材料表征方法思考题答案

1、第一章XRD1. X射线的定义、性质、连续X射线和特征X射线的产生、特点。答：X射线定义：高速运动的粒子与某种物质相撞击后猝然减速，且与该物质中的内层电子相互作用而产生的。性质：看不见；能使气体电离，使照相底片感光，具有很强的穿透能力，还能使物质发出荧光；在磁场和电场中都不发生偏转；当穿过物体时只有部分被散射；能杀伤生物细胞。连续X射线产生：经典物理学解释一一由于极大数量的电子射到阳极上的时间和条件不相同，因而得到的电磁波将具有连续的各种波长，形成连续X射线谱。量子力学解释一一大量的电子在到达靶面的时间、条件均不同，而且还有多次碰撞，因而产生不同能量不同强度的光子序列，即形成连续谱。特点：强度

2、随波长连续变化特征XI寸线产生：当管电压达到或高于某一临界值时，阴极发出的电子在电场的加速下，可以将物质原子深层的电子击到能量较高的外部壳层或击出原子外，使原子电离。此时的原子处于激发态。处于激发态的原子有自发回到激发态的倾向，此时外层电子将填充内层空位，相应伴随着原子能量降低。原子从高能态变为低能态时，多出的能量以XM线的形式释放出来。因物质一定，原子结构一定，两特定能级间的能级差一定，故辐射出波长一定的特征X射线。特点：仅在特定的波长处有特别强的强度峰。2. X射线与物质的相互作用答：X射线与物质的相互作用，如图所示入射，射线一束X射线通过物体后，其强度因散射和吸收而被衰减，并且吸收是造成

3、强度衰减的主要原因。当反射相干散射；当X射线经束缚散射分为两部分，即相干散射和不相干散射。当X射线照射到物质的某个晶面时可以产生反射线,线与X射线的频率、位相一致时，在相同反射方向上的各个反射波相互干涉，产生力不大的电子或自由电子散射后，产生波长比入射X射线波长长的X射线，且波长随着散射方向的不同而改变,这种现象称为不相干散射。其中相干散射是X射线在晶体中产生衍射现象的基础。物质对X射线的吸收是指X射线通过物质时，光子的能量变成了其它形式的能量，即产生了光电子、俄歇电子和荧光X射线。当X射线入射到物质的内层时，使内层的电子受激发而离开物质的壳层，则该电子就是光电子，与此同时产生内层空位。此时，

4、外层电子将填充到内层空位，相应伴随着原子能量降低，放出的能量就是荧光X射线。当放出的荧光X射线回到外层时，将使外层电子受激发，从而产生俄歇电子而出去。产生光电子和荧光X射线的过程称为光电子效应，产生俄歇电子的过程称为俄歇效应。示意图见下：X射线）；散射X射线（相干、非相干散射）；电子（反冲电子、俄歇电子、光电子、荧光透过射线；热能。3. X射线衍射原理。布拉格方程的物理意义答：X射线衍射原理，即布拉格定律：2dsin。=n入式中d为晶面间距，0为入射束与反射面的夹角，入为X射线的波长，n为衍射级数，其含义是：只有照射到相邻两镜面的光程差是X射线波长的n倍时才产生衍射。4. X射线衍射实验方法。

5、粉末衍射仪的工作方式、工作原理。答：在各种衍射实验方法中，基本方法有单晶法、多晶法和双晶法。单晶X射线衍射分析的基本方法为劳埃法与周转晶体法。多晶X射线衍射方法包括照相法与衍射仪法。粉末衍射仪的工作方式中，常用的有两种，即连续式扫描和步进式扫描。L连续扫描连续打拴就是让试样和探测器以：2的危速度作匀速圆周运动.在转动过程中同时将探测器依次所接收到的各晶面密射信号输入到记录系统或数据处理系统,从而未得的能射图谱口图£33即为连续旧描图渤.旌续扫描图谱可方俚地看出前射线峰位.线形和相对强度等.这种方式的工作效率高.其后一定的分辨率.灵爨度和精确度，非常适合于大量的日常物相分析工作口惑而，

