风险系数RPN与制程能力指数CPK

1、风险系数风险系数RPNRPN与制程能力指数与制程能力指数CPKCPK 1FMEA 是一种统计工具： 控制工具： 设计控制 / 生产控制 / 过程控制 风险性分析工具 管理工具：识别和评估潜在的失效模式及其影响， 确定能够消除或减少潜在的失效发生的改善措施。 2FMEA 可帮助我们量化确认： 哪一种失效会发生？ Failure mode 发生后会造成什么影响？ Effect 其影响的严重性有多大？ Severity 是哪一种原因导致失效？ Cause 失效发生概率？ Occurrence 当前工序控制方法？ Current Process Control Plan 检测失效的能力？ Detect

2、ion 风险优先指数？ Risk Priority Number (RPN) 改善方案？ Recommended action RPN风险优先系数=严重度S * 发生度O * 探测度D 这个值从0-1000范围。华为的RPN系数定为40，BYD的RPN系数定为80，电子行业一般水平定为100。FMEA FMEA 说明说明附表附表1 1：潜在失效模式等级表：潜在失效模式等级表附表附表2 2 ：评估其发生的严重度：评估其发生的严重度S S附表附表3 3 ：评估其发生的可能性：评估其发生的可能性O O附表附表5 5：FMEA FMEA 失效模式与效应分析表例失效模式与效应分析表例制程能力的评价(Cp

3、k)1.何谓制程能力:所谓制程能力就是一个制程在固定的生产因素及稳定控制之下的品质能力。2.制程能力评价(Cpk):在生产过程中,各制程往往随着生产因素之变动而有所变异,而不能到达我们理想之制程能力,所以我们必须对各工程品质定期或不定期加以评价。 Ca (Capability of accuracy 制程准确度) Ca=X - /T*2*100% T=规格上限(USL)-规格下限(LSL) Cp (Capability of precision 制程精密度) Cp=(USL-LSL)/ 6 Cpk制程能力指数 Cpk =(1-Ca)*Cp Cpk = minUSL-X / 3,X-LSL /

4、3SPCSPC统计过程控制之制程能力指数统计过程控制之制程能力指数CPKCPK 控制上限(Upper Control Limit),简称UCL控制下限(Lower Control Limit),简称LCL规格上限(Upper Specification Limit),简称USL规格下限(Lower Specification Limit),简称LSL 集中趋势(精度) 总体平均值 =(X1+X2+Xn) / n 样本平均值X=(X1+X2+Xn) / n 离散趋势(准度) 总体标准差() = (Xi-) / (n) 样本标准差(S)= ( (Xi-X) / (n-1) 极差(R) =MAX值-

5、MIN值统计符号的认识与定义统计符号的认识与定义CpkCpk与制程优劣与制程优劣等级Cpk值Yield99.99%99.73%y99.99%97.65%y99.73%97.65%等级评定后处置原则此工程甚为稳定,可以将规格容差缩小或胜任更精密的工作.有发生不良品的危险,必须加以注意,并设法维持检讨规格和作业标准应针对所有可能影响的因素作检讨,必要时得停不要使其变坏,及迅速追查.C级B级D级Cpk1.331.0Cpk1.330.83Cpk1.0样本容量（面积或长度）不等计算量大，管理界限凹凸不平U单位缺陷数控制图样本容量（面积或长度）相等较常用，计算简单，操作工人易于理解，使用简便C缺陷数控制图

6、样本容量可以不等计算量大，管理界限凹凸不平p不合格品率控制图样本容量相等较常用，计算简单，操作工人易于理解pn不合格品数控制图计数值控制图因各种原因（时间费用等）每次只能得到一个数据或希望尽快发现并消除异常原因简便省事，并能及时判断工序是否处于稳定状态。缺点是不易发现工序分布中心的变化。XRs单值移动极差控制图一张图可同时控制均值和方差，计算简单，使用方便LS两极控制图计算简便，但效果较差些，便于现场使用中位数极差控制图适用于产品批量较大而且稳定正常的工序。最常用，判断工序是否异常的效果好，但计算工作量大均值极差控制图计量值控制图适用场合特 点管理图符号名称类别RX RX 表表1 1 控制图种

7、类及适用场合控制图种类及适用场合ni第i样本的样本容量（各样本样本容量可以不等）计算各组不合格品率pi计算各样本的平均缺陷数各样本样本容量不等计算各样本的单位缺陷数uiU图 P 图 n为奇数时，第i样本中按大小顺序排列起的数据列中间位置的数据 n为偶数时，第I样本 中按大小顺序排列起的数据列中中间位置的两个数据的平均值（1）找出或计算出各样本的中位数（2）计算各样本极差Ri 图xij第I样本中的第j个数据i1,2k; j=1,2n;max(xij)第i样本中最大值；min(xij)第i样本中最大值。（1）计算各样本平均值（2）计算各样本极差Ri 图ci第i样本的缺陷数（各样本样本容量相等）C图（pn)i第i样本的不合格品数（各样本样本容量皆为n）计算平均不合格品率Pn图计算移动极差RsiXRs图 （1）找出各组最大值Li和最小值Si（2）计算最大值平均值 和最小值平均值（3）计算平均极差（4）计算范围中值MLS图备 注计 算 公 式步 骤图名称RX RX iXijijinjijixxRxnxminmax11ijijininiinijxxRnxxxnxxminmax2121221为偶数为奇数211minmax11SLMSLRSkSLkLxSxLkiikiiijiiji1iisi