VI曲线测试仪操作手册

10VI〔节选ZD4040-N4_2023〕VIVI在电路2结点〔或器件2管脚〕之间施加一个肯定幅度和频率的周期信号，在显示坐标上形成一条电流随电压变化的函数曲线，即：VI曲线。VI曲线的外形由被测结点之间的阻抗特性所打算。例如：电阻两端VI曲线是一条经过坐标原点的直线〔图4-1b〕。二极管两端的VIPN4-1器件故障常伴随管脚之间阻抗特性的转变。通过比较好坏电路板或器件一样结点之间的VI曲线，可觉察阻抗特性发生转变的结点，从而确定故障器件。直接观看或两者比照VI曲线的过程称作VIVI〔坐标系〕：VI曲线窗口中，x轴为电压，y轴为电流。在±4V·4mA显示坐标下，1kΩ和2kΩ〔或500Ω〕VI10kΩ10kΩ〔x〕VI100Ω100Ω〔y〕VIVIxy阻抗差异的区分力量越差，灵敏度越低。一旦VIxy阻抗特性变化〔4-2〕。因此，应避开VI曲线过于趋近xy45区域，以便观看VI4-245VI4V·4mA〔4-2〕，451kΩ阻值，阻抗中值是1kΩ。这个窗口简称：1kΩ坐标系。阻抗中值四周〔45度线区域〕测试45VI〔坐标系〕，使VI45VI13/正电流最大值连线和负PNVIVI/正电流最大值连线和负电压/负电流最大值连线。电阻阻值越大，VIxVIy测试仪有5种阻抗中值〔坐标系〕，100Ω,1kΩ,10kΩ,100kΩ,470kΩ。调整阻抗中值〔坐标系〕原则：VIx轴，应选择更大一挡的阻抗中值；VIyVIR〔4-1a〕，R〔R〕，1kΩVI2V·2mA45VIVIxVIVIyVI曲线应调低坐标系。VI曲线处于45°线可看成内阻与负载相匹配的信号源，负载信号功率最大。同样，VI10kΩ电阻VI5〔4-3〕。4-3VIVI曲线最正确显示范围是指电路结点阻抗变化能够引起VI曲线发生明显变化的区域，即灵敏度最高的区域，位于阻抗中值0.3~3倍之间区域。阻抗中值为100Ω,1kΩ,10kΩ,100kΩ,470kΩ时，VI曲线5种坐标系的最正确显示范围分别为 30~300Ω,300Ω~3kΩ,3~30kΩ,30~300kΩ,150kΩ~1.5MΩ之间。通过调整阻抗中值〔坐标系〕，测试仪VI曲线最正确显示范围能够完整掩盖30Ω~1.5MΩ之间的全部区域。无遗漏，无死角。VI曲线在最正确显示范围之外区域也具有辨识度，但灵敏度向两轴方向渐渐降低，直至无法辨识。另外，测试频率和扫描幅度等因素也会影响VI曲线测试灵敏度，但远无法和阻抗中值因素相比。VI曲线重合于两轴，便进入坐标系窗口边界，会形成VI曲线两轴测试盲区。又分为x轴测试盲区和y轴测试盲区。例如：100Ω坐标系下，10kΩVI曲线没区分，看不出存在10kΩ电阻。这就是x轴测试盲区，应换成10kΩ坐标系测试。再如：10kΩ坐标系下，100Ω电阻和垂直短路VI100Ω电阻。这就是y轴测试盲区，应100Ω坐标系。由于VI曲线窗口有5种坐标系，每一个窗口只能掩盖局部区域的阻抗故障，无法在一个窗口中掩盖全部区域的阻抗故障，势必形成VI曲线两轴测试盲区。这就是VI曲线结点全域阻抗故障难题。5cVI5VI〔建库〕VI曲线学习是存储好电路板上结点之间或好器件管脚之间VI曲线，建立数据库，作为VI〔检测〕的标准。进入“元器件特性分析”操作〔图4-4〕。4-4设置选项：<01>电路板文件：输入文件名建立一个的数据库，或选择已存在的数据库。从好电路板上提取的VI<02>可选功能〔设置关联电路板图,显示/隐蔽电路板图〕：可将电路板文件名和电路板图片相关联。