安氏类偏颌患者下颌对称性分析

安氏类偏颌患者下颌对称性分析

偏见是一种更难治愈的畸形，通常表现为斜面以下1.3的倾斜。上颌骨的水平方向和后向高度的差异可以通过断层成像（smv）来更好地测量颅骨结构的水平方向和前后向，尤其是下肢和后部的结构。Marmary等建议使用棘孔连线的垂直平分线作为SMV颅底中线,分析两侧结构的对称性,该方法简便易行。本研究利用SMV分析下颌偏斜的安氏Ⅲ错患者下颌不对称的部位及程度,为临床治疗提供参考。数据和方法1.下颌偏差、前牙反选择北京口腔医院正畸科门诊患者40名,牙列完整,均为早期恒牙,无正畸治疗史及外伤史。实验组:安氏Ⅲ类错,伴有下颌偏斜者20名,伴有或不伴有单侧后牙反,下颌颏点与面中线相差≥2mm,无功能性移位,年龄(12.78±1.56)岁。对照组:安氏Ⅰ类错且无前牙反者20名,颏点无偏斜,下中线与面中线相差≤2mm,年龄(13.5±1.92)岁。两组年龄经t检验,P=0.223(P>0.05),无显著性差异。2.对称标志点的测量矫治前在正中位保持FH平面与地平面垂直拍摄SMV。用硫酸纸上描记下颌轮廓。标志点(图1):FS:棘孔轮廓线的中心点。CM:髁突中点,髁突左右最大径及前后最大径的交点。GO:下颌角点,下颌角最后点。CP:喙突点,喙突的最前点。MCM:下颌体中点,下颌体外形线最突点。FMP:磨牙点,下颌第一磨牙远中轮廓线中点。SM:下颌骨联合点,两侧下颌骨联合最前点。DM:下牙弓中点,下切牙接触点。测量项目:以两侧FS点连线的垂直平分线作为中线,测量两侧对称标志点水平向及前后向的差异;并测量中线上的标志点与中线的差异;测量CM-SM长度,比较两侧下颌骨的综合长度差异(图1),其中偏颌组以颏点偏斜侧测量值减颏点偏斜侧对侧,对照组以右侧测量值减左侧。3.统计处理应用SPSS11.0软件包进行统计学处理。对两样本进行t检验,P<0.05被认为有显著性差异。安氏类偏颌患者的偏颌知识通过在SMV上测量结果表明,与安氏Ⅰ类错相比,安氏Ⅲ类偏颌患者的髁突、下颌体、下牙弓相对于颅底其对称性均有显著性差异,同时下颌体综合长度出现明显不对称(表1)。安氏类偏颌患者两侧下颌不对称的形态正常咬合及各类错均可存在骨骼及牙弓的不对称。没有明显面部及牙弓不对称的患者,对其上下颌骨的左右结构进行比较,仍然有差异。安氏Ⅲ类偏颌患者多数伴有单侧后牙的反,不但有前后向的异常,而且具有水平向和垂直向的异常,如果不进行治疗,其反可能由乳牙持续到替牙、恒牙,直至成年,而且随着年龄的增长,其面部的偏斜越加明显,对患者的身心健康也会带来极大的影响。以往多数研究是通过后前位头影测量片(posteroanteriorcephalogram,PA)的测量反映水平向及垂直向的差异,许多学者认为SMV能够较好的反映颅面结构水平向及矢状方向的差异,尤其能够较好的反映下颌的形态,Moss等学者认为,在颌面部生长的过程中,血管神经束的通道及位置是不变的,因此本研究选择棘孔连线及其垂直平分线为参考,测量两侧颌骨及牙弓的对称性相对于颅底的差异。本研究结果发现,无论在安氏Ⅰ、Ⅲ类患者中,其下颌骨及牙弓均存在不对称性。一般认为,这种不对称性如果超过2mm,就可以被肉眼观察到。安氏Ⅲ类偏颌患者下颌骨与I类错相比,两侧髁突、下颌体中部、下颌骨长度相对于颅底存在明显差异,说明恒牙早期,由于两侧下颌骨不对称的生长,两侧下颌骨长度已经存在较明显的不对称,造成下颌骨联合中点的偏斜。另外,由于髁突相对于颅底除了水平向的差异,在垂直向也存在明显的差异,因此,下颌的偏斜部分原因可能是由于下颌骨相对于颅底发生了相对的旋转造成的。根据测量结果显示,磨牙在前后向及水平向也存在明显差异,这与安氏Ⅲ类偏颌患者临床表现相符,即颏点所偏向的一侧磨牙Ⅲ类关系较轻,而对侧Ⅲ类关系较严重,因而表现为前后向差异,而多数患者表现为单侧后牙反,引起水平向的差异。咬合干扰不但可以引起颌骨的大小及形态改变,还可能引起功能的改变。因此可以认为面下部的不对称是由于下颌骨骼及下牙弓的不对称以及下颌骨相对于颅底的旋转综合作用的结果。多数学者认为,在无外伤史、肿瘤等可造成颜面不对称发育疾病时,造成偏颌的主要原因是咬合干扰及不良习惯。由于附着于下颌骨两侧的肌肉的不对称功能活动的牵引,使得两侧下颌骨形态和位置发生不对称性变化,本研究结果可以看出,安氏Ⅲ类偏颌组两侧颏突、喙突、下颌角、下颌体中部都存在着较大的不对称,但与安氏I类错相比,喙突及下颌角却没有明显差异,这可能是由于本研究中所选择的安氏I类患者这两个部位左右也存在较大的差异,造成结果没有显著性。由于不对称的功能活动及咬合干扰相互作用,相互干