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1、光耦寿命评估报告 评估目的：依据光耦寿命评估公式,对CM80A 逆变驱动板的光耦寿命进行评估CM80A 驱动板使用的光耦型号是 OPI1268,类型是门槛型, 以下是对其寿命评估方法：125度条件下 L0 的时间运算方法：在缺省状态下,给定厂家的曲线条件,如厂家给定 60,衰减 20%,100000 小时,按缺省 1000h 小时运算； Lf=17583h ,校正系数就是100000/17583=5.687, 这样 125 度的系数就更换为1000*5.687 ；不同的光耦运算出的校正系数是不同的,此主要看厂家给定的衰减曲线；从评估的角度看,温度越高,评估的时间越准；实际上当评估低温时,运算出

2、的时间可能由1 倍到 3 倍的误差, 此基本是正常的；也就是采用厂家最高温度得出的系数更接近实际的情形；光耦寿命评估公式如下：光耦类型：1、CTR 型（线性）AF.8 eEATx2731*UFx-To2731IFo*UFo6210-5Thermal_ co*IFxThermal_co*LxL0CTR0*Thermal_ co-CTRx10AFCTR02、门槛型AF8 e.EA-5Tx2731IFx*UFx-To1*IFo*UFo6210Thermal_co *273Thermal_coDutyLxL0IFX-Ith0*Thermal_ co 10AFIFX光耦参数说明：T0 厂家光耦 CTR

3、衰减测试温度,固定取为125 CTR 档（CTR 范畴,IF0 125下光耦测试发光二极管电流,固定取为25mA VF0 厂家光耦 CTR 衰减测试发光二极管导通压降,固定取为1.4V L0 CTR 在 125下的校正系数,固定取为5687 CTR0 所使用光耦的额定最小CTR；同一个型号的光耦有几种不同的有光耦型号后缀确定） ；CTR0 和对应光耦的实际型号温度影响系数 温度对 CTR 衰减影响系数,取决于器件参数测试条件,假如器件额定参数在比较宽的范畴内测得,该系数取为 0.8,否就取为 1 Ith0 器件导通所需最大电流（查询器件规格书）Tx 光耦在额定工况下的表面温度EA 激活能,常数

4、,固定取为 0.37 AF 加速系数,又前面参 L0 数运算得到Thereml-co 将电压,电流的影响折算为温度影响的系数,固定取为 1 Ifx 实际流过光耦发光二极管的电流最小电流CTR 衰减比 为（ CTR0-CTRx ）/CTR0 ,运算书自动求得Ith 劣化比 为（ IFx-Ith0 ）/IFx ,运算书自动求得Vfx 发光二极管的额定导通电压,一般固定取为 1.2V Lx 光耦在实际工况下的工作寿命OPI1268 光耦参数：计 算ToIF0mAVF0VL0 Ith0mATx IFxmAVFxVDuty 参数 5687 0.5 125 20 1.4 5 50 14.87 1.2 通过以上光耦寿命评估公式,可以知道影响光耦寿命因素有以下关系：1、与 PWM 信号的占空比 Duty（反比）2、光耦在额定

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