材料分析测试技术试卷答案

1、百度文库1材料分析测试技术试卷（答案）一、填空题：（20分，每空一分）1. X射线管主要由 _阳极一、阴极、和窗口一构成。2. X射线透过物质时产生的物理效应有：散射_、_光电效应_、_透射X射线_、和_热_ 。3.德拜照相法中的底片安装方法有：正装_、_反装_和_偏装三种。4.X射线物相分析方法分：_定性_分析和_定量_分析两种；测钢中残余奥 氏体的直接比较法就属于其中的 定量分析方法。5.透射电子显微镜的分辨率主要受 衍射效应_和_像差两因素影响。6.今天复型技术主要应用于萃取复型来揭取第二相微小颗粒进行分析。7.电子探针包括波谱仪和能谱仪成分分析仪器。8.扫描电子显微镜常用的信号是 二次

2、电子一和背散射电子。二、选择题：（8分，每题一分）1. X射线衍射方法中最常用的方法是（b）oa.劳厄法；b.粉末多晶法；c.周转晶体法。2.已知X光管是铜靶，应选择的滤波片材料是（b）oa. Co;b. Ni；c. Feo3. X射线物相定性分析方法中有三种索引，如果已知物质名时可以采用（c）oa哈氏无机数值索引；b.芬克无机数值索引；c.戴维无机字母索引。4.能提高透射电镜成像衬度的可动光阑是（b）oa第二聚光镜光阑；b.物镜光阑；c.选区光阑。5.透射电子显微镜中可以消除的像差是（b）oa.球差；b.像散；c.色差。6.可以帮助我们估计样品厚度的复杂衍射花样是（a）oa.高阶劳厄斑点；b

3、.超结构斑点；c.二次衍射斑点。7.电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中可用于分析1nm厚表层成分的信号是（b）oa.背散射电子；b.俄歇电子；c.特征X射线。8.中心暗场像的成像操作方法是（c）oa.以物镜光栏套住透射斑；b.以物镜光栏套住衍射斑；c.将衍射斑移至 中心并以物镜光栏套住透射斑。三、问答题：（24分，每题8分）1. X射线衍射仪法中对粉末多晶样品的要求是什么？答：X射线衍射仪法中样品是块状粉末样品，首先要求粉末粒度要大小适中，在1um-5um之间；其次粉末不能有应力和织构；最后是样品有一 个最佳厚度百度文库2（t =百度文库32.分析型透射电子显微镜的主要组成部分是哪些？它

4、有哪些功能？在 材料科学中有什么应用？答：透射电子显微镜的主要组成部分是：照明系统，成像系统和观察记 录系统。透射电镜有两大主要功能，即观察材料内部组织形貌和进行电子衍 射以了解选区的晶体结构。分析型透镜除此以外还可以增加特征X射线 探头、二次电子探头等以增加成分分析和表面形貌观察功能。改变样品 台可以实现高温、低温和拉伸状态下进行样品分析。透射电子显微镜在材料科学研究中的应用非常广泛。 可以进行材料 组织形貌观察、研究材料的相变规律、探索晶体缺陷对材料性能的影响、 分析材料失效原因、剖析材料成分、组成及经过的加工工艺等。3什么是缺陷的不可见性判据？如何用不可见性判据来确定位错的布氏矢量?答：

5、所谓缺陷的不可见性判据是指当晶体缺陷位移矢量所引起的附加相 位角正好是n的整数倍时，有缺陷部分和没有缺陷部分的样品下表面衍 射强度相同，因此没有衬度差别，故而看不缺陷。利用缺陷的不可见性判据可以来确定位错的布氏矢量。具体做法是 先看到位错，然后转动样品，选择一个操作反射g，使得位错不可见。这说明gi和位错布氏矢量垂直；再选择另一个操作反射g2，使得位错不可见；那么giXg2就等于位错布氏矢量b。证明题：20分1.证明衍射分析中的厄瓦尔德球图解与布拉格方程等价。以入射X射线的波长入的倒数为半径作一球(厄瓦尔德球)，将试样放 在球心0处，入射线经试样与球相交于0*;以0*为倒易原点，若任一 倒易点

