ICT培训资料ppt课件

1、 ICT培训教材目录一.ICT的根本认识二ICT的测试原理三ICT测试程序的制造四ICT误测分析五ICT的转机流程六.ICT程序调试时本卷须知七ICT常见缺点检修八. 文件放置指引九.覆盖率的定义一.ICT的根本认识 1. ICT即在线测试仪In Circuit Tester,是一大堆高级电表的组合。但它能对在线电路板上的元件测试进展有效的隔 离(Guarding),而万用表那么不能.所以,万用表能测的它也能测,万 用表不能测的,它能够能测. 2. ICT能测:Open/Short;R;C;L;D;Q;IC等. 3. ICT与ATE的区别: ICT只作静态测试,而ATE那么作动态测试.即ICT

2、对被测板不通电,而ATE要对被测板通电才干测试,二ICT的测试原理 当Rx有旁路R1)时， Ix=Is-I1Is 故：Vx/IsRx此时取A 点电位Va, 送至C 点, 令Vc=Va, 那么： I1=(Va-Vc)/R1=0, Is=Ix 从而： Vx/Is=Rx如图:1. Guarding(隔离)的实现：2. 量测电阻R： (1).单个R(mode D1,D2): 直流定电流源: 利用Vx=IsRx欧姆定律， 那么Rx=Vx/Is. 信号源Is取恒流 0.1uA5mA,量回Vx即可算出Rx值.如以下图一.图一 图二 (2). R/C(mode V5,CV): 直流定电压源: 信号源Vs取恒压

3、 0.2V，量回 Ix，那么Rx=Vs/Ix=0.2V/Ix，算出Rx值.如上图二.(3).R/L(mode P1,P2,P3,P4,P5): 相位法测试:信号源取交流电压源Vs，籍相位法辅助.|Y|Cos=YRx=1/Rx,并|Y|=Ix/Vs故：Rx=1/|Y|Cos 如以下图:3.量测电容C&电感L： (1).单个C&LMode A1.A2.A3.A4.A5 ： 交流定电压:交流电压源一定Vs,Vs/Ix=Zc=1/2fCx,求得：Cx=Ix/2fVs.Vs/Ix=Zl=2fLx, 求得：Lx=Vs/2fIx. 注:3UF以上电容用(Model DC) (2).C/R或L/R:(P1.P

4、2.P3.P4.P5)相位法测试: 1. |Y|Sin=|Ycx|,即CxSin=Cx 求得：Cx=CxSin (Cx=Ix/2fVs) 2.|Y|Sin=|Ycx|,即Sin/Cx=1/Cx 求得：Lx=Lx/Sin(Lx=Vs/2fIx) 如以下图:4. 量测PN结：D、Q、IC 信号源0-10V/3mA or 30mA可程式电压源,量PN结导通电压 普通顺向电压0.7V;反向电压2.2V.这里主要讲下三极管的三端量测法晶体管做三端点量测时 ,假设晶体管为NPN type,实践值(ACTval)设定值为DA1所送电压，规范值(STDval)设定值即为晶体管的VCES电压值。改动实践值(AC

5、Tval)(从0.5V往上添加) ，直到晶体管饱和导通(测试值应低于0.2V)。假设晶体管为PNP type，改动实践值(ACTval)栏的电压(从4.5V往下减少) ，直到晶体管饱和导通测试值应低0.2V。 5. 量测Open/Short： 即以阻抗断定：先对待测板上一切Pin点进展学习,R20即归为Short Group，然后Test时进展比较，R80判为Open.短路1080开路20学习参考点 6.低压测试方法(LV) 低压功能测试是允许他供应某一定电压到零件两端，同时丈量零件两端的电压，如测电容反向、Zener二极管、或IC都可运用此法。 假设我们要测一个6V的稳压二极管,我们可以在实

