結計裊程管制SPC（ 71页）ppt课件

1、統計製程控制(SPC)Statistical Process Control.一、SPC的源起.Deming在日本八日演講綱要為：一、如何有效地營運PDCA？如何提升品質？二、具備統計之變異的常識是重要的。三、以控制圖為中心之製程控制的想法，與控制圖的运用方法。.日本品質的演進100 % 75 % 50 % 25 % 1950 1960 1970 1980 1990 2000 檢驗對品質的頁獻製程控制(SPC)對品質的貢獻製程與產品設計對品質的貢獻.二、品質與變異變異可區分為機遇缘由與非機遇缘由機 遇 原 因：Chance Cause 原就存在於製程中的缘由，是屬於製程的一部份。大约有85製程

2、的品質問題是屬於此類缘由，其改善須管理階層的努力方可解決。非機遇缘由：Assignable Cause 原不存在於製程中的缘由。大约有15製程的品質問題是屬於此類缘由，其改善可經由基層作業者的努力解決的。.什麼是良好的品質？(1)變異性低(2)耐用度變異目標(3)吸引力流行，感覺，易用額外的功能等(4)合理價格(1)與(2)：製造廠家可以評價(3)與(4)：消費者將會決定耐用度是經過時間與运用後仍維持一定的性能第一天 6個月 12個月 18個月.三、SPC的理論與應用範圍SPC觀念的來源1.沒有兩件的事情、產品、人是完全一樣的。2.製程的變異是可以衡量的。3.宇宙的事物與工業產品其都是呈常態分

3、配的。4.變異的缘由可以分為機遇缘由與非機遇缘由。.P()0.6827P(22)0.9545P(33)0.9973於K之間的機率(Probability)常態分配3 2 1 1 2 399.7395.4568.27.常態分配的特性1.群體平均值()之次數最多2.兩邊對稱3.曲線與橫軸不相交4.曲線之反曲點在1處5.曲線與橫軸所圍之面積為1.統計製程控制的定義經由製程中去搜集資料，而加以統計分析，從分析中得以發覺製程的異常，並經由問題分析以找出異常缘由，立刻採取改善措施，使製程恢復正常。並透過製程才干解析與標準化，以不斷提升製程才干。.四、SPC的應用步驟一、確立製造流程二、決定控制項目三、實施

4、標準化六、問題分析解決Cpk1.33四、製程才干調查Ca、Cp、Cpk製程條件變動時Cpk1.33五、控制圖的運用六、問題分析解決七、製程之繼續控制.五、確立製造流程內胎製造流程圖原料檢驗倉儲運送配混合檢查制定儲存押出接頭檢查儲存出貨檢查.內胎品質控制方案.六、決定控制項目控制項目的決定有助於1.消除內部縱、橫向之任务浪費2.不要忽略必須做的事3.明白區分優先度，指引任务重點方向4.溝通良好5.將任务評價的重點放在過程的評價而非僅評價結果.七、實施標準化小柳日：Shewhart教導我們之實務步驟和方法(如抽樣理論和控制圖法)，讓我們可以估計變動的宇宙。並且將它當作知識般地去量測、評估和利用。這

5、些知識有助於我們創立標準化及作業改善的回饋方法。.八、製程才干調查製程才干定義使製程標準化，除去異常要素，當製程維持在穩定狀態時，所實現的品質程度。.明確的目的選定調查對象4M的標準化標準作業的教育4M：人(Man)機械(Machine)资料(Material)方法(Method)標準作業的實施數據的搜集、分析製程處於控制狀態時製程處於非控制狀態時找出非機遇缘由標準化活動及再發防止製程才干的把握才干足夠才干缺乏Cpk1.33Cpk1.33(註：視Cpk之值而會有不同之處置)先掌握機械才干，並清查缘由缘由不明，且無法採取技術性的措施調節製程控制檢討規格公差修正檢驗等等標準化活動.製程才干生產前查

6、核工程品質管理表作業標準決定控制項目作業標準工程品質管理表效果確認改善製程保養機器公告再發防止製造才干調查檢 驗調查缘由開始作業的查核(作業狀況)查核(控制項目)解析市場品質的評估非控制狀態作 業.數值法製程才干分析製程準確度Ca (Capability of Accuracy)Ca值在衡量製程之實績平寺值與規格中心值之一致性。(1)Ca之計算Ca 100 100TSuSL規格上限規格下限單邊規格因沒有規格中心值，故不能算Ca(2)等級断定Ca值愈小，品質愈佳，依Ca值大小分為四級實績平均值規格中心值規格許容差XuT2.(3)Ca等級之說明(4)處置原則A級：維持現狀B級：改進為A級C級：立刻

