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  • 2014-06-24 颁布
  • 2015-01-22 实施
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GB/T 18858.7-2014低压开关设备和控制设备控制器-设备接口(CDI)第7部分:CompoNet_第1页
GB/T 18858.7-2014低压开关设备和控制设备控制器-设备接口(CDI)第7部分:CompoNet_第2页
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文档简介

ICS2913020

K30..

中华人民共和国国家标准

GB/T188587—2014/IEC/PAS62026-72009

.:

低压开关设备和控制设备

控制器-设备接口CDI

()

第7部分ComoNet

:p

Low-voltageswitchgearandcontrolgear—Controller-device

interfacesCDIs—Part7ComoNet

():p

(IEC/PAS62026-7:2009,IDT)

2014-06-24发布2015-01-22实施

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布

中国国家标准化管理委员会

GB/T188587—2014/IEC/PAS62026-72009

.:

目次

前言

…………………………Ⅰ

引言

…………………………Ⅲ

范围

1………………………1

规范性引用文件

2…………………………1

术语定义符号和缩略语

3、、………………2

分类

4………………………6

特性

5………………………9

产品信息

6………………103

常规服务安装和运输条件

7、……………103

结构和性能要求

8………………………104

测试

9……………………138

附录规范性附录公共服务

A()CompoNet…………149

附录规范性附录出错代码

B()CompoNet…………150

附录规范性附录连接路径属性定义

C()……………151

附录规范性附录数据类型规范和编码

D()…………152

附录规范性附录通信对象库

E()……………………155

附录规范性附录值的范围

F()………………………156

附录规范性附录默认时间域

G()CN…………………157

参考文献

……………………161

GB/T188587—2014/IEC/PAS62026-72009

.:

前言

低压开关设备和控制设备控制器设备接口分为以下部分

GB/T18858《-》:

第部分总则

———1:;

第部分执行器传感器接口

———2:(AS-i);

第部分

———3:DeviceNet;

第部分

———7:CompoNet。

本部分是的第部分

GB/T188587。

本部分按照给出的规则起草

GB/T1.1—2009。

本部分与低压开关设备和控制设备控制器设备接口第部分总则一起

GB/T18858.1《-1:》

使用

本部分等同采用低压开关设备和控制设备控制器设备接口第部

IEC/PAS62026-7:2009《-7

分本部分在技术内容和编写格式上与低压开关设备和控制设备

:CompoNet》,IEC/PAS62026-7:2009《

控制器设备接口第部分一致

-7:CompoNet》。

与本标准中规范性引用的国际文件有一致性对应关系的我国文件如下

:

电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第部分总则

———GB/T5095.1—19971:(idt

IEC60512-1:1994)

外壳防护等级代码

———GB4208—2008(IP)(IEC60529:2001,IDT)

电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验

———GB/T17626.2—2006(IEC61000-4-2:

2001,IDT)

电磁兼容试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度试验

———GB/T17626.3—2006

(IEC61000-4-3:2002,IDT)

电磁兼容试验和测量技术电快速瞬变脉冲群抗扰度试验

———GB/T17626.4—2008

(IEC61000-4-4:2004,IDT)

电磁兼容试验和测量技术浪涌冲击抗扰度试验

———GB/T17626.5—2008()(IEC61000-4-5:

2005,IDT)

电磁兼容试验和测量技术射频场感应的传导骚扰抗扰度

———GB/T17626.6—2008

(IEC61000-4-6:2006,IDT)

可编程序控制器第部分设备要求和测试

———GB/T15969.2—20082:(IEC61131-2:2007,

IDT)

低压开关设备和控制设备控制器设备接口第部分总则

———GB/T18858.1—2002-(CDI)1:

(IEC62026-1:2000,IDT)

信息技术开放系统互连基本参考模型第部分基本模型

———GB/T9387.1—19981:(idt

ISO/IEC7498-1:1994)

工业科学和医疗射频设备骚扰特性限值和测量方法

———GB4824—2013、(ISM)(CISPR11:

2010,IDT)

本部分由中国电器工业协会提出

本部分由全国低压电器标准化技术委员会归口

(SAC/TC189)。

本部分主要起草单位上海电器科学研究院

:。

GB/T188587—2014/IEC/PAS62026-72009

.:

本部分参加起草单位欧姆龙上海有限公司常熟开关制造有限公司深圳市泰永科技股份有限

:()、、

公司苏州电器科学研究所有限公司上海诺雅克电气有限公司上海电器设备检测所

、、、。

本部分主要起草人奚培锋赵芳

:、。

本部分参加起草人关鹏邵建国贺贵兵何秀明徐泽亮邢琳

:、、、、、。

GB/T188587—2014/IEC/PAS62026-72009

.:

引言

计划用于但不限于工业自动化领域这些应用可能包括限位开关接近传感器电力气

CompoNet,、、-

动阀继电器电动机起动器操作面板模拟输入模拟输出和控制器等设备

、、、、、。

本文件的发布机构提请注意声明符合本文件时可能涉及以下专利的使用

,,:

日本专利号重复地址检测方法现场总线系统中的从站和主站以及现场

———4023342,MAC,,

总线

;

日本专利号现场总线系统连接确认方法和主站

———4107110,,;

日本专利号的远程系统以及相应的执行方法

———3293089,PLCI/O,;

日本专利号以及在其他国家的对等专利通信主站的启动控制方法

———3925660,;

日本专利号以及在其他国家的对等专利减少通信系统中中继器延时的影响

———4006605,;

日本应用号通信设备和网络系统

———2004-059864,;

日本应用号连接电缆的连接器

———2004-022243,;

日本应用号减少通信系统中中继器延时的影响

———2007-167281,;

日本应用号带滤波功能的网络中继

———2005-252414,;

日本应用号可编程控制系统的事件通信方法

———2005-252758,;

日本应用号在系统中获得网络配置信息

———2005-203496,PLC;

日本应用号网络系统和控制器的映射方法

———2002-334265,I/O;

日本应用号事件通信的定时方法

———2005-252682,;

日本应用号以及在其他国家的对等专利接收数据补偿设备

———2005-105543,。

本文件的发布机构对于该专利的真实性有效性和范围无任何立场

、。

该专利持有人已向本文件的发布机构保证他愿意同任何申请人在合理且无歧视的条款和条件下

,,

就专利授权许可进行谈判该专利持有人的声明已在本文件的发布机构备案相关信息可通过以下联

。。

系方式获得

:

专利持有人姓名

:ODVA,Inc.

地址

:2370E.StadiumBoulevard#1000

AnnArbor,MichiganU.S.A.48104

请注意除上述专利外本文件的某些内容仍可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别这些专

,。

利的责任

GB/T188587—2014/IEC/PAS62026-72009

.:

低压开关设备和控制设备

控制器-设备接口CDI

()

第7部分ComoNet

:p

1范围

的本部分规定了在控制器和控制回路设备如传感器执行器以及开关元件之间提

GB/T18858,、,

供位级和字级通信的接口系统本接口系统使用圆形或扁平电缆它们包含一对信号导线和可选择的

。,,

一对电源导线

本部分规定了的下列特定要求

CompoNet:

控制器和控制回路设备间的接口要求

———;

设备的正常工作条件

———;

结构和性能要求

———;

一致性认证测试要求

———。

本部分适用于制定一个使具有该接口的器件能够互换的技术要求

这些特定要求是附加在通用要求之上的

IEC62026-1。

2规范性引用文件

下列文件对于本文件的应用是必不可少的凡是注日期的引用文件仅注日期的版本适用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于本文件

。,()。

电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第部分总则

IEC60512-11:(Connectorsfor

electronicequipment—Testsandmeasurements—Parts1:General)

外壳防护等级代码

IEC60529(IP)[Degreesofprotectionprovidedbyenclosures(IPCode)]

电磁兼容第部分试验和测量技术

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