6、践值中填入9V,规范值中填入6,当实践植的单位是V,而规范值不是0时,系统会送出一个9V电压至稳压二极管两端,然后量测稳压二极管的电压能否为5.6V,从而断定好坏.LV方式最大送出电压为10V 7.高压测试方法(HV) 高压测试的原理与设定方法与低压类似,只是在方式里选(HV),高压最大送出电压为50V跳线测试(Jumper Test) 跳线测试(Jumper Test)采用一个比较器硬件线路，因此，测试的结果只需、四个值，单位以JP表示，其代表的意义如下： JP： 10 欧姆(ohm) JP： 10欧姆(ohm)， 20欧姆( ohm) JP： 20欧姆(ohm)， 80欧姆( ohm) J

7、P： 80欧姆(ohm) 三ICT测试程序的制造 一预备好2PCS空PCB板，1PCS实板，1份BOM及原理图邦线图，提供应供应商分析 二供应商根据我们的要求制造测试机架及原始程序 三根据BOM，电路图，针点图进展相对应的测试程序的调试1单板的调试 按“Ctrl+E进入元件编辑界面 先熟习一下界面对照坏机缺点，加深印象 A 元件Component的调试(R,C,L,D,Q) 电阻RDebug:(1).根据R的大小,系统自动调整测试电流大小. F9:单步测试 Alt+F9:整页测试 F5:对调AB点 F10自动Guarding. Alt+H:查看串连元件.Alt+J:查看并联元件. (2).R/

8、C:Model(CV&V5)(3).R/D:Model(D2&V5).(4).R/L:Model(P1.P2.P3.P4.P5) 电容CDebug: (1).单个电容3uf以上信号源既可用交流也可用直流.300uf以上只可用DC方式.470pf以下用A4&A5; 470pf3uf用A1.A2.A3方式. (2).C/R:Model(A1.A2.A3.A4.A5) (3).C/L:Model(P1.P2.P3.P4.P5) (4).C/D:Model(DC&A1A5)470PF3UF300UFA1.A2.A3.A4.A5DCDC.A1.A2D&Q&IC的Debug (1).单个D&Q&IC正向:

9、0.7V左右;反向2V以上. (2).D/C:Model(LV低电压) (3).D/D:Model(CM,除正导游通测试,还需做电流测试 (4).Zerer:需作反向电流测试.10V48V的Zerer可用 HV(高电压)测试. (5).Q的CE极:需判别Q的类型(PNP&NPN) 为了使CE极饱和导通,NPN偏置电压为0.7V1V; PNP偏置电压为 4.5V2V;反向在0.5V以上. B. IC的学习 a 按“Ctrl+I进入IC编辑界面 按F4选出IC相对应的参考地GND或电源VCC 按F3保管后退出b.进入元件编辑界面,然后按ALT+I进展维护二极体的学习,根据提示,按测试要求选择对话框

10、,完成IC的自动学习并保管留意:IC的参考点GND,VCC必需选对,检查IC脚位能否和测试针点相对应,否那么将产生错误的程序GNDIC脚针点C. OPEN/SHORT的学习在测试界面按CTRL+L,电脑将提示放入好板并进展学习，学习后保管退出留意：系统只会针对有测试点的网络进展学习。当单板程序调试稳定后，我们就可以产生多连板啦！2多连板的产生A 在测试界面单击设定，选择“产生多连板程序命令将弹出以下对话框他只用根据他的要求填入数字就可以啦比如要做一个8连板的程序，他就填入4-2，到时电脑将自动产生一个8连板的程序B 接下来将弹出一个对话框，提示输入第二块板的最小针点号对照针点图找到第二块的最小

11、针点，填入对话框在下面对话框里填入0接下来是选择新文档存贮的途径，假设默许的话，文件将产生一个新的程序并保管在原文件夹中，不用担忧会把原单板程序覆盖最后把程序保管，一个完好的程序就完成啦！假设还有个别不稳定的工程，参考前面调试的方法，Debug直到稳定四ICT误测分析 1. ICT无法测试部分： 记忆体ICEPROM、SRAM、DRAM 并联大10倍以上大电容的小电容 并联小20倍以上小电阻的大电阻 单端点之线路断线 D/L，D无法量测 (6). 跳线并连 (7)IC之功能测试.2. PCB之测点或过孔绿油未翻开，或PCB吃锡不好。3. 压床压入量缺乏。探针压入量应以1/2-2/3为佳。4经过

