第1章X射线荧光分析3EDXRF分析方法的定性定量分析

1第一章X射线荧光分析——EDXRF分析方法的定性定量分析成都理工大学核自学院成都理工大学李丹核分析基础及应用

当前1页，总共101页。2主要内容第一节X射线的仪器谱第二节定性分析第三节定量分析第四节仪器的优化组合及性能测试第五节样品制备第六节

数据处理与质量评估第七节应用第八节X射线的防护当前2页，总共101页。3理论谱形态第一节X射线的仪器谱IE当前3页，总共101页。4仪器谱形态第一节X射线的仪器谱低原子系数元素特征荧光的仪器谱(光管激发)当前4页，总共101页。5第一节X射线的仪器谱中等原子系数元素特征荧光的仪器谱(Pu源激发)当前5页，总共101页。6第一节X射线的仪器谱高原子系数元素特征荧光的仪器谱(Am源激发)当前6页，总共101页。7仪器谱形态第一节X射线的仪器谱不同分辨率的探测装置，谱线宽度变化很大。干扰谱线窗和探测器的X射线入射窗、电极、探测器结构材料的X射线试样支撑物、放射源外壳和准直器、探测器外壳、探测器密封材料激发源的杂质和背散射

238Pu含241Am杂质当前7页，总共101页。8

包括：谱原始数据的光滑、峰位和净面积的确定、重峰的分解技术。

谱原始数据的光滑由于射线和探测器中固有的统计涨落、电子学噪声的影响，仪器所得谱数据有很大的统计涨落。表现为寻峰过程丢失弱峰或出现假峰、峰净面积误差加大。谱光滑，就是以一定的数学方法对谱线进行处理，减小谱数据中的统计涨落。要求光滑后尽可能保留有意义的各特征，峰的形状与面积不能有太大变化。X荧光谱线的解析第一节X射线的仪器谱当前8页，总共101页。9谱原始数据的光滑对谱线的光滑通常用数字滤波器，可提高信噪比，原始谱数据实际是噪声(谱线中的统计涨落)和信号(峰函数与本底函数)主要使用最小乘移动平滑方法，还有采用高斯滤波器的平滑方法X荧光谱线的解析第一节X射线的仪器谱当前9页，总共101页。10峰位和净峰面积的确定在谱线的定性分析中，只有正确找到谱线中全部峰的位置，才能根据峰的能量来确定被测样品中是否含有某种核素好的寻峰方法：有比较高的重峰分解能力，能确定相互距离很近的峰的峰位能识别弱峰，特别是位于高本底上的弱峰。假峰出现的几率小简单比较法、一阶导数法、二阶导数法、三阶差分寻峰法、协方差寻峰法、线性拟合寻峰法。X荧光谱线的解析第一节X射线的仪器谱当前10页，总共101页。11峰位和净峰面积的确定净峰面积的计算是X荧光分析中的主要工作之一净峰面积与仪器所接收的射线数目成正比计算方法：直接法、函数拟合法X荧光谱线的解析第一节X射线的仪器谱当前11页，总共101页。12峰位和净峰面积的确定直接法：适合于计算单峰的净面积，方法简单、运算速度快，但只有在峰的高度大、能量分辨率比较高、峰区比较窄时，才能获得较满意的计算精度函数拟合法：既适合单峰，也适合重峰中各个组分峰的净峰面积的计算。计算过程复杂，但精度高直接法有：全峰面积法、Covell法、Wason法、Quittner法X荧光谱线的解析第一节X射线的仪器谱当前12页，总共101页。13重峰的分解技术当被分析谱线不是单峰时，要确定目标谱线的净峰面积，就必需进行重峰分解解决相邻谱线重叠干扰的重峰分解法主要三类：剥谱法：将谱线的重叠视为谱数据线性叠加，从而以多元线性方程实现扣除干扰谱线谱函数拟合法：将每一重叠谱线用一高斯函数拟合，从而实现重叠谱线分解利用神经网络方法实现重叠谱线分解。X荧光谱线的解析第一节X射线的仪器谱当前13页，总共101页。14能量刻度第二节定性分析基本方法：用能量已知的放射源或已知元素样片在放射源激发下产生的X射线荧光照射探测器，并记录X射线谱的峰位，然后作图或进行曲线拟合，求得能量-峰位关系曲线或表达式。Ich/E当前14页，总共101页。15能量刻度第二节定性分析半导体探测器分辨率、线性好，可在很大能量范围内，保持能量-峰位之间的直线关系。一般用两点法——注意两点的选择Ech当前15页，总共101页。16能量刻度第二节定性分析由于仪器的稳定性和过载特性不完善，会改变刻度曲线参数，故能量刻度应在环境良好，电源稳定，仪器充分预热之后进行。当前16页，总共101页。17元素识别第二节定性分析简单情况——莫塞莱定律。复杂情况——先对谱线鉴别，判断是X射线荧光谱还是元素X射线仪器谱中的附加谱线；若是X射线荧光谱，再进一步判断是K系还是L系谱线；最后再进行元素识别，完成定性分析。鉴别判断依据：元素的X射线荧光能量-莫塞莱定律；元素X射线谱系的组成，其能量关系和分支比；X射线仪器谱的形态、各附加谱线之间的能量关系和计数率关系。当前17页，总共101页。18元素识别第二节定性分析实例:钛铀矿较高含量Ti、少量Mn、Fe、Pb、Th和高含量U；Ti可见TiKβ作旁证，Pb、Th、U都有一组能量准确的L系谱线存在；低能端连续本底；检验各元素分支比，ThL系太弱，计算误差大。UL系分支比正常。PbLγ(14.8keV)分支比加大，故存在另一能量相近谱线，YKα(14.96keV)。较高含量Ti、U和少量Mn、Fe、Y、Pb、Th当前18页，总共101页。19干扰因素第二节定性分析元素间谱线重叠不同元素的特征荧光，能量(波长)不同，但相差甚微。

