电介质实验指导书

1、-. z电介质物理实验指导书目目 录录实验一 电解电容漏电流及容量与耗损角正切的温度特性测试 1一、 实验目的 1二、 实验仪器 1三、 实验原理 1四、实验步骤 2五、实验要求 3实验二 电介质材料击穿测试与分析 4一、实验目的 4二实验仪器 4三实验原理 4四实验方法 4五根本实验步骤 5六. 考前须知 6实验三 电介质材料介电系数和损耗角正切的频率特性测试 7一、实验目的 7二、实验仪器 7三、实验原理 7四、实验步骤 9五、实验要求 9实验四 电介质介电常数和损耗角正切的温度特性测试 11一、实验目的 11二、实验原理 11三、实验仪器和材料 14四、实验步骤 14五、实验要求 15实

2、验五 电介质导电特性测试 16一、实验目的 16二、实验仪器 16三、实验要求 16-. z实验一电解电容漏电流及容量与耗损角正切的温度特性测试实验一电解电容漏电流及容量与耗损角正切的温度特性测试预习报告一、一、 实验目的实验目的 1、掌握大容量电解电容器的测量方法。 2、掌握电解电容漏电流的测量方法 3、学习本实验所用仪器的使用和工作原理。 4、了解电解电容器的容量、耗损角正切随温度的变化特征。二、二、 实验仪器实验仪器 1、YY2617 大电容数字测量仪 2、DF2686 电解电容泄漏电流测试仪 3、电解电容量4700F 。三、三、 实验原理实验原理图 1 大容量测试仪工作原理图电解电容器

3、的部构造与其他类型的电容器相比有明显的不同，其阳极是生成氧化膜的金属，而这层极薄的氧化膜是电解电容的介质，而另一极则并非金属，而是所谓的“电解质 ，它可以为液体，也可以是糊状，凝胶或固体。此种构造特征决定了这类电容器的性能有其独特之处体积小，电容量大，在电子线路中占有重要地位。但也要成认正是这种特性的构造，使它的漏电流极大，可达 1mA 以上，相应的绝缘电阻缺乏 1M，因此损耗角的正切较大，而且电容量的稳定性差，具体表现之一为损耗角正切和容量随温度的变化而变化，所以在使用上受到一定的限制，只有了解和掌握了这些特点，才能进一步改良和开展电解电容器。-. z本实验所要测量的是电解电容器的漏电流随温

4、度的变化。电解电容器的容量、损耗是由YY2617 大电容数字测量仪测量。YY2617 大电容数字测量仪的测量方法为电流电压法，可以同时测量电容器的等效串联电路的容量和损耗。当恒定的电流流经被测电容器 C*和等效串联电阻R*时，产生的电压降经放大检波器检波后，容量指示由虚数局部的倒数经由显示。当LED213工作于分选态时，由相应的门限设定原件及电压比拟器完成，其结果由 LED 分别示出。文氏桥振荡器产生的交流信号经功率放大后，通过恒流电阻 R0产生稳恒电流，在其被测电容器 C*和等效串联电阻 R*上的电也降经放大器放大后分别送至检波器和乘法器，检波器的参考信号由信号源放大整形后获得，检波器其输出

5、为被测电容器的实数局部，放大器 K2和 C1、R1组成 90。移相电路，其输出至乘法器 M1，乘法器 M1的输出为 A/D 变换器的基准电压，分别送入两个 A/D 变换器由显LED213示出容量值和损耗值。漏电流可直接从 DF2686 电解电容泄漏电流测试仪上读出测量原理如图二所示，仪表上的读即为该电容器的漏电流。四、实验要求四、实验要求1、测量不同电压的漏电流，列表并做出曲线；VIx2、 测量不同温度下的、，列表并做出，曲线；xCtanTCxTtan3、 分析数据，完成实验报告。实验报告一、实验步骤一、实验步骤1.漏电流的测量1首先检查漏电流测试仪与测试架接线是否正确：测试架的三根接线红、黑

6、、灰按照由左至右的顺序，依次接到 DF2686 电解电容泄漏电流测试仪上。即测试架的红线接左边的红接线柱，测试架的黑线接中间的黑接线柱，试架的灰线接右边的红接线柱；2检查各个旋钮的位置电压调节钮应置于零位置，自动/手动选择置于手动，电流量程置于最大，电流调节置于中间位置；3以上检查均正确前方可接通电源，充电电压依次选择 0，5，10，50V，选择电压后，将被测电容器插入测试架的充电位置，即可对电容器充电，30s 前方再将被测电容器插入测试架的测试位置，测量漏电流，逐渐减小电流量程，两分钟后在电流表上读出相应的电容器图 2-. z漏电流 ，一旦测试完将被测电容器插入测试架的放电位置，两分钟后进展

