光耦寿命评估公式

1、光耦寿命评估报告评估目的：根据光耦寿命评估公式，对CM80A逆变驱动板的光耦寿命进行评估CM80A驱动板使用的光耦型号是OPI1268,类型是门槛型，以下是对其寿命评估方法：125r度条件下L0的时间计算方法：在缺省状态下，给定厂家的曲线条件，如厂家给 定60r，衰减20%，100000小时，按缺省1000h小时计算。Lf=17583h，校正系数就是 100000/17583=5.687,这样125度的系数就更改为1000*5.687。不同的光耦计算出的校正系数 是不同的，此主要看厂家给定的衰减曲线。从评估的角度看，温度越高，评估的时间越准。 实际上当评估低温时，计算出的时间可能由1倍到3倍的

2、误差，此基本是正常的。也就是采 用厂家最高温度得出的系数更接近实际的情况。光耦寿命评估公式如下：光耦类型：1、CTR型(线性)f1一1)AF = e 8.62x10-5 I Tx+273+Thermal_co*IFx*UFx To+273+Thermal_co*IFo*UFo)Lx _ 气(CTR * Thermal_co - CTR x 10 x AF x -0 CtR02、门槛型f11)e 8 62x10-51 Tx+273+Thermal_co*IFx*UFx To+273+Thermal_co*IFo*UFo JAF =DutyL L (I -I * Thermal _co) x 10

3、 x AFx - 0 FX_th0IFX光耦参数说明：T0厂家光耦CTR衰减测试温度，固定取为125 CIF0 125C下光耦测试发光二极管电流，固定取为25mAVF0 厂家光耦CTR衰减测试发光二极管导通压降，固定取为1.4VL0 CTR在125C下的校正系数，固定取为5687CTR0所使用光耦的额定最小CTR。同一个型号的光耦有几种不同的CTR档(CTR范围， 有光耦型号后缀确定)。CTR0和对应光耦的实际型号温度影响系数温度对CTR衰减影响系数，取决于器件参数测试条件，如果器件额定参数 在比较宽的范围内测得，该系数取为0.8,否则取为1Ith0器件导通所需最大电流（查询器件规格书）Tx光

4、耦在额定工况下的表面温度EA 激活能，常数，固定取为0.37AF加速系数，又前面参L0数计算得到Thereml-co将电压，电流的影响折算为温度影响的系数，固定取为1Ifx实际流过光耦发光二极管的电流最小电流CTR 衰减比 为（CTR0-CTRx）/CTR0，计算书自动求得Ith劣化比 为（IFx-Ith0）/IFx，计算书自动求得Vfx发光二极管的额定导通电压，一般固定取为1.2VLx光耦在实际工况下的工作寿命OPI1268光耦参数:计算 参数To(C )IF0(mA )VF0(V )L0Ith0(mA )Tx(C )IFx(mA )VFx(V )Duty125201.4568755014.

5、871.20.5通过以上光耦寿命评估公式，可以知道影响光耦寿命因素有以下关系:1、与PWM信号的占空比Duty （反比）2、光耦在额定工况下的温度Tx （反比）3、器件导通所需的最大电流Ith0 （反比）4、实际流过光耦发光二极管的电流最小电流Ifx （反比）计算光耦寿命有关参数:EA := 07IFO := 20Tx := 50UFO := 1.4Therm al_co := 1Duty := 1IFx = 14.8.710 := 56S7+UFx := 12IthO := 5TO ;= 125门槛型光耦计算公式;ririfJALTx+273+ Thsiiiial_o)IF3UFi jTH2T 3+Thsrmal_co. IRK UF0j_(S.62.10AF :=DutyAF= 12,3 洱LxLO (IFx - MjOThermal co)- 1D-AF光耦寿命小时数：Lx = 4.679 x 10jLxLx year :=2