具体操作见“其它关心功能”相关章节。<03>当前所学器件编号：输入器件在电路板上的实际位置编号，支持输入长文件名。建立一个信息较多的长文件名，在比较测试时会更加便利。例如：在所学器件编号处输入“U15/8031-GNDU158031其它有用信息，比简洁输入器件位置“U15”要好很多。<04>器件管脚数：输入IC总管脚数。承受VIVIIC定时测试和智能存储时，应输入IC总管脚数而非智能存储的实际各点总数。<05>曲线提取工具类型：可选择各种规格的测试夹、VI〔盒〕。ICVISIP:LxB侧”指离线测试板〔盒〕上双列插座左排插孔，便于测试单排管脚器件，如电阻排、管子和模块等。<06>结点元件类型：依据器件种类，匹配VI曲线测试频率。其中，“数字器件”项测试频率最高，测试速度最快。“大电容”项测试频率最低，测试速度最慢。<07>工作模式：VIVIVI比较”项。<08>开头学习：启动相应模式下的测试。建库时是“开头学习”，检测时是“开头比较”。<09>单地参考模式：任何一条VI曲线都是两点之间形成。一个测试点，一个参考点。“单地参考”是指所测VI曲线都以某一个点作为参考点，该点通常选择电路板的接地线或器件地管脚，所以称作“单地参考”。测试时应从测试仪接地端子〔COM端〕引线接到电路板上的某点作为参考点，通常接被测电路板的地线。<10>穿插参考模式：任何一点都可作为VI曲线测试参考点。“穿插参考”指用测试夹〔测试插座〕ICVIICVI单向测试一次为“递减穿插参考”，两点之间双向各测试一次为“全数穿插参考”。操作时不能再引线至测试仪的接地端子〔COM〕，否则相当于又多接出一个参考点。<11>NICVI1~12N点管脚处输入管脚序号，之间用空格或逗号分隔。就相当于对IC的N个点单地测试。可去除无效数据，减小数据库尺寸，提高测试速度。协作短路/击穿检测功能，效果更完备。<12>NICVI1~12N点管脚处输入管脚序号，之间用空格或逗号分隔。有些IC只有承受N点共地参考模式，建库时才能获得稳定的VI〔COM〕VI均不需要。测试夹〔测试插座〕方式可承受全部参考模式，VI<13>已学器件：当前数据库〔电路板文件〕中已学VI<14>器件排序规章：为便于快速查找器件，将当前数据库〔电路板文件〕中的相关器件编号依据肯定规章排序。<15>可选功能〔设置关联器件图,查阅关联器件图〕：可将VI曲线数据库中器件和器件图片相关联。具体操作见“其它关心功能”相关章节。<16>扫描幅度：VI曲线扫描幅度范围为-28V~+28V。选择适宜的VI曲线扫描幅度，有利于提VI4V±8V<17>扫描波形：测试仪施加的VI曲线扫描波形。可选择三角波和正弦波。其中：三角波形成VIVI<18>曲线区分率：每条VI曲线扫描周期内的采样点数。采样点数越高VI曲线越清楚。采样点数削减一半，测试频率增加一倍，测试速度也更快。测试夹方式，VI曲线区分率最高为256/周期。VIVI512/周期。<19VI曲线时，系统自动计算两条VIVI超差，视为有问题。不超差，视为无问题。设置允许误差应依据具体状况而定，带有肯定的3%。<20>阻抗中值〔坐标系〕：转变阻抗中值可使VI曲线尽量靠近显示窗口中间区域，从而提高VI5cVI5VI5操作事项：<01>测试VI<02>承受40管脚以下测试夹提取VI曲线，应从测试仪电缆插座中引出测试电缆，曲线提取工具类型选择“测试夹”。