原子光谱分析手中的干扰及其消除方法北极熊校园

原子光谱分析手中的干扰及其消除方法郑永章国家有色金属及电子材料分析测试中心原子光谱的三个领域原子吸收光谱分析中的干扰及其消除方法1.原子吸收中干扰原子吸收分析是干扰较少的分析手段产生干扰的根源所在不同原子化方式中干扰的特点1.1.消除干扰是获得准确分析结果的

关键环节面对未知试样首先要判断有无干扰消除干扰是日常工作的主要内容1.2.原子化方式不同干扰现象不尽相同火焰法

连续进样，试样稀释倍数大、动态平衡条件下实现原子化。石墨炉法

定量进样、程序升温、周期性测定，读取瞬间信号不能达到理想的热平衡。氢化物发生法采用预分离后气体进样。干扰不仅出现在院子化过程，也产生在发生氢化物的化学反应过程。火焰法中进样速率和雾化效率直接影响测定结果；石墨炉法中进样量的影响几乎可以忽略；石墨炉法中存在原子化速率的影响；其他原子化方法中不明显；火焰法和石墨炉法中共存干扰占有重要地位；氢化物发生法中，干扰则更多的是发生在前期产生氢化物的化学反应中；不同原子化方法中，光谱干扰的机制是相同的，其影响程度却不尽相同。1.3.干扰的分类按照干扰产生的机制分类

光谱干扰：背景干扰、谱线重叠干扰非光谱干扰：共存干扰、化学干扰、电离干扰等按照原子化进程分类传输干扰、凝相干绕、气相干绕等；火焰法：物理干扰、化学干扰、电离干扰、光谱干扰等；石墨炉法：基体干扰、背景干扰；物理干扰：基于溶液黏度、比重变化引起的干扰。化学干扰：基于与共存成分发生化学反应引起的干扰。光谱干扰：吸收线重叠产生的干扰。电离干扰：基态原子电离造成的干扰。传输干扰：基于溶液提升速率、雾化效率、雾滴粒度分布造成的干扰。凝聚相干扰：基于雾滴干燥、盐类熔融汽化产生的干扰。气相干扰：基于化合物解离、基态原子激发、电离造成的干扰。2、火焰原子吸收分析中干扰火焰原子化过程2.1.物理干扰的产生机制及其消除物理干扰主要是指因溶液的比重、粘度等物理性质的变化产生的干扰，发生在溶液雾化过程，也被称为传输干扰。其根源在于因溶液提升速率发生变化、雾化效率的改变和雾滴粒度及其分布的变化，导致原子化效率发生变化。引起试样溶液物理性质发生变化的原因有：其中含有高浓度的无机酸、有机溶剂、高浓度的盐类成分等。物理干扰有时体现为正干扰，有时体现为负干扰。溶液粘度对提升量的影响物理干扰和化学干扰密切相关

溶液比重和粘度的变化是溶液化学组分变化的结果。当溶液中化学组分的变化足以使溶液比重和粘度发生变化时，共存成分的浓度一般已经很高，在这种情况下,无论是产生正干扰还是负干扰，都很难确认出现的干扰是来自纯粹的物理因素，还是共存成分与测定元素发生化学反应的结果。物理干扰的消除方法：稀释试样溶液基体匹配标准加入法稀释试样溶液大多数情况下干扰与共存成分的浓度有关，通过稀释试样溶液使共存成分的浓度降低，通常能够降低或完全消除干扰。这是消除干扰最简单的方法。当然，这样做的前提使溶液稀释后仍能满足测定灵敏度的要求。稀释会产生一定的误差。需要大倍率稀释时应逐级稀释，一般分取溶液不低于2mL，一次稀释操作的稀释倍数部应超过20倍。稀释溶液时要注意保持溶液的酸度。基体匹配所谓基体匹配法就是通常说的标准溶液打底，往标准溶液中添加试样组分，使标准溶液的组分与试样溶液的组分相同。这种方法是待测元素在标准溶液中所受的干扰与在试样溶液中所受的干扰程度一致，藉以抵消干扰。这种方法一般只在分析组成简单的试样时采用。选用的基体要有足够的纯度，并注意基体引入的空白值。