6、G落在厄瓦尔德球面上，则G对应的晶面满足衍射条件产生衍射。证明：如图，令入射方向矢量为k(k = 1/X)，衍射方向矢量为k，衍射 矢量为g。则有g = 2ksin0ovg=i/d；k=1/入，二2dsin0=X。即厄瓦 尔德球图解与布拉格方程等价。 -四、四、百度文库42.作图并证明公式：Rd=L入作图：以1/入为半径作厄瓦尔德球面，入射线经试样0与厄瓦尔德球面交于0*点，与荧光屏交于0,点；衍射线与厄瓦尔德球面交于G点，与 荧光屏交于A点。0*G是倒易矢量g，0，A=R，0 O,=L。透射电子显微镜的孔径半角很小（可近似认为g/R有/00*G也/0 0,A00*/L = g/R将00*=1

7、/入，g = 1/d代入上式得：Rd=LX五、 综合题：（28分）1.为使Cuka线的强度衰减1/2，需要多厚的口m=cm2g-1,p=gcm-3）（10分）解：根据强度衰减公式I = Ioe-mX1/2 =*X = ln2/* =2.有一金属材料的多晶粉末电子衍射花样为六道同心圆环，其半径分别是：，；相机常数L入=?o请标定衍射花样并求晶格常数。（10分）解：已知R1=；R2=；R3=;R4=;R5=;R6= 有R12=；R22=；R32=；R42=；R52=；R62=。R12/ R12= 1；R22/R12=；R32/R12=；R42/R12= 4；R52/ R12=；R62/ R12=。

8、有N数列为：1:2:3:4:5:6。由于金属材料中很少是简单立方结构，故考虑N数列为：2:4:6:8:10:120Ni滤波片？（Ni的百度文库5这是体心立方晶体结构，其值对应的晶面族指数是：110; 200；211；220；310；222。根据电子衍射基本公式Rd=L入，有d1=；d2=；d3=；d4=；d5=；d6=o3.分析电子衍射与X射线衍射有何异同？ （8分） 答：电子衍射的原理和X射线衍射相似，是以满足(或基本满足)布拉 格方程作为产生衍射的必要条件。首先，电子波的波长比X射线短得多，在同样满足布拉格条件时，它的衍射 角B很小，约为10-2rad。而X射线产生衍射时，其衍射角最大可接

9、近n12。其次，在进行电子衍射操作时采用薄晶样品， 薄样品的倒易阵点会沿着样品 厚度方向延伸成杆状，因此，增加了倒易阵点和爱瓦尔德球相交截的机会，结果使略微偏离布拉格条件的电子束也能发生衍射。第三，因为电子波的波长短，采用爱瓦尔德球图解时，反射球的半径很大，在衍射角B较小的范围内反射球的球面可以近似地看成是一个平面，从而也可以认为电子衍射产生的衍射斑点大致分布在一个二维倒易截面内。这个结果使晶体产生的衍射花样能比较直观地反映晶体内各晶面的位向，给分析带来不少方便。最后，原子对电子的散射能力远高于它对X射线的散射能力(约高出四个数 量级)，故电子衍射束的强度较大，摄取衍射花样时暴光时间仅需数秒钟

10、。第一童蜀射线是狸酬理学汞 在硏究真至肓喜圧硕电现素时M炭规的。A*劳埃 詆布拉格饶m禮拜h X剜璇中册&的功0睡(A.梗电亍笑拓汕速趴发肘电子 G 爼阿射出的通道 6 发射蛊阿的地方3、电孑由M-K圖5辐肘出馀征X射绞称为()谱线A h hgB t ICpLQD* Ljp仁H-T：呼光子与朿缚力爪犬的原子外层晅子相51?撞时发生的散肘称为(、A.北我肝歆射括前射C、題t颌射以鋪楷谢敢赧3、X船猜中13除的功能足A.使屯子突聲M速炭射屯子6 斜巧射出的通道D、表射斛巧的地方罠蒐射线普中廈口的功能是A.侵电+妥然联速绘射电子J 爼呵射出的通這6 克射巧的地方UK月槪是()A,申磁液 驭声