应将测试夹插入两条扁平测试电缆靠内侧插孔中，并同电缆最左VIIC管脚数自动计数，所以测试夹必需与IC1对齐放置〔4-5〕。4-5<03>单地参考模式应连接测试仪地线。其它几种参考模式均不需要。VI如：觉察器件输入管脚性能下降、一样输出单元输出特性不全都等参数故障。在对数字器件功能测试后，应VI2N<04IC，“曲线提取工具类型”处应选择“离线测试板”。IC1顶边对齐放置。单地参考模式可承受NICN1〔图4-5〕。〔黑线接测试仪地端子〕，这是抗干扰设计的必需要求。即使全部拨码接地开关均处于关闭状态下。<05>VI探棒建库，只能设置单地参考模式。从测试仪接地端子〔COM端〕引出测试钩，连接到参考点上〔4-5〕。VI从测试仪接地端子〔COM端〕引线接到被测电路板地线上，以地线作为VI曲线测试参考点。所测各点VINNICN〔COM〕VI测试参考点”这步操作。①测试夹建库：以学习某20管脚数字IC的VI曲线为例。输入或选择“电路板文件”，输入“器件编20”，选择“测试夹”，其它设置从略。按“开头学习”按钮。假设ICnVIn假设IC多于20管脚，可按“下/上一屏曲线”前后扫瞄。按“刷全屏”，可重测本屏的20条VI曲线；小窗口右下角处“RVI曲线；“O”按钮，放大显示小窗口；“S”按钮，可独立设置小窗口中VIR”按钮，小窗口刷一次。按“循环刷”的“R”按钮，小窗口循环刷。循环刷便利之处：学习时，假设某管脚VI曲线开路，要确定是否为接触问题，可点击该管脚“R”按钮，此时该管脚的VI曲线循环刷。这时可调整测试夹，看是否能会消灭VI曲线，断定是否确实为开路。比较时，假设某管脚曲线差异较大，可选择“比较及比照时刷至一样停顿”选项，看是否能会消灭全都的VI假设仅仅想看一下VI曲线，可按“不存盘退出”。假设想保存所学的VI曲线，应按“存盘退出”〔4-6〕。4-6②VIVI曲线假设呈现一条水平开路线，表示没有形成电流。通常是管脚与参考点之连续路或测试夹没有放置好造成的，应重放置测试夹，选择“刷”或“R”重测，首先排解测试夹未接触问题。VI曲线水平开路，也不排解VI曲线坐标系选择不当。按“S”按钮，对小窗口VI〔坐标系〕向上调整。IC管脚10消灭最大电流，表示这个管脚同参考点之间短路。由于参考点连接的是电路板10在线接地。有些状况中，VIVI曲线坐标系选择不当。按“S”按钮，对小窗口VI〔坐标系〕向下调整。IC的管脚20VI曲线，这是电容特性。在线时由于电路板电源和地之间有电容，即管脚20在线接电源。有时由于电容容量较大，电源管脚对地的VIS”按钮单独调整小窗口的阻抗中值〔坐标系〕或测试频率〔结点元件类型〕选项。数字ICVI-4V~+4V2种VI曲线形式。<1>正向电流导通、反向电流导通特性〔管脚1〕；<2>正向电流截止、反向电流导通特性〔管脚2〕。各个管脚对地VI曲线的反向特性根本全都。这是在没有可供比照的状况下推断数字ICVI曲线符合这2种规律的IC，损坏的可能性比较小。③VI无法使用测试夹的IC、分立元件、电路结点等，可选用VI探棒建库。例如：在“VI/模拟信号1”中插入一支VI探棒，在“当前所学器件编号”处起好文件名，将“曲线提取工具1”，输入“器件管脚数”〔≤240〕。点击“开头学习”。定时测试：VI探棒学习分“一般测试”和“定时测试”。“一般测试”适合管脚数不多的器件，每学一个点屏幕显示一次。“定时测试”适合多管脚表贴IC。