标准解读

《GB/T 12565-1990 半导体器件 光电子器件分规范（可供认证用）》是中国的一项国家标准，发布于1990年，旨在为光电子器件的质量控制和认证提供统一的技术规范。该标准详细规定了光电子器件的分类、技术要求、试验方法以及检验规则等，以确保这些器件在性能、安全性和可靠性方面达到既定标准，适用于半导体行业中光电子器件的设计、生产、检验及认证过程。

标准内容概览：

  1. 范围：明确本标准适用的光电子器件类型，通常包括但不限于发光二极管（LED）、激光二极管、光电探测器等，以及这些器件在不同应用领域中的具体要求。

  2. 引用标准：列出执行本标准时需要参考的其他相关国家标准或国际标准，确保各项测试和评估有据可依。

  3. 术语和定义：对光电子器件相关的专业术语进行明确定义，便于标准使用者准确理解各项要求。

  4. 分类：根据光电子器件的工作原理、结构特点、应用领域等进行分类，每类器件可能有不同的性能指标和测试要求。

  5. 技术要求：详细说明各类光电子器件必须满足的性能指标，如光电转换效率、工作寿命、光功率输出、响应时间、稳定性和环境适应性等。

  6. 试验方法：规定了验证光电子器件是否符合技术要求的具体测试程序和方法，包括测试环境条件、测试仪器、测试步骤等，确保测试结果的准确性和可重复性。

  7. 检验规则：阐述产品检验的程序、抽样方法、合格判定准则等，用于判断产品是否达到出厂或销售的标准。

  8. 标志、包装、运输和贮存：规定了产品的标识信息、包装要求、运输条件及贮存环境，以保护产品在流通和储存过程中的完好性。

  9. 附加要求：可能包含针对特殊用途或特定客户的额外要求，或是未来可能出现的新技术、新材料的考量指导。


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  • 现行
  • 正在执行有效
  • 1990-12-12 颁布
  • 1991-10-01 实施
©正版授权
GB/T 12565-1990半导体器件光电子器件分规范(可供认证用)_第1页
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文档简介

UDC621.382.032.26L50中华人民共和国国家标准GB12565-90导体器件半光电子器件分规范SemiconductordevicesSectionalspecificationfor（.optoelectronicdevices（可供认证用)1990-12-12发布1991-10-01实施国家技术监督局发布

中华人民共和国国家标准体半导器件光电子器件分规范GB12565-90SemiconductordevicesSectionalspecificationforoptoelectronicdevices（可供认证用）花围1.1半导体光发射器件光电子显示器件：发光二极管(LED)C红外发射二极管(IRED)激光二极管。1.2：半导体光敏器件光敏二极管;光敏三极管；bC光控闸流晶体管。1.3半导体图像器件。1.4光帮合器。2总则本规范应与其有关的总规范一起使用；本规范规定了评定半导体光电子器件所需的质量评定程序检验要求、筛选顺序、抽样要求、试验和测试方法的细节。2.1有关文件GB4589.1（IEC747-10/0C700000）半导体器件分立器件和集成电路总规范》2.2温度的推荐值（优选值）见IC747-1《半导体器件分立器件和集成电路第一部分总则》第6.5条。2.33电压和电流的推荐值（优选值）IC747-1第6.6条。3质量评定程序3.1初始的制造阶段和转包初始的制造阶段为下述之一：单晶半导体器件改变纯P型或纯N型单品半导体材料的第一道工序。多晶半导

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