SPC统计精进培训教材

SPCSPC精进教育教材一、SPC的源起SPC:StatisticalProcessControl年代人名奉献1910费雪Fisher表达统计转变为推论统计1930修华特Shewhart创造管制图1950戴明Deming统计与品管结合(SQC)1980三大汽车厂推行SPC日本质量的演进质量是检验出来的5%质量是制造出来的20%质量是设计出来的75%二、美、日推行SPC美国推动SPC的原因1.SPC可发现制程中的变异,并加以解决,不仅可提升质量,更可降低本钱。2.作业者利用它,可使工作有效率。3.治理者透过它,可掌握制程的质量。日本推动SPC的效果可显示制程中的变异。可反映制程调整的效果。可指出制程最须改善之处。SPC让传统两大理论同时实现确保高质量与高生产力质量是制造出来,不是检查出来的。检修人员可解决问题,但不能消除问题。确保作业者的尊严SPC是将制程品管的责任,交由现场作业者负责的方法,此即谓工作的人性化。三、SPC的理论SPC观念的来源没有两件的事情、产品、人是完全一样的。制程中的变异是可以衡量的。宇宙的事物与工业产品其都呈常态分配的。4.变异的原因可以分为机遇原因与非机遇原因。变异变异可分为机遇原因与非机遇原因机遇原因：原就存在于制程中的原因，是属于制程的一部份。大概有85%制程的质量问题是属于此类，其改善须『治理阶层』的努力方可解决。非机遇原因：原不存在于制程中的原因。大概有15%制程的质量问题属于此类，其改善系经由『基层作业者』的努力方可解决。常态分配99.73%95.45%68.27%95.45%68.27%-3σ-3σ-2σ-1σμ+1σ+2σ+3σ.※在随机抽样条件下68.27%表在±1σ范围内,抽到的机率＊95.45%表在±2σ范围内,抽到的机率＊99.73%表在±3σ范围内,抽到的机率符号认识母体(群体)样本平均值μX标准差σS公式X1+X2+……ΣXX=n=n(X1-X)2+(X2-X)2+…..Σ(Xi-X)2S=n-1=n-1n-1中的1为自由度,因母体分配比抽样范围大.(为让分母小一点).假设为母体那么不减1.常态分配的特性群体平均值(μ)之次数最多.两边对称.曲线与横线不相交.曲线之反曲点在±1σ处.曲线与横轴所为之面积为1.反曲点反曲点μ四、SPC的定义及实施步骤定义经由制程中去收集资料,而加以统计分析,从分析中得以觉察制程的反常,并经由问题分析以找出反常原因,立刻摘取改善措施,使制程恢复正常。并透过制程能力解析与标准化,以不断提升制程能力。推行三要项1.统计的方法可以应用在任何改善及追求进步的场合。2.只是理论上的知识推演是无法融会贯穿的,必须实际去了解制程管制及演练方可致效。3.持续的改善、不断的进步,没有终止。※不良查检—容忍浪费※预先防止—防止浪费※治理两面性—保持&改善建立SPC的步骤1.确立制造流程·绘制制造流程图·订定质量工程表2.决定管制工程·顾客之需求为何?3.实施标准化·标准之建立、修正与营运4.制程能力解析·是否符合规格或顾客的要求?5.管制图的运用·如何正确的使用适当之管制图6.问题分析解决·原因为何?·如何防止问题再次发生?7.制程之继续管制·延长管制界限作为制程之继续管制SPC的应用步骤(图解)一一.确立制造流程二二.决定管制工程三.实施标准化三.实施标准化六.六.问题分析解决四四.制程能力调查Ca、Cp、CpkCpk<1Cpk<1管制条件变动时管制条件变动时Cpk≧Cpk≧1五五.管制图的运用六六.问题分析解决七.七.制造之继续管制流程五、制程能力调查制程能力定义使制程标准化，除去反常因素，当制程保持在稳定状态时，所实现的质量程度。制程能力评判定期评判：防止制程能力衰退(包括工具损耗、材料变异、人为变异及其它因素)。不定期评判：防止制程能力错误,凡生产条件有所变更时,须实施评判。(买入新设备、新产品开发、工具更换、机器设备修理完成、规格或作业方式变更时、其它生产因素变更时、某种工程发生不良时)。调查步骤明确的目的明确的目的选定调查对象选定调查对象4M4M的标准化明确的目的标准作业的教育确的目的标准作业的教育确的目的标准作业的实施标准作业的实施数据收集数据收集.