千分尺计量检定规程

千分尺计量检定规程1.0目的规范千分尺校验的操作，确保千分尺的测量精度处在受控状态，检查成果真实、可靠，以确保产品品质。2.0范畴本规程合用于千分尺计量检定。3.0校验设备外校合格的原则量块。4.0环境条件温度（20±5）℃，湿度45%～75%RH。校准前被检测量设备在规定温度下恒温不少于2h。5.0技术规定和检定办法5.1外观5.1.1规定千分尺及其校对用的量杆不应有碰伤、锈蚀、带磁或其它缺点，刻线应清晰、均匀。千分尺应附有调节零位的工具测量上限不不大于25mm的千分尺应附有校对用的量杆。千分尺上应标有分度值、测量范畴、制造厂名（或厂标）及出厂编号。使用中的和修理后的千分尺及其校对用的量杆不应有影响使用精确度的外观缺点。5.1.2检定办法：目力观察。5.2各部分互相作用5.2.1规定微分筒转动和测微螺杆的移动应平稳无卡住现象。可调或可换测砧的调节或装卸应顺畅，作用要可靠，锁紧装置的作用应切实有效。带有表盘的千分尺，表针移动应灵活，无卡滞现象。5.2.2检定办法实验和目力观察5.3测微螺杆的轴向串动和径向摆动。5.3.1规定：测微螺杆的轴向串动和径向摆动均不不不大于0.01mm。5.3.2检定办法测微螺杆的轴向串动，用杠杆千分表检定，检定时，使杠杆千分表与测微螺杆测微量面接触，沿测微螺杆轴向方向分别来回加力3N~5N。测微螺杆的径向摆动示用杠杆千分表检定，检定时，将测微螺杆伸出尺架10mm后，使杠杆千分表接触测微螺杆端部，再往杠杆千分表测量方向加力2N~3N，然后以相反方向加力2N~3N，这一检定应在互相垂直的两个径向方向检定。5.4测砧与测微螺杆工作面相对偏移5.4.1规定千分尺测砧与测微螺杆工作面的相对偏移量应不不不大于JJG21-原则中的规定。5.4.2检定办法在平板上用杠杆百分表检定，对于测量范畴不不大于300mm的千分尺用百分表检定，检定时借助千斤顶将千分尺放置在平板上，根据JJG21-规定，调节千斤顶使千分尺的测微螺杆与平板工作面平行，然后用百分表测出测砧与测微螺杆在这方位上的偏移量x，然后将尺架侧转90°按上述办法测出测砧与测微螺杆在另一方位上的偏移量y，测砧与测微螺杆工作面的相对偏移量Δ按下式规定的Δ=√x2+y2此项检定也可用其它专用检具检定。5.5测力5.5.1规定千分尺的测力（指工作面与球面接触时所作用的力）应在6N~10N范畴内。5.5.2检定办法用分度值不不不大于0.2N的专用测力计检定，检定时，使工作面与测力计的球工作面接触后进行。5.6刻线宽度及宽度差5.6.1规定固定套管纵刻线和微分筒上的刻线宽度为0.15~0.20mm，刻线宽度差应不不不大于0.03mm，刻线盘的刻线宽度为0.20~0.30mm，刻线宽度差应不不不大于0.05mm。5.6.2检定办法在工具显微镜上检定，微分筒或刻线盘上的刻线宽度最少任意抽检三条刻线。5.7指针与刻线盘相对位置5.7.1规定板厚千分尺刻度盘上的指针末端应盖住刻线盘短刻线长度的30~80%，指针末端上表面至刻度盘表面的距离应不不不大于0.7mm，指针末端与刻度盘刻线的宽度应一致，差值应不不不大于0.05mm。5.7.2检定办法指针末端与刻度盘短刻线的相对位置可用目力预计，指针末端上表面至刻度盘表面的距离应用塞尺进行检定，上述检定应在刻度盘上均匀分布的三个位置上进行，指针末端与刻度盘的刻线的宽度差在工具显微镜上检定。5.8微分简锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离。5.8.1规定微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离应不不不大于0.4mm。5.8.2检定办法在工具显微镜上检定，也可用0.4mm的塞尺置于固定套管刻线表面上用比较法检定，检定时在微分筒转动一周内不少于三个位置进行。5.9微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置5.9.1规定当测量下限调节对的后，微分筒上的零刻线与固定套管纵刻线对准时，微分筒的端面与固定套管毫米刻线右边沿应相切，若不相切，压线不不不大于0.05mm，离线不不不大于0.1mm。5.9.2检定办法当测量下限调节对的后，使微分筒锥面的端面与固定套管任意毫米刻线的右边沿相切时，读取微分筒的零刻线与固定套管纵刻线的偏移量。5.10工作面的表面粗糙度5.10.1规定外径千分尺和校对量杆的工作面的表面粗糙度Ra应不不不大于0.05μm，壁厚、板厚千分尺工作面的表面粗糙度Ra应不不不大于0.1μm。5.10.2检定办法用表面粗糙度比较样块用比较法检定。5.11工作面的平面度5.11.1规定零级外径千分尺工作面的平面度不不不大于0.6μm，一级外径千分尺工作面的平面度不不不大于1μm，壁厚千分尺测微螺杆工作面的平面度应不不不大于1.2μm，板厚千分尺工作面的平面度应不不不大于1μm。5.11.2检定办法用二级平晶用技术光波干涉法检定，对于使用中的可用1级刀口尺用光隙法检定，工作面直径为6.5mm的，距离边沿0.2mm范畴内不计，对于8mm的，距离边沿0.5mm范畴内不计。5.12工作面的平行度5.12.1规定当外径千分尺锁紧装置紧固与松开时，千分尺两工作面的平行度应不不不大于JJG21-规定。5.12.2检定办法测量上限至100mm的千分尺两工作面的平行度用平行平晶检定，也可用量块检定，零级外径千分尺用4等量块检定，1级外径千分尺，板厚千分尺用5等量块检定，测量上限不不大于100mm的千分尺两工作面的平行度按JJG21-规定所示钢球检具检定。两工作面的平行度也可用其它对应精确度的仪器检定。使用平行平晶检定时，依次将4块厚度差为1/4螺距的平行平晶放入两工作面间转动微分筒，使两工作面与平行平晶接触，并轻轻转动平晶，使两工作面出现的干涉条纹数减至最少时，分别读取两工作面上的干涉条纹数，取两工作面上的干涉条纹数目之和与所用光的波长值的计算成果作为两工作面的平行度，运用平行平晶组中每一块平晶按上述程序分别进行检定，取其中最大一组平行度值作为受检千分尺的两工作面平行度检定成果。使用量块检定时，依次按尺寸约为上下限的中间尺寸，间隔为微分筒1/4转的四组量块进行，每组量块以其同一部位与放入工作面间的4个位置上按微分筒分别读数，并求出其差值，以四组差值中最大值作为被检千分尺两工作面的平行度。6.0示值误差6.1规定外径千分尺的示值误差应不超出JJG21-的规定。测量上限不不大于150mm的外径千分尺能够只检定测微头的示值误差，用5等或对应等的专用量块借助对应精确度的专用检具按0~25mm的千分尺受检点检定，按JJG21-图所示。测微头各点相对于零点的示值误差不超±3μm。6.2校对用的量杆6.2.1规定校对用的量杆尺寸偏差和两工作面的平行度应不超出JJG21-的规定。6.2.2检定办法量杆的尺寸及工作面的平行度在光学计或测长机上采用4等量块用比较法检定，对于平工作面的量杆采用球面测帽在JJG21-的5点上进行检定，各点尺寸偏差均不超出JJG21-的规定，5点中的最大值与最小值之差即为量杆两工作面的平行度。对于球工作面的量杆，应用直径为8mm的平面测帽进行检定。5.8校准统计填写并完毕测量仪器内部校验报告。校准完后需填写校准统计由实验室或档案室保存最少3年。6.0校准周期校准周期普通不超出一年，凡在使用过程中通过修理或示值调节的均需重新校准。7.0参考文献JJG21-千分尺检定规程JJF1071国家计量校准规范编写规则JJF1001通用计量术语及定义GBT/T8170数值修约规则与极限数值的表达和鉴定8.0统计表格内校合格证千分尺校验统计内校合格证内校合格证仪器编号校准日期复效日期校准人