Si：1.74keV；Al：1.49keV分辨困难！每个元素的特征荧光都有多条分支，相邻元素的特征荧光往往互相交错。

MnKβ：6.49keV；FeKα：6.40keV产生干扰！重元素的外层(L系)荧光与较轻元素的内层(K系)荧光，能量(波长)互为交错，十分严重。

PbLα：10.549keV；AsKα：10.543keV

产生干扰！散射本底探测器结构物质被激发关键：认准、测准待测元素的特征荧光！当前19页，总共101页。20定量分析方法——经验系数法选一批（10～50个）有代表性的样品，经精确分析后作“标准样品”，然后建立待测元素“含量”与其特征荧光“强度”之间的函数关系。本方法可靠性高！使用最多！第三节定量分析当前20页，总共101页。21基体效应校正技术基体效应：样品中基本化学组成和物理、化学状态的变化，对X射线荧光分析结果的影响的统称。样品的基本化学组成的变化引起的特征吸收效应和激发效应是室内分析的主要误差来源。对原位分析，测量面凹凸不平、目标元素和干扰元素的分布不均匀、颗粒度变化是误差来源。基体：整个待测样品，它包括待测元素和非待测元素在内的全部组成。第三节定量分析当前21页，总共101页。22例如：待测物质中存在A、B两种元素，它们都能被激发源的初级射线激发。入射射线ABA特征X射线B特征X射线A元素的特征X射线能量大于B元素的吸收限。初级射线激发B，得到B元素的特征X射线(一次荧光)初级射线激发A，得到A元素的特征X射线(一次荧光)A的一次荧光可能激发B，A的一次荧光被吸收，能量转变为B的特征X射线（二次荧光）基体效应校正技术第三节定量分析当前22页，总共101页。23入射射线ABA特征X射线B特征X射线吸收效应：当研究A元素时，由于B元素的存在，使起特征X射线照射量率减弱。增强效应：当研究B元素时，由于A元素的存在，使起特征X射线照射量率增加。特征吸收：当A元素的特征X射线稍大于B元素的吸收限时，A元素特征X射线被B元素明显吸收。基体效应校正技术第三节定量分析当前23页，总共101页。24实例：铜镍矿中测定铜和镍含量Fe的吸收线K=7.11keVNi的K系特征X射线E=7.48keVCu的K系特征X射线E=8.05keV实验证明：当铁含量由5%增至10%时，Cu的K系特征X射线照射量率下降20%；Ni的吸收将更强烈由于基体效应的存在，使元素特征X射线的计数率与其含量之间偏离了线性关系基体效应校正技术第三节定量分析当前24页，总共101页。25(1)“特散比”法以特征荧光强度(Ik)与入射射线的反散射射线强度(Is)之比(R=Ik/Is)代替Ik来计算待测元素的含量，可以有效地克服“轻元素”的吸收效应和待测元素本身的“自吸收效应”。适用于：岩石、土壤；轻元素组成的物质；矿石……基体效应校正技术第三节定量分析当前25页，总共101页。26(1)“特散比”法选取的散射射线能量应尽可能地靠近特征X射线的能量。但在实际工作中，应考虑到测量系统的能量分辨率，不使散射峰和特征X射线峰产生重叠干扰。待测物质中，在特征X射线能量与散射射线能量之间应不存在主要干扰元素的吸收限。否则将导致主要干扰元素对散射射线的特征吸收。基体效应校正技术第三节定量分析当前26页，总共101页。27(2)影响系数法——多元回归法基体效应校正技术第三节定量分析当前27页，总共101页。28(2)影响系数法——多元回归法认为待测样品中的其它元素对待测特征荧光强度(Ik)的影响程度，与这些元素的荧光强度(Ij)成正比，因此，采用多项式来计算待测元素的含量。适用于：合金；多元素样品；矿石……方程中一般只需取1～3个主要干扰元素，多了易引起方程式的不稳定！基体效应校正技术第三节定量分析当前28页，总共101页。29(1)不平度效应由测量表面凹凸不平对测量结果的影响称不平度效应。四种类型：凸型、凹型、凹凸型、平整型。其它干扰因素第三节定量分析当前29页，总共101页。30(1)不平度效应物理分析角度主要表现：源初级射线和次级射线在空气中路程的变化探测器的有效探测面积的减小或增大遮盖和屏蔽射线束其它干扰因素第三节定量分析当前30页，总共101页。31(1)不平度效应块状岩矿石的原位X辐射取样，不平度效应严重，必须加以考虑。在冶金工业中，块状合金样品的原位辐射取样也存在不平度效应。其它干扰因素第三节定量分析当前31页，总共101页。32(2)不均匀效应在原位X辐射取样工作中，主要体现在两方面。颗粒度效应——被测样品颗粒度的变化对原位X辐射取样结果的影响。矿化不均匀效应——对块状岩矿石，由于矿化不均匀引起取样结果的变化。其它干扰因素第三节定量分析当前32页，总共101页。33(2)不均匀效应颗粒度效应颗粒形状：球形、正立方形、长方形、片状……填充度——在粉末样品中，除了固体颗粒外，在它们的间隙中还充满着空气，我们把样品中各种固体颗粒的总体积和样品体积的比值称作填充度。体密度效应——对于同一个样品，一般体密度越大，即填充度越大，荧光照射量率就越大。其它干扰因素第三节定量分析当前33页，总共101页。34(2)不均匀效应颗粒度效应对于未压过的粉末样品，体密度和粉末的颗粒度有关。为减小体密度效应，分析样品时，应尽量采用经压过的恒定体密度的样品。其它干扰因素第三节定量分析当前34页，总共101页。35(2)不均匀效应矿化不均匀效应原生产状条件下的矿体，其矿物组分分布是很不均匀的。将X射线荧光仪探头置于矿体表面上逐点测量，进而测定其地质品位时，矿化不均匀现象往往给测量结果带来不能允许的误差。其它干扰因素第三节定量分析当前35页，总共101页。36(2)不均匀效应矿化不均匀效应测网布置不合理。其它干扰因素第三节定量分析当前36页，总共101页。37(2)不均匀效应矿化不均匀效应对策：“最佳测网”。以探测器有效探测直径作测量点距。其它干扰因素第三节定量分析当前37页，总共101页。38(3)水分的影响主要表现：水分对初级射线和次级射线(特征X射线和散射射线)的吸收。使仪器记录的目标元素特征X射线计数率减小水分对初级射线的散射。使散射峰计数率增高，本底增大。其它干扰因素第三节定量分析当前38页，总共101页。39(3)水分的影响对于不同矿种，水分影响结果不同。轻元素矿种和原子序数较小的中等元素矿种(Fe、Cu等)，其特征X射线能量低，水分对特征X射线的吸收占优势。当水分增高时，结果偏低。其它干扰因素第三节定量分析当前39页，总共101页。40(3)水分的影响对于不同矿种，水分影响结果不同。