2.2化学干扰2.3.1产生化学干扰的机制由于试样溶与标准溶液的化学组分不同所致。在火焰中共存成分与测定元素发生化学反应，形成性质不同的化合物。导致待测元素原子化效率的变化，称为化学干扰。产生化学干扰的原因：测定元素生成难解离的合物化合物、共存元素生成的难熔化合物对测定元素的包裹，导致原子化效率的变化，或基态原子在火焰中密度分布的改变。可分为基体干扰、阳离子干扰和阴离子干扰等。

化学干扰的程度与干扰元素的浓度和测定元素的浓度有关。化学干扰可能发生在原子化的每一个环节，传输、凝相、气相。化学干扰是火焰原子吸收分析中最常见、最显著的，也是比较难解决的干扰因素。化学干扰有时体现为测量信号降低，有时体现为测量信号升高。2.2.1无机酸的影响无机酸影响的消除无机酸通常是试样溶液的主体成分；盐酸、硝酸对一般元素的影响很小；尽可能避免使用高氯酸、硫酸、磷酸；试样溶液中无机酸构成影响时，可采用：控制试样溶液的酸度与标准溶液一致；标准加入法；稀释试样溶液等方法加以消除。2.2.2共存阴离子干扰2.2.3共存阳离子干扰0.1moL/L卤化铵对一些元素的影响共存离子的影响干扰离子的主要来源是试样组分和处理样品的化学试剂；共存离子干扰是火焰原子吸收分析中遇到最多的干扰；共存阴离子和共存阳离子可能同时发生干扰；多种阴离子和多种阳离子同时发生干扰；共存干扰的程度与共存离子的浓度有关；2.2.4关于与浓度有关的干扰大多数共存干扰与共存离子的浓度有关，与测定元素的浓度无关共存离子浓度升高干扰程度加剧；干扰离子浓度进一步加大，干扰程度趋于平缓；还有一些干扰不仅与干扰离子浓度有关，还与测定元素的浓度有关。当干扰元素不变时，干扰程度随测定元素浓度变化有所不同，这种干扰称为与浓度有关的干扰。与浓度无关的干扰与浓度无关的干扰硫酸根对钙的干扰磷酸根对钙的干扰与浓度有关的干扰与浓度有关的干扰多在干扰元素浓度较低的情况下发生，往往被忽视；与浓度有关的干扰多在测定元素与共存元素在火焰中发生化学反应的情况下发生，经常发生在在火焰温度不能满足原子化要求的元素；出现与浓度有关的干扰时标准曲线弯曲；稀释和标准加入法不能消除与浓度有关的干扰；针对类似干扰人们曾进行过深入研究，认为铝对镁产生与浓度有关的干扰、铝对钙产生与浓度有关的干扰，是在火焰中生成类似尖晶石的难熔化合物,并判断是凝相干扰。与浓度有关的干扰不能通过稀释溶液、采用标准加入法加以消除；2.2.5化学干扰的消除方法稀释溶液基体匹配改变火焰组分、改变观测高度使用高温火焰添加干扰抑制剂采用标准加入法化学分离通过改火焰组分和观测高度消除干扰火焰是测定元素原子化的能源，也是基态原子的载体；火焰的燃、助比不同，火焰温度和氧化还原性不同；测定元素的原子化与火焰温度和火焰的氧化还原性质直接相关；不同元素需要不同的原子化条件；雾滴粒度不同，基态原子在火焰中的分布不同；不同形态的化合物的解离条件不同；空气－乙炔火焰的温度分布笑气－乙炔火焰的温度分布空气乙炔火焰中Cu和Ca的基态原子分布