7、檢討改善D級：採取緊急措施，全面檢討，必要時停顿生產(5)例：某鋼管之切削規格為75010，五月份之切削實績 為X37488；六月份為7498求Ca值。五月份Ca值 100-20(B級)六月份Ca值 100-10(A級)748750107497501012.52550100規格中心值()規格上限(或下限)級級級級.製程精细度Cp (Capability of Precision)Cp在衡量製程之變異寬度與規格公差範圍相差之情形。(1)Cp之計算Cp 雙邊規格時Cp或Cp 單邊規格時(2)等級断定Cp值愈大，品質愈佳。依Cp值大小分為六級規格公差6個標準差.(4)處置原則A+級：考慮管理的簡單化

8、或本钱降低的方法A級：維持原狀B級：改進為A級C級：需全數選別，並管理、改善工程D級：進行品質的改善，探求缘由，需求採取緊急對策，並且重新檢討規格(3)CP等及之說明6D級SL規格下限Su規格上限規格中心值6 C級6B級6A級6A+級.(5)某電鍍品其鍍金厚度規格為502.0，昨日產之生產實績為X3S531.5，本日之生產實績為512.3求Cp值。昨日Cp值 1.33(A級)本日Cp值 0.87(C級).製程才干指數Cpk綜合Ca與Cp兩值之指數Cpk之計算式1.Cpk(1K) K(1 Ca )Cp當Ca0時 CpkCp單邊規格時，Cpk即以Cp值計2.ZUSL ZLSL Cpk 與的最小值.

9、(2)等級断定Cpk值愈大，品質愈佳，依Cpk值大小分為六級.(3)處置原則：A+級：考慮管理的簡單化或本钱降低的方法A 級：維持原狀B 級：改進為A級C 級：需全數選別並管理、改善工程D 級：進行品質的改善，探求缘由，需求採取緊急對策，並且重新檢討規格。(4)某電鍍品其鍍銅厚度規格為0.700.2；製程實績為X3S0.7380.2175求CPK值。.製程精细度(Cp值)與不良率之關係.MOTOROLA達到6 Sigma的步驟1.列出要製造之產品或提供之服務。2.列出產品的顧客或服務的對象，及他們的要求。3.訂定本人所需求的條件，以提供顧客滿意的產品或服務。4.繪劃(Define)現在的製程(

10、程序)5.改善製程(程序)，防止浪費資源。6.測量、分析、控制已改善的製程(程序)不斷改良，精益求精。.MOTOROLA邁向6 Sigma之路1979管理階層的承諾與了解 1981品質喚醒5年內10倍的改善1986企業標竿及品質訪查19876 Sigma遠景198910倍之品質改善1991100倍之品質改善19926 Sigma1993超越6 Sigma1994每2年10倍之品質改善2000獲利率乘2倍.十、控制圖的運用控制圖的由來 控制圖是1924年由蕭華特博士(Dr. W. A. Shewhart)，在研讨產品品質特性之次數分配時所發現。正常的工程所生產出來產品之品質特性，其分配大都呈常態

11、分配的，會超出三個標準差(3)的產品只需0.27。依據此原理，將常態曲線圖旋轉90度，在三個標準差的地方加上兩條界限，並將抽樣之數據順序點繪而成為控制圖。.A區B區C區C區A區B區2.14%13.59%34.%34.%2.14%13.59%LCLCLUCL-2-3 +3 +2 +規格範圍.控制圖定義一種用於調查製造程序能否在穩定狀態下，或者維持製造程序在穩定狀態上所用之圖。.數 據 分 為語言資料：用語言所表現的事實計量值：Variable Data,一種品質特性之數值，可用連續量(Continuous quantity)計量者。計數值：Attribute Data,一種品質特性之數值，可用以

12、間斷數據計數者。數值數據.控制圖的種類計量值控制圖XR Chart(平均值與全距控制圖)XR Chart(中位數與全距控制圖)XRm Chart(個別值與移動全距控制圖)XS Chart(平均值與標準差控制圖)計數控制圖PChart(不良率控制圖)nPChart(不良數控制圖)CChart(缺點數控制圖)UChart(單位缺點數控制圖).控制圖點繪原則按照下述這些原則點繪控制圖，容易整齊劃一有助於資料之整理與研判製程名稱、控制特性、測定單位、規格值、設備號碼、操作者、測定者、抽樣方法、樣本數、期間、製程要因、(人員、設備、资料、方法、環境)之任何變更資料需清楚填入，以便資料之分析整理。中心線(

13、CL)記以實線，控制上限(UCL)及控制下限(LCL)記以虛線，中心線及控制上、下限，分別記入其數值及CL、UCL、LCL等符號。CL、UCL、LCL之位數比測定位數多兩位即可。.XR Chart(平均值與全距控制圖)適用製程可用以控制分組之計量數據，即每次同時获得幾個數據之工程。是把握工程狀態最有效的一種控制圖。.XR控制圖公式X控制圖：中心線(CL)X控制上限(UCL)XA2R控制下限(LCL)XA2RR控制圖：中心線(CL)X控制上限(UCL)D4R控制下限(LCL)D3R.建立XR控制圖步驟建立解析用控制圖的步驟：(1)搜集數據依測定時間順序陈列(2)數據分組以35個數據為一組最正确(

