IATF16949程序文件30测量系统分析控制程序文件

1、. PAGE PAGE 8 / 8#X受控状态:测量系统分析控制程序文件编号：文件版本：B生效日期：发文编号：编制部门质量部审核#X批准#X测量系统分析测 量是否否采用其它方式进行评价。可重复？是测量是否随机否赋值？是供测试用零件是否超过300 件否是否计量型量仪器？否计数型量具研究（小样法）是是极差法是否计量型测量仪器？否计数型量具研究（大样法）适用的分析时长期间短期图表分析均值和极差或方差分析法目的量系统的变差，了解其变差的原因，以便采取纠正措施进行改进。适用围适用于控制计划中提与的测量系统分析与对生产线上易变动的测量系统进行复查以与用以证实产品符合规定要求的所有量具测量系统分析的管理。术

2、语和定义测量：对某具体事物赋予数字（或数值间的关系。是说，用来测量结果的整个过程。重复性：由一个评价人（操作员）个产品的同一个特性时，获得的测量结果的变差。再现性：由不同的评价人（操作员）产品的同一个特性时，测量平均值的变差。稳定性（或飘移特性时，获得的测值总变差。偏倚（准确度：测量结果的观测平均值与基准的差值。线性：在量具预期的工作围，偏倚值的差值。分析的情况下所进行的测试。职责多方论证小组在样件控制计划中确定测量系统分析的项目与方法。出具MSA测量系统的使用部门配合质量保证部进行收集数据工作。工作程序确定测量系统分析的项目地点、检测人等。GRR测量系统分析。测量系统分析的重点是特殊特性涉与

3、的测量系统。65测量系统分析计划分析计划。批量生产时，测量系统分析的频次一般为一年一次。车间和相关部门配合实施。统分析的统一培训/训练，并经考试合格或获得相关证书方可进行测量系统分析工作。测量和收集数据的方法开始工作之前筛选经常进行测量的人员作为测量员。统一认识。测量应尽可能在与生产中测量时相同的环境中进行。结果的公正性（盲测。5.2.5 让测量人员分别盲测被测试的样件并记录测量值。重复性和再现性分析（GRR）的分析工作，否则测量系统不能检查出零件的变差，且不能用于过程控制中。和重复性分析工作。均值极差法（XR）3103将测量结果记录在量具重复性和再现性数据表上；5.3.5.4 结 果 分 析

4、A当重复性（EV）变异值大于再现性（AV）时，可采用以下措施： 增强量具的设计结构。 改善量具的使用方式。 对 量 具 进 行 保 养 。B当再现性（AV）变异值大于重复性（EV）时应考虑： 修订作业标准，加强对操作员的操作技能培训。 是否需采用夹具协助操作，以提高操作的一致性。 量具校准后再进行 GRR 分析。5.3.3.5GRRAG RR10%可承受。CG RR30%不能承受，必须改进。极差（R）法10将测结果记入量具分析（极差法表格中。用表中的公式计算%GRR（差可用规格公差代替。GRRAGRR10%可承受。B10%GRR30%，依据量具的重要性、成本与维修费用，决定是否承受。CGRR3

5、0%不能承受，必须改进。稳定性研究选取一个样品，并确定其相对于可追溯标准的基准值。如果没有这定期（天、周）3-5的因素有：校准周期、使用频率、修理次数和使用环境等。XR、XS计算控制界限，并对不稳定或失控做出判断。计算测量结果的标准偏差，并将其与过程（工序）以确定测量系统的稳定性是否适宜。A点子不能超出上、下控制线。3223或（-2）（-3）区域。5412或（-1）（-2）以外区域。7（或更多点）落在控制中心线的同一侧。7（或更多点）持续上升或下降。凡呈现不稳定状态（失控）时，必须对量具进行校准或维修。量具维修后应重新和稳定性分析。偏倚分析独立样本法 A10B由一位操作员（评价人）1010C计

6、算偏倚偏倚=观察平均值-基准值过程变差=6偏 倚过程变差偏倚%=100%过程变差无法求得时，可用规格公差代替，这样“偏倚%”的计算公式中分母使用“规格公差”代替。偏倚承受准则： A对测量重要特性的系统偏倚%10%B对测量一般特性的系统偏倚%30%C偏倚%30%时拒绝承受。线性分析5（精密量具准值”并验证其尺寸覆盖了公差带。（评价人10（或更多次计算偏倚平均值偏倚平均值=观察平均值-基准值绘图采用以下公式计算有关参数，然后绘图。Y=b+aXY=偏倚b=截距a=斜线性=斜率过程变差线性%=(线性/过程变差) 100%线性承受准则 A对测量重要特性的系统，线性%5%时承受。B对测量一般特性的系统，线性%10%C线性%10%时不予承受。本公司为分析更准确也采用标准量块作线性分析。计数型量具小样法分析通过选取 50 个零件，经三位评价人 3 次测量评价做出接收或拒收的判定。50（一般采用盲测法判定：如果所有的测量结果（9）一致则承受该量找到承受的替代测量系统