CuCa乙炔流量、燃烧器高度对测定灵敏度的影响氰镍化钾各种铁的化合物铁在火焰中的分布在不同观测高度上铁的干扰程度测定铬时乙炔流量、观测高度的影响使用高温火焰使用高温火焰能够抑制和消除很多化学干扰。常用的高温火焰主要是一氧化二氮－乙炔火焰，能使一些在空气－乙炔火焰中难力解离的化合物解离。用一氧化二氮－乙炔火焰测定钙、镁磷酸根离子的共存浓高达200ppm也没有干扰。在盐酸溶液中有1000ppm铁共存时，铬的吸光度降低20％，在0.2mol硫酸介质中，铬的吸光度降低50％。如果改用一氧化二氮－乙炔火焰测定，可以完全消除铁的干扰。氧－乙炔火焰也有很高的温度，有用富氧空气－乙炔火焰和氧屏蔽火焰一些元素在不同火焰中的原子化效率一些元素在不同火焰中的原子化效率使用高温火焰消除铝对钙的干扰一氧化二氮－乙炔火焰消除干扰添加干扰抑制剂所谓干扰抑制剂是一个统称，根据作用机制不同又把它们细分为释放剂、保护剂、助熔剂、缓冲剂；释放剂：将待测元素从难熔化合物中释放出来；保护剂：与待测元素形成络合物；助熔剂：氯化铵、高氯酸盐等其作用在于使分析元素氯化、助熔、盐类颗粒粉碎等作用。缓冲剂：使干扰程度趋于迟钝。高氯酸消除铁对铬的干扰EDTA消除酸对钙的干扰用于抑制和消除干扰的试剂用于抑制和消除干扰的试剂（续）采用标准加入法标准加入法是在相同的试样溶液中加入不同浓度的已知测定元素，将标准曲线外推，求得试样溶液中待测元素的浓度。采用标准加入法消除干扰的原理与基体匹配法一样，通过使标准溶液的组分与试样溶液的组分一致，将共存成分的干扰控制在相同的水平上。标准加入法的应用有一定的局限性。标准加入法的操作标准加入法的标准曲线使用标准加入法的注意事项必须在直线范围内测定空白值必须单独校正试样溶液的吸光度值要合适不能消除与浓度有关的干扰不能消除背景干扰2.2.6化学分离共沉淀；溶剂萃取；离子交换；选择性溶出；流动注射在线分离连用技术；高压液相；

2.3电离干扰原子吸收分析是基于基态原子对特征光谱的吸收进行定性、定量分析，测量灵敏度取决于待测元素的原子化效率。火焰即是待测元素原子化的能源，也是基态原子的载体。由于常用的火焰种类有限，火焰温度的可选性也有限。当火焰温度不能使待测元素完全原子化时，测定灵敏度降低。另一方面，如果火焰温太高，基态原子进一步获得能量电离成离子，也会导致测定灵敏度降低，这就是电干扰。不同火焰中一些元素的电离度

电离干扰是一种与浓度有关的干扰，通常表现为标准曲线向纵轴弯曲，有时曲线会出现S形。消除电离干扰的方法是添加消电离剂。所谓消电离剂是指电离电位比待测元素电离电位更低的元素。理想的消电离剂当然是碱金属铷、铯等。消电离剂的添加量通常在每毫升1～3毫克级。要指出的是碱金属中其它碱金属的含量不容忽视。电离干扰是一种于浓度有关的干扰

笑气－乙炔火焰中测定Ba

曲线：纯标准溶液；直线：添加2mg/mLKCl必须采用标准加入法确定空白值共存干扰物理干扰、化学干扰、电离干扰都是在原子化环节产生的，不仅与火焰条件和溶液组分有关，同时与雾化器的性能有密切关系；溶液提升量影响火焰温度；雾滴粒度及其分布影响原子化效率；雾滴粒度分布影响基态原子的分布；火焰分析中不同仪器体现的干扰程度可能有差异；2.4光谱干扰光谱干扰产生在信号测量环节，不与仅试溶液样组分有关，也与仪器条件有关。光谱干扰主要分为：背景吸收光源发射的临近线干扰吸收现重叠干扰理想的谱线分布★光源发射的非吸收临近线干扰★光源发射的非吸收临近线干扰临近发射线的存在导致测定灵敏度降低。临近发射线的存在导致标准曲线弯曲。临近发射线的存在对标准溶液和试样溶液产生相同的影响。是否存在临近发射线取决于灯的谱线分布和仪器的光谱通带宽度。临近线的影响并不导致错误的分析结果，也有人不认为是一种干扰。★吸收临近线的影响

发射线和吸收线同属于测定元素

这种影响的结果与前一种情况相同。

Bi222.8nm与223.1nm

Mn279.5nm与279.8nm消除的方法：减小光谱通带宽度；改变分析线；不同元素的发射线与测定元素

或共存元素的吸收线重叠

导致错误的分析结果

使用多元素空心阴极灯时要注意

★吸收现重叠干扰

吸收线重叠干扰主要指共存元素的吸收线与测定元素的分析线波长差很小，共存元素的吸收线对发射线产生吸收，导致测定值增高。两条吸收线的波长差小于0.0Xnm或更小时可能产生干扰。不能通过减小光谱通带宽度加以消除。用异种灯测定的结果3、石墨炉中的干扰石墨炉原子化过程石墨炉原子化与火焰原子化的区别基体干扰与消除方法背景校正方法3.3.1石墨炉原子化过程

