测量系统分析作业指导.

1、天津开发区精锐精密模具有限公司/ JING RUI PRECISION MOULD分发/DISTRIBUTION 拷贝/COPY :体系管理程序MANAGEMENT SYSTEM PROCEDUREISO/TS16949质量管理体系/ ISO/TS16949 QMS页码/PAGE 8 OF 8发行日期/ISSUE DATE 2010年05 月01日程序标题PROCEDURE TITLE :测量系统分析作业指导起草人/ PREPARED BY Betty_gao批准人/ APPROVED BY Aimin_Zhang文件编号DOCUMENT NO :WI-QA-11版本号/REV NO :B1.

2、0 目的/OBJECTIVE对测量系统变差进行分析评价，以确定测量系统是否满足规定要求。2.0 范围/SCOPE适用于本公司控制计划中列出的所有检测设备/计量器具的统计变差的分析研究。3.0参考文件/REFERENCES无4.0 定义/DEFINITIONS7.1 量具:任一用来测量产品特性之仪器。7.2 测量系统:用来对被测特性赋值的操作、程序、量具、设备、软作以及操作人员的集合，用来获得测量结果的整个过程。7.3 偏倚:指测量结果的观测平均值与基准值的差值。7.4 重复性:指一测量设备由同一作业者，经多次测量同一零件的同一特性时获得的测量值的变差。7.5 再现性:指一测量设备由不同的作业者

3、，测量同一零件的同一特性时测量平均值的变差。7.6稳定性：是测量系统在某持续时间内测量同一基准或零件的单一特性值时获得的测量值总变差。7.7线性：是在量具预期的工作范围内，偏倚值的差值。6.0职责/RESPONSIBILITY6.1 品质部：负责制定测量系统分析计划(MSA)并实施测量系统分析。6.2 各使用部门负责使用过程中仪器的保养、维护。 7.0 程序/PROCEDURE7.1 测量系统分析范围对控制计划中规定的测量系统进行分析，也包括更新的量具。7.2 测量系统分析的频率、计划7.2.1测量系统分析的频率一般为一年一次。7.2.2品质部负责制定测量系统分析计划，经总经理批准后，进行实施

4、。7.2.3新产品开发过程中根据试产控制计划，由品质部组织实施测量系统分析。7.3测量仪器、测量人员、测量样品的选择7.7.1测量仪器的选择使用测量仪器的精度，必须为被测物公差的1/10以上。2）、测量仪器必须校验合格。3）、测量仪器的读数，其最小刻度最小必须读至精度的1/2，以避免测量仪器的签别能力不足。 7.7.2测量人员选择1） 随机选取几个使用测量仪器的作业者，这样可以让我们评估测量器具对不同作业员的敏感度。2） 测量器具作业员必须培训且经考核合格。7.7.3测量零件的选择测量零件必须从生产或检验过程中随机取样，并考虑尽可能代表实际生产中存在的所有产品变差。7.4使用时机7.4.1初期

5、产品开发时，若客户要求时，必须使用测量系统分析作业研究及记录，若发生不合格时应追查原因，对开发品进行改善。7.4.2新购入的仪器，必须使用测量系统分析研究及记录，若发生不合格时应查原因，并随即对已测量的产品追溯全检。7.4.3 AV 或EV 分析结果大于15% 时应采取措施。 7.5计量型量具重复性和再现性分析7.5.1随机抽取10个零件，确定某一尺寸/特性做为评价样本。7.5.2 对零件进行编号1-10，编号应覆盖且不被作业者知道某一零件具体编号，作业者分为A、B、C三者。7.5.3重复性测量：让作业者A以随机顺序测量10个零件，并由另一个观测者填入测量数据。7.5.4再现性测量：让作业者B

6、和C测量这10个零件并互相不看对方的数据，将测量结果分别记录。7.5.5使用不同的随机测量顺序重复上述操作过，将结果记录。 7.5.6依量具重复性及再现性数据表及量具重复性及再现性报告内规定公式计算。计算得出该测量系统的重复性和再现性%RR，并按通用经验规则判定该测量系统是否可接受。7.5.7如重复性（EV）变异值大于再现性（AV）时，原因可能是：1） 量具需要维护；2） 增强量具的设计结构；3） 夹具和检验点需要改进；4） 存在过大的零件内变差。7.5.8如再现性（AV）变异值大于重复性（EV）时，可能原因是：1） 修订作业标准，加强对操作人员的操作技能培训；2） 量具的校验不完整及仪表盘的

7、校准刻度需加明确标示；3） 需要某种夹具帮助作业者提高使用量具的一致性；量具校准后再进行测量系统分析。7.5.9适用性评价1） %R&R误差在10%以下表示测量系统可接受；2) %R&R误差在10%-30%表示测量系统视情况接受（依其应用的重要性、量具成本、维修的费用而定）。3) %R&R误差超过30%表示测量系统不符合要求，计量人员应及时进行原因分析，并按纠正和预防措施程序提出纠正措施，限期整改、验证和重新进行分析，直至符合要求。并通知客户知悉协调处理对策，包括产品是否再加工使用或重新再测试。按评价结果应提出 "继续使用"、''局部

