材料研究方法点阵常数的精确测定课件_第1页
材料研究方法点阵常数的精确测定课件_第2页
材料研究方法点阵常数的精确测定课件_第3页
材料研究方法点阵常数的精确测定课件_第4页
材料研究方法点阵常数的精确测定课件_第5页
已阅读5页，还剩4页未读， 继续免费阅读

下载本文档

版权说明：本文档由用户提供并上传，收益归属内容提供方，若内容存在侵权，请进行举报或认领

文档简介

1、点阵常数的精确测定 材料研究方法 课程内容一测量原理误差源分析测量方法二三一、测量原理sin成了精确测量点阵常数的关键因素 偶然误差没有规律可循，也无法消除，可通过增 加测量次 数，统计平均可将其降到最低程度。误差系统误差由实验条件决定，具有一定规律，可通过适当的方 法使其减小甚至消除。二 、误差源分析1）902）同一角时，愈小，误差愈小 y1y2三 、测量方法 1峰位确定法1）峰顶法 当衍射峰非常尖锐时，直接以峰顶定为峰位。2）切线法 当衍射峰两侧的直线部分较长时，以两侧直线部分的延长线的 交点定为峰位。3）半高宽法 峰相对较宽时峰发生分裂时三 、测量方法 （1）三点法 （2）多点法4）抛物

2、线拟合法峰相对漫散时三 、测量方法 2点阵参数的精确测量法 1）外延法(a)发现60时符合较好，低角偏离较远，要求各衍射线的均大于60，至少有一个大于80，然而较难; (b)尼尔逊（Nelson I B）采用新外延函数f(), 线性较好，且30即可。三 、测量方法 2）线性回归法设回归直线方程为：Y=kX+b 其中Y为点阵常数值；X为外延函数值，一般取 k为斜率；b为直线的截距，就是为90时的点阵常数. 设有n个测点（Xi Yi），i=1，2，3 n，测点误差ei，即ei=Yi-(kXi+b)，所有测点的误差平方和为 最小二乘：解放程组：得点阵常数三 、测量方法 3）标准样校正法 外延函数的制定主观最小二乘法的计算繁琐因此，需要更简捷的方法标准试样法采用比较稳定物质如Si、Ag、SiO2等作标样，其点阵常数已精确测定。如纯度为99.999的Ag粉，aAg=0.408613nm，纯度为99.9的Si粉，aSi=0.54375nm，将标准物质的粉末掺入待测试样的粉末中混合均匀，或在待测块状试样的表层均匀铺上一层标准试样的粉末，于是在衍射图中就会出现两种物质的衍射花样。由标准物的点阵常数和已知的波长计算出相应角的理论值，再与衍射花样中相应的角相比较，其差值即为测试过程中的所有因素综合造成的，并以这一差值对所测

人人文库> 全部分类> 教育资料 > 辅导培训

温馨提示

  • 1. 本站所有资源如无特殊说明，都需要本地电脑安装OFFICE2007和PDF阅读器。图纸软件为CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.压缩文件请下载最新的WinRAR软件解压。
  • 2. 本站的文档不包含任何第三方提供的附件图纸等，如果需要附件，请联系上传者。文件的所有权益归上传用户所有。
  • 3. 本站RAR压缩包中若带图纸，网页内容里面会有图纸预览，若没有图纸预览就没有图纸。
  • 4. 未经权益所有人同意不得将文件中的内容挪作商业或盈利用途。
  • 5. 人人文库网仅提供信息存储空间，仅对用户上传内容的表现方式做保护处理，对用户上传分享的文档内容本身不做任何修改或编辑，并不能对任何下载内容负责。
  • 6. 下载文件中如有侵权或不适当内容，请与我们联系，我们立即纠正。
  • 7. 本站不保证下载资源的准确性、安全性和完整性, 同时也不承担用户因使用这些下载资源对自己和他人造成任何形式的伤害或损失。

最新文档

评论

0/150

提交评论