等离子体质谱法测定Ge、Ga、In等9种元素

1、等离子体质谱法测定 Ge、Ga、In等9种元素1范围本方法规定了各类样品中 Cd、Ga、Ge、In、Re、Sc、Te、 Tl、Se元素含量的测定方法。本方法适用于矿物、水系沉积物、土壤和岩石等类型样品 中以上各元素量的测定。本方法检出限(3S)及测定范围见表1。表1方法检出限及测定范围*元糸方法检出限(3S)-i卩g g测定范ffl-1卩g g元糸方法检出限(3S)-1卩g g测定范ffl-1卩g gCd0.020.06100Re0.10.3500Ga0.10.3200Se0.020.07200In0.0030.01100Sc0.622000Ge0.10.3200Te0.050.15100Tl

2、0.0030.01100*可根据含量确定称样量及稀释倍数扩大测定范围上限。2规范性引用文件F列文件中的条款通过本方法的本部分的引用而成为本部分的条款:下列不注日期的引用文件，其最新版本适用于本方法。法。定。GB/ T20001.4 标准编写规则 第4部分：化学分析方GB / T14505 岩石和矿石化学分析方法总则及一般规GB6379测试方法的精密度通过实验室间试验确定标准测试方法的重复性和再现性。GB / T14496-93 地球化学勘查术语。3方法提要试料用氢氟酸、硝酸、高氯酸分解并赶尽高氯酸，用王 水溶解后，移至聚乙烯试管中，定容，摇匀。分取部分澄清 溶液，用硝酸(3+97)稀释至100

3、0倍(指试料总稀释系数为 1000)后，在等离子体质谱仪上测定。4试剂除非另有说明，在分析中仅使用确认为优级纯的试剂和 去离子水。在空白试验(6.2)中，若已检测到所用优级纯试剂 中含有大于以上元素方法检出限的含量，并确认已经影响试 料中以上元素低量的测定，应净化试剂。4.1 盐酸(1.19g/ mL)4.2 硝酸(1.40g/ mL)4.3 氢氟酸(1.13g/ mL)4.4 高氯酸(1.67g/ mL)4.5 硝酸(3+97)4.6王水750mL盐酸(4.1)与 250mL硝酸(4.2)混合，摇匀。用时配制。5仪器及材料5.1美国热电公司 X series2型等离子体质谱仪5.2氩气 M

4、(Ar) = 99.9%5.3聚四氟乙烯烧杯，规格：50mL5.4有刻度值带塞的聚乙烯试管，规格：25.0mL6分析步骤6.1试料试料粒径应小于0.097mm。试料量称取0.2500g试料，精确至0.0002g6.2空白试验随冋试料分析全过程做双份空白试验。6.3质量控制选取同类型水系沉积物或土壤一级标准物质2个一4个，随同试料同时分析。6.4测定称取试料(6.1)于50mL聚四氟乙烯烧杯(5.3)中，用 几滴水润湿，加入5mL硝酸(4.2)，10mL氢氟酸(4.3),2mL高氯酸(4.4)，将聚四氟乙烯烧杯置于 200C的电热板上蒸发至高氯酸冒烟约3min，取下冷却；再依次加入5mL硝酸(4

5、.2) ,10mL氢氟酸(4.3)及2mL高氯 酸(4.4)，于电热板上加热10min后关闭电源，放置过 夜后，再次加热至高氯酸烟冒尽。趁热加入8mL王水(4.6)，在电热板上加热至溶液体积剩余2-3mL，用约10mL去离子水冲洗杯壁，微热 5 10min至溶液 清亮，取下冷却；将溶液转入25.0mL有刻度值带塞的聚乙烯试管(5.4)中，用去离子水稀释至刻度，摇匀， 澄清。移取清液1.00mL于聚乙烯试管中，用硝酸(4.5) 稀释至10.0mL，摇匀，备上机测定。按附录A给出的仪器工作条件及测定模式，通过 仪器的计算机系统和分析专用软件。用10ng / mL的Li、Be、Co、In、Tb、Bi

6、、U标准溶液，选择同 位素 7Li、9Be、59Co、115ln、159Tb、209Bi、238U 作为 仪器的最佳化调试后，进行被测元素的测量，由计 算机系统及专用软件自动计算和存储所有数据。6.5工作曲线的绘制与验证比对工作曲线的绘制选定一个合适的地球化学一级标准物质(水系沉积物、土壤)，按照(641)条步骤， 制备成相应的溶液。同时制备一份样品空白溶液， 按附录A拟定的仪器工作条件进行测量，并由计算 机绘制工作曲线。6.5.2 工作曲线的验证和比对选择3-5个地球化学一级标准物质(水系沉积物、土壤)，按照(641)条步骤， 制备成相应的溶液，按附录 A拟定的仪器工作条件 进行测量，由计算

7、机计算对应元素的含量，与各标 准物质标准值进行验证和比对。6.6 内标本法采用的定量校正方法为内标校正方法。选p(103Rh) = 25ng/mL为测定的内标溶液。内标溶液由内 标溶液专用的蠕动泵管，泵入一个三通管阀，把内标 溶液和样品溶液合并混合后，一并泵入雾化系统后进 入等离子矩焰中。7分析结果计算按下式计算各元素的含量：Clg/g)=(mi - m0)V V0 /m V式中：m 从工作曲线上查得各元素的含量，g/mL; mo-从工作曲线上查得空白试验(6.2)各元素的含 量，卩g/mL;V-测定试液的体积，mL ； V。-制备液总体积， mL ； Vi分取制备液体积，mL;m 试料质量，

8、g。8干扰的校正8.1 111ZrOH对111Cd的干扰校正用于测定所选择的Cd的同位素是111Cd，会受到111ZrOH的重叠干扰，虽然样品中的 Zr受样品分解方法的限制不会完全进入测定溶液，但是部分进入溶液的Zr会对Cd的测定结果产生干扰。所以通过定量测定进入样品 溶液中Zr的浓度后进行数学校正，可得到Cd的准确结果。校正公式为：Ccd=C 表观Kzr-Cd X Czr式中C表观为测定溶液中Cd的直接测定结果，Czr为 Zr的测定结果。Kzr-Cd是111ZrOH对111Cd的干扰校正系数， 每次通过实验计算得到。Ccd再乘以稀释因子就得到样品中Cd的含量。8.2 115Sn对115ln的

9、干扰校正用于测定所选择的In的同位素是115|n（丰度95.7%）, 而115Sn与115ln重叠，会产生Sn对In的干扰。但是通过 选择不受质谱干扰的118Sn （丰度24.4%）来定量测定进入 样品溶液中Sn的浓度后进行数学校正，可得到 In的准确 结果。校正公式为：C|n=C 表观Ksn-ln X CSn式中C表观为测定溶液中In的直接测定结果，Csn为Sn 的测定结果。Ksn-In是115Sn对115In的干扰校正系数，通过 实验得到为0.003。Cm再乘以稀释因自就得到样品中In的 含量。附录A（资料性附录）A.1等离子体质谱仪工作条件如表A .1表A.1等离子体质谱仪工作条件等离子体技术参数测量条件技术参