12、免洗制程的PCB板上松香致探针接触不良。5PCB板定位柱松动，呵斥探针触位偏离焊盘。6治具探针不良损坏。7. 零件厂牌变化可放宽+-%，IC可重新 Learning。8. 治具未Debug好再进展Debug。9. ICT本身缺点。五ICT的转机流程1将待测Model 的机架预备好. 2将红外线维护开关拔至OFF位置,依次序取下原测试机架上模和下模.的34Pin排线红外线维护开关64Pin排线3将待测机架放入,对好上,下模位置并固定好,再依次序插好34Pin排线固定夹具螺丝64pin排线4.固定好机架后,放一待测板在机架上,再调整行程控制感应开关,使上模,待测板,下模三者充分接触好后,再固定好感

13、应开关.行程控制开关6.将红外线维护开关拔至ON位置,在D:目录下调出待测板的测试程序.红外线维护开关试测试5-10片待测板,PASS后交由测试员操作六.ICT程序调试时本卷须知换上新机架时,程序出现不稳定的景象,这时我们需作程式调整,但需留意如下几项: 1 首先要确定测试针能否良好,测试点能否接触良好,元件能否假焊,漏料,错料等不良. 2 按“Ctrl +E进入元件编辑,再按“Alt +R 跳至测试不良项,按F9进展当前项测试. 3 调整程式时,要采用对比方式进展,即用多块板进展对比调试. 4 调试时,只能在方式(MD)(光标移至此栏)按Space 进展选择,档位進 行 選 擇 (光标移至此

14、栏)按Space 进展选择,延迟时间,A.B 点对调(F5)加隔离点(F10) 五项中进展调试. 5 必要时,可调整上限,下限及规范植. 6 PF级电容调试时,不可改动规范值及实践值,只作杂散电容补偿调整,运用 “Alt+Y 自动补偿 7 级电阻,测试时不稳定时,可根据实践情况作跳线测试,即实践值栏改为 “JP 测试, JP规范: 1JP10 ; 102JP 20 ; 20 3JP 80 . 8 电感测试不稳定时,也可作跳线测试,其方法与 级电阻设定一样,也可用频率 (A2/A3/A4/A5) 进展调试. 如遇电感并联电容.电阻那么用(P1/P2/P3/P4/P5) 方式进展调试七ICT常见缺

15、点检修1系统板，自检板，DC板，AC板，开关板的侦测 A翻开JET下的Jet300a.dat文件进展系统测试 假设是电阻，二极管，三极管坏或不稳，多为DC板缺点 假设是电容坏或不稳，多为AC板缺点 两者都有，那么有能够是系统板或自检板的缺点 B翻开以下图中的自我测试将会出现 其中MEAS TEST 就是系统板，自检板，DC板，AC板 的检测 RELAY TEST 是多块开关板的检测，填入开关板的数量，就会显示测试结果 当然，机台，卡槽也有能够影响测试 2常用快捷捷键 进入元件编辑界面 CTRL+E 进入短路编辑界面 CTRL+P 进入不测点编辑界面 CTRL+S 进入IC编辑界面 CTRL+I 进入开/短路路学习 CTRL+L 在元件编辑中常用的快捷键 寻觅针点 ALT+P 显示并联元件 ALT+J 显示串联元件 ALT+H 学习电容补偿值 ALT+Y 单项测试 F9 整页测试 ALT+F9 寻觅隔离点 F10 取消隔离点 F4AB点对调 F5选区 ALT+L取消选区 ALT+U挪动选区 ALT+M自动校正 ALT+D排序 ALT+S区域编辑 CTRL+F取消不测 F2在