安卓智能手机整机可靠性测试标准教材

深圳卓普通讯设备有限公司文件编号:文件编号:WI-QA-001发布日期：2012.6.27手机整机可靠性测试标准编制：徐海审核：陈善根批准：李建军ISO9000质量管理体系文件

深圳卓普通讯设备有限公司文件编号：WI-QA-001版本：A01手机整机可靠性测试标准生效日期：2012.6.27页次：第19页共19页文件信息部门审批/日期：相关部门审核：□硬件部：□软件部：□生产部：□品质部：□总经理：修订记录版本日期 修订记录 修订者审核批准文件发放接收者部门时间接收者部门时间目录TOC\o"1-4"0. 短语和参考文献 50.1 缩略语 50.2 术语和定义 50.3 参考文献 51. 目的 62. 编制依据 63. 适用范围 64. 术语，定义 65. 职责描述 66. 可靠性测试（ART）标准 76.1 加速寿命测试（AcceleratedLifeTest） 76.1.1 室温下功能测试（FunctionalTest） 76.1.2 跌落测试（DropTest） 76.1.3 温度冲击测试（ThermalShock） 76.1.4 湿热测试（HumidityTest） 76.1.5 振动测试（VibrationTest） 86.1.6 静电测试（ESDTest） 86.2 气候适应性测试（ClimaticStressTest） 96.2.1 室温下参数测试（ParametricTest） 96.2.2 高温/低温工作测试（ParametricTest） 96.2.3 湿热测试（ParametricTest） 错误！未定义书签。6.2.4 高温/低温存储功能测试（FunctionalTest） 96.2.5 灰尘测试（DustTest） 106.2.6 盐雾测试（SaltFogTest） 106.3 结构耐久测试（MechanicalEnduranceTest） 106.3.1 侧键测试（SideKeyTest） 106.3.2 充电器插拔测试（ChargerTest） 106.3.3 电池/电池盖拆装测试（Battery/BatteryCoverTest） 116.3.4 耳机插拔测试（HeadsetTest） 116.3.5 SD卡/SIM卡插拔测试（SDCardTest） 116.3.6 水滴实验（针对电容屏） 126.3.7 喇叭寿命测试（Speakerlifetest） 126.3.8 马达寿命测试（Vibrationdurabilitytest） 126.4 表面装饰测试（DecorativeSurfaceTest） 126.4.1 外壳表面处理测试 126.4.2 TP表面硬度测试（TPHardnessTest） 146.4.3 钢球冲击测试（BallDropTest） 146.5 特殊条件测试（SpecialStressTest） 156.5.1 扭曲测试（TwistTest） 156.5.2软压测试（PressTest） 156.5.3硬压测试 156.5.4循环跌落测试（Micro-dropTest） 166.5.5滚筒跌落测试（FreeFallTest） 166.6 其他测试（OtherTest） 166.6.1 螺母测试（NutTest） 166.6.2 I/O接口试验 166.6.3 耳机插口强力插入测试（EarphoneConnectorEvaluationTest） 176.6.4 保护盖（耳机塞、I/O接口塞、RF塞、螺丝塞等）测试 176.6.5 TP/LENS测试（TP/LensTest） 186.6.6水煮试验 187. 最终检验 19短语和参考文献缩略语无术语和定义ART：AcceleratedReliabilityTest（可靠性实验）参考文献序号文件编号日期作者文件题目1YD/T1539-2006中华人民共和国通信行业标准《移动通信手持机可靠性技术要求和测试方法》234目的评估产品的质量和可靠性。