14、3)記入控制圖的數據欄內(4)計算平均值X求各組的平均值X(5)計算全距R求各組的全距R(6)計算總平均值X求各組均值X的總平均值X(7)計算全距的平均值R求各組全距R的平均值R(8)查係數A2，D4，D3並代入公式計算控制界限(9)繪制控制界限及中心線X控制圖在上，R控制圖在下(10)點繪點在其數值之位置並以直線連接之(11)控制界限檢討如流程圖.解析用計量值控制圖分析流程(R控制圖)註：摘自SPC Simplified 全距均在控制界限內嗎？是否只需一個或二個點在控制界限外？是否3個以上的點在控制界限外剔除這一或二個全距值的樣本重新計算X、R的全距控制界限全距失控停顿計算平均值的控制界限限

15、外其餘的全距值均在界限內嗎？找出亦修正非機遇缘由重新搜集資計算平均值的控制界限是否全距值均在控制中計算平均值的控制圖平均值控制圖分析流程.建立製程控制用控制圖步驟(1)記上必要事項(2)繪入控制界限(3)繪點(4)狀態之断定(5)矫正措施(6)控制界限的延續运用.XR Chart(中位數與全距控制圖)適用製程與XR Chart同，但檢出力較差，故多以XR Chart代之。公式：X控制圖：中 心 線(CL)X控制上限(UCL)Xm3A2R控制下限(LCL)Xm3A2RR控制圖：中心線(CL)R控制上限(UCL)D4R控制下限(LCL)D3R.XRm Chart(個別值與移動全距控制圖)適用製程耗

16、用時間很多方能完成測試者屬極為均勻一致之產品破壞性試驗或是測量不易之產品產品係非常貴重之物品產量不大，批量很小時爭取時效時.XRm控制圖公式X控制圖：中 心 線(CL)X控制上限(UCL)XE2Rm控制下限(LCL)XE2RmRm控制圖：中 心 線(CL)Rm控制上限(UCL)D4Rm控制下限(LCL)D3Rm.XS Chart(平均值與標準差控制圖)適用製程與XR控制圖同，但當n10，則运用XS控制圖X控制圖：中 心 線(CL)X控制上限(UCL)XA3S控制下限(LCL)XA3SS控制圖：中 心 線(CL)S控制上限(UCL)B4S控制下限(LCL)B3SSC4.P Chart(不良率控制

17、圖)適用製程產品依規格分為合格不合格、可以不可以、通過不通過公式中心線(CL)P當樣組樣本n相等或不超過25控制上限(UCL)P3控制下限(UCL)P3當樣組樣本n超過25時控制上限(UCL)P3控制下限(LCL)P3.建立P控制圖步驟(1)搜集數據依測定時間順序陈列(2)數據分組每組樣本內含有15個不良品為佳(3)記入控制圖的數據欄內(4)計算每組之不良率(5)計算平均不良率P及平均樣本數(6)計算控制界限(7)繪制控制界限及中心線(8)點繪點在其數值之位置，並以直線連接之(9)控制界限之檢討如XR控制圖一樣.nP Chart(不良數控制圖)適用製程根本上與P控制圖一樣，惟其每組樣本必須一样

18、計算數P控制圖簡單，適用於班、組長或作業者 自行繪控制圖的場所公式中 心 線(CL)nP控制上限(UCL)nP3控制下限(LCL)nP3.C Chart(缺點數控制圖)適用製程以單位數量內缺點發生之次數者公式中 心 線(CL)C控制上限(UCL)C控制下限(LCL)C.U Chart(單位缺點數控制圖)適用製程與C控制圖同，但其檢查單位(樣本大小)不同公式中心線(CL)控制上限(UCL)控制下限(LCL).控制圖的判讀1.控制圖之控制(安定)狀態之鑑別基準係沒有點子逸出控制界限外點子的分呈隨機分佈(無規則可循)2.控制圖之不正常型態之鑑別是根據或然率之理論而加以断定的，符合下述之一項者，即為不正常之型態。(1)點超出控制界限UCLCL+3+2+1A區B區C區.(2)在中心線同側，連續三點中有二點落在A區或A區以外者+3+2+1A區B區C區UCLCL(3)在中心線同側，連續五點中有四點落在B區或B以外者+3+2+1A區B區C區UCLCLUCLCL(4)八個連續點子出現在中心線之同側者+3+2+1A區B區C區.(5)連續七點同一方向者+3+2+1A區B區C區UCLCLA區B區C區+3+2+1LCL.維持管理能否須要重新評估標準、管理系統缘由不明缘由明確須要評估徹底重新須要重新