材料分析测试技术智慧树知到课后章节答案2023年下山东科技大学

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第一章测试

X射线特征谱的产生机理与（）有关。

A:X射线管的阴极材料

B:X射线管的电压

C:X射线管的阳极靶材的原子结构

D:X射线管的电流

答案:X射线管的阳极靶材的原子结构

倒易矢量的长度与正点阵中同名晶面的晶面间距（）

A:成倒数

B:垂直

C:没有关联

D:相等

答案:成倒数

粉末多晶样品中，不同晶面指数的倒易点分布在（）半径的倒易球上。

A:相同

B:其他选项都不对

C:任意

D:不同

答案:不同

在体心点阵中，当（HKL）晶面的H+K+L为奇数时，产生系统消光。（）

A:错B:对

答案:对

关于X射线衍射仪的测量动作，说法正确的是（）。

A:机械连动时，样品台转过θ角时，计数管转2θ角。

B:样品台和计数管可以分别绕O轴转动，也可机械连动。

C:样品台和计数管必须机械连动

D:机械连动时，样品台转过θ角时，计数管转θ角。

答案:机械连动时，样品台转过θ角时，计数管转2θ角。

;样品台和计数管可以分别绕O轴转动，也可机械连动。

X射线衍射仪中，通常用于测定2θ范围不大的一段衍射图，常用于精确测定衍射峰的积分强度和位置的扫描方式为（）。

A:其他选项都不对

B:步进扫描

C:慢速扫描

D:连续扫描

答案:步进扫描

当倒易球与反射球相交，交线是一个圆环，环上每一点都满足衍射条件，可以产生衍射。（）

A:错B:对

答案:对

X射线衍射的充分条件是（）。

A:其他选项都不对

B:晶面间距大于等于半波长

C:满足布拉格方程且结构因子不为零。

D:满足布拉格方程且结构因子为零。

答案:满足布拉格方程且结构因子不为零。

晶体的X射线衍射方向反映了晶胞的（）

A:形状

B:大小

C:原子种类

D:原子位置

答案:形状

;大小

每种晶体物质都有自己特定的晶体结构，晶体结构不同则X射线衍射花样也就各不相同。（）

A:错B:对

答案:对

第二章测试

影响电磁透镜分辨率的因素包括（）。

A:色差

B:像散

C:球差

D:衍射效应

答案:色差

;像散

;球差

;衍射效应

孔径半角越小，衍射效应所决定的电磁透镜的分辨率越高。（）

A:错B:对

答案:错

透射电镜的成像操作和电子衍射操作是通过调节（）的位置来实现的。

A:中间镜

B:物镜

C:投影镜

D:聚光镜

答案:中间镜

制备透射电镜薄膜样品时，离子减薄既适用于导电样品，又适用于不导电样品。（）

A:错B:对

答案:对

产生电子衍射的充分条件是满足布拉格方程。（）

A:对B:错

答案:错

简单立方结构材料发生衍射时，可以产生衍射的晶面为（）。

A:（200）

B:（110）

C:（100）

D:（111）

答案:（200）

;（110）

;（100）

;（111）

衍射衬度在晶体和非晶体中都是存在的。（）

A:对B:错

答案:错

根据衍衬运动学原理，理想晶体衍射强度随（）而变化。

A:样品质量

B:样品厚度

C:偏离矢量

D:衍射矢量

答案:样品厚度

;偏离矢量

暗场像中位错线的像为亮线。（）

A:错B:对

答案:对

第三章测试

电子束与固体样品作用时，产生的信号有（）。

A:俄歇电子

B:二次电子

C:背散射电子

D:特征X射线

答案:俄歇电子

;二次电子

;背散射电子

;特征X射线

电子束与固体样品作用时，会产生背散射电子。背反射电子的产额随样品（）的增加而增多。

A:表面形貌

B:原子序数

C:表面面积

D:厚度

答案:原子序数

