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1、TS16949：2008ISO14001：2004E2527741540321981 连接器连锡不良原因分析改善报告 景旺电子科技（龙川）KINWONG ELECTRONIC （LONGQ CHUAN)TECHNOLOGY CO., LTD.广东省龙川县大坪山宝通工业园目 录问题描述说明（第3页）；1成立改善团队（第4页）；2临时对策（第5页）；3原因分析(第6-10页）；4改善措施、证据（第11-13页）；56改善措施及确认（第14页）；1D 问题反馈2D 团队组建3D 临时对策4D 原因分析一、不良品解析：4D 原因分析二、产生原因： 1、使用放大镜观察不良品连接器，可以看到一整排连接器有

2、连锡现象。 2、拆除不良品连接器观察，覆盖膜开窗有偏移露线，露线位置上锡导致打件后整排PIN脚连锡。使用放大镜观察拆除连接器后观察覆盖膜偏移露线，露线位置上锡连接器PIN连锡4D 原因分析3、查工程资料006编号位置覆盖膜连接器开窗设计0.55MM；覆盖膜模具开窗设计0.55；与其它位置尺寸一致；4、从工程资料和模具设计确认是无异常的。覆盖膜设计图覆盖膜模具图 1、 使用5W方式找出真因：结论：冲针高度不够，覆盖膜开窗冲不断堵孔，再次冲切后，覆盖膜开窗有偏移现象。为何覆盖膜偏移露线为何覆盖膜堵孔为何连接器连锡不良通过拆除不良品连接器观察，覆盖膜开窗有偏移露线，露线位置上锡导致打件后整排PIN脚

3、连锡。通过模拟验证，覆盖膜堵孔， 经过再次冲切时，同一位置重复冲切，覆盖膜开窗有偏移现象，测量尺寸偏大（第10页）连接器引脚连锡部位正好被连接器本体遮盖，AOI扫描时无法识别，SMT打件后产品没有ICT测试，冲切首件调模时，冲针高度不够，有个别窗口冲不断 三、连接器连锡产生原因 为何连接器连锡流入客户端？4D 原因分析4D 原因分析四、模拟验证： 1、验证覆盖膜开窗堵孔，再次返冲切，返冲OK后，测量覆盖膜开窗尺寸会偏大； 2、覆盖膜开窗尺寸偏大，贴合后会有露线风险。覆盖膜开窗堵孔覆盖膜开窗返冲OK5D 改善措施1、冲切首件调模时，使用白纸试冲，将冲切深度调至刚好冲断白纸为适宜； 责任人：陈泽武、李如林 完成时间：2015-6-65D 改善措施2、冲切未冲断和漏冲产品，返冲切后，必须测量尺寸是否符合要求； 责任人：陈泽武 完成时间：2015-6-65D 改善措施3、SMT打件经过AOI扫描后，使用CCD检验连接器位置。所有产品经ICT测试后再流转至下工序。 责任人：何建强、刘后辉 完成时间：2015-6-6CCD检验6D 改善实施及确认 1、由品质部IPQA稽核产线执行情况，如不按要求执行，按质量奖罚条例对工序负责人和作业员进进行处罚。 责任人：品质/李如林 执行日期：2015-6-62

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