干燥灰化原子化清除蒸发溶剂组分分馏待测元素原子化净化石墨管

防止溶液爆沸盐类挥发确保待测元素清除石墨管测定元素不损失原子化充分内残存物质测定元素形态一致120-150400-13001200-25002000-2600

斜坡升温斜坡升温、保持快速升温快速升温3.2.2石墨炉原子化与火焰原子化比较3.3.3石墨炉分析中干扰的特点石墨炉内原子密度高；在升温过程中原子化；石墨炉内温度分布不均匀；基体干扰严重；背景吸收强烈；石墨管的温度分布梯度3.3.4基体干扰的形态测定元素的灰化损失测定元素形态的变化原子化过程的动力学变化原子化不完全背景吸收的影响3.3.5基体改进剂消除干扰的机理基体形成易挥发化合物除去………....降低背景分析元素形成易分解化合物……….易于原子化分析元素形成热稳定性化合物….减少挥发损失分析元素形成热稳定性合金…….减少挥发损失形成氧化性或还原性气氛……….易于原子化基体形成难挥发化合物………….减少挥发损失

各种铵盐与镉的灰化温度EDTA消除氯化铜的干扰EDTA降低镉的原子化温度金、钯、铂对铅的改进效果金、钯、铂与铅的合金相图基体改进剂化学改进技术根据测定元素的化学性质选择根据基体成分的化学性质选择了解试样成分在整个原子化过程的形态变化了解各相关化合物的物理化学性质与升温程序合理地结合选择石墨管普通石墨管

孔隙较大、表面活泼，适宜原子化温度较低的元素，测定Ag、Au、Be、Zn、Cd、Sn、Pb、As、Se、Te、Mn等元素比较适宜。热解石墨管

表面致密、惰性适宜测定V、Mo、Ti、Ir、Sr等高温元素及Li、Na、K、Rb、Cs等碱金属元素。Cr、Fe、Co、Ni、Ga、In、Tl、Si、Ru、Rh、Pd、Pt等元素的测定灵敏度比普通石墨管高。热解石墨平台石墨管热解石墨平台管的特点在热平衡条件下原子化原子化集中，提高测定灵敏度基体干扰小使用热解石墨平台恒温炉技术（STPF）积分吸收快速相应检测和高速采样技术背景校正最大功率升温原子化停气使用基体改进剂4、背景校正背景吸收的构成火焰原子吸收分析中的背景石墨炉原子吸收分析中的背景校正背景校正方法4.1背景吸收的构成分子的光分解