8、调整"、"暂停使用"、"报废"的结论；作出"测量系统分析报告"，连同分析数据表、重复性和再现性报告、控制图等资料送技术部，由技术部经理根据报告内容进行审批。6.4不可重复计量型测量系统（均值和极差法）6.4.1准备工作a)样本：选择一个大而均匀的样品（大于30件样本），并将它分开；b)操作人员：专业从事测量的人员1名；c)已校准合格的量具。6.4.2 收集数据-按规定间距，从较大的样本中随意挑选一些较小的（如N=5），并测量件较小样本，在X()R图上标出测量。6.4.3 分析 查找X()R图中有无不稳定迹象：有不接受；无接受

9、。6.5 计数型测量系统（小样法）6.5.1准备工作a)样本：选取20件样本，其中应含有不合格品；b)操作人员：同4.3.1b条款；c)同4.3.1c条款。6.5.2分析a)三人评价必须一致：接受；b)三人评价不一致：不接受。2.2.4 计量型检测设备位置误差的分析方法采用：偏倚、稳定性、线性。2.2.4.1偏倚A. 偏倚的独立样件法 取得一个样件，计量室对其进行精密测量（或全尺寸测量）确定为参考值。如果不能得到样件则选择一件落在生产测量范围中间的中限生产件作为偏倚分析的基准件。该零件测量次数n10次，计算平均值，该平均值视为参考值。 让一个评价人以正常方式测量样件n10次。 计算读数的平均值

10、XX /n偏倚平均值X基准值X 偏倚占过程变差%偏倚100偏倚/过程变差 偏倚占公差%偏倚%100偏倚/公差B. 偏倚的控制图法 同上所述取得参考值 从控制图上获得平均值 偏倚 基准值X过程变差6极差偏倚100偏倚/过程变差如果0落在偏倚值附近得1-自信度界限内，则偏倚在0.05（95置信度）水准上是可接受的。如果偏倚在统计上明显异于0，可能存在的原因： 基准件或参考值有误，检查确定基准件的程序 检测设备磨损。主要会在稳定性分析呈现出来，应制定维护或重新修理的计划； 制造的检测设备尺寸不对； 检测设备测量了错误的特性；检测设备标准不当。复查校准方法；评价人使用检测设备的方法不正确，对测量指导书

11、进行评审。检测设备修正计算不正确。2.2.4.2稳定性的控制图法 取得一样件并建立其可追溯到相关标准的参考值。如果无法取得这样的样件，则选择一件落在生产测量范围中间的生产零件，指定它为基准样件以进行稳定性分析。跟踪测量系统稳定性时，不要求该已知的参考值。如果有可能拥有位于预期测量结果的下限、上限和中间位置的基准件，推荐对每种基准件单独的进行测量和画控制图。 每天（或每周）测量基准件3-5次，应该在一天的不同时间内取得多次读值 ,以代表测量系统的实际使用情况。 样本容量和抽样频率应根据测量系统的特性，如对环境的敏感程度、重新校准或维修的频率、使用频率等因素确定。 建立控制限，使用控制图分析法来评

12、价是否有不受控或不稳定的情况。2.2.4.3线性 由于存在过程变差，选择5个零件，使测量值要涵盖这测量设备整个工作量程。对每个零件进行全尺寸测量，确定其参考值。 让经常使用该检测设备的操作者之一测量每个零件15次。按随机的顺序选择零件，减小评价人对测量中偏倚的“记忆”。计算每个零件平均值和偏倚平均值、回归直线、拟合优度R2、%线性。偏倚平均值零件平均值基准值   回归直线bax拟合优度R2(xyxy/n)2÷x2(x)2/ny2(y)2/n%线性100线性/过程变差 根据作出的线性图分析测量系统线性的可接受性。7.6计数型量具测量系统分析7.6.1将作业者分为A、

13、B两者，应选择原使用测量器具的作业者。7.6.2选取20个样品，样品中可适当选择适量的不合格件（稍许低于或高于规范限值的样品）。7.6.3应防止作业者之间存在测试方法的偏差。7.6.4每位作业者各将每个零件测量两次，测量结果记录于“计数型量具小样分析表”。7.6.5若所有测量判定结果均一致，则接受该量具；否则应改善或重新评价该量具，该量具不能改善，则应拒收并寻求替代的测量系统。4·5·3 计量室将技术部经理批准为"暂停使用"、"局部调整"的测量设备进行修理或校验，合格后重新投入使用。如不合格，可再次校验，仍不合格，则作报废处理。 4·5·4 对于测量试验中评价人造成的测量系统问题，计量员应建议资财部门对其重新培训，然后考核培训有效性，并在资财部登记。参阅培训控制程序。 4·6 对于未列入测量系统分析的计量器具和检测设备，其保养、管理与校准检定均按监视和测量装置控制程序执行，测量系统分析不能替代计量器具的正常校准检定。7.7记录管理7.7.