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文档简介

1、统计过程控制均值和标准差图(Xs图)象XR图一样，Xs图也是从测得的过程输出数据中发展来的。并且通常也是成对使用。由于极差容易计算且对样本容量较小的子组（尤其是小于9的）较为有效。所以研究出了极差图来俄国过程变差的情况。但是，它计算起来比较复杂，而且不容易检查出仅因子组内单个值异常造成变差的特殊原因。一般说来，当出现下列一种或多种情况时用s图代替R图： 数据是由计算机按实时时序记录和/或描图的，则s的计算程序容易集成化； 有方便适用的袖珍计算器使s的计算能简单按程序算出； 使用的子组样本容量较大，更有效的变差量度是合适的。Xs图的详细说明与XR图的很相似；不同之处如下：收集数据（见本章第1节第

2、A部分，不同之处如下）如果原始数据量大，常将他们记录在单独的数据表上（见图23），只有每组的X和s出现在图上；利用下列公式之一计算每个子组的标准差：（XiX）2n1Xi2nX2n1Xi2+nX22+X2nnX2n1 s = 或s = 式或：XinX和n分别代表子组的单值，均值和样本容量。注：如果按一般计算写法不要对X值进行圆整。s图的刻度尺寸应与相应的X图的相同。图24 X和s图（略）B 计算控制限（见图24）（参见本章第1节B部分，不同之处如下） 计算标准差和均值的上、下控制限（UCLS，LCLS，UCLX，LCLX）：UCLS = B 4s UCLX = X+A 3sLCLS = B 3s

3、 LCLX = X+A 3s式中：s为各子组样本标准差的均值，B 4、B 3和A 3随样本容量变化的常数，下表是从附录E摘录的样本容量为2到10的常数值：n2345678910B 43.272.572.272.091.971.881.821.761.72B 3*0.030.120.190.240.28A 32.661.951.631.431.291.181.101.030.98*在样本容量低于6时,没有标准差的下控制限。C. 过程控制解释（参见本章第1节C部分）D过程能力解释（参见本章第1节D部分，不同之处如下）估计过程标准差： = s/c4 = s/c4式中：s是样本标准差的均值（标准差受控制时期的），c4为随样本容量变化的常数，下表为附录E摘录的样本容量从2到10的c4值：n2345678910c40.7980.8860.92140.9400.9520.9590.9650.9690.973*如果过程

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