11、涙 G 齬声液 6 更色光仁当X射线将其粳质眾亍的K层电子打出去后L层电了回迁K层 多余議量将另-亍L二电子扛出枝外，遠整个过程将产生(A.光电孑E ,二次荧光C、俄敲电孑D.逬邑孑租锻歐电孑已知咒射线管是銅靶应选怪府谑波片材科圣()根据立方晶体ak2l2百度文库6CaNiC.F? D、Al10 既當瑚行形視观察又能搭亍晶体劳掏弁析的仪器是()A、；JED ChSEM D, EF1U百度文库7九14种布扌立菲点阵（）A.扌安苴对称性，可归结为七大晶系B、按耳点阵常数分类，可归纳为七大晶系6 按其点阵所在位蛊分，可!）瞄为七大晶雷D、按其几诃形狀分类，可归结为七大晶系R.革昂依厲于立方晶系， 一

12、晶面猷/由于门、 丫轴于b 3x訂由于c4,MH易晶面的指标为（）2、 （364）B、（234） C. （J13） D、（4盘） 趴符号呻戸表示（）A x晶宙族B、晶面C、晶向SS10.在立方晶系中，扌旨数相同的晶面和晶向（） 至、相互平行B、相互垂直 U 成一定角度范国 体心立方结构的点阵常数之间的关系为（）a = b = c鸟a = b丰c匕、a#b羊c密排亢方结构点诂常数间的关系为（a = b = cD、晶向D、无必然联系II、Ax12vB.Dsab = c11、表圍形貌分析的手段包括）沁无口WEM亚11和IB!C、VfDS环口瓷PSD、STEJI口SE1112、发现了 xxay 在晶体

13、丄衍射的科学冢最（）劳埃 叭布拉格 C.伦琴 D.德黑13、特征孟-1的波长取决于、A.入射滅的滅长B.加速电圧C物质的嫌子能级结构D、淋液片14、x-ray管中当釆用线形灯丝时将产生（）焦点A.长方肃 B、线性 C、桶园形 D、圆形15、滤波片的液长应）人、大于人爲Bx小于人tsC x位于扎虬和A虬之间D、任青选取第二童1、面心立方结构的单位晶胞原子数是）A、2 R、4 Cx S D、12人休心立方结构的单位晶胞原子数是（）A.2B. 4C $D. 123-.密排六方结构的单位晶胞原子数罡（）A. 2Bs 4C. 6D、124. 一最堆用的天射线您谢方;堆（A.劳埃法 B.粉末法 C.周转晶

14、体法D、德拜法気一束 X 射线廬射到昴体上龍昔产生衍射馭决于（）A、是否滴足布拉格条件 B、罡否衍射强度 10C. A+BD、晶体形状&6、空间点 1 乍只能有（种A. 12 B. 14 C. 15 D、16c u、a羊卜丰i百度文库813*别程间点阵枇薔是为“描述原子咅隔胞中的也呂酥描迖隔依的对称性G 描述品休絃拘的周期性D.同吋描述品怵苗抑的周期屮蚪口对齐性14,M、梵两晶也如果（）Ax所岳的空间点阵相同则此就晁俸的结艇同B.希俸垃啊利同.E们所居伍间点归可龍不同 5 鼎依结构相同，它的空直切毬然相同D、序扇的空间点阵不同，两星体白赌构可能相司15.已知MCI晶体结构厲于立万皐鮎

15、则茹翱I结构曙数关系为（人A i=be.1 -B、3=ti=c. o=f=Y=W*亡、s=b=c. ct=p=y?M*Dxs= b=c.a=|1=9C6雇于体业立方晶俸饪（）A、a-FeBALC X!g口、y-FerH属于面心立方聶俸胆是（:A、aFeBTiC NfgD、y-Te Sb属于密样六万晶俸隹是）4、n-FeB、Al匚、D、yTe诃i蛊方爺系的门】旳畐闻庶包含）个晶面6B. 8 C. 1J D.L420 . X射我約射方沱甲、试存为鱼晶体的圣）百度文库9c注伦羔因丄中第一川m因干用映的杲（）A.畐粒大小对衍射匱度的影响Cs衍射线也賈对衍射逼廈的談向B、畫加衍射品粒数目对衍肘强度的黠向

