标准解读

《GB/T 32188-2015 氮化镓单晶衬底片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法》是一项国家标准，专门针对氮化镓（GaN）单晶材料的晶体质量进行评估。该标准定义了一种通过X射线衍射技术来测量氮化镓单晶衬底片中特定方向上的双晶摇摆曲线，并基于此计算出其半高全宽（FWHM, Full Width at Half Maximum）的方法。这种方法能够有效反映样品内部缺陷密度、位错分布情况以及整体结晶度等重要信息。

根据标准内容，首先需要准备符合要求的氮化镓单晶衬底样品；接着使用适合的X射线衍射仪，在设定好的条件下对样品进行测试，获取对应于(002)或(102)面族的X射线衍射图谱；然后从获得的数据中提取出指定峰位处的双晶摇摆曲线；最后通过对这些曲线进行分析处理，得到相应的半高宽值。整个过程中需要注意控制实验条件的一致性，以保证测试结果的准确性和可比性。


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  • 现行
  • 正在执行有效
  • 2015-12-10 颁布
  • 2016-11-01 实施
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GB/T 32188-2015氮化镓单晶衬底片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法_第1页
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文档简介

ICS77040

H21.

中华人民共和国国家标准

GB/T32188—2015

氮化镓单晶衬底片X射线双晶摇摆曲线

半高宽测试方法

TestmethodforfullwidthathalfmaximumofdoublecrystalX-rayrocking

curveofGaNsinglecrystalsubstrate

2015-12-10发布2016-11-01实施

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布

中国国家标准化管理委员会

GB/T32188—2015

前言

本标准按照给出的规则起草

GB/T1.1—2009。

本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会与全国半导体设备和材料标准

(SAC/TC203)

化技术委员会材料分会共同提出并归口

(SAC/TC203/SC2)。

本标准起草单位中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所苏州纳维科技有限公司中国科学

:、、

院物理研究所北京天科合达蓝光半导体有限公司丹东新东方晶体仪器有限公司

、、。

本标准主要起草人邱永鑫任国强刘争晖曾雄辉王建峰陈小龙王文军郑红军徐科

:、、、、、、、、、

赵松彬

。

Ⅰ

GB/T32188—2015

氮化镓单晶衬底片X射线双晶摇摆曲线

半高宽测试方法

1范围

本标准规定了利用双晶射线衍射仪测试氮化镓单晶衬底片摇摆曲线半高宽的方法

X。

本标准适用于化学气相沉积及其他方法生长制备的氮化镓单晶衬底片

。

2规范性引用文件

下列文件对于本文件的应用是必不可少的凡是注日期的引用文件仅注日期的版本适用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于本文件

。,()。

半导体材料术语

GB/T14264

3术语和定义

界定的以及下列术语和定义适用于本文件

GB/T14264。

31

.

衍射平面thediffractionplane

射线入射束衍射束构成的平面

X、。

32

.

半高宽fullwidthathalfmaximumFWHM

;

摇摆曲线最大强度一半处曲线的宽度

。

33

.

χ轴χaxis

倾斜样品的轴由样品台表面和衍射平面相交而成

,。

34

.

χ角χangle

样品某晶面与样品表面的夹角

。

35

.

φ角φangle

样品台绕样品表面法线旋转的角度

。

36

.

φ扫描φscan

连续改变角并记录衍射强度的测量模式

φ。

37

.

ω角ω

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