GB/T 5095.2509-2020电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-9部分：信号完整性试验试验25i：外来串扰

ICS3122010

L23..

中华人民共和国国家标准

GB/T50952509—2020/IEC60512-25-92008

.:

电子设备用机电元件

基本试验规程及测量方法

第25-9部分信号完整性试验

:

试验25i外来串扰

:

Electromechanicalcomponentsforelectronicequipment—

Basictestingproceduresandmeasuringmethods—

Part25-9Sinalinterittests—

:ggy

Test25iAliencrosstalk

:

(IEC60512-25-9:2008,Connectorsforelectronicequipment—

Testsandmeasurements—Part25-9:Signalintegritytests—

Test25i:Aliencrosstalk,IDT)

2020-04-28发布2020-11-01实施

国家市场监督管理总局发布

国家标准化管理委员会

GB/T50952509—2020/IEC60512-25-92008

.:

目次

前言

…………………………Ⅲ

范围和目的

1………………1

规范性引用文件

2…………………………1

术语和定义

3………………1

概述

4………………………2

程序

4.1…………………2

试验条件

4.2……………3

总体试验配置

5……………3

总则

5.1…………………3

终端

5.2…………………4

试验连接器线对

5.3……………………4

自一个连接器至另一连接器的外来串扰试验程序

6……………………5

校准

6.1…………………5

测量噪声最低标准

6.2()………………6

外来串扰测量

6.3………………………6

外来串扰显著性确定程序

7………………7

相关详细规范应规定的细则

8……………7

功率和计算报告和试验记录文件

9、………………………7

附录资料性附录获取外来串扰性能数据的流程图

A()………………8

附录资料性附录外来串扰试验采用的同轴开关实例

B()……………9

参考文献

……………………13

Ⅰ

GB/T50952509—2020/IEC60512-25-92008

.:

前言

电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法按试验方法分为若干部分

GB/T5095《》。

的第部分为信号完整性试验已经发布或计划发布的部分如下

GB/T509525,:

第部分试验串扰比

———25-1:25a:;

第部分试验衰减插入损耗

———25-2:25b:();

第部分试验上升时间衰减

———25-3:25c:;

第部分试验传输时延

———25-4:25d:;

第部分试验回波损耗

———25-5:25e:;

第部分试验眼图和抖动

———25-6:25f:;

第部分试验阻抗反射系数和电压驻波比

———25-7:25g:、(VSWR);

第部分信号完整性试验试验外来串扰

———25-9:25i:。

本部分为的第部分

GB/T509525-9。

本部分按照给出的规则起草

GB/T1.1—2009。

本部分使用翻译法等同采用电子设备用连接器试验和测量第部

IEC60512-25-9:2008《25-9

分信号完整性试验试验外来串扰

:25i:》。

与本部分中规范性引用的国际文件有一致性对应关系的我国文件如下

:

电工术语电子设备用机电元件

———GB/T4210—2015[IEC60050-581:2008,IDT];

所有部分数字通信用对绞或星绞多芯对称电缆所有部分

———GB/T18015()[IEC61156()];

频率低于的印制板连接器第部分有质量评定的具有通

———GB/T15157.7—20023MHz7:

用插合特性的位固定和自由连接器详细规范

8[IEC60603-7:1996,IDT]。

本部分做了下列编辑性修改

:

标准名称由电子设备用连接器试验和测量第部分信号完整性试验试验外

———《25-9:25i:

来串扰修改为电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第部分信号完整性

》《25-9:

试验试验外来串扰

25i:》。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任

。。

本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出

。

本部分由全国电子设备用机电元件标准化技术委员会归口

(SAC/TC166)。

本部分起草单位四川华丰企业集团有限公司中国电子技术标准化研究院

:、。

本部分主要起草人庞斌朱茗肖淼刘俊汪其龙

:、、、、。

Ⅲ

GB/T50952509—2020/IEC60512-25-92008

.:

电子设备用机电元件

基本试验规程及测量方法

第25-9部分信号完整性试验

:

试验25i外来串扰

:

1范围和目的

的本部分规定的试验方法是用于评定安装在其安装系统内紧靠着的连接器之间的近

GB/T5095

端外来串扰和远端外来串扰组合式连接器和多端口面板连接器均可采用本方

(ANEXT)(AFEXT)。

法进行试验本方法提供了试验任何两端口之间外来外源的串扰的方式以及评定来自所有其他端

。(),

口的全部外来串扰本试验规程广泛地适用于机电元件中所有电连接器尤其适用于系

。,IEC60603-7

列和中所叙述的连接器以及用于数据传输的其他类型连接器

IEC61076-3-104,。

2规范性引用文件

下列文件对于本文件的应用是必不可少的凡是注日期的引用文件仅注日期的版本适用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于本文件

。,()。

国际电工词汇第章电子设备用机电元件

IEC60050-581(IEV)581:[InternationalElectro-

technicalVocabulary(IEV)—Chapter581:Electromechanicalcomponentsforelectronicequipment]

电子设备用连接器试验和测量第部分符合连接器

IEC60512-26-10026-100:IEC60603-7

的测量装置试验和标准配置及测量试验

、(26a~26g)[Connectorsforelectronicequipment—Testsand

measurement—Part26-100:Measurementsetup,testandreferencearrangementsandmeasurements

forconnectorsaccordingtoIEC60603-7(tests26ato26g)]

电子设备用连接器第部分频率达数据传输用通道非屏

IEC60603-7-4:20057-4:250MHz8

蔽自由和固定连接器详细规范

(Connectorsforelectronicequipment—Part7-4:Detailspecificationfor

8-way,unshielded,freeandfixedconnectors,fordatatransmissionswithfrequenciesupto250MHz)