16、人、驰汪氐周轻畠慷去匚、平面I点片筋宿注 口、A|U3/第一莅推耳出壬即左晶悻上护射几何现律的科学冻杲（）A.勞埃B.布拉榜 匸、6 布拉菲力单晶体射料呈现（）i.备向訐性际备向同性厂“伪丢向异性n伪誉同同性23 ,非晶依对科吊现（X、各向界性叭智向同性G 伪各向异性6 伪看问同比24、托殆体JI于（）包、搀舉玄 團体 B 液体D、樹25 ； F列属于品体的屋.A、蜡炖E、松香C、食盐D、珊帝 盘、品体箔枸和空间点昨的招空关系A、空间点眸中整一个点阵代農畐値中的一个聽孑B、C.晶徉结构一定，它所属的空间点阵也唯一地锻确定、27、利用曰色x-y作为入射光源的X躬线衍射万法是 （）A、劳埃法B、耐

17、专品怦注C、千面底片凰硝法 壬二莹1、闕干简旦煙阵结构瞪体，系统消尤的条件是（）A、不存在系统消光2、k为奇数CekT 为奇埶A、K 存在辜境消进3. h-k为奇数C、h-k-1为奇数 趴对丁体心立方点阵结松的晶体，農先消先的条件是（人、不存衽系読消进 監h亠k为奇数u hTc-l为奇勒4.对于面心立方点阵结构的晶悴，憨消代的条件是；Ax穴存程系第消丸3. W为肯数 匚，hTcT祠奇数 J 立方晶童卩00昴面的务重嗤因子汩f ）A. 2 B、36 4 D.6團一卡咗间臣阵我表唯一的一租晶体结构同一护晶休结构可以用不同的空i可点阵衰示6 料末注D、H % 1为异性數D、h、k、1为导性皴D、h、

18、I为异性数D、触氛1為异性数百度文库10九洛伦兹6F中，第二几何国子反映的是（）A.畐粒大小对衙射强度的彩响臥參加衍射晶粒数目对信射强虔的影响G衍射线位置对衍射强度的影响5 试样形状对衍射强度的影响洛伦兹因子中，第三几何因子反映的是（）A.畐粒犬小对衍射强度的彫响B、参加衍射晶粒数目对忻射強度的彩峋C.行射线位罢对衍射强度的勒1庖D.试样刑状对衍身揺度的影响4 对于底心斜方晶体，产生岳统电光的晶面有（A、112 B、113 C. 101 D、111K对于面心立方晶伍，产生系统汹说的晶面有（）A. 200 B. 220 G 112 D、1111 k藤动对x-rav衍射的影响中不卫帝的星（A.熄席

19、升高引菇晶胸嶽托B、便衍射统强廊减小C、产生热遅散射D、複变布拉格角12.走量表征原子排布以及原子种类対衍射强度影响规律的参数称为）A.结构因子B、角因子J 多重性因子D、吸收因子I 沢将等同晶面个数対衍射强度的影响因子称为）A.结枸因子B、角因子Cv 多重性因子D、嚼收因子14 个电子对滾-rav 散射的特点叙迷不正确的是（）A、散躺戎强度很强B、散射线的强度与劃观测点距高的平方成正比在曲司处散射强度最强D、在 2B =00 匕寸散射强度呆弱1 又德丼相机的直径为刃一衍 E 则底片上每一殊对应于 ）圆心角A, 0.5B 2Cvld 416s德拜相机的直径为114.6mm,则底片上每一童米对应