可设置1~10秒等待时间，每个点测试完成后电脑发出“嘀”的一声单音提示。听到提示音后可连续接触下一个测试点，不用反复抬头看电脑屏幕。可一手持VI智能存储：VI探棒学习/比较窗口有“起始管脚”和“完毕管脚”选项。可暂停/查阅/存储。测试多管脚IC时，无须一气呵成学习/IC，可一次只学习/比较任意一边管脚或更少。并可随时暂停，再重设置起始管脚连续测试。能够随时存储，屡次退出再进入。对学习过中没有学习好的管脚，事后可在“查阅”功能里单独修改。44PLCCICIC1222的11个管脚。在“当前所学器件编号”输入U1-PLCC-44，“器件管脚数”输入44。这里应IC4411。“曲线提取工具类型”选择探棒VI1。按“开头学习”进入VI探棒学习窗口。选择“定时测试”，“起始管脚”输入12，“完毕管脚”输入22，选择适合自己的“各脚测试预备时间”，开头“测试”。测试过程中可随时“中止测试”。完毕或中止测试后“存储”测试结果〔4-7〕。4-7曲线修改：定时测试提取VI曲线时，假设某一个管脚没有测试好，可临时不用管，连续去学习后面的VI特性曲线查阅”项，找到该器件没有学习好的管脚，点击窗口右下角处的“RVIVI曲线时管脚17没有学习好，是一条水平开路线〔4-8〕。点击17窗口右下角处“R”重提取VIS”按钮，可独立设置VIVI4-8只有VI曲线单地参考模式〔测试夹单地和VI探棒单地〕测试，才需要从测试仪的接地端子〔COM〕引线作为参考点。以下的其它测试参考模式一概不需要。VI穿插参考测试可自动提取IC任意两管脚之间的VI曲线。不用人为调整参考点，测试时不能再另接参考点。假设ICnVI=n×〔n–1〕/2=n×n40D8255ACIC40×〔40–1〕/2=780VI40×40=1600VIICVIIC两管脚之间正向、反向各测试一次VI曲线。由于VI曲线在正负电压区间扫描，两点之间仅单向测试一次VI曲线可完整反映阻抗特性，所以递减穿插和全数穿插信息量一样。虽然递减穿插具有提取曲线少和测试速度快的优点，但是显示效果不如全数穿插好。因此，还是建议多承受全数穿插测试。选择“测试夹”，选择“全数穿插参考”，选择256点/周期，选择“数字器件”，其它设置选择从略。按“开头学习”按钮。40/801600VI123,管4..4026D8255AC272627ICIC4-9VINN1~12个管脚分别作为参考点，提取ICVI假设ICn，NVIN=n×NIC管脚之间形成的VI曲线，也是推断IC故障的重要依据。但有些IC特性联系，全是水平开路形式的VI40D8255ACIC40/801600VID8255AC7262120VI17〔接地脚〕形成非水平开路形式的VI〔4-10〕。4-10ICVIIC手段。假设没有VIN点穿插参考，需要分别以IC接地管脚和电源管脚为参考点，进展2VI2个文件。承受VI曲线ND8255AC7/267〔接地脚〕26〔电源脚〕2次，存储2N点穿插测试，输入器件管脚数“40”，选择“离线板〔盒〕”，选择“NN7和26，序号之间用空格或逗号隔开。其它设置选择从略〔图4-11〕114-11D8255AC7/26NVI40/801600VI2/480VI〔4-12〕VI数据库。协作“短路/击穿检测”功能，更加简洁和完备。4-12IC测试仪的接地端子〔COM〕VIVINN1~12个管脚同时作为参考点，提取IC管脚的VIICVI假设ICn，NVIN=n以离线单地测试ADC0804〔20810〕为例。