6、由于仪器本身的机域设辑及电子缆指等的泮后、平滑效应,往往会造成储时峥南残、分辨力蹄低.线胫畸变等沈陷.而旦衍射潸加形状.往往受实验条件缸X光管劝至、时间首蚊、扫描速度及狭密选登等条件的影晌n工作班扫描图3-34%送打插图彩步送和描又称除悌占描.步道扫描工作是不连续的.试样每转动一定的用度、歹即停止.在这期间.探测器等后续设备开始工作T并以定标器记录测定在此期间内衍射绫的总计数.然后试样特动一定用值.重亚测量.流出绪果=图3-34即为某一杳二射峰的毋进扫描图形。步进占描无辨后及平滑效应，所以其衍射峰位正确.分野力好.持别是拓射较强度弱且背底高的岩沉下更显其作用H白子步法法可以在每个口角处延长停留

7、时间,从而获得每步较大的总计数.减小因统计外落对实验握境的影响.5. X射线粉末衍射法物相定性分析过程及注意的问题答：物相分析过程：首先用粉末照相法或粉末衍射仪法获取被测试样物相的衍射花样或图谱。通过对所获衍射图谱或花样的分析和计算，获得各衍射线条的2。、d值及相对强度大小I/I。使用检索手册，查寻物相PDF卡片号。若是多物相分析，则在上一步完成后，对剩余的衍射线重新根据相对强度排序，重复上述步骤，直至全部衍射线能基本得到解释。应注意的问题：(1)般在对试样分析前，应尽可能详细地了解样品的来源、化学成分、工艺状况，仔细观察其外形、颜色等性质，为其物相分析的检索工作提供线索。(2)尽可能地根据试

8、样的各种性能，在许可的条件下将其分离成单一物相后进行衍射分析。(3)由于试样为多物相化合物，为尽可能地避免衍射线的重叠，应提高粉末照相或衍射仪的分辨率。(4)对于数据d值，由于检索主要利用该数据，因此处理时精度要求高，而且在检索时，只允许小数点后第二位才能出现偏差。(5)特别要重视低角度区域的衍射实验数据，因为在低角度区域，衍射所对应d值较大的晶面，不同晶体差别较大，衍射线相互重叠机会较小。(6)在进行多物相混合试样检验时，应耐心细致地进行检索，力求全部数据能合理解释。(7)在物相定性分析过程中，尽可能地与其它的相分析结合起来，互相配合，互相印证。6 .简述现代材料研究的X射线实验方法在材料研

9、究中有哪些主要应用。答：研究晶体材料，X射线衍射方法非常理想非常有效，而对于液体和非晶态物固体，这种方法也能提供许多基本的重要数据。所以X射线衍射法被认为是研究固体最有效的工具。主要应用如下：物相分析； 多晶体点阵常数的精确测定；应力的测定； 晶粒尺寸和点阵畸变的测定； 单晶取向和多晶织构测定。7 .试推导布拉格方程，并对方程中的主要参数范围确定进行讨论。(必考)图3-15面网-反射-x射线的条件如图3-15所示，面网1.33代表晶而符号为(hkl)的一蛆平行面网，面网间即为加人射X射线&C波长为尺)沿着与面网成河角(掠射角)的方向射入.与鸟方向上的散射线满足.光学质面反射”条件(散射

10、线、入射线与原子面温线共面)时，各柜子的散射波格具有相同的位广，干涉结果产生钿强.用郛两原子A和B的散射波光程差为零.相笑面网的“反射线”光程差为入射波长/的整数倍：6=DB+BF=nA即12由in仁口R(3-24)式(3-24)邺为著名的布技格方程=式中口为整数口布技格方程是工射线品体学中最基本的公式之一,它与光学反射定律加在一起.称之为布担将定律,或X射线“反射”定律.式中8角称为布拉洛角或擦射角,又称丛衍射角.而一般实验中所测得的2角则称为桁射比.X射线在晶体中声生衍射，其入射角。、晶面间矩及入射线波长4必须满足布拉格方程.布拉格方程中的整数口称为衍射级数.当口=1时.相邻两晶面的反射战

11、”的光程差为1个波长，称为1级桁射：11=2时，相邻两晶面的“反射线H的光程差为2A,产生2级fii射：相邻网晶面的h反射线”光程差为口才时，产生级衍射,也即工sin0i=AfZd,式0'/2dsinPj=3/2d.，sin外=nA/24对于整数n受到与in可至1的限制tWt由此可见.当工射线的波长K和衍射而"选定后.晶体可能的衍射级数口也就被确定.一组晶面只能在有限由九个方向“反射”X射线,血且，晶体中能产生衍射的晶面数也是有限的.在营规的常时工作中.往往将晶面族(hkl)的n级柘射作为假想晶面族(nh,nk.nl)的一级衍射来考虑.那么.布拉格方程可改写为：2（曲/）si

