无损检测最终

无损检测试验超声波探伤试验超声波探伤是产品质量检验的一项重要技术。它具有如下优点：灵敏度高，设备敏捷、操作便利、探测速度快、成本低、对人体无害等。故被广泛应用。本次探伤试验中接受压电法来产生超声波，压电法是利用压电晶体来产生超声波的。另外本次试验接受“单收发”模式，即探伤时是运用一个探头，这个探头同时起接收和放射超声波作用。仪器简介试验仪器及用具①CTS—22A型超深波探伤仪；②CSK—IA、CSK—IIA型标准试块；③直探头2.5Z20N、斜探头2.5Z10×10A60标准回波探头BH—50；④耦合剂；⑤游标卡尺。仪器的调整与运用CTS—22A型超声探伤仪系携带式A型脉冲反射式超声探伤仪器，可用沟通或电池供电工作。本仪器接受高性能器件和高亮度内刻度示波管，具有工作频率范围宽，探伤灵敏度高，稳定性好，显示波形清晰和小型、省电、便利等特点。仪器可用于金属和部分非金属材料的超声无损检测，尤其适用于流淌性大的野外或高架空探伤作业。仪器面板图及旋钮说明如图3-1CTS—22A面板图影响探伤波形的因素及缺陷大小、位置、性质的推断一、耦合剂的影响耦合剂的作用是将超声波导入工件，一般接受液体。它的声阻应与工件的声阻相同或接近，以获得最大的入射能量。二、工件的影响工件表面光滑度的影响工件表面光滑度愈高，探头与工件接触愈好，声波导入工件的能量多。因此高的表面光滑度对声波耦合有利。工件内部组织及化学成分的影响，不同工件组织对超声的能量衰减是不同的。（在钢中与铸铁中的区分）工件形态的影响，图2-18与2-19。缺陷存在状况的影响缺陷的位置，同一缺陷，由于离探测面的距离不同，缺陷波高度与缺陷大小的关系变更如图2-22缺陷大小，在相同的埋藏深度，不同的缺陷大小时,缺陷波的高度变更也有所差异。缺陷形态的影响缺陷性质的影响缺陷与声束的相对方向缺陷表面的粗糙程度缺陷的指向性

试验内容一、试件尺寸测量试件1(CSK-ⅡA)宽与高的测量对比于游标卡尺的测量结果，进行误差分析二、测量试件1上缺陷的位置三、试件2(CSK-ⅠA)上两个圆弧半径的测量在试件2上，利用斜探头，通过仪表上波程结果的记录，干脆读出半径大小。四、薄件衰减系数的测定（试件2）了解试件宽高的测量

利用直探头

耦合剂始波底波

距离a（宽、高）厚度测量波程图试件缺陷的位置的确定

确定缺陷位置必需解决缺陷在探测面上的投影位置(即X、Y方向的数值)以及缺陷存在的深度(即Z方向上的数值)，如图所示。探测表面YX缺陷Z

缺陷的位置，大小和性质的确定直探头斜探头

h=sLh=S*cosr

入射角rSSS缺陷位置测量波程图（直探头）试件2上半径的确定确定参数r与R,利用斜探头试件2上半径波程图薄件衰减系数的测定薄工件衰减系数只存在介质衰减，因此通常接受比较多次反射回波高度的方法，测定衰减。其衰减系数：

式中，m、n——超声波的底面反射次数；Hm、Hn——m和n此底面反射波高度；d——试块的厚度。参数确定m、n——超声波的底面反射次数；Hm、Hn——m和n此底面反射波高度；人有了学问，就会具备各种分析实力，明辨是非的实力。所以我们要勤恳读书，广泛阅读，古人说“书中自有黄金屋。