分析制程处于非管制状态时制程处于管制状态时制程处于非管制状态时制程处于管制状态时找出非机遇原因制程能力的把握找出非机遇原因制程能力的把握Cpk<1.0Cpk≧1.0Cpk<1.0Cpk≧1.0能力足够能力缺乏能力足够能力缺乏先掌握机械能力,并追究原因先掌握机械能力,并追究原因标准化活动及再发防止标准化活动原因不明,标准化活动原因不明,且无法摘取技术性的措施调剂制程管制检讨规格公差调剂制程管制检讨规格公差修正检验等等六、数值法制程能力分析制程准确度Ca(CapabilityofAccuracy)衡量制程之实际平均值与规格平均值之一致性。计算：××100%Ca=X-μCa=T/2××100%=实际中心值-规格中心值=规格容许差(T=Su-SL=规格上限-规格下限)单边规格无规格中心值,故不能算Ca等级判定：Ca愈小,品质愈佳。依Ca大小分四级等级Ca值A|Ca|≦12.5%B12.5%<|Ca|≦25.0%C25.0%<|Ca|≦50.0%D50.0%<|Ca|处置原那么A级：保持现状B级：改进为A级C级：立刻检讨改善D级：摘取紧急措施,全面检讨,必要时停止生产习题：某钢管之切削规格为750±10mm，五月之切削实绩为X±3σ=748±8mm；六月份为749±8mm，求Ca值及等级。制程精密度Cp(CapabilityofPrecision)衡量制程之变异宽度与规格公差范围相差之情形。计算：双边规格双边规格=Cp=T规格公差=Cp=6σ6个标准差单边规格单边规格^^或Cp=Cp=Su–XX-S^^或Cp=Cp=^3σ3σ^＊σ表估量的标准差等级判定：Cp愈大,品质愈佳。依Cp大小分五级等级Cp值A+1.67≦CpA1.33≦Cp<1.67B1.00≦Cp<1.33C0.67≦Cp<1.00DCp<0.67处置原那么^A+级：考虑治理简单化或本钱降低^A级：保持现状B级：改进为A级C级：需全数选别,并治理、改善工程D级：进行质量的改善,探求原因,需要摘取紧急计策,并重新检讨规格习题：某电镀品其镀金厚度规格为50±2.0mm1.昨日之生产实绩为X±3σ=53±1.5mm2.今日之生产实绩为51±2.3mm求Cp值及等级？制程能力指数Cpk综合Ca与Cp两值之指数Cpk=(1-|Ca|)×Cp当Ca=0时Cpk=Cp单边规格时,Cpk即以Cp值计算ZLSL=ZZLSL=ZUSL=^^σσ^^Cpk=ZminCpk=3Z值用于计算Cpk(Cp、Ca)、面积、查表知不良率等级判定：Cpk愈大,品质愈佳。依Cpk大小分五级等级Cpk值A+1.67≦CpkA1.33≦Cpk<1.67B1.00≦Cpk<1.33C0.67≦Cpk<1.00DCpk<0.67处置原那么A+级：考虑治理简单化或本钱降低A级：保持现状B级：改进为A级C级：需全数选别,并治理、改善制程D级：进行质量的改善,探求原因,需要摘取紧急计策,并重新检讨规格习题：^某电镀品其镀金厚度规格为0.70±0.20mm^生产实绩为X±3σ=0.738±0.2175mm求Cpk值及等级？制程精密度(Cp值)与不良率之关系Cp值规格公差(T)不良率(规格以外比率)单边规格双边规格0.674σ(±2σ)2.27%4.55%1.006σ(±3σ)0.14%0.27%1.338σ(±4σ)31.8PPM63.6PPM1.609.6σ(±4.8σ)0.81PPM1.62PPM1.7610.4σ(±5.3σ)0.06PPM0.12PPM2.0012.0σ(±6σ)1PPB2PPB七、管制图由来管制图是1924年由修华特博士(Dr.Shewhart),在研究产品质量特性之次数分配时所发现。正常的工程所生产出来的产品知质量特性,其分配大都呈现常态分配,会超出三个标准差(±3σ)的产品只有0.27%。依据此原理,将常态曲线图旋转90度,在三个标准差的地方加上两条界线,并将抽样之数据顺序点会而成管制图。定义一种用于调查制造程序是否在稳定状态下(解析用)，或者保持制造程序在稳定状态上所使用之图(管制用)。2.14%2.14%0.135%0.135%13.59%13.59%34.135%34.135%μ-3σμ-2σμ-σμμ+σμ+2σμ+3σ2.14%2.14%0.135%0.135%13.59%13.59%34.135%34.135%68.27%68.27%95.45%95.45%99.73%99.73%CLLCLUCL规格范围数据计量值:一种质量特性之数值，可用连续量计量者数值数据计数值:一种质量特性之数值，可用以计数者管制图的种类计量值管制图X-RChart(平均值与全距管制图)X-RChart(中位数与全距管制图)X-RmChart(个别值与移动全距管制图)X-SChart(平均值与标准差管制图)计数值管制图p-Chart(不良率管制图)nP-Chart(不良数管制图)C-Chart(缺点数管制图)U-Chart(单位缺点数管制图)X-RChart适用制程：可用以管制分组之计量数据,即每次同时取得几个数据之工程。