ICT 培训资料

1、ICT 培训资料一一.ICT的根本认识的根本认识 v 1. ICT即在线测试仪In Circuit Tester,是一大堆高级电表的组合。但它能对在线电路板上的元件测试进行有效的隔v 离(Guarding),而万用表那么不能.所以,万用表能测的它也能测,万v 用表不能测的,它可能能测.v 2. ICT能测:Open/Short;R;C;L;D;Q;IC等. v 3. ICT与ATE的区别: ICT只作静态测试,而ATE那么作动态测试.即ICT对被测板不通电,而ATE要对被测板通电才能测试,二二ICT的测试原理的测试原理 当Rx有旁路R1)时， Ix=Is-I1Is 故：Vx/IsRx此时取A

2、点电位Va, 送至C 点, 令Vc=Va, 那么： I1=(Va-Vc)/R1=0, Is=Ix 从而： Vx/Is=Rx如图:1. Guarding(隔离隔离)的实现的实现： 2. 量测电阻R： (1).单个R(mode D1,D2): 直流定电流源: 利用Vx=IsRx欧姆定律， 那么Rx=Vx/Is. 信号源Is取恒流 0.1uA5mA,量回Vx即可算出Rx值.如以下图一.图一图一 图二图二 (2). R/C(mode V5,CV): 直流定电压源: 信号源Vs取恒压 0.2V，量回 Ix，那么Rx=Vs/Ix=0.2V/Ix，算出Rx值.如上图二.(3).R/L(mode P1,P2,

3、P3,P4,P5): 相位法测试相位法测试:信号源取交流电压源信号源取交流电压源Vs，籍相位法辅，籍相位法辅助助.|Y|Cos=YRx=1/Rx,并并|Y|=Ix/Vs故：故：Rx=1/|Y|Cos 如以下图如以下图:3. 量测电容量测电容C&电感电感L： (1).单个单个C&LMode A1.A2.A3.A4.A5 ： 交流定电压交流定电压:交流电压源一定交流电压源一定Vs,Vs/Ix=Zc=1/2fCx,求得：求得：Cx=Ix/2fVs.Vs/Ix=Zl=2fLx, 求得：求得：Lx=Vs/2fIx. 注注:3UF以上电容用以上电容用(Model DC) (2).C/R或或L/R:(P1.

4、P2.P3.P4.P5)相位法测试相位法测试: 1. |Y|Sin=|Ycx|,即即CxSin=Cx 求得：求得：Cx=CxSin (Cx=Ix/2fVs) 2.|Y|Sin=|Ycx|,即即Sin/Cx=1/Cx 求得：求得：Lx=Lx/Sin(Lx=Vs/2fIx) 如以下图如以下图:4. 量测PN结：D、Q、IC 信号源0-10V/3mA or 30mA可程式电压源,量PN结导通电压 一般顺向电压0.7V;反向电压2.2V.这里主要讲下三极管的三端量测法晶体管做三端点量测时 ,假设晶体管为NPN type,实际值(ACTval)设定值为DA1所送电压，标准值(STDval)设定值即为晶体

5、管的VCES电压值。改变实际值(ACTval)(从0.5V往上增加) ，直到晶体管饱和导通(测试值应低于0.2V)。如果晶体管为PNP type，改变实际值(ACTval)栏的电压(从4.5V往下减少) ，直到晶体管饱和导通测试值应低0.2V。 5. 量测Open/Short： 即以阻抗判定：先对待测板上所有Pin点进行学习,R20即归为Short Group，然后Test时进行比较，R80判为Open.短路1080开路20学习参考点 6.低压测试方法(LV) 低压功能测试是允许你供给某一定电压到零件两端，同时测量零件两端的电压，如测电容反向、Zener二极管、或IC都可使用此法。 假设我们要

6、测一个6V的稳压二极管,我们可以在实际值中填入9V,标准值中填入6,当实际植的单位是V,而标准值不是0时,系统会送出一个9V电压至稳压二极管两端,然后量测稳压二极管的电压是否为5.6V,从而判定好坏.LV模式最大送出电压为10V 7.高压测试方法高压测试方法(HV) 高压测试的原理与设定方法与低压相似,只是在模式里选(HV),高压最大送出电压为50V跳线测试跳线测试(Jumper Test) 跳线测试跳线测试(Jumper Test)采用一个比较器硬件线路，因此，测采用一个比较器硬件线路，因此，测试的结果只有、四个值，单位以试的结果只有、四个值，单位以JP表示，其代表表示，其代表的意义如下：的