扫描电镜的二次电子像中，样品表面的深凹槽底部产生较多二次电子，在荧光屏上这些部位的亮度较大。（）

A:错B:对

答案:错

在扫描电镜观察样品，对样品微观组织形貌敏感的成像信号是（）。

A:背反射电子

B:二次电子

C:俄歇电子

D:特征X射线

答案:二次电子

与光镜呈像相比，扫描电镜图像立体感强，形态逼真，这是由于扫描电镜的（）比光镜大100-500倍。

A:速度

B:尺寸

C:景深

D:放大倍数

答案:景深

扫描电镜中，无论二次电子呈像还是背散射电子呈像，图像的分辨率不发生改变。（）

A:对B:错

答案:错

被样品原子核反弹回来的入射电子称为非弹性背散射电子，能量基本上没有损失。（）

A:对B:错

答案:错

扫描电镜的分辨率等于入射电子束直径。（）

A:错B:对

答案:错

扫描电镜的背散射电子像中，图像上亮区对应区域的原子序数（）暗区对应区域的原子序数。

A:其他选项都可以

B:小于

C:等于

D:大于

答案:大于

二次电子像衬度最亮的表面区域是（）。

A:法线与电子束成36°的表面

B:法线与电子束成0°的表面

C:法线与电子束成86°的表面

D:法线与电子束成66°的表面

答案:法线与电子束成86°的表面

第四章测试

电子探针的能谱仪和波谱仪比较，波谱仪（）。

A:分析元素范围广

B:适合粗糙表面工作

C:分辨率高

D:分析速度慢

答案:分析元素范围广

;分辨率高

;分析速度慢

在电子探针中，测定X射线特征能量的谱仪为能量分散谱仪，简写为（）。

A:EPMA

B:EDS

C:WDS

D:XRD

答案:EDS

利用电子探针，可以对样品的成分进行（）。

A:只能定性分析

B:只能定量分析

C:定量分析

D:定性分析

答案:定量分析

;定性分析

利用电子探针的波谱仪，一个分光晶体能够覆盖的波长范围有限的，因此一个分光晶体只能检测一定原子序数范围的元素。（）

A:对B:错

答案:对

在电子探针面分析中，根据图像上亮点的疏密和分布，可确定该元素在试样中分布情况，亮区代表元素含量（）。

A:没有

B:中等

C:低

D:高

答案:高

电子探针的主要功能是进行微区成分分析。（）

A:错B:对

答案:对

利用电子探针对材料微区成分进行面分析，包含几种元素就显示几种元素的分布图像。（）

A:对B:错

答案:对

电子探针只能对材料进行微区成分分析，不能同步观察材料微观形貌。（）

A:错B:对

答案:错

在电子探针中，测定X射线特征波长的谱仪为波长分散谱仪，简写为EDS。（）

A:对B:错

答案:错

电子探针和X射线衍射仪一样，都可以直接确定材料中所包含的物相。（）

A:错B:对

答案:错

第五章测试

差热分析法的简称为（）。

A:DSC

B:EDS

C:DTA

D:WDS

答案:DTA

差热分析中，若试样没有热效应时，记录仪所记录的ΔT曲线，为水平直线，称为（）。

A:吸热峰

B:放热峰

C:DTA

D:基线

答案:基线

热分析技术中，试样用量越多，热效应大，内部传热慢，温度梯度大，导致峰形扩大，峰顶温度滞后，容易使相邻峰重叠，降低分辨率。（）

A:对B:错

答案:对

差热分析中，试样对曲线会产生影响，影响因素有（）。

A:试样的装填

B:试样用量

C:试样结晶度

D:试样粒度

答案:试样的装填

;试样用量

;试样结晶度

;试样粒度

在热分析技术中，参比物质的选择是任意的。（）

A:错B:对

答案:错

热重分析法的简称为（）。

A:DTA

B:DSC

C:EDS

D:TG

答案:TG

在热分析技术中，利用程序温控装置，可以升温、降温，但不能测定材料在恒温过程中发生的变化。（）

A:对