编制依据2.1GB/T2421-1999电工电子产品环境试验第一部分：总则2.2GB/T15844.2-1995移动通信调频无线电话机环境要求和实验方法2.3GB/T15844.3-1995移动通信调频无线电话机可靠性要求及实验方法2.4GB/T2423.1-2001电工电子产品环境试验第1部分：实验方法试验A：低温2.5GB/T2423.1-2001电工电子产品环境试验第2部分：实验方法试验B：高温2.6GB/T2423.1-2001电工电子产品环境试验第2部分：实验方法试验Ed：自由跌落2.7GB/T2423.10-1995电工电子产品环境试验第2部分：实验方法试验Fc和导则：振动2.8GB/T2423.3-93电工电子产品基本环境试验规程试验Ca：恒定湿热试验方法2.9信息产业部科技司-移动电话机入网检验细则，2000年10月发布适用范围适用于卓普通讯研发的所有产品及其配件。术语，定义ART：AcceleratedReliabilityTest（可靠性实验）。职责描述5.1可靠性测试工程师5.1.1产品可靠性具体测试项目的执行、跟踪；5.1.2可靠性实验室的日常管理；5.1.3实验机器的日常维护；5.1.4实验室数据库的管理。5.1.5制定可靠性测试程序及标准；5.1.6定义产品可靠性测试计划；5.1.7可靠性测试设备的开发、维护。5.1.8跟踪可靠性测试报告，并跟进失效问题的分析和解决；。5.2项目工程师5.2.1提出可靠性测试的需求；5.2.2对可靠性测试出现的问题及时解决和反馈。可靠性测试（ART）标准加速寿命测试（AcceleratedLifeTest）室温下功能测试（FunctionalTest）☆测试环境：室温（25°C）☆测试数量：10台☆测试方法：将手机处于开机状态，然后在室温下进行功能检查。☆检验标准：手机各项功能正常。跌落测试（DropTest）☆测试条件：室温，大理石地面，2.4寸及以下的显示屏：1.2m；2.4~2.8寸：1.0m；3.0~3.5：0.8；3.5以上：0.6m☆测试数量：2台☆测试方法：将手机处于开机状态，进行6个面的自由跌落实验，每个面的跌落次数为1次，跌落两个循环，跌落之后进行外观、机械和电性能检查。手机跌落顺序如下：正面-背面-左侧-右侧-顶部-底部。☆检验标准：手机各项功能正常，内存无丢失，外壳无变形、破裂、掉漆，显示屏无破碎，内部元件无脱落。备注：电池/电池盖脱落、掉卡（重装后可以识卡）为参考，可以不记录为问题温度冲击测试（ThermalShock）☆测试环境：低温箱：-30°C；高温箱：+70°C☆测试数量：2台☆测试方法：将手机设置成关机状态放置于高温箱内持续60分钟后，在15秒内迅速移入低温箱并持续60分钟，循环24次。实验结束后将样机从温度冲击箱中取出，并恢复2小时后进行外观、机械和电性能检查。☆检验标准：手机各项功能正常，内存无丢失，结构及外壳无异变。湿热测试（HumidityTest）☆测试环境：+60°C，90%RH☆测试数量：2台☆测试方法：将手机处于带电池关机状态（不插卡），手机斜放45度角（一半显示屏朝上，一半显示屏朝下）在温度实验箱内的架子上，持续48个小时之后取出，将手机放置在常温环境下恢复4小时，然后进行外观、机械和电性能检查。☆检验标准：手机各项功能正常，内存无丢失，结构及外壳无异变。振动测试（VibrationTest）☆测试数量：3台☆测试条件：振幅：0.38mm/振频：10~30Hz；振幅：0.19mm/振频：30~55Hz☆测试方法：将手机开机放入振动箱。X、Y、Z三个轴向分别振动1个小时之后取出然后进行外观、机械和电性能检查。☆检验标准：手机各项功能正常，内存无丢失，尤其是显示屏和SPL，外壳无严重损伤（如掉漆），内部元件无脱落。