千分尺校验统计送样单位分度值0.01(mm)制造厂出厂编号检定地点本院测量范畴0～25（mm）检定温度（℃）相对湿度（%）检定前样品有效性检查检定后样品有效性检查检定用仪器使用前状态检定用仪器使用后状态本次检定所根据规程JJG21-《千分尺》序号检定项目检定结果1外观2各部分互相作用3测微螺杆的轴向窜动和径向摆动（mm）4测砧与测微螺杆测量面的相对偏移（mm）5测力（N）6刻线宽度及宽度差（mm）7指针与刻度盘相对位置（mm）8微分筒锥面的端面棱边至固定套筒刻线面的距离（mm）9微分筒锥面的端面与固定套筒毫米刻线的相对位置压线：（mm）离线：（mm）10测量面的平面度固定测砧：（μm）活动测砧：（μm）11数显外径千分尺的示值重复性（μm）12数显外径千分尺的示值任意位置时数值漂移（μm）13两测量面的平行度（μm）14示值误差受检点(mm)千分尺读数误差(μm)量块误差(μm)受检点误差(μm)AA+5.12-0.12A+10.24-0.47A+15.36-0.40A+21.50-0.02A+25.00+0.0715数显千分尺细分误差受检点mm0.040.080.120.160.200.240.280.320.360.400.440.48误差μm16校对用量杆标称尺寸：mm实际尺寸：mm变动量：μm结论重要设备名称量块重要设备编号640047A、780027A检定：核验：检定日期：200年月日注：表中A表达千分尺测量下限

千分尺检定/校准统计样品名称□外径千分尺□壁厚千分尺□测管千分尺□公法线千分尺□杠杆千分尺□深度千分尺□规格型号mm出厂编号原精确度等级/允许误差样品生产厂样品来源□送检□现场□其它唯一性标记样品状态检校前□正常□异常检校后□正常□异常检定/校准技术根据□JJG21-千分尺□环境温度℃环境湿度%RH其它检定/校准类别□检定□校准□送检日期年月日主原则器名称量块型号□20块□8块编号□精确度等级□5等□4等测量范畴□（5.12～100）㎜仪器设备使用统计使用前使用后检定/校准地点□计量室#□现场检定主原则器证书编号□长字□长字1外观和各部分互相作用：□合格□不合格2测微螺杆的轴向串动和径向摆动：3测砧与测微螺杆测量面的相对位移：4微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置：5数显外径千分尺任意位置时数值漂移：6测力：7工作面的平面度：8两工作面的平行度：9示值误差：测量范畴（mm）受检点尺寸（㎜）□0～255.1210.2415.3621.525□25～5030.1235.2440.3646.550□50～7555.1260.2465.3671.575□75～10080.1285.2490.3696.5100□不不大于100A+5.12A+10.24A+15.36A+