20、于）13 心角A. 0.5sB.肾C. 1*第四童K 德拜注中有利于提高测量辖度的底片安装方住是（） 乩正装法 E,反廳去G 偏装法 D、臥上均可2.样品台#匡呱角仪机械连动时计数器弓试样的 S 速关系是（）D、4百度文库11A. 1：L B.2-I Cx 1：2 D没有确定比例趴衍射仪法中的试祥形狀杲（）甦状粉末多晶 B、块状粉末多晶C、块状单晶D、任意形状4关于相机井辨率的影响因素叙述错误的是（）丸、相机半径越大，分辨率越高B、&角越大，分辨率越高6 X ama-HSds 分旃率越高 D.晶面间距越大，分辨率趣低5*粉末送是由德国的（于 M16 年提出的帚德拜和谢乐 B、布拉格和德

21、拜S 劳埃和布拉格氏布拉格百度文库1214、底片位于相机圆筒内耒面试样位于中心轴上的照相法是()A、徳拜法B、鳖焦照栢法15、底片与补眇垂直且试样位于两者之间的照相法是A.德拜法B、聚焦照相法：针孔法D、衍射仪法16、底片、试样、盂贺源均位于圆周上的鹽ffi；去忌()A.徳球去B.聚焦喲目法C.针孔法D.衍射仪法17在探测器中分耕能力高、分析谏度块、椅测效率可庐100%的原干固休椅捌器星 芯正比计数器B、盖革计数器G闪烁计数器氏锂漂爹畦检测器18、在发散光阑尺寸不变的情况下，药角越小，入射纯在试样表面的昭射面积)A.越小B、越大C、不娈D、不确走19、时间常数的増大会导敎厝珥v衍射线的峰高下降

22、(升高B、下降 S 不变D、无必然联氢20、扫描速JS的増大会导致x-r企衍射线的峰高下降(C、针孔法C、针扎法D、衍射仪法趴粉末隅相法所用的试样脱妝为()A、块状 険为散C圆柱飛D、任意形状7.低角的弧线接近中心乩，高角线臺近端部的底片券方迭湾()A.丁琴诜趴 反無诜G偏荼法IX任童安笊都可8.京角的弧技接近中心乩，低角绒董近錦部的底片寅装方法為()A.正装进B.反装注C闻来注D、任意更辕哥可久以气傑目离为呈础制垃的引数器是()A、正比计数蛊B *盖爭计数器C、闪烁讣數蛊D. AB似利用X射钱鍬支杲种糊质会产生可见抽灭九H1目灭尤的笋少与忑射绒強皮或正比的特性肛制造的计数器为()A?：l比计

23、数嚣B. 1M计数看C、闪烁计数冒D、锂潯移碓检器1】、把肚言度乳栢器来的脈冲加以计费的电了仪磊为(A.计埶畀叭定标器 J 测甬仪 6 光词12,下列L曲去销误H勺是()A *多昂佈衍射的技术测虽方法有鋅扫描和阶桶扫描囲中测量总臥対了提高衍躬的分册輕 应该园1较肉麻充阑J 为了惺高测量緡度，一殿选用鬲可戢7：的吋问常数D、为了握壽测臺楕确虔应俛用眾可戢小的扫推恿厦1：.误的是f A.炭散狡雏逬阑是用和誅射喘在测均仪半面半行方班的发前甬B、为了提高治济的分诉菲应该选择较小的接受光阑J 为了测童衍射强康，应适当地勺吹接受光闹D、厮寄生榔TJ丸阖対储竣本身削初的觀向百度文库13帚升喜 叭下降 不咚D

24、、应撚联系X、为了援离口皿谢分轻率，塞选用（）乩怅趙扫揃粕较小的腰抉娃亢闹，归和二療LHJTl持将理朮嗣G 低速扫捣厳尢的按受狭薙光阑D快速壬描和较大的接受狡歡闹22、舟了xav衍肘强废侧量育最夫的精确度爲琏用A.低速扫插需中笄的接受饕缝进闹B，快連拦描引中等的接受狭縫光闹U 瞬速捋捕卞呼更尢的接受铁键光闹D.帜速匹1B和較弋的標曼離曜光阑第乏章1、梵射线物相走性才析方如妇果凸咁勿质宕时可以采用（）A.喑氏无tm值索引B、芬克无扛数喈索引6 戴维无机宇母奈引m久或B2、测定钢中的奥氏诂含量，若采用證兀射妹柳盼祈，常用方法是（）A、外和注B、內标注C、直接比毎注臥匸值注h PDF卡E屮，数渥最可

