测量系统分析程序MSA

1、-程 序 文 件测量系统分析程序文 件 编 号Q/HJE-PD30-2004版 本A/1P 7/7文 件 分 发 部 门 及 人 员总 经 理 管理者代表 技术工程部副总经理 销 售 部 生 产 部生产厂长 财 务 部 品 管 部行政厂长 采 购 部 物 料 部文控中心 行 政 部 文 件 修 改 栏 页码版本生效日期修 改 内 容11-7A/02005/4/2增加稳定性,线性,偏倚测量系统分析页 码 / 版 本 对 照 表页码（Page）P1P2P3P4P5P6P7版本（Rev）A/1A/1A/1A/1A/1A/1A/1编制审核批准1.目的评估测量系统的正确性和能力来加强生产工序和控制过程，

2、确保产品质量。2.范围凡公司控制计划中所要求的和/或顾客要求的所有检验、测量和试验设备的测量系统分析均适用之。3.权责3.1.品质部对工厂所有必要的测量系统和量具进行分析和鉴定。3.2.APQP小组负责对能力不足量具及适用性重新评估并确定对策。3.3.管理代表负责核准测量系统分析报告。4.名词解释 4.1.R&R分析：量具再现性与重复性分析。重复性是指同一种量具同一位作业者，当多次量测相同零件的指定特性时所得的变异。再现性是指不同作业者以相同量具量测相同产品的特性时量测平均值的变异。4.2.准确度：重复量测的平均值与设定值的差。4.3精密度：重复量测时，其量测数据差异的程度。4.4.M

3、SA:指Measurement System Analysis 的简称。 4.5.盲测:指在实际测量环境中,检验员事先不知正在对该测量系统进行分析，也不知道所测为那一只产品的条件下,获得的测量结果。4.6计量型与计数型测量系统:测量系统测量结果可用具体的连续的数值来表述,这样的测量系统称之为计量型测量系统; 测量系统测量结果用定性的数据来表述,如用通过或不能通过塞规的方式来描述一只圆棒直径尺寸,这样的测量系统称之为计数型测量系统。计量型测量系统和计数型测量系统的分析将用到不同的方法。4.7分辨率（Resolution）:测量系统检出并如实指示被测特性中极小变化的能力。4.8可视分辨率（Appa

4、rent Resolution）:测量仪器的最小增量的大小,如卡尺的可视分辨率为0.02mm。4.9有效分辨率（Effective Resolution）:考虑整个测量系统变差时的数据等级大小。用测量系统变差的置信区间长度将制造过程变差（6）（或公差）划分的等级数量来表示。关于有效分辨率，在99%置信水平时其标准估计值为1.41PV/GR&R。4.10.分辨力(Discrimination):对于单个读数系统,它是可视和有效分辨率中较差的。4.11.偏倚(Bias):指测量结果的观测平均值与基准值的差值。4.12.稳定性(Statility):指测量系统在某持续时间内测量同一基准或零件

5、的单一性时获到的测量值总变差.4.13.线性(Linearity):指在量具预期的工作范围内,偏倚值的差值。5.程序5.1测量系统分析的时机和人员5.1.1.再下列三种情况下必须进行测量系统分析A. 新产品开发时,B. 新购量具或经修过的量具投入使用前,C. 每年定期进行一次全面的测量系统分析,分析范围覆盖所有合格在用的控制计划要求做的量具,分析内容覆盖测量系统五性.5.1.2.分析人员的资格鉴定和培训按人力资源控制程序进行。5.2.测量系统分析的范围5.2.根据公司的实际情况,目前主要对用于卷绕测量器具(电容测量仪)进行测量系统五性分析.其它量具与工序能力控制的测试无关,因此这些仪器的监控主

6、要由单独的仪器校正程序进行。5.3.测量系统重复性和重现性的分析：5.3.1 分析方法5.3.1.1选择2-3位作业人员、样本10PCS及重复测量3次。5.3.1.2被测零件从制程中随机取样，以能代表各种变化。5.3.1.3作业者需了解测量方法，以准确反映实际情况。5.3.1.4测量仪器的选择：应选择经校验合格之测量仪器，以避免量具监别力不足。 5.3.2人员的选择：选择新进厂之员工，当人数不足时，可补充熟练操作员补充。5.3.3. 测量实施5.3.3.1选定作业者2-3人，零件10个，并标示号码。5.3.3.2使用经校验合格之量具量测。5.3.3.3重复性测量：作业员A从1至10顺序测量零件

7、，并将测量结果记录于量具重复性和再现性数据表5.3.3.4再现性测量：作业员B或C测量相同零件，不能参考彼此的测量值，将测量结果分别记录于量具重复性和再现性数据表。5.3.3.5重复这个循环三次，并记录结果。5.3.3.6计算出所要的关键参数，代入量具重复性和再现性分析表中进行换算。5.3.4. 结果分析5.3.4.1分析标准：GRR30%必须要有行动；GRR30%有条件的接受； GRR10%可接受；GRR=%R&R。5.3.4.2当重复性变异值大于再现性时，应评估下列事项：a. 量具加以保养；b. 零件内含有极值；c量具之结构需再设计并增强；d量具之夹紧或零件定位方式需加以改善。5.