静电测试（ESDTest）☆测试环境：周围温度：15°C～35°C，相对湿度：30％～60％，大气压：86K～106KPa☆测试条件：接触放电，+/-4KV，+/-6KV；空气放电，+/-8KV，+/-10KV☆测试数量：2台☆测试方法：将样机放置静电测试台的绝缘垫上，并且用充电器加电使手机处于充电状态（样机与绝缘垫边缘距离至少2英寸；两个样机之间的距离也是至少2英寸）打开静电枪，综测仪（如果条件允许连接综测试仪进行测试，否则实网呼叫“112”或拔打“10086”/“10010”进行测试）。手机连接综测试仪，调节放电方式，分别选择接触放电和空气放电的对应级别，空气放电是先按住开关再让圆形枪头靠近测试位置（距离小于3mm，但不能碰触到），松开放电；接触放电是先让尖形枪头接触放电位置，再按开关放电。对手机指定部位放电10次，每测试一次，同时手机对地放电一次。做完一个部位的测试，检查手机功能、内存、信号和灵敏度，并观察手机在测试过程中有无死机，通信链路中断，LCD显示异常，自动关机及其他异常现象样机应与综测仪建立起呼叫连接的状态下进行各个放电方式、级别和极性的测试，建立呼叫时可呼“112”或拔打“10086”/“10010”建立起呼叫。样机放电点的定义：接触放电仅对于样机的金属部件、金属装饰件、金属材料或有金属性能的涂层，Lens等放电；空气放电对于样机经常被直接接触到的有缝隙的地方,如对翻盖底壳/面壳、大小LCD四周、受话器、主机按键、侧键、主机底壳、耳机口&尾插口、转轴处等。空气放电前，去除所有的塞子，如充电器耳机塞子等。☆检验标准：接触放电标准：±6KV，手机要求功能正常工作，不允许有屏闪，屏抖，黑线，横纹，竖纹，屏无显示，变暗，变黑，重新启动，关机，通讯链路断等以及其它未描述到的现象，如出现以上现象在不重新开机的情况下可很快自我恢复则判定为通过，否则视为不通过；空气放电标准：±10KV，手机要求能正常工作，不允许有屏闪，屏抖，黑线，横纹，竖纹，屏无显示，变暗，变黑，重新启动，关机，通讯链路断等以及其它未描述到的现象，如出现以上现象在不重新开机的情况下可很快自我恢复则判定为通过，否则视为不通过。备注：静电释放位置的确定要依据产品的具体情况进行定义，并不局限于上述所列位置。气候适应性测试（ClimaticStressTest）A：一般气候性测试：室温下参数测试（ParametricTest）☆测试环境：室温☆测试数量：2台☆测试方法：使用参数测试仪，参照附件（1）项目列表，对所有样品进行电性能指标测试。☆检验标准：所有附件（1）中电性能指标正常，功能正常。高温/低温工作测试（ParametricTest）☆测试环境：-20°C/+55°C☆测试数量：2台☆测试方法：将手机处于开机状态，放入温度实验箱内的架子上。分别持续4个小时之后（与环境温度平衡），然后在此环境下进行电性能检查，检查项目见附表（1）。☆检验标准：手机电性能指标满足要求，功能正常，內存无丢失，外壳无变形。高温/低温存储功能测试（FunctionalTest）☆测试环境：-30°C/+70°C☆测试数量：2台☆测试方法：将手机处于关机状态，放入温度实验箱内的架子上。在高温持续24个小时后转至低温持续24个小时后取出，并放置2小时恢复至常温，然后进行功能检查。☆检验标准：手机功能正常，內存无丢失，外壳无变形。B：恶劣气候性测试灰尘测试（DustTest）☆测试环境：35°C☆测试数量：2台☆测试方法：将手机关机放入灰尘实验箱内。灰尘大小130目，持续3个小时之后，然后将手机从实验箱中取出，进行检查。☆检验标准：手机各项功能正常，所有活动元器件运转自如，显示区域没有明显灰尘。盐雾测试（SaltFogTest）☆测试环境：35°C☆测试数量：2台☆测试方法：溶液含量：5%的氯化钠溶液。水流量：600立方厘米/小时。喷雾水压：80Kpa将手机安装电池、电池盖以及塞子等处于关机状态放在盐雾试验箱内，样机用绳子悬挂起来或斜放，以免溶液喷洒不均或有的表面喷不到。