7、下一次测量，记xI录所测的电压与对应的漏电流。2、电解电容器的容量,损耗角正切测量1首先 YY2617 大容量测试仪与测试架接线是否正确：测试架有三组接线红、兰、黑。测试架的两根红线接分别接到 VH、IH线柱，两根兰线接分别接到 VL、IL线柱，测试架的黑线接地。将夹具盒接线柱按注明符号插入仪器相应的插孔；2接上 YY2617 电源，翻开电源开关，指示灯亮，选择恰当的量程，预热 10 分钟前方可进展；3翻开直流电源,电炉通电，对待测样品加热；4利用温度计测量待测样品温度 T 的变化，同时记录在不同温度下的、tg 的具体数xC据本实验从 30开场测量，直到 100为止，每隔 5记录一组数据，YY

8、2617 大容量测试仪的读数 D 为 。tan5关闭直流电源及 YY2617 大容量测试仪的电源开关，实验完毕。二、实验数据及分析二、实验数据及分析实验二实验二 电介质材料击穿测试与分析电介质材料击穿测试与分析预习报告一、实验目的一、实验目的1. 掌握耐压测试仪的使用方法；2. 电子元件、介质材料的耐压和击穿实验的根本方法。二实验仪器二实验仪器CY2671 万能击穿装置，介质测量夹具，纸介或其它介质材料。三实验原理三实验原理通常情况下介质材料是绝缘体，其中总是回含少量的杂质或缺陷，这些杂质或缺陷平常释放的电子很少，当外界的所加的电场较小时，电介质的电子电流很微弱，保持其绝缘性。而当所加电场很强

9、且超过*一临界值时，这些少量的电子被加速，一较大的能量动能形式撞击介质中比的电子或离子，使其离化出电子，被离化出的电子被加速，又去撞击别的电子或离子，进一步离化出新的电子，形成雪崩效应，使电介质中的电流急剧 增大，这即是电介质击穿的大致形式。击穿实验是在一定条件下逐步提高加在式样上的电压，直到式样发生击穿破坏了为止，实验手段，根据实验测得击穿电压对元件或击穿场强对材料 ，作为研究介质材料性能，评定其性能的重要参数，也是对元件构造设计的重要依据。击穿一般分为直流电压击穿和交流电压击穿两种，每种又以三种升压法进展：连续升压法，逐级升压法和温度升压法。-. z连续升压法：按一定的升压速度连续调节加在

10、样品上的电压直到样品击穿为止。连续升值法：先一连续升压法的速度连续调节加到式样上的击穿电压数值的 50%，然后分级每隔一分钟升压一次升压速度尽可能快，不超过 10S ，升压值为标称电压的 10%，直到击穿为止，最后一级电压称为击穿电压。慢速升压法：是以连续升压速度调节加在样品上的电压直到标称电压的 50%，然后以慢速升压仍为匀速直到击穿。同一种介质材料，交流电压下测得的击穿电压较低，直流电压下所测得的击穿电压较高，脉冲电压下所测得的击穿电压最高。同一种介质，以连续升压，逐级加压和慢速升压法分别测得击穿电压依次降低。由于击穿为破坏性实验，故我们只对介质材料进展测试。四实验方法四实验方法1 连续均

11、匀升压法升压速度：样品击穿电压kv升压速度kv/s202.02逐级升压法升压速度：样品击穿电压kv每级升压值kv25126502511005100103慢速升压法升压速度：样品击穿电压kv升压速度v/s25172650335110083100167-. z二：每种介质直流和交流电压下各测四次取平均值，参考击穿电压数值：三：介质材料的击穿场强 Evn=U/DV/M ，D 为介质厚度，线介质 D=0.02mm，涤纶介质D=0.04mm，试计算交流电压下逐渐升压法所测得平均场强。四：对实验中出现的问题进展分析，完成实验报告实验报告实验报告一根本实验步骤一根本实验步骤1.将带手枪插头的测试线插入平安门

12、的插孔交流输出在左，直流在右2.测试线端鳄鱼头和地线端分别接到测试样品的夹具两端，如下图。3.关好平安门，翻开电源至通位置，绿色指示灯亮。4.预热十五分钟后，将测试 1 校准拨动开关至“校准电压表指向满刻度，电流表应指向“1MA附近处，可用小螺丝刀调节“电流“电压字样孔的电位器使之满足。5.测试 1 校准向“测试确认样品已放入夹具。6.“漏电流选择， “漏电围分别为“1ma和“1ma量程至适当位置。7.“输出电压调节逆时针使劲旋到头，可听到继电器合匝声，随之绿灯熄灭，红灯发亮，表示可以施加高压。8.调节“输出电压调节顺时针旋转，即有高压输出，并可在电压表中读出所加高压的数值。考前须知：1、每测