其它干扰因素第三节定量分析当前40页，总共101页。41(3)水分的影响对于不同矿种，水分影响结果不同。对较高原子序数矿种，如锡、锑、重晶石等矿种，有水分的影响造成取样结果误差，与其它因素(矿化不均匀、不平度效应等)引起的误差相比，可忽略。

其它干扰因素第三节定量分析当前41页，总共101页。42(4)粉尘的影响由于特征X射线的能量仅几千电子伏特至几十千电子伏特，若岩、矿石表面存在粉尘或其它污染物，将屏蔽初级射线进入到岩、矿石表面；且屏蔽来自矿石发出的目标元素特征X射线，产生误差。对策：取样前，对岩、矿石表面进行清洗。

其它干扰因素第三节定量分析当前42页，总共101页。43(4)粉尘的影响由于特征X射线的能量仅几千电子伏特至几十千电子伏特，若岩、矿石表面存在粉尘或其它污染物，将屏蔽初级射线进入到岩、矿石表面；且屏蔽来自矿石发出的目标元素特征X射线，产生误差。对策：取样前，对岩、矿石表面进行清洗。

其它干扰因素第三节定量分析当前43页，总共101页。44能量色散法——利用探测器的固有分别本领，直接探测样品的特征荧光。多元素同时分析，适合现场、快速分析和定性分析。设备简单，使用方便，价格低，维护容易，是X射线荧光分析的发展方向。第四节仪器的优化组合及性能指标当前44页，总共101页。45能量色散法——EDXRF三部分——X光源；高分辨率探测器；电子学部件及计算机系统；省略分光晶体；仪器可小型化。样品激发源X射线探测器第四节仪器的优化组合及性能指标当前45页，总共101页。46能量色散法——EDXRF便携式X射线荧光分析仪的工作原理