样机需立即被放入测试箱。实验周期是36个小时。测试中每12h，24h、36h检查一次手机的外观。实验过程中样机不得被中途取出，如果急需取出测试，要严格记录测试时间，该实验需向后延迟相同时间。取出样机，将手机和电池分开放置24小时进行常温干燥，对其进行外观及功能检查。☆检验标准：手机各项功能正常，手机外壳表面及装饰件无明显腐蚀等异常现象。结构耐久测试（MechanicalEnduranceTest）侧键测试（SideKeyTest）☆测试环境：室温☆测试频率：40-60cycles/min☆测试数量：2台☆测试方法：将手机设置成关机状态固定在测试夹具上，用7N的力对侧键进行5万次按压测试。每1万次检查手机侧键弹性及功能。☆检验标准：手机侧键弹性及功能正常。充电器插拔测试（ChargerTest）☆测试环境：室温☆测试频率：15-20cycles/min☆测试数量：2台☆测试方法：将手机设置成开机状态，将充电器接上电源，连接手机充电接口，等待手机至充电界面显示正常后，插拔充电插头5000次。☆检验标准：USB插座无焊接故障，USB插头无损伤，手机及充电器的功能使用正常。电池/电池盖拆装测试（Battery/BatteryCoverTest）☆测试环境：室温☆测试频率：15-20cycles/min☆测试数量：2台☆测试方法：将电池/电池盖反复拆装2000次，分别在500次、1000次、1500次以及2000次后检查电池盖的松紧度。☆检验标准：手机及电池/电池盖各项功能正常，电池触片和电池连接器应无下陷、变形及磨损的现象，外观无异常。耳机插拔测试（HeadsetTest）☆测试环境：室温☆测试频率：15-20cycles/min☆测试数量：2台☆测试方法：将手机处于开机状态，耳机插在手机耳机插孔内，然后拔出，反复3000次；完成后对样机及耳机进行结构、功能、外观检查。☆检验标准：实验前，用手握住耳机并拉起手机，耳机能承受手机机身重量；实验后检查耳机插座无焊接故障，耳机插头无损伤，使用耳机通话接收与送话无断续、杂音（通话过程中转动耳机插头），耳机插入手机耳机插孔时不会松动（可以承受得住手机本身的重量）。SD卡/SIM卡插拔测试（SDCardTest）☆测试环境：室温☆测试频率：30-40cycles/min☆测试数量：2台☆测试方法：将手机处于关机状态，SD卡/SIM卡插在手机SD/SIM卡座内，然后拔出，反复1000次。☆检验标准：卡座应无变形、无破损阻塞并能通过功能测试。水滴实验（针对电容屏）☆测试环境：室温☆测试样品数量：3台☆测试方法：滴10滴水在TP上，每两次用手拨动一次TP，看TP是否出现错误的动作，若TP正常，继续滴水，若TP出现错误动作或失效的情况就擦干水晾干后，检查TP是否正常，若正常就继续滴水，若不正常就停止滴水。☆检验标准：水擦干后TP的工作是否正常。喇叭寿命测试（Speakerlifetest）☆测试环境：室温☆测试数量：2个☆测试方法：室温条件下，将实验样机设置长时间响铃状态，音量调到最大，试验时间96小时，每2小时检查响铃情况。☆测试标准：试验时间机内及完成后响铃正常，人耳感觉无明显差异。马达寿命测试（Vibrationdurabilitytest）☆测试环境：室温☆测试数量：2个☆测试方法：室温条件下，将实验样机设置长时间振动状态，试验时间96小时，每2小时检查响铃情况。☆测试标准：试验时间机内及完成后振动正常，无振动减弱及振动异响等不良。表面装饰测试（DecorativeSurfaceTest）外壳表面处理测试6.4.1.1附着力测试（CoatingAdhesionTest）☆测试环境：室温☆试验方法：用百格刀刻出1mm*1mm，10*10的网格，划格的深度以露出底材为止，用3M600号胶带纸贴在方格面后用橡皮擦擦平胶纸，1分钟后迅速以90度的角度撕脱，同一位置重复三次，检查方格表面油漆。