13、一次要换一下电容纸的位置，防止测量不准。2、在进展耐压实验时，假设到达预定电流值这为击穿电压。二、实验数据及分析二、实验数据及分析实验三实验三 电介质材料介电系数和损耗角正切的频率特性测试电介质材料介电系数和损耗角正切的频率特性测试预习报告一、实验目的一、实验目的1、 掌握高频 Q 表仪器的使用方法及工作原理。2、 掌握介质材料的介电系数和损耗角随频率变化的特征。二、实验仪器二、实验仪器高频 Q 表(QBG-3B)、标准电感、测试夹具、待测样品。直流(v)交流v纸介400340涤纶介5001700-. z三、实验原理三、实验原理用来制造电容器的介质材料很多，有无机介质材料和有机介质材料之分，介

14、电系数和耗损角正切是介质材料的两个重要系数，也是衡量其他电容性能的根本尺度，并直接影响到产品的质量。因此，了解介质材料的性能对进一步研究新材料、新工艺，对电容的开展具有实际的意义。测量介质材料的介电系数通常是将该材料做成试样，测量其电容量，然后经过计算得到 和 tg 的值，从电介质物理可知，一定形状和大小的试样，其电容量与材料的介电系数成正比。介质材料的介电系数可用填充介质材料的电容量与同样尺寸的真空介质材料的电容量C0之比来表示，即 =C/C0对平板试样，电介质材料的介电系数可由公式求得： 其中平板试样电容C C的单位为 pF F，A A的单位为，h h的单位为m m。对于式样是圆形平板时，

15、则：4/2DA 12144. 0DhC 上面的计算公式均未考虑电极边缘电场的畸变效应，否则需要修正。另外，电场作用下的电介质并不是纯电容，它存在着等效的电阻，即存在着介电损耗，等效为损耗电阻。在交变电场作用下，通过介质的电流矢量之间有一定夹角，正如实验一所提到的此角即为介质损耗角。 愈大，损耗分量愈大，即电容器或介质材料的损耗大，通常用介质损耗角 的正切 tg 来表示。 本实验利用高频 Q 表测量试样的电容量。测试原理图如右图所示：将被测电容器或介质材料式样并联与标准可调谐电容器上。当不接式样时，选择适当频率，接入相应的标准线圈，改变调谐电容，使回路发生谐振，此时调谐电容为 C1，Q 值读数为

16、 Q1；接入式样时，减小调谐电容，使回路重新恢复谐振，此时调谐电容为 C2，Q 值为 Q2。因为：, LC211LLRCRRCQ10211)(1 而 , LCCx221)(122sLxRRCCQ 则 LCCCx2211所以 21CCCx-. z式中 可从图所示等值变换计算确定。sR因为 )(1112xQsCCjRCjR即 QsxxxCjRRCCjR1)(12则 QssxxxxxCjRRCCRCCjR1)(1)(222222根据实部相等，得 2221221221221111CRCRCRCRCCxxxxQ所以 xQCCCC21而 xsLRCQRCRCQ11112111则 121111QQCCRCx

17、xx所以 2)()(112121211121CCQQQQCQQCCtgxx实验时将一个标准电容与被测样品并联，固定发生器频率，分别在接入样品和不接样品的两种情况，改变电容器的数值使之发生谐振，两次测量的容量差值就是待测电容也就是公xC式1中的 C。设第一次不接时谐振电容为，谐振频率，第二次插入改变谐振xC1C1fxC电容器的电容，谐振频率仍为，使电路从新起振此时电容值为由于不变，所以1f2C1f。21CCCx四、实验要求四、实验要求1、测量不同波段的频率f、，、； 1C2C1Q2Q-. z2、计算不同频率f的、，列表并做出、曲线；tanfftan3、分析数据，完成实验报告。注意：1、调节振荡频

18、率和电容量时，特别注意当刻度调整到最大或最小时，不要用力继续再调。2、手不得靠近测试件，以免人体感应造成测量误差。实验报告一、实验步骤一、实验步骤1 翻开高频 Q 表电源，预热 30 分钟以前方能进展测量；2 短接的两端，对 Q 表调零；xL3 选择一适当电感接到 L*两端； 4 将微调电容器调至零，主调电容器调到较大的容量，令这个电容值为，假设未知电1C容数值较小，调到较小的电容值附近；1C 5 调节信号源的频率f，使测试回路谐振，也就是 Q 到达最大值，记录频率f，此时的Q记为Q1；6 将被测电容接在的两端，保持f 不便，重复步骤 3 调节，此时的 Q记为Q2；xC7 利用公式1 、公式2