组成探头主机探头由探测器、前置放大器、激发源等组成，完成特征X射线的激发与探测主机由成形放大器、多道分析器（MCA）、多道缓存器(MCB)、计算机及外设、电源（高压、低压）等组成，完成对探测器信号的放大、处理及进行数据采集、数据处理。第四节仪器的优化组合及性能指标当前46页，总共101页。47能量色散法——EDXRF激发源发出的射线辐照样品后，激发样品中的原子并产生特征X射线，荧光入射到探测器内产生脉冲电流，经前放转换为电压脉冲信号，电压脉冲的幅度与脉冲电流所携带的电量成正比，而电量与荧光的能量成正比，因此，通过主机电路对电压脉冲的幅度进行放大、处理和测量就可以获知荧光的能量，进而测定元素的种类。脉冲信号在单位时间内出现的数量（即仪器计数率）与被测元素特征X射线的照射量率成正比，可计算对应元素的含量。第四节仪器的优化组合及性能指标当前47页，总共101页。48便携式X射线荧光分析仪激发源同位素源探测器闪烁计数器＋滤片正比计数器＋滤片分析元素1种/次2－4种/次检出限大于100ppm大于100ppm输出结果荧光计数率荧光计数率，含量第四节仪器的优化组合及性能指标当前48页，总共101页。49激发源：同位素（238Pu、241Am）探测器：Si-PIN多元素分析能力：可分析10余种元素/次检出限(ppm)≤10Cu、Zn、Ga、Ge、As、Se、11~100Co、Ni、Br到Mo、Ag到U101~1000K、Ca、Sc、Cr、Mn、Fe、Tc、Ru、Rh、Pd>1000Al、Si、P、S、Cl、Ar便携式X射线荧光分析仪第四节仪器的优化组合及性能指标当前49页，总共101页。50美国尼通XLt-797WZ分析仪（1.4kg）