印刷位置不划格，直接用胶带撕三次。☆检验标准：有涂层脱落的方格数应不大于总方格数的3%；单个方格涂层脱落面积不大于单个方格总面积的15%，印刷不允许有脱落。6.4.1.2环境后附着力测试☆测试环境：对高低温存储，湿热和温度冲击测试后的样品进行附着力测试☆试验方法：用百格刀刻出1mm*1mm，10*10的网格，划格的深度以露出底材为止，用3M600号胶带纸贴在方格面后用橡皮擦擦平胶纸，1分钟后迅速以90度的角度撕脱，同一位置重复三次，检查方格表面油漆。印刷位置不划格，直接用胶带撕三次。☆检验标准：有涂层脱落的方格数应不大于总方格数的3%；单个方格涂层脱落面积不大于单个方格总面积的15%，印刷不允许有脱落。6.4.1.3磨擦测试（AbrasionTest-RCA）☆测试环境：室温☆测试频率：15-20cycles/min☆试验方法：将手机外壳固定在RCA试验机上，用175g力摩擦。UV漆，电镀件300圈PU漆，金属漆150圈橡胶漆50圈印刷200圈（橡胶漆上面印刷50圈）☆检验标准：耐磨点涂层不能脱落，不可露出底材质地。6.4.1.4硬度测试（HardnessTest）☆测试环境：室温☆试验方法：用2H(橡胶漆，素材:1H)的铅笔（注：使用中华牌铅笔，铅笔削好后用砂纸垂直方向打磨成圆柱形），在45度角下，以1000g的力度在机壳表面划出5条约5mm长的线条。☆检验标准：划痕用橡皮擦去铅笔痕迹后，没有明显留下划痕。6.4.1.5酒精/橡皮耐磨测试（AlcoholTest）☆测试环境：室温☆试验方法：用98％的酒精，负荷500g，来回摩擦200循环；用测试专用7017R橡皮，负重500g，来回摩擦200循环。☆检验标准：耐磨点涂层不能脱落，不能变色，褪色，不可露出底材质地。6.4.1.6汗液测试（PerspirationTest）☆测试环境：40℃，90%RH☆测试方法：把滤纸放于酸性溶液（Acid2PH=4.7）（酸性溶液可以按如下方式配制，NACL：11.3％，磷酸二氢钠：2.8％，乳酸：1.1％，水：84.8％；或者按照其他方式进行配制）充分浸透，用胶带将浸有酸性溶液的滤纸粘在外壳喷漆表面，并且确保试纸与外壳喷漆表面充分接触，然后放在测试环境中，24小时后将外壳从测试环境中取出，并且放置2小时后，检查外壳表面。☆检验标准：表面无变色、褪色等异常。6.4.1.7紫外线照射测试（UVilluminantTest）（参考）☆测试环境：50☆测试方法：将壳体放入实验箱内用夹板固定，使其壳体喷漆面朝向紫外线灯光。将气候试验箱打开升至50℃☆检验标准：在日光灯下距30cm目视表面喷漆无褪色，变色，纹路，开裂，剥落以及与测试前不一致的外观。TP表面硬度测试（TPHardnessTest）☆测试环境：室温☆测试数量：2台☆测试方法：用2H铅笔（中华牌），在45度角下，以1000g的力在镜盖表面划出5条约5mm长的线条。☆检验标准：划痕用橡皮擦去铅笔痕迹后，没有明显留下划痕。钢球冲击测试（BallDropTest）☆测试环境：室温☆测试数量：2台☆测试设备：采用2种：1.小球直径为32mm，135g重，5cm高度跌落2．小球110g重，35cm高度跌落☆测试方法：在设备上进行试验时，采用110g重钢球，35cm的高度。开机不插卡，平放在工作台上，从35cn高处将钢球自由落体，跌落1次，打击镜片显示区域中心点。在无设备情况下，采用32mm，135g重钢球，5cm的高度。开机不插卡，平放在工作台上，从35cn高处将钢球自由落体，跌落5次，打击到镜片的位置描述如下：显示区域中心一个点，相邻2边1/4处交点的4个点。☆检验标准：镜片无变形、裂缝、破损（允许镜片表面有白点），LCD无裂纹、无显示功能及触屏失效现象。