12、na=A根据晶而指数的定义.指数为(疝,口k,M)的晶面是与(hkl)面平行.面间距为口的尾面族.故布拉恪方程乂可写作：指数(nh,nk,ill)称为衍射指标.可用(HKL)来表示.所以应用衍射指标,布拉格方悭可筒化为工2曲in9=X射线在晶面上的所谓“反射实质上是所有受X射线照射原子(包括表面和晶体内部)的散射畿干涉加强而形成，而且，只有在满足布拉格方程的某些特殊角度下才能“反射、是一种有选择的反射工对于一定面间距"的晶而，由于fiuvwi,因此.只有当乂当2d时才能产生衍射.但是，4/2(K1时，由于犀太小而不易观察或探到到衍射信号,所以，实际酊射分析用的X射线波长与晶体的晶格常

13、数较为接近，讨论如下：(1)布拉格方程描述了“选择反射”的规律。产生“选择反射”的方向是各原子面反射线干涉一致加强的方向，即满足布拉格方程的方向；(2)布拉格方程表达了反射线空间方位(0)与反射晶面间距(d)及入射方位(0)和波长(入)的相互关系；(3)入射线照射各原子面产生的反射线实质是各原子面产生的反射方向上的相干散射线，而被接收记录的样品反射线实质是各原子面反射方向上散射线干涉一致加强的结果，即衍射线；(4)布拉格方程由各原子面散射线干涉条件导出，即视原子面为散射基元，原子面散射是该原子面上各原子散射相互干涉(叠加)的结果。(5)衍射产生的必要条件“选择反射”即反射定律+布拉格方程是衍射

14、产生的必要条件。布拉格方程由原子面反射方向上散射线的干涉(一致)加强条件导出，而各原子面非反射方向上散射线是否可能因干涉(部分)加强从而产生衍射线呢？“选择反射”作为衍射的必要条件，意味着即使满足“选择反射”条件的方向上也不一定有反射线。由于sin01,所以n入/2d=sin01,即n入2d,对于衍射而言，n的最小值为1,所以在任何可观测的衍射角度下，产生衍射的条件为：入2d。这就是说，能够被晶体衍射的电磁波的波长必须小于参加反射的晶面的最小面间距的2倍。同理，必然有d入/2,即：只有那些晶面间距大于入射X射线波长一半的晶面才能发生衍射。思考题:1 .如何提高显微镜分辨本领，电子透镜的分辨本领

15、受哪些条件的限制？答：所谓分辨本领，是指显微镜能分辨的样品上两点间的最小距离。通常，我们以物镜的分辨本领来定义显微镜的分辨本领。确定光学透镜分辨本领d0的公式为d0=0.61入/(nsin)=0,61入/(NA)透镜的分辨本领主要取决于照明束波长入。电子透镜的分辨本领随加速电压的提高而提高。透镜的实际分辨本领除了与衍射效应有关以外，还与透镜的像差有关。对于光学透镜，已经可以采用凸透镜和凹透镜的组合等办法来矫正像差，使之对分辨本领的影响远远小于衍射效应的影响，但是电子透镜只有会聚透镜，没有发散透镜，所以至今还没有找到一种能矫正球差的办法。这样，像差对电子透镜分辨本领的限制就不容忽略了。像差分球差

16、、像散、畸变等，其中，球差是限制电子透镜分辨本领最主要的因素。2 .透射电子显微镜的成像原理是什么？答：它的成像原理与阿贝衍射像原理一样，经过两个过程：物一衍射线一物。阴极灯丝产生的电子经过阳极加速，然后被栅极和聚光镜会聚成一束亮度高、相干性好的电子束斑，电子束斑通过一定的角度入射到晶体样品表面从而得到衍射线，衍射线经过物镜和中间镜，再经过投影镜的多次成倍的放大（总放大倍率为M总="物*M中*M投），将图像投影到荧光屏上。通过调整中间镜的透镜电流，当中间镜的物平面与物镜的背焦面重合时，在荧光屏上出现衍射花样；中间镜的物平面与物镜的像平面重合时，则出现显微像。3 .扫描电子显微镜的工作

