GB/T 5095.3-1997电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第3部分：载流容量试验

ICS31.220L23中华人民共和国国家标准GB/T5095.3一1997idtIEC512-3:1976电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第3部分：载流容量试验ElectromechanicalcomponentsforelectronicequipmentBasictestingproceduresandmeasuringmethodsPart3：Current-carryingcapacitytests1997-12-26发布1998-10-01实施国家技术监督局发布

中华人民共和国国家标准电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第3部分：载流容量试验GB/T5095.3-1997中中国标准出版社出版发行北京西城区复兴门外三里河北街16号邮政编码：100045电话：63787337637874471998年7月第一版2006年3月电子版制作书号：155066·1-23447版权专有侵权必究举报电话：（010)68533533

GB/T5095.3-1997前基本试验规程及测量方法本标准等同采用IEC512-3:1976《电子设备用机电元件：第3部分：载流容量试验》，是对CB5095.3—86进行的第一次修订。本标准由中华人民共和国电子工业部提出。本标准由全国电子设备用机电元件标准化技术委员会归口。本标准由电子工业部标准化研究所负责起草。本标准主要起草人：余玉芳、汪其龙、张菊华、王玉堂。

GB/T5095.3-1997IEC前言J）IEC(国际电工委员会)在技术问题上的正式决议或协议，是由对这些问题特别关切的国家委员会参加的技术委员会制定的，对所涉及的问题尽可能地代表了国际上的一致意见。2）这些决议或协议以标准，技术报告或导则的形式发布，以推荐的形式供国际上使用,并在此意义上，为各国家委员会认可，3）为了促进国际上的统一，各IEC国家委员会有责任使其国家和地区标准尽可能采用IEC标准。IEC标准与相应国家或地区标准之间的任何差异应在国家或地区标准中指明。正C引国际标准IEC512-3由IEC/TC48（电子设备用机电元件)制定的，本标准是整套标准的第3部分。本标准与第1部分：总则(IEC512-1:1984）同使用。兼套标准包括的其他试验项目在IEC512-1的附录八中给出了总的计划。这些试验项目在制定后就发布、本标准预定取代1EC130-1《频率低于3MHz连接器第1部分：一般要求和试验方法》中相应的试验项目。试验5a的提案于1973年9月在伦敦召开的会议上讨论后形成文件48（C（))120于1974年7月发代行阅家委员会按“六个月法”表决。对试验5a赞同发布的国家如下：比利时阿根延加东大丹麦法国以色列心大利阿牙利罗马尼业西班牙土年其苏联美国南斯拉大试验5b的提案于1973年9月在伦敦召开的会议上讨论后形成文件48(CO)130于1974年8月发往各国家委员会按"六个月法"表决。然后以文件48（C())193于1975年10月发往各国家委员会按"二个月程序”表决。对试验5b赞同发布的国家如下：奥地利西比利时巴加拿大丹麦甸牙利以色利国意大利荷诚葡萄牙西班牙罗马尼亚瑞土耳其国国南斯拉夫

中华人民共和国国家标准电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法CB/T.5095.3-1997idtrEC512-3：1976第3部分：载流容量试验代替GB5095.3-86ElcctromechanicalcomponentsforclcctronieequipmentBasictestingproceduresandmeasuringmethodsPart3:Current-carryingcapacitytests范围本标准规定的试验方法，在TC48范围内·的电子设备用机电元件的详细规范要求时，应给以采用。类似元件的详细规范要求时，也可以采用。试验5a:温升1.1目的是确立详细的标准试验方法，以评定元件在连续传输规定电流而不超过规定温升的能力。1.2！试验样品准备试验样品应配备温度传感器件，连接规定线号的最短长度为50mm的导线，并按详细规范的规定安装试验样品、注：必须注意防止试验样品受气流或其他人为的冷却1.3！试验方法试验样品的每一接触件应加上规定的试验电流历时5h。试验前后应记录环境温度。1.4要求试验样品的每一接触件必须能通过规定的电流历时5h而不超过规定的温升。1.5需要规定的细节详细规范要求本项试验时应规定下列细节：a）温度传感器的灵敏度和放贸位置；b）导线号；c）试验样品的接线方法和引出端型别;d）试验样品的安装方法；·TC48的范围：制定用于通信设备和采用类似技术的电子装暨的具有机电连接和开关