ICT测试不良及常见故障的分析方法

ICT测就不良及常见毛病的阐发办法之五兆芳芳创作本文主要介绍ICT测试的不良品之罕有毛病的阐发办法，旨在帮忙检验人员能够对罕有的不良现象进行快速而准确的判断与阐发，同时本说明书也可以作为学习的参考数据.开路不良所谓开路不良就是指在某一个短路群中，各个测试点之间原本应该是短路，但却出现了某个测试点对其所在短路群的其它测试点是开路的.出现开路不良的可能原因有如下几个方面：PCBOpen；零件造成的；它又包含如下几个方面：A 立件与漏件；B 空焊；C 零件不良测试点有问题A． 探针未接触到；测试点氧化；C 测试点有东西挡住；D 测试点在防焊区【说明】在平常出现比较多的情况是立件于漏件，空焊，PCBOpen和零件不良.对于立件和漏件可以通过目查抄出；PCBOpen只要细心查抄两测试点之间的线路，看在测试点之间是否有断线的情况产生，零件不良造成的开路不良通常是由于电阻，电感等零件损坏而造成的其本体开路.如果将一块好的PCB板与之比较发明没有差别（通常比较的是电阻），则标明测试点有问题，需查抄PCB板上的测试点是否有问题或查抄治具上的测试针是否有问题.短路不良所谓短路不良是指存在于不合的短路群中的测试点在正常情况下应该是开路的，但却出现了短路的情况.出现短路的原因有以下几个方面：零件短路（由于在零件两端存在有锡丝而造成短路）零件不良，本体短路（通常是由于零件损坏了的缘故）：（3）PCB短路（存在比较多的情况是：出现短路不良的两个测试点的步线十分靠近，由于印刷的原因在某处出现了短路，尤其是在印有字迹的地方要特别注意，绝大部分多数的PCB短路都产生在这里.（4）BGA短路（可能是BGA下方的锡球短路，也有可能是BGA本体短路），这比较麻烦，必须有90%以上的掌控时才干拆BGA.【说明】对于零件短路可以通太重新焊过该零件当可解决短路不良的情况，对于零件本体短路可以通过改换零件来加以解决；对于PCB短路应首先注意测试点之间的走线，在可能出现短路的地方（尤其是在有字迹遮住的地方）在没有找到其它原因的情况下最好用笔刀割一下，在进行这个操纵的时候必须很小心，不要将步线刮断了而造成新的开路不良.如果是BGA内部短路而又必须拆下来的话，就应该先验证出是否为BGA零件不良，如果是零件不良则应该换上一个OK的BGA，注意一块PCBA板的186人拆换次数不克不及超出3次，不然会因为PCB板局部受热次数过量而使PCB板产生变形.零件不良所谓零件不良是指在ICT测试时，显示“OpenFail”在零件不良打印报表中其量测值往往与该零件的尺度值不一致，而存在一定的偏移，这种偏移有时很大，有时很小，出现的原因也良多，下面分以下几个步调加以阐发：A.如果是M-V:9999.99Dev:+999.9%,那么可能存在的原因有以下几个方面：空焊漏件；（3）PCB开路）测试点有问题:a针未接触到；b测试点氧化；c测试点有东西挡住；d测试点在防焊区【说明】对于测试点出现的问题首先应该查抄测试点是否有氧化，测试点是否在防焊区，然后查抄测试治具上对应的测试针是否为未接触到测试点或是由于测试点有东西挡住，至于其它的原因，在前面已有详细的论述，这里便不再重复了.B.如果测试值与尺度值比较只是产生了较大的偏移，而不是量测值为无穷大的情况，则可能存在的原因有以下几个方面:错件；有内阻的主动组件的影响；测试点有问题【说明】如果是电容错件，有两种办法进行量测：第一种办法是拆下来量测，但这种办法通常是用来量测大电容的，并且在量测之前必须知道它的容值，对于小电容无法准确量出，因为电容被焊接的关系，它的容值会产生改动；第二种办法是通过比较的办法直接在PCB板上进行量测，但必须注意所要比较PCB板应该是一块好的板子，并且注意到在量测时要保持测试笔的标的目的一致（即红、黑表笔所对应的电容两端应该一致）.这种办法也只能用来丈量大电容.C如果量测值与尺度值比较只是产生了很小的偏移，这种情况多为零件误差引起的，但是为了准确起见，最好仍是通过比较的办法看是否真的是由于误差的原因而造成的量测值偏移，如果由于误差的原因造成的话，需由工程人员作相应的程序调整.D.在进行了上面几步后就应该查抄测试点（包含高测试点和低测试点）在查抄测试点的进程中可能会发明：⑴PCB开路（大约占10%的比例）；（2）测试点有为题：a未接触到；b测试点氧化；c测试点有东西挡住；d测试点在防焊区【说明】PCB开路应该进行分段量测；PCB短路有10%测不出，这可能是因为没有测试点或是由于将10欧以下的电阻判断为短路了.在IC开路测试不良中，会出现电压值偏大的情况，出现这种情况的原因绝大部分部分在于PCB开路或存在有空焊.通过量测会发明，在电压偏大的两测试点之间的阻抗值偏大，为了查找出现这种情况的原因，最简洁直接的办法就是同一块好的PCB板进行对比量测，有需