17、原理是什么？扫描电镜工作原理扫描发生器答：扫描电镜的成像原理和透射电镜大不相同，它不用什么透镜电子枪来进行放大成像，而是象闭路电视系统那样，逐点逐行扫描成像。图4.S3打推电镰工作原理图4.55是扫描电镜工作原理示意图,由三极电子枪发射出来的电子束.在加速电压作用下，经过23个电子透镜聚焦后,在样品表面按故序逐行法行扫描,激发样品产生各种物理信号,如二次电子、背散射电子、吸收电子、X射线,俄歇电子等.这些物理信号的强度的样品表面特征而变.它内分抗被匕应的收集制接受.经放大器按顶序、戌比例地放大后.送到显像管的撷极上，用来同步地调制显像管的电子束强度，即显像管荧光屏上的亮度.由于供给电子光学系统

18、使电子束偏向的扫描线圈的电源也就是供给阴极射线显像管的扫描线圈的电源,此电源发出的锯齿波信号同时控制两束电子束作同步扫描；因比样品上电子束的位置与显像管荧光屏匕电子束的位置是一一对应的.这样.在长余辉荧光屏上就形成一幅与样品表面特征相对应的画面某种信息图.如二次电子像、背散射电子像等.画面上亮度E勺疏是程,度表示该任息代送弱分布.4 .相对光学显微镜和透射电子显微镜、扫描电镜各有哪些优点?透射电子显微镜，表12元学显微镜与透射电镰的比较比较部分光学显激镜透射电镜光源可见光（日光或电灯光）电子源电子检）照明控制玻璃暴光镜电子襄光镜样本lnuu厚的载装片的IQmu厚的薄膜及其他放大咸豫系统玻璃透镜

19、电子透镜介质空气和玻漏匐度具空像的观囊直接用眼（按目镜）利用荧光屏桑媒方法移动透镜改变线圈电流或电压分辨本领200nm0.2"0.3ruu有效放大倍数10J10*物镜孔径角约70,<1景深较小较大焦长较国较长像的记录照相底板照相底板扫描电镜：（1）目前大多数商品扫描电镜放大倍数为2020000倍，并且连续可调。介于光学显微镜和透射电镜之间。这就使扫描电镜在某种程度上弥补了光学显微镜和透射电镜的不足。（2）扫描电镜以景深大而著名。（3）样品制备简单。5 .为什么透射电镜的样品要求非常薄，而扫描电镜无此要求？答：在透射电镜中，电子束是透过样品成像的，而电子束的穿透能力不大，这就要求

20、要将试样制成很薄的薄膜样品。而扫描电镜是收集的电子束与样品作用后从表面溢出的各种信息。6 .与X射线衍射相比，（尤其透射电镜中的）电子衍射的特点是什么？答：晶体对电子波的衍射现象，与X射线衍射一样，一般简单地用布喇格定律加以描述。当波长为入的单色平面电子波以掠射角。照射到晶面间距为dhki的平行晶面组（hkl）时（图4.21）,若满足布喇格（Bragg）方程2dsin9=n入则在与入射方向成2。角方向上，相邻平行晶面反射波之间的波程差为波长的整数倍，各层晶面的原子的散射在2。方向上具有相同位相，它们因相互加强而产生该晶面组的衍射束。由于入射束A、衍射束S与衍射晶面的法线Nkl在同一平面内，与几

21、何光学上的反射规律相似，所以习惯上常把晶体的衍射说成是满足布喇格条件的晶面对入射束的反射。特点：1）透射电镜常用双聚光镜照明系统，束斑直径为12m,经过双聚光镜的照明束相干性较好。2）透射电镜有三级以上透镜组成的成像系统，借助它可提高电子衍射相机长度。普通电子衍射装置相机长度一般为500mm左右，而透射电镜相机长度可达10005000mm3）可以通过物镜和中间镜的密切配合，进行选区电子衍射，使成像区域和电子衍射区域统一起来，达到样品微区形貌分析和原位晶体学性质测定的目的。7 .选区电子衍射和选区成像的工作原理是什么，这两种工作方式有什么应用意义?简单地说，选区电子衍射借助设置在物镜像平面的选区

22、光栏，可以对产生衍射的样品区域进行选择，并对选区范围的大小加以限制，从而实现形貌观察和电子衍射的微观对应。选区电子衍射的基本原理见图。选区光栏用于挡住光栏孔以外的电子束，只允许光栏孔以内视场所对应的样品微区的成像电子束通过，使得在荧光屏上观察到的电子衍射花样仅来自于选区范围内晶体的贡献。实际上，选区形貌观察和电子衍射花样不能完全对应，也就是说选区衍射存在一定误差，选区域以外样品晶体对衍射花样也有贡献。选区范围不宜太小，否则将带来太0.5加速电压为1000kV时，最小的选区范围大的误差。对于100kV的透射电镜，最小的选区衍射范围约可达0.1jiiuo8 .扫描电镜应用的物理信号主要有哪些？二次