VI外形不抱负〔4-13〕。4-13ADC0804108VI8/10参考点。选择“离线板〔盒〕”，选择“N点共地参考”，在“指定N点管脚”处输入8和10，序号之间用空格或逗号隔开。其它设置选择从略〔图4-14〕。4-14ADC08048/10〔模拟地和数字地〕做NVI〔4-15〕。实测中，应依据VIN<01>有些IC需要将接地脚和负电源脚做N点共地测试；<02>有些IC需要将接地脚和正电源脚做N点共地测试；<03>有些IC需要将数字地和模拟地脚做N点共地测试。4-15VI曲线建库ICIC各个管脚能够独立设置，以最能反映管脚特征的测试参数〔阻抗中值/扫描幅度/结点类型/扫描波形〕建库。各个管脚测试参数不再是统一的，可缤纷设置。建立高性能VI曲线数据库。1kΩ坐标系〔阻抗中值〕20MC68B501〔1Vss〕单地参考模式建库〔4-16〕56VIVI略有差异，表现为正电压区段VI4-165S”10kΩVIVI接近45VI曲线外形或位置的微小变化〔图4-17〕5/6VIVI〔4-18〕。114-174-18VI〔检测〕把故障电路板〔或器件〕各个结点之间VIVIVI差异的故障点。在工作模式处选择“VI〔4-19〕。4-19设置选项：<01>电路板文件：选择数据库。<02>选择器件：选择待比较的器件。VI<033%。可依据与数据库全都性的实际状况进展选择。<04>器件排序规章：依据肯定的规章排序，便于在数据库中快速查找到待比较的器件。测试夹比较〔检测〕：19以测试夹单地参考模式比较VI曲线为例。按“开头比较”按钮，比较被测IC和数据库VI曲线差异〔4-20〕IC管脚7对参考点〔电路板的地线〕短路，是明显的故障点。4-20VI〔检测〕：以探棒方式比较VI曲线为例。按“开头比较”按钮，进入比较测试窗口。VI探棒比较也分为一般测试和定时测试。一般测试可逐点查看比较结果。定时测试适于测试高密度多管脚IC，实现不抬头比较。假设实测和已学VI曲线相符，每点测试完成后，电脑发出“嘀”的一声单音提示。假设不相符，测试完成后电脑发出“嘀嘀”两声提示，临时终止测试。屏幕提示选择“重测试”、“无视本脚”或者“终止测试”。同样支持设置“起始管脚”和“完毕管脚”选项。可随时“暂停”测试〔图4-21〕。4-21VI〔检测〕：VI曲线比较时，假设IC某一管脚或某些管脚的VIVIICICVIVI标准。这样，可避开将一种型号IC2074LS373VIICVI不相符〔图4-22〕。该IC为也是无故障器件，仅为厂家生产不同。为便利以后比较，可将这个ICVIVI4-22VI曲线比较时，默认首先与数据库中的标准VI曲线进展比较。假设不匹配，可再与参考VI〔4-23〕。4-23VIVIICVI典型故障VIICVI〔检测〕应留意的问题：在线比较VI曲线，假设觉察某器件管脚VI曲线好、坏不全都，不肯定是当前所测器件消灭故障。由于这个管脚在线可能还连接了其它器件，其它器件故障也会在测试这个管脚时表达出来。所以在线比较VI曲线时要形成结点意识，是VI曲线不全都管脚所处的结点回路有问题，需要围绕这个结点进一步排查。<01>好、坏电路板上假设有<02>好、坏电路板有没有缺器件或局部电路不全都的状况，板上的器件<04IC一样，是否器件生产厂家不一样等。离线比较VI曲线，假设觉察某管脚的VI曲线好、坏不全都，通常是故障。