连续光谱

分子吸收分子的光致跃迁

连续光谱上叠加的吸收峰

分子的转动光谱

连续光谱上叠加的线光谱

背景吸收

冷凝的分子连续光随波长增加而减小光散射升华的灰及大分子与波长无关固体颗粒挡光与波长无关

几种火焰的背景吸收4.2火焰原子吸收分析中背景火焰的背景吸收主要由：CH、CO、CO、NO、HO等自由基的吸收。火焰的背景吸收相对稳定可以通过调节零点加以消除。火焰的背景吸收导致基线噪声加大。火焰原子吸收分析中，只有当试样溶液基体浓度很大，或者分析元素的吸光度很小时才产生显著的影响。火焰原子吸收分析中的背景校正方法与石墨炉法相同。4.3石墨炉中的的背景吸收一些化合物的分子吸收光谱石墨炉中NO、LiCl和Li的原子分布4.4背景校正方法利用连续光源校正背景利用塞曼效应校正背景利用空心阴极灯自吸收校正背景利用临近线校正背景4.4.1氘灯校正背景氘灯的发射光谱氘灯校正背景的原理氘灯校正背景的特点具有较好的测定灵敏度不能覆盖原子吸收测定的波长范围不能校正具有精细结构的背景火焰法中空心阴极灯与氘灯的光斑重合不好影响校正结果氘灯与空心阴极灯的光斑重合4.4.2利用塞曼效应校正背景基态原子在磁场中发生能级分裂，导致谱线分裂。谱线分裂的模式与观测方向的关系裂距与磁场强度有关塞曼校正背景有多种方式不同观测方向的塞曼分裂一些元素的塞曼分裂模式一些元素的塞曼分裂模式塞曼原子吸收仪器的方式原子化器恒定磁场横向调制原子化器交变磁场横向调制原子化器交变磁场纵向调制原子化器恒定磁场横向调制正常塞曼分裂的谱线重合异常塞曼分裂的谱线重合异常塞曼分裂的谱线重合标准曲线双值例标准曲线双值例横向调制同时用一只灯测定和校正背景.适用于全波段背景校正效果好,能校正具有精细结构的背景磁场强度的限制光学器件多,光能量损失导致检出限变坏一些元素在高浓度区域测定值出现双值原子化器交变磁场纵向调制纵向磁场塞曼效应原子化器交变磁场纵向调制同时用一只灯测定和校正背景.适用于全波段背景校正效果好,能校正具有精细结构的背景灯的能量损失小,检出限得到改善磁场强度的限制不能用于火焰法测定光程短,测定灵敏度降低塞曼方式的测定灵敏度比较塞曼方式的测定灵敏度比较4.4.3利用空心阴极灯自吸收校正背景自吸收校正背景的方法，是利用谱线自吸收现象校正背景的方法。空心阴极灯内存在两种物理过程：溅射和激发。在较小的灯电流下，灯内溅射出的基态原子得以充分激发，发射的谱线自吸收现象较轻；加大灯电流时，灯内溅射作用加剧，出现大量未激发的基态原子，这些基态原子对灯发射的谱线产生原子吸收，导致谱线自吸收变宽，中心波长能量下降（也称自蚀），测定灵敏度降低。利用这种自吸收变宽，测定灵敏度低的谱线测量背景吸收。谱线自蚀现象灯电流与谱线轮廓利用空心阴极灯自吸收校正背景同时用一只灯测定和校正背景.适用于全波段,测定方式不受限制背景校正效果好,能校正具有精细结构的背景灯的能量不损失,检出限好仪器结构简单一些元素的测定灵敏度有所降低各种校正背景方法比较自吸收校正背景的测定灵敏度4.4.4关于背景校正能力背景校正能力与背景校正准确概念不同背景校正能力与测定精密度直接相关背景校正能力取决于仪器的电路水平背景校正能力与背景校正方式没有直接关系氢化物原子荧光光谱分析中的干扰及消除1.发生氢化物原子吸收法的发展过程发生氢化物的历史可以追朔到古老的马式试砷法。用锌粉将砷还原为砷化氢，并将其导入加热的玻璃管，砷在玻璃管内析出，发生银镜反应。用这种方法可检出0.007mg的砷。1969年Holak利用这一反应产生砷化氢，将收集到砷化氢导入空气乙炔火焰，首先尝试了砷的氢化物原子吸收测定。1972年Braman首先使用硼氢化钾代替锌粉和铝粉发生氢化物，很快就将测定元素扩大到As、Sb、Bi、Ge、Sn、Pb、Se、Te八种元素，应用日益广泛。目前已经成为原子吸收的一个重要领域。一些元素共价氢化物的性质氢化物生成热Kcal/mol熔点OC沸点OC

AsH3

15.8-116.9-88SbH3

34.7-62.5-18.6BiH3

66.416.6GeH4

21.7-166-88.5SnH4

38.9-150-52H2Se

7.1-65.7-42H2Te

23.8-46-2这些氢化物的沸点都是负值，常温下呈气态。氢化物的电负性较强，是强还原剂。氢化物的热稳定性也很差。胂AsH3：300度分解，在空气中燃烧生成氧化砷和水。胂能将溶液中的硝酸银还原成银。SbH3：热稳定性不如胂，室温下缓慢分解，200度迅速分解。SbH3易溶于乙醇、二硫化碳等有机溶剂。Se、Te、Bi、Ge、Pb的氢化物极不稳定，在常温下分解，有些氢化物分解迅速。2、氢化物发生的条件NaBH4+HCl+H2O

H3BO3+NaCl+H介质：盐酸、硫酸、硝酸、氢氧化钠等酸度：As、Sb、Bi、Se、Te：1~6moL/L。Sn：0.XmoL/L。Pb：盐酸-铁氰化钾或硝酸-铁氰化钾

