测试4.敏化测试敏化测试 （1）基本概念）基本概念通路通路：通路是一段有序的程序列：通路是一段有序的程序列：输入必须是命令段输入必须是命令段-测试输入变量；测试输入变量；输出必须是观察段输出必须是观察段-测试响应；测试响应；最小通路集最小通路集：程序中所有的一切程序段中一个最小的通路集；：程序中所有的一切程序段中一个最小的通路集；测试测试：按每条通路逐条进行，在通路

37、的每一个观察点应确定在该点所能观察到的各：按每条通路逐条进行，在通路的每一个观察点应确定在该点所能观察到的各硬件硬件，功能功能和和指令指令，并确定该通路可命令点的输入值范围。，并确定该通路可命令点的输入值范围。 （2）测试算法）测试算法 以程序列为基础进行测试：以程序列为基础进行测试：程序列的输入变量（测试矢量）程序列的输入变量（测试矢量）-可命令可命令 立即数立即数 不可命令不可命令（由通路前面程序的计算值，应（由通路前面程序的计算值，应逆流而上逆流而上寻找可命令点）寻找可命令点）中间变量中间变量-工作变量工作变量(测试对象测试对象：硬件硬件，功能功能，指令指令）程序列的输出变量（响应）程序列的输出变量（响应）-可观察可观察（敏化结果）（敏化结果）不可观察不可观察（顺流而下顺流而下，找到可观