美国伊诺斯XRF-6500（1.6

kg）激发源小型X射线管（40kV/50uA最大）探测器Si-PIN分析元素每次可达18种甚至26种多达二十余种/次检出限对锡料的含铅量进行60秒的检测，能达到大约0.01%(100ppm)的检测下限（20-100）×10-6用途合金分析、塑料部件合金分析、塑料部件、土壤、矿石、电子元件便携式X射线荧光分析仪第四节仪器的优化组合及性能指标当前50页，总共101页。51激发源：微型X光管探测器：Si-PIN多元素分析能力：可分析20余种元素/次对地球化学指示元素Cu、As、Pb的检出限分别为1.3ug/g、1.4ug/g、5.3ug/g，比238Pu同位素源改善了4～10倍便携式X射线荧光分析仪第四节仪器的优化组合及性能指标当前51页，总共101页。52激发源选择（激发源能量、照射量率）探测器选择后续电路配置仪器的优化组合第四节仪器的优化组合及性能指标当前52页，总共101页。53稳定性稳定性包括连续工作稳定性和长期稳定性。连续工作稳定性——指仪器8h连续工作时间内，待测元素特征荧光强度的瞬时平均值的最大相对误差，以百分数表示。要求连续工作稳定性好于1%。长期工作稳定性——指仪器使用期间（数月至数月不等），仪器测量结果的平均变化，这个变化与元器件的老化有关，主要是与探测器性能变坏（如晶体潮解、光电倍增管老化、正比计数管的分辨率变坏等）有关。要求好于2%，如变差，应重新调试、标定仪器，并更换必要的零部件。仪器的性能指标第四节仪器的优化组合及性能指标当前53页，总共101页。54能量分辨率对于闪烁探测器，能量分辨率应达到80%~100%(对5.9keV射线)。对正比计数器，能量分辨率应达到14%~17%(对5.9keV射线)。仪器的性能指标第四节仪器的优化组合及性能指标当前54页，总共101页。55探测效率与探测器种类有关，当待测X射线的能量和探测器种类固定时，探测效率取决于探测器的规格、形状、大小，应适合地选择探测器的种类、规格、大小尺寸，以提高对待测X射线的探测效率，降低干扰元素的荧光探测效率。一般，探测效率不低于20%~40%。仪器的性能指标第四节仪器的优化组合及性能指标当前55页，总共101页。56功耗便携式仪器应尽量采用低功耗元件，仪器总功耗一般应小于2W，电池至少可供连续工作8h以上。智能化程度便携式仪器应尽量微机化或采用微处理器控制，仪器应具有数据采集、存储和处理功能，软件应满足实际工作需要。仪器的性能指标第四节仪器的优化组合及性能指标当前56页，总共101页。57体积、重量为便于携带，应尽量减小仪器体积和重量。可靠性和抗干扰能力，等等。仪器的性能指标第四节仪器的优化组合及性能指标当前57页，总共101页。58已能够分开相邻元素的Kα谱峰——可多元素同时分析。无法分开相邻元素的Kα和Kβ谱峰——造成谱峰干扰。仪器的性能指标第四节仪器的优化组合及性能指标当前58页，总共101页。59样品——从总体中采集的在一定程度上能代表总体特性的物质。也称待测样品，需要测定的元素称待测元素或目标元素。标准样品——简称标样，在某一个或几个特征上是已知的、具有较高准确度的、可信赖的公认值或权威机构的推荐值。基本概念第五节样品制备标样能量标样含量标样当前59页，总共101页。60能量标样——能自发地或在一定激发源的激发下能发射能量已知的电磁辐射。