7、意义如下： JP： 10 欧姆欧姆(ohm) JP： 10欧姆欧姆(ohm)， 20欧姆欧姆( ohm) JP： 20欧姆欧姆(ohm)， 80欧姆欧姆( ohm) JP： 80欧姆欧姆(ohm) 三三ICT测试程序的制作测试程序的制作 一准备好2PCS空PCB板，1PCS实板，1份BOM及原理图邦线图，提供给供给商分析 二供给商根据我们的要求制作测试机架及原始程序 三根据BOM，电路图，针点图进行相对应的测试程序的调试1单板的调试 按“Ctrl+E进入元件编辑界面 先熟悉一下界面对照坏机故障，加深印象 A 元件元件Component的调试的调试(R,C,L,D,Q) 电阻电阻RDebug:(

8、1).根据根据R的大小的大小,系统自动调整测试电流大小系统自动调整测试电流大小. F9:单步测试单步测试 Alt+F9:整页测试整页测试 F5:对调对调AB点点 F10自动自动Guarding. Alt+H:查看串连元查看串连元件件.Alt+J:查看并联元件查看并联元件. (2).R/C:Model(CV&V5)(3).R/D:Model(D2&V5).(4).R/L:Model(P1.P2.P3.P4.P5) 电容电容CDebug: (1).单个电容单个电容3uf以上信号源既可用交流也可以上信号源既可用交流也可用直流用直流.300uf以上只可用以上只可用DC模式模式.470pf以以下用下用A

9、4&A5; 470pf3uf用模式用模式. (2).C/R:Model(A1.A2.A3.A4.A5) (3).C/L:Model(P1.P2.P3.P4.P5) (4).C/D:Model(DC&A1A5)470PF3UF300UFA1.A2.A3.A4.A5DCDC.A1.A2D&Q&IC的的Debug (1).单个D&Q&IC正向:0.7V左右;反向2V以上. (2).D/C:Model(LV低电压) (3).D/D:Model(CM,除正向导通测试,还需做电流测试 (4).Zerer:需作反向电流测试.10V48V的Zerer可用 HV(高电压)测试. (5).Q的CE极:需判断Q的类

10、型(PNP&NPN) 为了使CE极饱和导通,NPN偏置电压为0.7V1V; PNP偏置电压为 4.5V2V;反向在0.5V以上. B. IC的学习 a 按“Ctrl+I进入IC编辑界面 按F4选出IC相对应的参考地GND或电源VCC 按F3保存后退出b.进入元件编辑界面,然后按ALT+I进行保护二极体的学习,根据提示,按测试要求选择对话框,完成IC的自动学习并保存注意:IC的参考点GND,VCC必须选对,检查IC脚位是否和测试针点相对应,否那么将产生错误的程序GNDIC脚针点C. OPEN/SHORT的学习的学习在测试界面按CTRL+L,电脑将提示放入好板并进行学习，学习后保存退出注意：系统只

11、会针对有测试点的网络进行学习。当单板程序调试稳定后，我们就可以产生多连板啦！2多连板的产生多连板的产生A 在测试界面单击设定，选择在测试界面单击设定，选择“产生多连板程序产生多连板程序命令将弹出以下对话框命令将弹出以下对话框你只用根据你的要求填入数字就可以啦比方要做一个8连板的程序，你就填入4-2，到时电脑将自动产生一个8连板的程序B 接下来将弹出一个对话框，提示输入第二块板的最小针点号对照针点图找到第二块的最小针点，填入对话框在下面对话框里填入0接下来是选择新文档存贮的路径，假设默认的话，文件将产生一个新的程序并保存在原文件夹中，不用担忧会把原单板程序覆盖最后把程序保存，一个完整的程序就完成