23、电子，背散射电子，吸收电子，X射线，俄歇电子等。9 .扫描透射电镜（STEM）有哪些特点？$丁£,既有透射电子显微镜又有扫描电子显微镜的显微镜。象SEMH样，STEM用电子束在样品的表面扫描，但又象TEM通过电子穿透样品成像。STEM够获得TEM所不能获得的一些关于样品的特殊信息。STEM术要求较高，要非常高的真空度，并且电子学系统比TEMSEMfB要复杂。优点1 .利用扫描透射电子显微镜可以观察较厚的试样和低衬度的试样。2 .利用扫描透射模式时物镜的强激励，可以实现微区衍射。3 .利用后接能量分析器的方法可以分别收集和处理弹性散射和非弹性散射电子。10 .电子探针仪与X射线谱仪从工

24、作原理和应用上有哪些区别？电子探针仪：电子探针（EPMA）利用高速运动的电子经电磁透镜聚焦成直径为微米量级的电子束探针，从试样表面微米量级的微区内激发出X射线再经过WDS分析，从而进行微区成分分析。X射线谱仪：能量色散谱仪（EnergyDisersiveSpectrometer简称能谱仪/EDS）是用X光量子的能量不同来进行元素分析的方法，能谱仪的方框图如图810X光量子由锂漂移硅探测器（Si（Li）detector）图A1能谱仪方框图接受后给出电脉冲信号，由于X光量子的能量不同，产生的脉冲高度（幅度）也不同，经过放大器放大整形后送入多道脉冲高度分析器。在这里，严格区分光量子的能量和数目，每一

25、种元素的X光量子有其特定的能量AE=En1-En2,例如铜KoX光量子能量为8.02keV,铁的KJ光量子的能量为6.40keV,X光量子的数目是用作测量样品中铁元素的相对百分比，即不同能量的X光量子在多道分析器的不同道址出现，然后在X-Y记录仪或显像管上把脉冲数一能量曲线显示出来，这是X光量子的能谱曲线。横坐标是X量子的能量（道址数），纵坐标是对应某个能量的X光量子的数目。区别：SEM追求高分辨本领，用三个透镜的电子光学系统以得到直径为几个纳米，束流足够强的细聚焦的电子。EPMA以成分分析为主，试样室上应放置多个WDS,要求有相当的电子束流激发X射线（电子束粗），并装以光镜以寻找观察范围和精

26、确调整试样的高低位置。所以物镜和试样室要特殊考11 .电子探针X射线显微分析仪有哪些工作模式？一、能谱定性分析；二、能谱定量分析：1、定点定性分析，2、线扫描分析，3、面扫描分析。12 .何为扫描隧道显微镜，它的工作原理是什么？扫描隧道显微镜是一种利用量子理论中的隧道效应探测物质表面结构的仪器。它是用一个极细的尖针，针尖头部为单个原子去接近样品表面，当针尖和样品表面靠得很近，即小于1纳米时，针尖头部的原子和样品表面原子的电子云发生重叠。此时若在针尖和样品之间加上一个偏压，电子便会穿过针尖和样品之间的势垒而形成纳安级10A的隧道电流。通过控制针尖与样品表面间距的恒定，并使针尖沿表面进行精确的三维

27、移动，就可将表面形貌和表面电子态等有关表面信息记录下来。二、扫描隧道显微镜基本原理扫描隧道显微镜的基本原理是利用量子力学理论中的隧道效应。对于经典物理学来说，当一个粒子的动能E低于前方势垒的高度V时，它不可能越过此势垒，即透射系数等于零，粒子将完全被弹回。而按照量子力学的计算，在一般情况下，其透射系数不能等于零，也就是说，粒子可以穿过比它能量更高的势垒，这个现象称为隧道效应。扫描隧道显微镜的基本原理是将原子线度的极细探针和被研究物质的表面作为两个电极，当样品与针尖的距离非常接近（约为1到10nm）时，在外加电场的作用下，电子会穿过两个电极之间的势垒流向另一电极。电流I与两电极的距离S成负指数关