作为仪器的能量刻度标准使用。基本概念第五节样品制备能量标样低能放射性核素源：55Fe、108Cd、241Am用纯元素或纯元素氧化物与聚乙烯塑料混合热压成圆片当前60页，总共101页。61含量标样——是相对测量中作为含量标准的一种物质，是确定工作曲线参数的关键和依据。基本概念第五节样品制备对标样的一般要求：待测元素含量准确可靠；具有多个含量不同的标准系列；化学组成和物理性质与待测样品一致；物理、化学性质稳定，便于长期保存和使用。当前61页，总共101页。62样品预加工制备方法第五节样品制备研磨；缩分；干燥；保存。当前62页，总共101页。63样品预加工制备方法第五节样品制备研磨——粉碎、研磨、混匀简单方法：粉碎到100~120目，然后在玛瑙研钵中研磨30分钟以上。当前63页，总共101页。64样品预加工制备方法第五节样品制备当前64页，总共101页。65制备方法第五节样品制备目数，即孔数，每平方英寸上的孔目数。目数越大孔径越小当前65页，总共101页。66样品预加工制备方法第五节样品制备研磨——粉碎、研磨、混匀防止样品污染：设法减少污染；选择工具的物质成分，使引入杂质的谱线不致干扰待测元素谱线。当前66页，总共101页。67样品预加工制备方法第五节样品制备缩分——在保证其代表性的前提下，减小其样品量。样品每进行一次缩分前，均需将样品充分混匀。缩分后所得样品的重量，必须大于当时颗粒直径情况下所要求的样品最小可靠重量。Q—样品留量kg；d—样品颗粒最大直径mm；k—缩分系数，0.2当前67页，总共101页。68样品预加工制备方法第五节样品制备干燥——去水份烘箱中105~110℃下烘干1小时。当前68页，总共101页。69样品预加工制备方法第五节样品制备保存——一般用牢固的牛皮纸样袋装好，详细标明取样地、取样位置、取样时间、取样编号、分析编号及其它必要信息。重量少的，先用光滑的描图纸、硫酸纸包好，在注明取样编号后再放入纸袋。注意防潮和防氧化，重要样品放干燥缸。当前69页，总共101页。70粉末样制备制备方法第五节样品制备直接装填；压块法。直接装填——将预加工的粉末状样品，直接装入薄底样杯中，用有机玻璃或铝制成的压片压实。杯底为可更换的有机薄膜，4~6um当前70页，总共101页。71粉末样制备制备方法第五节样品制备压块法——压饼法，将粉末样放在一定形状的钢模中，压机加压使之成为结实的饼状。当前71页，总共101页。72能量色散X荧光分析受到多种因素的影响。为了获得可靠和准确的取样结果，就必须尽量减少各种因素的影响。因此有必要了解其误差的来源与影响方式。误差分三类：1.过失误差：取样中操作错误、数据读错、记错等，这是一类人为造成的误差，因而，也是可以避免的。第六节数据处理与质量评估当前72页，总共101页。73误差分三类：2.统计误差：由微观粒子的统计涨落所引起的，它反映了精确度。可以控制统计误差的大小，以达到足够的测量精度。3.系统误差：按一定规律变化的误差，如系统偏低或偏高。它确定准确度。它往往是基体效应、谱线重叠、测量面上的覆盖物等影响造成，需针对产生原因采取措施。第六节数据处理与质量评估当前73页，总共101页。74能量色散X荧光分析方法作为获知样品或岩石、土壤中元素含量的一种分析测试手段。显然，准确度、精确度和检出限是检验或评价X荧光分析结果的重要指标。