是把握工程状态最有效的一种管制图。公式：X管制图：中心线(CL)=X管制上限(UCL)=X+A2R管制下限(LCL)=X-A2RR管制图：中心线(CL)=R管制上限(UCL)=D4R管制下限(LCL)=D3RRdRd2σ=建立『解析用』管制图(X-RChart)步骤收集数据—依测定时间顺序排列.数据分组—以3~5个数据为一组最正确.记入管制图的数据栏内.计算平均值X—求各组平均值X.计算全距R—求各组的全距.计算总平均值X—求各组平均值X的总平均值X.计算全距的平均值R—求各组全距的平均值R.查系数A2,D4,D3并带入公式计算管制界限.绘制管制界线及中心线—X管制图在上,R管制图在下.10.点绘—点在其数值之位置并以直线连接之.11.管制界限检讨见下页—流程图.计量值管制图分析流程全距均在管制界限内吗?全距均在管制界限内吗?是否是否只有一或二个点在管制界限外?只有一或二个点在管制界限外?否是是否是是计算平均值的管制界限重新收集资料停止计算平均值的管制界限找出亦修正非机遇原因计算平均值的管制图.全距失控3个以上的点在管制界限外全距值均在控制中.否是其余的全距值均在管制界限内吗?剔除这一或二个全距值的样本.重新计算X、R的全距管制界限.是计算平均值的管制界限重新收集资料停止计算平均值的管制界限找出亦修正非机遇原因计算平均值的管制图.全距失控3个以上的点在管制界限外全距值均在控制中.否是其余的全距值均在管制界限内吗?剔除这一或二个全距值的样本.重新计算X、R的全距管制界限.是建立『制程管制用』管制图步骤1.记上必要事项2.绘入管制界限3.绘点4.状态判断5.改正措施6.管制界限的延续使用.X-RChart适用制程：与X-RChart,但检出力较差,故多以X-RChart取代之。公式：X管制图：中心线(CL)=X管制上限(UCL)=X+m3A2R管制下限(LCL)=X-m3A2RR管制图：中心线(CL)=R管制上限(UCL)=D4R管制下限(LCL)=D3RX-RmChart适用制程：耗用时间很多方能完成测试者。属极为均匀一致之产品。破坏性试验或是测量不易。产品系非常贵重之物品。产量不大,批量很小。争取时效性。公式：X管制图：中心线(CL)=X管制上限(UCL)=X+E2Rm管制下限(LCL)=X-E2RmRm管制图：中心线(CL)=Rm管制上限(UCL)=D4Rm管制下限(LCL)=D3Rm建立『解析用』管制图(X-RmChart)步骤1.收集数据—依测定时间顺序排列.2.数据分组—一般以n=2计算的情形较多.3.记入管制图的数据栏内.4.计算全距Rm—求分组的全距.5.计算平均值X及Rm.6.查系数E2,D4,D3并带入公式计算管制界限.7.绘制管制界线及中心线—X管制图在上,Rm管制图在下.8.点绘—点在其数值之位置并以直线连接之.9.管制界限检讨-如X-R管制图一样.建立『制程管制用』管制图(X-RmChart)步骤同X-R管制图X-SChart适用制程：同X-R管制图,但当n>10,那么使用X-S公式：X管制图：中心线(CL)=X管制上限(UCL)=X+A3S^管制下限(LCL)=X-A3S^R管制图：中心线(CL)=S管制上限(UCL)=B4S管制下限(LCL)=B3SSCSC4σ=pChart适用制程：产品依规格分合格/不合格、可以/不可以、通过/不通过公式：中心线(CL)=P当样组样本n相等或不超过±25%P(1-P)管制上限(UCL)=P+3nP(1-P)管制下限(LCL)=P-3n当样组样本n超过±25%P(1-P)管制上限(UCL)=P+3nP(1-P)管制下限(LCL)=P-3n建立『解析用』管制图(pChart)步骤1.收集数据—依测定时间顺序排列.2.数据分组—每组样本内含有1~5个不良品为佳.3.记入管制图的数据栏内.4.计算每组之不良率.5.计算平均值不良率P及平均样本数n.6.计算管制界限.7.绘制管制界线及中心线.8.点绘—点在其数值之位置并以直线连接之.9.管制界限检讨-如X-R管制图一样.建立『制程管制用』管制图(pChart)步骤同X-R管制图nPChart适用制程：根本上与PChart,惟每组样本数须相同.公式：中心线(CL)=nP管制上限(UCL)=nP+3