标准解读
《JJF 1895-2021 半导体器件直流和低频参数测试设备校准规范》与《JJG 725-1991 半导体分立器件参数测试仪检定规程》相比,在多个方面进行了更新和完善,以适应当前技术发展和实际应用需求。具体变化包括但不限于:
-
适用范围调整:新标准明确了其适用于半导体器件(如二极管、三极管等)的直流及低频参数测试设备的校准,而旧标准则更侧重于半导体分立器件参数测试仪的检定。
-
术语定义更加明确:《JJF 1895-2021》对涉及的专业术语给出了更加详细准确的定义,有助于提高理解和执行的一致性。
-
增加了新的测试项目:根据近年来半导体行业的发展趋势和技术进步,《JJF 1895-2021》中引入了一些新的测试内容或方法,比如对于某些特定类型半导体器件特性的测量要求。
-
校准方法和技术要求更新:针对不同类型的半导体器件及其参数测试设备,《JJF 1895-2021》提供了更为先进的校准流程和技术指标,确保了测试结果的准确性和可靠性。
-
强调环境条件的影响:新版标准更加重视测试过程中周围环境因素可能带来的影响,并对此提出了相应的控制措施建议。
-
数据处理与不确定度评估:《JJF 1895-2021》加强了对实验数据处理方法以及不确定度分析的要求,旨在提供更加科学合理的测试结果评价体系。
这些变化反映了随着科学技术的进步和社会经济发展的需要,相关标准也在不断优化升级,以更好地服务于产业界的实际需求。
如需获取更多详尽信息,请直接参考下方经官方授权发布的权威标准文档。
....
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- 现行
- 正在执行有效
- 2021-02-23 颁布
- 2021-08-23 实施
文档简介
中华人民共和国国家计量技术规范
JJF1895—2021
半导体器件直流和低频参数
测试设备校准规范
CalibrationSpecificationforSemiconductorDevicesDCandLow
FrequencyParametersTestEquipments
2021-02-23发布2021-08-23实施
国家市场监督管理总局发布
JJF1895—2021
半导体器件直流和低频参数
ৣॣ
测试设备校准规范ॣॣॣॣॣॣॣॣॣॣॣॣॣৣॣ
ॣJJF1895—2021ॣ
ॣॣ
ৣॣॣॣॣॣॣॣॣॣॣॣॣ
CalibrationSpecificationforSemiconductorॣ代替ॣ
ॣJJG725—1991ৣ
DevicesDCandLowFrequencyParameters
TestEquipments
归口单位全国无线电计量技术委员会
:
主要起草单位中国电子技术标准化研究院
:
参加起草单位中国计量科学研究院
:
北京市科通电子继电器总厂有限公司
中国电子科技集团公司第十三研究所
北京励芯泰思特测试技术有限公司
本规范委托全国无线电计量技术委员会负责解释
JJF1895—2021
本规范主要起草人
:
刘冲中国电子技术标准化研究院
()
李洁中国电子技术标准化研究院
()
张珊中国电子技术标准化研究院
()
参加起草人
:
高英中国计量科学研究院
()
李奇北京市科通电子继电器总厂有限公司
()
乔玉娥中国电子科技集团公司第十三研究所
()
李力军北京励芯泰思特测试技术有限公司
()
JJF1895—2021
目录
引言
………………………(Ⅱ)
范围
1……………………(1)
概述
2……………………(1)
计量特性
3………………(1)
直流电阻
3.1……………(1)
电压输出
3.2……………(1)
电压指示
3.3……………(1)
电流输出
3.4……………(1)
电流指示
3.5……………(1)
低频信号源
3.6…………(1)
低频h参数
3.7………………………(1)
校准条件
4………………(2)
环境条件
4.1……………(2)
校准用设备
4.2…………(2)
校准项目和校准方法
5…………………(3)
校准项目
5.1……………(3)
外观和工作正常性检查
5.2……………(3)
直流电阻
5.3……………(3)
电压输出
5.4……………(4)
电压指示
5.5……………(6)
电流输出
5.6……………(7)
电流指示
5.7……………(9)
低频信号源
5.8…………(10)
低频h参数
5.9………………………(11)
校准结果表达
6…………(12)
复校时间间隔
7…………(12)
附录原始记录格式
A…………………(13)
附录校准证书内页格式
B……………(18)
附录主要项目校准不确定度评定示例
C……………(23)
附录被校设备的结构图面板及测试夹具端子说明示例
D、………(29)
Ⅰ
JJF1895—2021
引言
本规范依据国家计量校准规范编写规则和
JJF1071—2010《》JJF1059.1—2012
测量不确定度评定与表示编写
《》。
本规范是在晶体管直流和低频参数测试仪基础上进行修订与
JJG725—1991《》。
相比除编辑性修改以外主要技术变化如下
JJG725—1991,,:
修订了电流输出电流指示等校准项目
———、;
增加了主要项目校准结果不确定度评定的示例见附录
———(C)。
本规范历次版本发布情况
:
———JJG725—1991。
Ⅱ
JJF1895—2021
半导体器件直流和低频参数
测试设备校准规范
1范围
本规范适用于半导体器件直流和低频参数测试设备的校准
。
2概述
半导体器件直流和低频参数测试设备以下简称被校设备由偏置电压源偏置电
()、
流源电压测量单元电流测量单元低频信号源等组成主要用于各类半导体器件直
、、、,
流参数低频参数的测试
、。
3计量特性
直流电阻
3.1
范围最大允许误差
:0.005Ω~20GΩ,:±(0.1%~1%)。
电压输出
3.2
直流电压最大允许误差
a):±(0.01V~10kV),:±(0.1%~3%);
交流电压最大允许误差频率
b):±(0.1V~5000V),:±(1%~5%),:
50Hz。
电压指示
3.3
直流电压最大允许误差
a):±(0.01V~10kV),:±(0.1%~3%);
交流电压最大允许误差频率
b):±(0.1V~5000V),:±(1%~5%),:
50Hz。
电流输出
3.4
直流电流最大允许误差
a):±(1nA~10A),:±(0.1%~1%);
脉冲电流最大允许误差单脉冲
b):±(1A~1200A),:±(0.5%~3%),
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