28、系：I8Vexp（KS）其中（2/）Kmhm为自由电子的质量，为有效平均势垒高度，V为针尖与样品间的偏置电压。隧道电流强度对针尖和样品之间的距离有着指数依赖关系，当距离减小0.1nm,隧道电流即增加约一个数量级。因此，根据隧道电流的变化，我们可以得到样品表面微小的高低起伏变化的信息，如果同时对xy方向进行扫描，就可以直接得到三维的样品表面形貌图，这就是扫描隧道显微镜的工作原理。13 .简述差热分析的原理，并画出DTA装置示意图。原理：差热分析是在程序控温下，测量物质和参比物的温度差随时间或温度变化的一种技术。当试样发生任何物理或化学变化时，所释放或吸收的热量使样品温度高于或低于参比物的温度，从

29、而相应地在差热曲线上得到放热或吸热峰。差热分析仪主要由加热炉、温差检测器、温度程序控制仪、讯号放大器、量程控制器、记录仪和气氛控制设备等所组成。1-参比物：2样品；3加热块；4-加热器；5-加热块热电偶;上泳泠联结工T-温度程控I8叁比热电偶19-样品热电偶10-放大器彳L记录仪2.彩码差热分析盘果的校署*试样、操作因素是什么？14 .热分析用的参比物有何性能要求？整个测温范围无热反应，比热与导热性与试样相近，粒度与试样相近。15 .影响差热分析的仪器、试样、操作因素是什么？答：仪器因素（炉子的结构和尺寸、堪期材料和形状、热电偶性能与位置）试样方面的因素（热容量和热导率变化、试样的颗粒度、用量

30、及装填程度、试样的结晶度与纯度、参比物）操作因素（升温速率、炉内压力和气氛）16 .为何DTA仅能进行定性和半定量分析？DS比如何实现定量分析的？答：在DTA分析中试样与参比物之间时常存在着温度差，两者之间存在着热损失、热交换，且测温灵敏度较低，因此难以进行准确的定量分析。DSC技术利用功率补偿法使试样与参比物温度始终保持一致，尽量避免两者之间的热交换和热损失差异，或者利用热流法精确控制仪器的测温灵敏度，从而达到准确的定量分析目的。17 .阐述DSC技术的原理和特点。示差扫描量热法是在程序控制温度下，测量输入到试样和参比物的功率差与温度之间关系的一种技术。原理：示差扫描量热法对试样产生的热效应

31、能及时得到相应补偿，使得试样与参比物之间无温差，无热交换；而且试样升温速率始终跟随炉温呈线性升温，保证补偿校正系数K值恒定。因此，不仅使测量灵敏度和精密度都大大提高，而且能进行热量的定量分析。特点：使用的温度范围较宽、分辨能力高和灵敏度高，在测试的温度范围内除了不能测量腐蚀性物质外，示差扫描量热法不仅可以替代差热分析仪，还可以定量的测定各种热力学参数，所以在科学领域中获得广泛应用。18 .简述DTADSC分析样品要求和结果分析方法。对样品的要求：样品用量：通常用量不宜过多，因为过多会使样品内部传热慢、温度梯度大，导致峰形扩大和分辨率下降。样品用量以少为原则，一般用量最多至毫克。样品用量0.51

32、0mg。样品粒度：粒度的影响比较复杂。大颗粒和细颗粒均能使熔融温度和熔融热焰偏低。样品颗粒越大，峰形趋于扁而宽。反之，颗粒越小，热效应温度偏低，峰形变小。颗粒度要求：100目-300目（0.04-.15mm）样品的几何形状：增大试样与试样盘的接触面积，减少试样的厚度，可获得比较精确的峰温值。样品的结晶度、纯度和离子取代：结晶度好，峰形尖锐；结晶度不好，峰面积小。纯度、离子取代同样会影响DTA曲线。样品的装填：装填要求薄而均匀，试样和参比物的装填情况一致。结果分析方法：根据峰温、形状和峰数目定性表征和鉴别物质。方法：将实测样品DTA曲线与各种化合物的标准（参考）DTA曲线对照。根据峰面积定量分析，因为峰面积反映了物质的热效应（热焰），可用来定量计算参与反应的物质的量或测定热化学参数。借助标准物质，可以说明曲线的面积与化学反应、转变、聚合、熔化等热效应的关系。在DTA曲线中，吸热效应用谷来表示，放热效应用峰来表示；在DSCa线中，吸热效应用凸起正向的峰表示（热焰增加），放热效应用凹下的谷表示（热烙减少）。19 .简述热