IC，VIVIVI对于没有数据库可供比照的单独IC，比较IC各个同性质管脚〔地址端、数据端、正/反输入端、正/反输出端等〕对地管脚/VI曲线〔N点穿插模式〕，也可有效觉察ICVIVIVI特性曲线查阅项可查看承受各种测试方式建立的VI曲线数据库。重要的是：VI曲线查阅项还可修改VIVI曲线定时测试方式建库简洁出错。为了不影响建库效率，测试过程中可临时不用顾忌某些没有测试到的管脚结点。建库完毕后，再进入“VI特性曲线查阅”项，点击“R”可重测小窗口。对没有测试到的管脚结点重建库，集中修改。集中修改还包括对VI探棒方式数据库中的各个管脚进展独立设置，以最能反映管脚特征的测试参数〔阻抗中值/扫描幅度/结点类型/扫描波形〕建立高性能VI1kΩ坐标系/±4V/VI12结点。建库完毕后，再进入“VI特性曲线查阅”项，点击“S”可重设置某个小窗口的测试参数。调整阻抗中值/扫描幅度/结点类型/扫描波形等测试参数，可建立VI探棒方式高性能数据库，消退VIVI12VI测试参数下比较，而是在缤纷测试参数下比较检测。可充分保证每个管脚结点VI曲线都处于最正确显示范围，从而消退VIVIVIVI曲线探棒巡检测试可动态显示管脚结点之间的VI曲线，自动刷，高清显示〔支持512点/周期〕。适合于对分立元件较多的电路板或不便于用测试夹夹取的表贴IC做逐点动态测试，不建立数据库。进入方式：VI2①从工作模式处选择“VI②从系统软件主窗口上端一排快捷键中的“VI2VI〔4-24〕VI可独立设置测试窗口的测试参数。2VI12212人同时各自做VI4-24设置选项：<01>探棒巡检曲线类型：通常选择单周期稳态曲线。VI探棒测试电容时，假设消灭VI曲线不闭合的状况，为改善显示效果，也可选择双周期。<02>声音提示：承受双探棒进展VI曲线巡检比照测试，两条VI曲线全都，电脑会发出“嘀嘀”的提示音。在测试过程中不用反复看电脑屏幕。假设需要静音测试，可关闭声音。提示音由电脑发声，windows7<03>阻抗中值〔坐标系〕：可单项选择/组合/全选。即：抑制VI曲线两轴测试盲区的5cVI曲线5〔简称：5cVI〕。5cVI/电流/阻抗三维度VI根本操作：①单探棒操作：用测试钩将被测板或器件和测试仪共地。从工作模式处或主窗口上端快VIVI1〔或探棒2〕，进展VI1〔2〕，VI〔COM〕作为VI22〔2〕和测试仪共地，从工作模式处或主窗口上端快捷键图标进入VI曲线探棒巡检设置窗口。在“曲线提取工具类型”处选择双探棒，进展VI③双窗口测试：从工作模式处进入一个VI曲线探棒巡检设置窗口，在“曲线提取工具类型”处选择VI探棒1，接出一支探棒1〔比照测试时可选双探棒〕。从主窗口上端快捷键图VIVI1〔比照测试时可选双探棒〕1选择100Ω坐210kΩVIVI④双人同时测：从工作模式处进入一个VI曲线探棒巡检设置窗口，在“曲线提取工具类VI探棒11。从主窗口上端快捷键图标进入另一个“VI曲线探棒巡检”设置窗口，在“曲线提取工具类型”处选择VI2，2VI测试设置任意。两个人可同时各自做VI单独测试电路结点：单独测试电路结点时，一个5cVI曲线窗口中同时消灭5种不同颜色代表5种阻抗中值〔坐标系〕的VI5种坐标系叠加成一个窗口。5种坐标系可单项选择、自由组合叠加或5种全部叠加。能够充分表现结点特征，不会隐蔽漂浮并联在电路结点上的任何器件。无论结点特征消灭在哪个阻抗区域，5cVI1VI〔1标系〕处于最高灵敏度。例如：在1kΩ100Ω电阻的VI曲线。有时这不肯定只是一个电阻〔图4-25左〕。