8、3.4.3当再现性变异值大于重复性时，应评估下a. 作业者对量具的操作方式及数据读取方式需加强；b. 可能需要一些夹具协助作业者，更换一致性的使用量具；c. 量具与夹具校验及送修校正后须再做测量系统分析，并记录。5.4.稳定性分析5.4.1.选取一个样本并确定其相对于可追溯标准的基准值,如果没有这样的样品,则从产品中选择一个样品,其测量值应处于预期测量范围的中间区域,并将其作为标准样品,可能需要准备对应于预期测量范围的低、中、高数值的三个标准样品，对每个样品单独测量并绘制控制图，但一般只做中间值那个就可以。5.4.2.定期测量基准样品3-5次,并将其测量的结果记录于量具稳定性分析报告中,决定样

9、本容量和频率时,考虑的因素有:校准周期,使用频率,修理次数和使用环境等。5.4.3.将测量值描绘在X-R控制图上。5.4.4.计算控制界限,确定每个曲线的控制界限并根据控制图对失控或不稳定状态作出判断。5.4.5.利用控制图的方式来对稳定性的准则进行判定: 5.3.5.1.不能有点子超出上下控制界线, 5.3.5.2.连续3点中不能有2点落在A区或A区以外之区域, 5.3.5.3.连续5点中不能有4点落在B区或B区以外这区域, 5.3.5.4.不能有连续8点或更多落在控制中心线的同一则, 5.3.5.5.不能有连续7点或更多连续上升或下降。5.4.6.凡呈现不稳定状态时,量具已经不稳定,必须对

10、量具进行校准或维修,量具维修并经重新校准后,应重新对量具进行稳定性分析。5.5.偏倚分析用独立样本法5.5.1.获取一个样本并确定其相对于可追溯标准的基准值,如果不能做到,则选择一个落在量程中的产品,并用更精密的量具测量10次计算平均值,此值作为基准值。5.5.2.由一位检验员,以常规方式对样品测量10次,并计算10次读数的平均值,此值即为观测平均值。5.5.3.偏倚计算 偏倚=观测平均值-基准值 制造过程变差=6 偏倚%=偏倚/制造过程变差*100%制造过程变差可用规格公差代替5.5.4.偏倚接受准则A. 测量重要特性,测量系统偏倚%<10%可接受,B. 测量一般特性,测量系统 10%

11、偏倚%30%可接受,C. 偏倚%30%拒绝授受5.5.5.偏倚分析记录于量具偏倚分析报告5.5.6.如果偏倚偏大,可用以下方法查找原因:A. 基准准有误差;B. 仪器被磨损,主要表现在稳定性分析上,应维护或重新修理仪器;C. 制造的仪器尺寸不对;D. 测量了错误的特性;E. 仪器校准不正确,需要重新复查校准方法;F. 操作员操作仪器不对;G. 仪器修正计算不正确。5.6.线性分析5.6.1.在测量系系统工作范围内选定5个产品,它们的测量值应覆盖量具工作范围。5.6.2.用更精密量具测量每个产品10次,并计算平均值,然后将其确定为基准值,同时确定它们各自所取得的基准值是否覆盖了被检量具的工作范围

12、。5.6.3.让一位评价人对5个产品以盲测的方式按随机抽取须序分别测量每个产品各10次,并将其测量值记录于测量系统线性分析表上,然后计算各产品的测量平均值,此值即为观察平均值。5.6.4.计算并绘图 Y=b+Xa X为基准值 Y为偏倚 b为截距 a为斜率 R2为拟合优度 a=XiYi-XiYi/n/Xi2-(Xi)2/n b=(Yi-aXi)/n R2=XiYi-XiYi/n2/Xi2-(Xi)2/n*Yi2-(Yi)2/n线性=斜率*制造过程变差线性%=线性/制造过程变差*100%如制造过程变差不知道,用规格公差代替5.6.5.线性判读准则5.6.5.1.线性程度判读A. R2=1完全相关,

13、点散布在一条直线上,B. R2=0 完全不相关,X与Y的变化完全不存在任何依存关系,C. 0<R2<1,不完全相关。5.6.5.2.线性接受准则A. 测量重要特性的测量系统,线性%5%时可接受,B. 测量一般特性的测量系统,线性%10%可接受,C. 线性%>10%,拒绝接受。5.6.6.如果测量系统有非线性度,要找出可能存在的原因:A. 仪器在操作范围的最低或最高端没有适当校准;B. 最大最小的标准有误差;C. 仪器有磨损;D. 仪器内部的设计特性。5.6.7.线性分析记录于测量系统线性分析表。7异常处理71当量具的测量系统分析结果趋近下限时，分析人员应通知APQP小组和制造部门。7.2.APQP小组应对能力不足的量具及其适用性重新评估,并确定处理对策(包括对已检测产品的处理意见)。7.3.管理代表依据测量系统分析报告进行核准,当判定不合格时,测量系统分析人员应对量具重新进行分析,然后采取纠正预防措施。8 相关/支持性文件8.1 改进控制程序(Q/HJE-PD19-2004,D/1)8.2.记录控制程序(Q/HJE-PD02-2004,D/0)8.3.测量设备控制程序(Q/HJE-PD13-2004,D/0)8.4.先期产