19、 ，计算频率f时的C*，tan；8 改变标准电感线圈根据 L 的值对照选择测试频率重复步骤 1，2，3，4， ，如此反复对每个波段测量一组值共测六组 。二、实验数据及分析二、实验数据及分析实验四实验四 电介质介电常数和损耗角正切的温度特性测试电介质介电常数和损耗角正切的温度特性测试实验报告一、实验目的一、实验目的1、 了解有机、无机电介质材料的，随温度的变化规律。tan2、 掌握用RLC测试材料电容C和的方法。tan-. z3、 研究介质材料的和随温度变化的特性。tan二、实验原理二、实验原理介电常数和介质损耗角正切是电容器和电介质材料特性的两个重要参数，正确测tan量和及其温度特性具有重要意

20、义；同时通过测量这些参数来提醒材料部的构造和机理，tan对研究新材料也有重要意义。测量介电材料的介电系数，通常是将该材料做成电容式样，测量其电容值，然后经过计算而确定。从电介质物理可知：一定形状和大小的式样，其电容量与材料的相对介电常数成正比，介电材料的相对介电常数可以用填充介质材料的电容量与同样尺寸的真空电容器的电容量C或称几何电容之比值来表示，即：0C对于平板式样，其几何电容为0C式中 式样的面积 ；A2m式样的厚度 ；Hm真空介电系数 ；0mF /由于 )/(1085. 8109411290mF因此，平板式样的相对介电系数为：假设平板式样的电容为批 pF，上式变为C对于式样是圆形平板时，

21、则4/2DA式中 式样电极的直径 ，其余符号意义同上。Dm对于园环试样，4/2221DDA、分别对应于园环的外直径与径 。1D2Dm对于管形试样，同样可以推出相应的计算公式式中 电极的长度 ；Lm、分别对应于园管的外直径与径 ； 1D2Dm管形式样的电容量CpF上面的计算公式均未考虑电极边缘电场的畸变效应。假设考虑这些边缘效应，必须对计算公式作出修正。-. z在电场作用下，电容器或电介质材料总要消耗一定的功率，也就是说，电容器或者由电介质材料作为电容试样并不是纯电容，它存在着等效的损耗电阻。因此，有损耗的电容器和介质材料试样，可用并联等值电路或串联等值电路来表示，如图 1 所示。当在交流电场作

22、用下，通过电容器或介质材料的电流或两端的电压矢量和容性电流或容性电压矢量之间有一夹角 ，通常把此角称为介质损耗角。从图中可以看出： 愈大，损耗分量愈大，即电容器或介质材料的损耗大，通常用介质损耗角 的正切 tg 来表示。显然，对于并联:对于串联: ssssRCCIIRtg/它们都等于有功功率与无功功率的比值。电容器或介质材料试样的损耗电功率为:或者 xxssssstgtgCURCRURIP222222211这里必须指出的是：所谓等效电路是指对外电路等效的，也就是指而言的。因此，tan在计算时，并联等值电路和串联等值电路均可以应用，而且结果是一样的。但是并联电tan容并不等于串联电容。作为电容器

23、电解电容器除外或介质材料的损耗都很小，一般均采用并联等效电容来表征电容器或介质材料试样的电容，这样更直观反映电容器或介质材料的实际情况。因此，在计算样品的 时，必须用并联等值电容来计算。如果测得的是串联等值电容Cs，必须换算成并联等值电容 C*。并联等值电容 C*与串联等值电容很容易推得下面关系:如果 tg*0.1 时，则 tg2*0.01，可以近似认为 C*Cs，其结果所造成的误差不大于1%。 为了衡量电容器的电容量对温度的稳定性，人们引入了电容器温度系数这一概念，电容器温度系数定义为：即温度变化一度时，电容量的相对变化率。由上式可以看到，影响电容器电容量的温度稳定性的因素除与金属电极、极板距离有关外，主要取决于电容器所用的电介质材料。上式第一项与电容温度系数的定义具有一样的形式，所以定义温度变化一度时，介电系数的相dTdrr1对变化率为介电系数的温度系数。即：本实验通过确定不同温度下被测介质材料试样的，计算出各个温度下的，并计算、xCxa。tana三、实验仪器和材料三、实验仪器和材料1、 仪器：LCRLCR测试仪LCR-815B ，直流电源SS1792 ，电炉，温度计，测试夹具。2、 材料：皮革、纸、瓷等。-. z四、实验要求四、实验要求1、测量电极的几何尺寸、实验样品的厚度并列表；a)根据测量的计算出相应的温度下的，列表并做出，曲线； xCxTxTtanb)根据，曲线，求出