Ge：0.X~1moL/L盐酸或硝酸+酒石酸予还原：As、Sb、Se。3、氢化物发生装置4、氢化物的原子化原子化温度

氢化物在较低的温度下即可实现原子化。一般情况原子化温度在8500C左右可获得最大吸光度。通常设定在8500C~9000C之间。原子化机理

AsH3+H——AsH2+H2AsH2+H——AsH+H2AsH+H——As+H2H2——2HO2——2OH2+O——HO+H5、发生氢化物原子吸收中的干扰化学干扰化学干扰是指共存成分对氢化物产率的影响。绝大多共存数元素产生负干扰。大量重金属离子被还原，消耗硼氢化钾；金属离子与测定元素生成共价化合物；金属离子及生成的金属粒子催化氢化物的分解

Pt、Pd、Rh、Ru等贵金属允许量0.Xμg/mLNi、Co、Cu、Fe等过度元素允许量XXμg/mL~XXXμg/mL

As、Sb、Bi、Se、Te等相互干扰，允许量XXμg/mL~XXXμg/mL

碱金属、碱土金属

mg/mL水平几乎不干扰。动力学干扰

动力学干扰主要指溶液黏度、比重等物理性质变化造成的干扰。其本质体现为影响氢化物产生的速率，使得氢化物发生过程延长，原子化器中氢化物瞬间浓度降低，吸光度下降。气相干扰

主要是能产生氢化物的元素间的相互干扰，这类干扰存在于原子化器中。其根源在于共存氢化物对氢自由基的争夺，影响测定元素的原子化效率。发生氢化物条件的影响6、干扰的消除化学干扰

主要通过往测定溶液中添加化学试剂消除。常用的试剂有：碘化钾、硫氰酸钾、氰化钾、柠檬酸、酒石酸、硫脲、氨基硫脲、EDTA、铜铁灵、1，10邻非罗啉、吡啶－2－醛圬等。这些试剂大多是贵金属、过度元素的络合剂、沉淀剂，可抑制共存元素的还原、沉淀。动力学干扰降低溶液黏度，消除粘性溶液的泡末。可添加乙醇、硅油、表面活性剂等；以峰面积积分方式测定。气相干扰提高原子化温度、载气中添加少量空气或氧气。

ICP-AES光谱分析中的干扰及消除等离子体的温度分布ICP-AES光谱中干扰1、背景干扰2、光谱干扰3、基体干扰1.1背景的产生背景干扰指连续光谱与元素的发射线重叠造成的影响。连续背景主要是氩气，溶剂，试样共存元素的分子发射光谱背景的影响体现为：测定精密度变坏；测定下限提高

谱线附近的背景1.2背景干扰的消除优化仪器条件降低背景载气流量，正向功率，观测高度稀释试样溶液正确地校正背景1.3背景校正2.1光谱干扰的产生光谱干扰是指共存元素的发射线与分析线重叠造成的干扰；分子光谱叠加的线光谱;导致分析结果偏高2.2光谱干扰的消除根据试样组分选择谱线；基体匹配；数学校正；Cu327.395nm附近的谱线分布Dy(II)327.273818Eu(II)327.2761580Sm(II)327.2803062Zr(II)327.30778680Er327.3321238Sc327.3633864Hf327.364946Th327.3921426Cu327.39553785Ta(II)327.3961271Ga(II)327.419739Tb(II)327.4331521Ta327.487639Ce327.491836Th327.5011712Nd(II)327.5211475元素谱线发射强度Cu324.754nm附近的谱线分布元素谱线发射强度Tm(II)324.7471650Nb(II)324.747606Cu324.75441390Dy324.836345Ti324.8609647Nb324.894437Er(II)324.9341343La(II)324.9353825Cu213.598nm附近的谱线分布元素谱线发射强度元素谱线发射强度V(II)213.4122130Mo213.606162Cr(II)213.420219P213.6181551Nb213.449479Nb(II)213.704162Cr(II)213.453705V213.7301381Nb(II)213.4711211W213.764255Cr(II)213.488118Zr213.768254Nb213.495227W213.813561Cr213.525540V213.815523P213.547127Zn213.85742500Cu213.5989470Nb(II)213.858227光谱干扰的校正3、基体干扰基体效应的影响影响发射强度；产生背景发射；基体效应的消除降低溶液浓度基体匹配采用内标法ICP-MS干扰及消除方法1、ICP-MS的优越性极低的检出限共存干扰少不同元素的测定灵敏度差别不大线性范围宽简便快速2、ICP-MS的干扰同量异位素干扰氧化物氢氧化物基体记忆效应2.1同量异位素干扰