12、啦！假设还有个别不稳定的工程，参考前面调试的方法，Debug直到稳定四四ICT误测分析误测分析 1. ICT无法测试局部： 记忆体ICEPROM、SRAM、DRAM 并联大10倍以上大电容的小电容 并联小20倍以上小电阻的大电阻 单端点之线路断线 D/L，D无法量测 (6). 跳线并连 (7)IC之功能测试.2. PCB之测点或过孔绿油未翻开，或PCB吃锡不好。3. 压床压入量缺乏。探针压入量应以1/2-2/3为佳。4经过免洗制程的PCB板上松香致探针接触不良。5PCB板定位柱松动，造成探针触位偏离焊盘。6治具探针不良损坏。7. 零件厂牌变化可放宽+-%，IC可重新 Learning。8. 治

13、具未Debug好再进行Debug。9. ICT本身故障。五五ICT的转机流程的转机流程1将待测Model 的机架准备好. 2将红外线保护开关拔至OFF位置,依次序取下原测试机架上模和下模.的34Pin排线红外线保护开关64Pin排线3将待测机架放入,对好上,下模位置并固定好,再依次序插好34Pin排线固定夹具螺丝64pin排线4.固定好机架后,放一待测板在机架上,再调整行程控制感应开关,使上模,待测板,下模三者充分接触好后,再固定好感应开关.行程控制开关6.将红外线保护开关拔至ON位置,在D:目录下调出待测板的测试程序.红外线保护开关试测试5-10片待测板,PASS后交由测试员操作六六.ICT

14、程序调试时本卷须知程序调试时本卷须知换上新机架时换上新机架时,程序出现不稳定的现象程序出现不稳定的现象,这时我们需作程式调整这时我们需作程式调整,但但需注意如下几项需注意如下几项: 1 首先要确定测试针是否良好首先要确定测试针是否良好,测试点是否接触良好测试点是否接触良好,元件是否元件是否假焊假焊,漏料漏料,错料等不良错料等不良. 2 按按“Ctrl +E进入元件编辑进入元件编辑,再按再按“Alt +R 跳至测试不良项跳至测试不良项,按按F9进行当前项测试进行当前项测试. 3 调整程式时调整程式时,要采用比照方式进行要采用比照方式进行,即用多块板进行比照调试即用多块板进行比照调试. 4 调试时

15、调试时,只能在模式只能在模式(MD)(光标移至此栏光标移至此栏)按按Space 进行选进行选择择,档位進档位進 行行 選選 擇擇 (光标移至此栏光标移至此栏)按按Space 进行选择进行选择,延迟时间延迟时间,A.B 点对调点对调(F5)加隔离点加隔离点(F10) 五项中进行调试五项中进行调试. 5 必要时,可调整上限,下限及标准植. 6 PF级电容调试时,不可改动标准值及实际值,只作杂散电容补偿调整,使用 “Alt+Y 自动补偿 7 级电阻,测试时不稳定时,可根据实际情况作跳线测试,即实际值栏改为 “JP 测试, JP标准: 1JP10 ; 102JP 20 ; 20 3JP 80 . 8

16、电感测试不稳定时,也可作跳线测试,其方法与 级电阻设定相同,也可用频率 (A2/A3/A4/A5) 进行调试. 如遇电感并联电容.电阻那么用(P1/P2/P3/P4/P5) 模式进行调试七七ICT常见故障检修常见故障检修1系统板，自检板，DC板，AC板，开关板的侦测 A翻开JET下的Jet300a.dat文件进行系统测试 如果是电阻，二极管，三极管坏或不稳，多为DC板故障 如果是电容坏或不稳，多为AC板故障 两者都有，那么有可能是系统板或自检板的故障 B翻开以下图中的自我测试将会出现 其中MEAS TEST 就是系统板，自检板，DC板，AC板 的检测 RELAY TEST 是多块开关板的检测，填入开关板的数量，就会显示测试结果 当然，机台，卡槽也有可能影响测试 2常用快捷捷键常用快捷捷键 进入元件编辑界面 CTRL+E 进入短路编辑界面 CTRL+P 进入不测点编辑界面 CTRL+S 进入IC编辑界面 CTRL+I 进入开/短路路学习 CTRL+L 在元件编辑中常用的快捷键 寻找针点 ALT+P 显示并联元件 ALT+J 显示串联元件 ALT+H 学习电容补偿值 ALT+Y 单项测试 F9 整页测试 ALT+F9 寻找隔离点 F10 取消隔离点 F4