25、集罚用C ）表示ALi Bx ACx OD、C札PDF卡片中，频勇可窕程度最f氐肚用（）表示A i B* *SOD、亡百度文库14畀将疔需舉相懈屯利庶拆外卑独柿定， 憨后土务顶混台翻中持测用的相应衍肘咨舉底相比较而进厅的定量m斤方;去称为（、A，外标陆B、N廊进G 宜接比较,;去口L值法氣左侯测试存中修人一宜含董的标准物质一.把试存中待测相的某根衍射纯罠强度耳卵人试祥中言蚤已知的 标准帳的草根衍貼线杀相比较，从而茯得侍测相含量餉走臺分析方注帕C ）外标注B、內标法c、直累比较法0 r值法W1S1、若恥测电镜的最高谕率足叱血，那么这台电境的有側大時麹足（）*、1000 E, 10000 G 40

26、000 D、5WOQO2、遥射电子显撷覆中可決消隐的像差是（、A、球差6.散C,fe 差D、均不可肓皆肖除3,由于电磁透镜中心区域和站区域对电子折射哉力不同而造成的像差称为（、A、球差乩僅散6 色差D、背散K由=送穗哪非谨转对称而引起的像差称为（）A、球差B、偉龍C,鱼差D、背龍几由于入射电子浪长的非单一性造成的像差称対（乩琲蛋B、傍散 5 邑愛 臥背散 氣制造岀世界上第一台段射电子显徽卷的星C ）A.德布罗竜B、鲁斯卡C、德拜D.布拉格7. 1924年，（ 友现电子液的液低比叫见充恿十万倍A、徳布号竜B.鲁斯卡G 禮拜臥 布拉格昭Y射线不能用来做遴射电锻鹽明光源的是因为（）A.液长较可见光长

27、B，不是单色光U 不育課焦D.分辨率太低9、孔径角越小则）A.球差越大E、像散遞大C、色差越大D、分錦率越高第十童1、透射电潢中电亍柚的作用罡）A、电子淋B、会聚电子束 S 形成第一副高分諦率电子显徵團像D、进一步放大物覆像 人逶射电纜中聚光的作用是（A、电干源B、主聚电子束 匚形成第一副高分辨率电于显徽曳豫 6 进一步放人物纜像3矯射书憲中物績的杞用是（A.电子源B、会聚电子束 S 形成第一副高分諦率电子显徵图豫D.进一步放大物嶺像-A. I ._ JI L.-B百度文库15長遥射电彊中电中间愷的作用是（）A.电子源B.会聚电子朿 4 形成第一副高分辨率用子显徵團像D、进一步放大物镜像、能揣

28、高锈射电需成像衬度的说闹昂（A.龍二聚光镜迸闹Bv物镜光闹队物儘世词安血在（）A.勒1借的物平面B、炯错的傻平面K迭区光阖在TTM嶺筒冲的检彗是（A、物镜的物平面B *物镜的傑平面X 电子衍肘成傍时是将（C、选区光闹B 物橙的背宦面j匚、物镜的背焦面D.呦错的前楚面D.物镜的帝炕面A.中间潼的物平面 0 与忧镜的背蔗面垂合B.中问谯的牧平面弓 F 镜的像平面重合 g 关闭T间偿D,芙闭物礁9s透射电镜成形貌像旺是将（）A.中间谨的物平面与与物鏡的背焦面重合臥中间镇的物平面与M橫的像平面重合G 关闭 E 间锻D*关闭物橙io为了减彳沏镜6W差，往往在辆镜的背焦面上安敖一个（）A.第二聚光機光阑昂

