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文档简介
揭开PCB最后表面处理之迷HASLOSP银和浸锡上面。尽管以产品生命周期短和迅猛的技术改变闻名,电子工业还不得不采纳一种工业应用广泛的热空气焊锡均涂(HASL,hotairsolderleveling)的替代技术。在过去十年,有许多的论文发表,预言HASL会由有机可焊性爱护层(OSP,organicsolderabilitypreservatives)、无电镀镍/浸金(ENIG,electrolessnickel/immersiongold)或新的金属浸泡技术诸如银与锡所取代。到目前为止,还没有一个预言变成现实。HASLHASL从成本的观点来看,许多电子元件诸如移动通信和个人运算机正变成任意使用的商品,以成本或更低的价格销售,来保证互连网或 服务合约。那个策略使得这些商品大量生产和日用品化因此必须考虑成本和对环境的长期阻碍环境的关注通常集中在潜在的铅泄漏到环境中去。仅管在北美的立法禁止铅的使用依旧几年后的情况,然而原设备制造商(OEM,originalequipmentmanufacturer)必须满足欧洲和日本的环境法令,以使其产品作全球销售。那个考虑差不多孕育出许多课题,评估在每一个要紧的OEM那儿排除铅的可选方法。HASL的替代方法承诺无铅印刷电路板(PWB,printedwiringboard),也提供平坦的共面性表面,满足增加的技术要求。更密的间距和区域阵列元件已承诺增加电子功能成本节约是整个过程成本的函数,包括过程化学、劳力和企业一样治理费用(图一)。象OSP、成本节约是整个过程成本的函数,包括过程化学、劳力和企业一样治理费用(图一)。象OSP、20~的减少。尽管每块板的节约百分比在高层数多层电路板产品上可能低,日用电子的成本节约,随着更大的功能性和铅的排除,将促使替代方法使用的急剧增加。HASLENIG、OSP、浸锡和浸银等替HASLPWB装配要求HASL替代方法对装配过程的作用反映表面的可焊性和它如何与使用的焊接材料相互作用。每一类替代的表面涂层OSPorganometallic)(浸锡和银)或金属的(ENIG)装配过程的设定和焊接点的可靠性。OSPOSPPWB上。1浸洗工艺,如浸银或锡,有机共同沉淀排除最终表面的OSP,锡和银溶解在焊锡里面,将成为焊接点PWB直截了当形成焊接点。ENIG使用ENIG了当在PWB所有三类替代涂层都提供最佳的印刷表面,对所有类型的锡膏都一样。锡膏直截了当印在表面涂层上面,提供助焊OSPPWBHASLOSP,直截了当焊接到铜的表面,提供最好强度的焊接点。当使用区域阵列片状包装的较小焊盘时,焊接点的强度变得重要。下与OSP/或来增加焊锡渗透。全球范畴内正在实施取代传统波峰焊接工艺的方法。插入式回流(intrusivereflow)、选择性焊锡喷泉(selectivesolderfountain)和顺应针(compliantpin)正实际上使用在所有最终表面涂层上。至今为止所完成的工作说明,选择性焊锡喷泉的动荡改善了通孔(through-hole)的可熔湿性。孔中锡膏(paste-in-hole)或侵入式回流将助焊剂和助焊剂PWB(compliantpin)的HASL为顺应针提供最宽的操作窗口。4装配工业现在正评估无铅焊接替代品。尽管某些合金看OEMOSP、浸银或浸锡的OSP和锡与银表面熔湿,甚至是双面回流。另外的测试正在进行中,以评估熔湿速度的阻碍和优化对最终表面涂层的特定回流参数。为了满足所有这些要求,电子工业正将注意力集中在三种要紧的替代方为了满足所有这些要求,电子工业正将注意力集中在三种要紧的替代方法上:OSP、浸银和浸锡。这三种涂层表面涂层。PWB象按键接触(keycontact)、元件屏蔽(componentshielding(edgeconnector用要求在整个设备寿命内的接触电阻低。热器。PWB(wirebonding直截了当芯片附着用的导电性胶的兼容性。PWB(HDI,high-density几何形状戏剧性地阻碍使用传统无电镀涂层的合格率。ENIG强度不够而显现的现场失效(fieldfailure)。尽管生产已证实按键接触,但尽管生产已证实按键接触,但ENIGOSPPWB设计是关键的话。那个高接合强OSP磨性或电解金沉淀的可焊性,要求多金属涂层,如用于插件连接器或金引线接合(goldwirebonding)的电解镍/金。高OSP度使得OSP(areaarraypackage)的选择。OSP都能够在最终表面处理之前容易地应用在板列形式。不象OSP,浸或无电镀工艺将镀在不锈钢或铝上面,引起变色。和OSPENIG合于一种现存的无铅波峰焊接工艺。这种表面处理方法是大多数应用的潜在替代方法,包括屏蔽、铝引线接合、按键接触和焊接。表一、浸银涂层的接触电阻0.02010oz。模拟压缩连接器如表一所示,那个涂层的接触电阻在通过老化或回流工序之后保持专门低。初始的研究显示,接触电阻在与导电聚表一、浸银涂层的接触电阻0.02010oz。模拟压缩连接器100%接合。电阻以欧姆测量。涂层 处理 系列号读数#1电阻读数#2电阻读数#3电阻OSP BTH10370KG20.5001.250.500OSP 无环境处10370KKY0.5000.5000.500理锡BTH处理10370KGM0.0250.0250.025锡无环境处10370KHW0.0250.0250.025理银BTH处理10370K9Z0.0250.0250.025银无环境处10370K8Y0.0250.0250.025理镍/金无环境处无0.0250.0250.025理Sn63/Pb37无环境处无0.0250.0250.025理PWB但是,差不多开发出新的化学成分,使有机物与锡一起沉淀在铜的表面。这种共同沉淀的有机物排除纤维状结晶(whisker)的增长,这是一个可靠性问题,阻碍铜锡金属间的增长,阻碍可焊接性能。(3050millionths在线测试(ICT,in-circuittestICT结论OSP、浸银和浸锡用于混合技术和水溶性与免洗装配技PWBOSP(chip-scale装芯片(fli
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