第六节数据处理与质量评估当前74页，总共101页。75准确度是测定值与真值符合的程度。

1.准确度误差（绝对误差△Ci）就是测定值与真值之间的差

Ci为测量值；Co为推荐值

平均绝对误差则为各次测量的绝对误差取绝对值后再求平均值

绝对误差与真值之比值称为相对误差（ηi）

平均相对误差则为各次测量的相对误差取绝对值后再求平均值

第六节数据处理与质量评估当前75页，总共101页。76精确度是指分析同一样品时，重复分析结果间的一致性。2.精确度重复分析结果越一致，表明精确度越高。

分析精确度的好坏，取决于测定过程的偶然误差的大小，精确度的评估是通过对同一个样品进行n次测定获得的相对标准偏差(RSD)统计得到第六节数据处理与质量评估当前76页，总共101页。77检出限反映的是某一种分析方法或分析仪能可靠测定的最低元素含量。2.检出限

通过对低含量的标准物质测量获得的仪器谱，以该元素特征X射线全能峰计数（净峰面积）大于或等于该全能峰能量窗内本底计数（面积）的三倍均方差来确定S为被测元素特征峰能区内本底计数(Ib)的均方差A为仪器对该元素的分析灵敏度，单位：计数/(μg/g)

第六节数据处理与质量评估当前77页，总共101页。78第七节应用1.探索与研究煤样A中发现：钪(Sc)、钛(Ti)样品B样品A当前78页，总共101页。791.探索与研究实测铜阳极泥的X射线荧光光谱图

第七节应用当前79页，总共101页。80元素GSS-3GSS-5GSS-8GSS-9GSD-12GSD-13GSD-14K,%推荐值2.521.252.011.642.423.241.91测定值2.331.122.352.232.152.961.85Ca,%推荐值0.910.075.903.570.830.242.50测定值0.910.236.023.520.770.332.24Mn,ppm推荐值304136065052014002181230测定值422141454555814061871149Fe,%推荐值1.408.823.133.363.411.026.64测定值1.539.223.043.463.491.145.9Cu,ppm推荐值11.414424.32612301166测定值12.8314828.529.912308.5754.8Zn,ppm推荐值31494686149816165测定值30.849257.172.049814.3168As,ppm推荐值4.441212.78.41152.018测定值5.16397/4.56152/26Srppm推荐值380422361652486218测定值40282.721416238.070.91802.现场快速分析第七节应用当前80页，总共101页。81样品种类推荐值(%)XRF分析值(%)平均误差(%)WNiWCuCNiCCuENiECu精Ⅱ泡沫1.490.981.50±0.0130.97±0.00890.01-0.01铜粗选泡沫1.1320.051.18±0.02920.03±0.1010.05-0.02铜精选中矿1.822.971.80±0.0182.85±0.048-0.02-0.12原矿0.541.050.54±0.0101.05±0.0120.000.00混合精矿3.262.843.26±0.0512.95±0.0790.000.11精Ⅲ泡沫2.921.492.92±0.0291.49±0.0130.000.00混合泡沫4.413.964.40±0.0693.82±0.083-0.01-0.14扫选给矿0.350.230.33±0.00550.24±0.0089-0.020.01尾矿0.170.150.18±0.00440.14±0.00450.01-0.01铜精矿0.6529.110.59±0.01328.96±0.106-0.06-0.152.现场快速分析第七节应用当前81页，总共101页。823.原位分析与无损分析第七节应用当前82页，总共101页。833.原位分析与无损分析第七节应用当前83页，总共101页。844