特殊条件测试（SpecialStressTest）扭曲测试（TwistTest）☆测试环境：室温☆测试频率：30-40cycles/min☆测试数量：2台☆测试方法：将试验样机装配电池，关机状态，放置在扭力测试仪上，30次/分钟的速率,扭矩大小设置为机身厚度乘0.08（单位N.m），循环周期5000次；每500次对手机的外观，功能进行检测，测试完成后拆机对壳体内部以及主板、元器件检查。每500次对手机的外观，功能进行检测，测试完成后拆机对壳体内部以及主板、元器件检查。☆检验标准：壳体无损伤，裂痕；手机功能正常，壳体内部，主板以及元器件良好。6.5.2软压测试（PressTest）☆测试环境：室温☆测试频率：40-60cycles/min☆测试数量：2台☆测试方法：将手机处于开机状态，固定在坐压试验机上，用25KG的力反复挤压手机2000次，1台机压正面，1台机压背面；500次检查一次。☆检验标准：手机没有变形，內存无丢失，外观无异常，且各项功能正常。6.5.3硬压测试☆测试环境：室温☆测试频率：40-60cycles/min☆测试数量：2台☆测试方法：将手机处于开机状态，固定在坐压试验机上，用直径20mm铝材杆施加13Kg的力，作用在横轴中心，以40次/min的速率挤压500次，正反面各200次。☆检验标准：手机没有变形，內存无丢失，外观无异常，且各项功能正常。6.5.4循环跌落测试（Micro-dropTest）☆测试环境：室温，7cm高度，4mm厚PVC板☆测试频率：15-20cycles/min☆测试数量：2台☆测试方法：手机处于开机状态，插入SIM卡和T卡，做手机正面及背面的重复跌落实验，每个面的跌落次数为5000次（即1台手机测试1万次）。每1000次进行外观、机械和功能检查。☆检验标准：手机各项功能正常，內存无丢失，每台掉电、掉SIM卡、T卡不能超过2次；外壳无变形、破裂、掉漆，显示屏无破碎，内部元件无脱落。6.5.5滚筒跌落测试（FreeFallTest）☆测试环境：室温☆测试数量：2台☆测试方法：试验样机插SIM卡，并装配电池，手机处于正常工作状态。将样品放置在0.5m的滚筒跌落试验机中，进行跌落测试，每50次对手机的外观，功能，结构做检测，累计跌落200次（100圈）。测试完成后，对手机进行功能，结构，装配检测（要求必须拆机检查）。☆检验标准：滚筒跌落测试后，手机各项功能应正常，无合缝变大，卡扣变形等结构不良。试验中，若因为设计原因导致跌落电池盖松动脱落，可采用加贴胶纸的方式固定电池盖进行测试。其他测试（OtherTest）螺母测试（NutTest）☆测试环境：室温☆测试数量：3台 ☆测试方法：扭力测试仪，扭力≥1.2kgf.cm不可转动；拉力测试仪，拉力≥7.5kgf不可脱落☆检验标准：螺母无变形、损伤、裂纹、划丝等异常。I/O接口试验6.6.3.1I/O接口不正确插入试验☆测试环境：室温☆测试数量：2台☆测试方法：在所有可能的方向，以7kgf的力插入插头。☆检验标准：I/O接口无机械损伤、短路等现象；I/O接口具有防呆设计。6.6.3.2I/O接口插头拉出强度试验（仅限有防脱出设计的IO接口） ☆测试环境：室温☆测试数量：2台☆测试方法：用5kgf的力拉出插头。☆检验标准：插头不被拉出。耳机插口强力插入测试（EarphoneConnectorEvaluationTest）☆测试环境：室温，推拉力计☆测试数量：2台☆测试方法：用5kgf的力瞬时插入耳机插口。☆检验标准：耳机插口的电气、结构性能正常；无插头断裂、耳机插口断裂、耳机线损坏等现象发生。保护盖（耳机塞、I/O接口塞、RF塞、螺丝塞等）测试（ProtectCoverEvaluationTest）6.6.4.1拉伸测试☆测试环境：室温，推拉力计☆测试数量：2台☆测试方法：用1.5kgf拉伸耳机塞和I/O接口塞。☆检验标准：对耳机塞、I/O接口塞，拉伸后无损伤，不脱出；对RF塞、螺丝塞无要求6.6.5.2低温弯折☆测试环境：-10☆测试数量：2台☆测试方法