29、卓:选区光闹D、素拉光闹1、2、3.4.5.积7,10.11、12.14、15、17、同种材糾经过不同的处理后其性能不芟XKD可以进行样品表面繳观形貌观察（爼叮巧足电薪披具百粒子性和漩动性在虐学遴视上的x-ray波长彳艮长,故又称為软x-rav（）对于长方形焦点的心町亀 对这长边的表现焦点亓鍬为线状，它的强度很强（）连续潜蚣府退度随看會压的增高而增高（）连续x-ray憎中，能量最大値在光子能量最大的初处（）心线比出线的渡长长而强度高（）耳刚胪的狀歇电亍能重尸申序于讶舸圧我原亍“级结林.吊物肝佰育特证（） 质童吸收系数与物馬密度弄瞅态无兀只与熄子序数和十口v的浪长有关（）随X射线管的电压升高，打

30、和兀都随之减小）经滤波荷的X射维足相匍序庠色光） 选择漏皮片只要根据吸收讎选择材料，而不需要考虏厚度1）产生特征X射线的前提钢子内层电子被打出核外，师子处于激发状态X射星疑里邑的（my的波氏很短，能量和动量很大具有很强的穿逶能力（）连续谱短波限只与管电压有关（）x-rav百度文库1613. 干涉晶面与实际晶面的区别在于：干涉晶面是虚拟的，指数间存在公约數 n ()14. X 射线衍射与光的反射一样，只要満足入射角等于反射角就(亍()15. 种布拉菲点阵可以代表许芻种晶体结枸)16、晶面间距越大的晶面其指数也越犬)1 儿粉末法梦晶体试样的形状可以是任意的()18晶面指数的数値是晶面在三个坐标轴上

31、的裁距)19、凡是属于带的晶面，其晶面指数(hkL)业须符合 hu 亠 kv 亠 lw=0 ()20.若已知特征秆即的潦长和衍射鼠则通过布拉格方程可以计算出晶面间距(3U 劳埃 S 杲来用连续光丄狄作为入射光源的()32.粉末进采用的 X 射线为电色 x-ny ()第二童1 讦射方向在 X 射线液长一定的惰况下取块与晶面间距2、物质的原子序数越小非相干散射越弱()氛在一个晶面族中等同晶面越多，参加衍射的槪率就趣大()趴 X 射线衍射线的峰宽可以反映出许多晶体信息峰越宽说險立越尢)5x 在其他条件一定的情况尸，晶粒越小X 射线衍射强度越疆()乞原子的热振动可使X射线衍射强度增犬温度一定时.衍财角

32、越大温度因子越小衍射强度随之减小()18.恥忖管中阳槻靶物底的惊子肩数越大 n 所需临界激发电压值越高()臥线吸收系邈与物质种类*密度、x-ray长有关(20. 只叮丹不反射几乎不折射()21. 原子系统中各能级的能量差杲不均匀的，趣靠近原子核的相邻能极差越大22. 光的干涉条件是散射波之间振动万向相同、频率相同、位相羞恒定)EX- T1?-弟一早1.空间点阵只有 14 种，而晶体结构可以有无限种 C )2、 空间点阵与晶体结构是相同的两个抵念 C )3v 立方晶系的100晶面族包含占个晶面()4 同一晶帶中所有晶面的;去童端 E 与晶带轴垂直()5 (100)和 110)同属于001 團带轴

33、()氣单色 x-rav 的衍射只在满足布拉格走律的若干个特殊垢度上产生()7. X 射线衍身寸线的强度接近于入射线强度氛 X 射线的入射线与反射线的夹角永远是 20 ()g、X 射结的衍射是大量惊子養与的一手橄射现象()10.产生 X 射线衍射现象的左藝条件罡有一个可以干涉的波和一组周朗排列的散射中心( /1】、干涉指数只能是互质的整数()1 氛衍射方向决定于晶胞的犬小与形状()百度文库17氛祁竝槁万程只匙更咒豹竖衍新方向，不能反遽苗射亞度()矢牟谢角一定B,温厦趣言爲度酣摊小牝谢畏蝕立新小)门、獰子的热振动令产生各八方叵散射的相干離射(1第四章1、弋直轻湮璋相机可M捋氤诉聊鹄分袜奎，萍抵跟选吋间：)?、德拜法於漸仪沬测量苗鵬狀更礪(、3,在衍射懺去中，衙射几何歸二个風 T 屋測角仪