而承受5cVI曲线测试这个电路结点，可看到该结点100ΩPN结〔二极管〕PN结被100Ω坐标系觉察。这是典型的VI曲线y轴测试盲区。1kΩ坐标系只能够觉察100Ω电阻，而10kΩ/100kΩ/470kΩ这3VI31条100Ω〔4-25〕。4-25按“完毕巡检”后，5cVI曲线窗口中会保存测试结果。点击5cVI曲线窗口右侧的“S”开关，只显示该“S”开关对应阻抗中值〔坐标系〕1VI比照测试电路结点：5cVI10VI5cVI曲线1〔2〕VI〔1〕处于最高灵敏度。例如：在1kΩPN结〔二极管〕VI曲线。两块电路板结点VI曲线完全一样，相对误差仅为0.4%。有些状况下，这不PN〔4-26〕5cVI不是一个单纯的反向PN结，各自都并联了一个电容。是典型的VI曲线x轴测试盲区。在470kΩ5.0%，说明两个电容的容值存在差异〔图4-26〕。4-265cVI曲线窗口中能够自动提示最大相对误差以及其对应的阻抗中值。按“完毕巡检”后，5cVI曲线窗口中会保存比照测试结果。点击5cVI曲线窗口右侧的“S”开关，只显示该“S”开关对应阻抗中值〔坐标系〕1VI测试电容：容抗和容值成反比〔X＝1／2πfC〕VI曲线〔图4-c2〕与不同容值电容VI曲线的变化规律正好相反。容值越小，VI曲线越趋近x轴〔容抗越大〕；容值越大，VIy轴〔容抗越小〕x轴→围绕x轴椭圆形VIVI曲线→围绕y轴椭圆形VIy电容在沟通信号下，电流相位超前电压相位90°。因此对电容施加正弦波和三角波扫描波形时，会形成VI容抗和频率成反比〔X＝1／2πfC〕。在同一个坐标系中，调整“结点元件类型”项，可c转变VI〔大电容项〕，使VIy轴。测试小容值电容，应提高测试频率〔数字器件项〕，使VI曲线远离x轴。调整后可相对VI容抗只和容值和频率有关。在5坐标系中，同一个电容与同一个电阻的VI〔图4-3〕。坐标系由低到高，VI〔或重合〕x〔或重合〕yxxVIVIyVIy5cVI/电流/VI5此会呈现出电容VI曲线圆润秀丽的一面，可谓鹰爪也温顺。例如：承受5cVI曲线单独测试0.1µF5VI曲线圆润秀丽。一般VI〔100Ω/1kΩ坐标系〕，只会呈现VIx〔绿线/白线〕。5cVI10kΩ以上坐标系〔黄线/粉线/蓝线〕都能看出电容特性。其中：470kΩ坐标系〔蓝线〕呈现出正圆形VI〔4-27〕。4-27双人同时测试：VI1VIVI2VI工作模式处和快捷键处各自翻开一个VI曲线探棒巡检设置窗口。一个设置为探棒1，另一个2VI11A15cVIVI22B25cVI工和李工正在同时使用同一台测试仪，各自独立进展5cVI曲线测试。适合于人员较多的检测公司，也适合于师傅带徒弟〔4-28〕。4-285cVI2窗口。例如：单独测试电路结点，从测试仪VI1VI25cVI2123VI〔100Ω/10kΩ/470kΩ间隔选取〕2VI〔1kΩ/100kΩ间隔选取〕。单窗口5cVI曲线拆分成2窗口之后，视觉效果更佳。同理，比照测试VI1VI2VI226VI4VI说明事项：<01>5cVI2VI100Ω/10kΩ效果最正确。<02>可协作脚踏开关，用于在双手同时比照5cVI曲线时，完成完毕巡检操作。<03>不能在VI220V<04>假设长时间不测试，应准时“完毕巡检”。测试时再重“开头巡检”。否则会影响测试仪内部切换继电器的使用寿命。调整VI虽然远无法和阻抗中值〔坐标系〕因素相比，但测试频率和扫描幅度等因素，某些状况也会影响VI阻抗中值〔坐标系〕影响测试灵敏度图例：1]